「Defect」を含む例文一覧(18306)
＜前へ 1 2 .... 207 208 209 210 211 212 213 214 215 .... 366 367 次へ＞- To manufacture a flexible substrate which is free of a galling defect and a shift in blanking position without using a film for reinforcement when the thin flexible substrate is blanked.
薄いフレキシブル基板に打抜き加工を施す場合に、補強用フィルムを使用しなくても、カジリ不良や打抜き位置のずれのないフレキシブル基板の製造を実現する。 - 特許庁 - To appropriately perform defect control even when spare area on an information recording medium is expanded or reduced, in a write once type recording medium being recordable only once.
１回のみ記録可能な追記型記録媒体において、情報記録媒体上のスペアエリアを拡張、または縮小しても適切にディフェクト管理を実行可能とする。 - 特許庁 - The imaging unit 14 comprises a temperature sensor 200 for detecting the temperature of the imaging element, and a temperature influence correction unit 216 corrects a transfer defect of the signal charges in the imaging element.
撮像素子の温度を検知する温度センサ200を撮像部14に設け、温度影響補正部216は、撮像素子における信号電荷の転送不良を補正する。 - 特許庁 - It is set so that a carbon is added to a region of an external base layer 51, and a formation of a point defect is prevented as occurring at the time of a boron injection for the external base.
外部ベース層５１の領域にカーボンを添加し、外部ベース用ボロン注入時に発生する点欠陥生成を防止するように設定したものである。 - 特許庁 - To provide a manufacturing device for a liquid crystal display device such that the transmittance can be controlled to a desired value for various kinds of defective pixel mode such as bright defect or the like.
輝点欠陥等の種々の欠陥画素モードに対処して、所望の光透過率に制御することができる液晶表示装置の製造装置を提供する。 - 特許庁 - To provide an electrooptical device which is bright and has excellent contrast by preventing occurrence of image defect due to light transmission in a region other than a pixel region, and also to provide an electric device.
画素領域以外の領域での光透過による画像欠陥を防止し、明るく、コントラストに優れた電気光学装置、ならびに電気機器を提供する。 - 特許庁 - To release triboelectric charge between rubbing cloth and an alignment layer, to prevent the uneven distribution of rubbing nap in the rubbing cloth, to suppress alignment defect and to enhance the yield.
ラビング布と配向膜との間における摩擦帯電を逃がし、ラビング布における毛先が偏在することを防止して、配向不良を抑制し、歩留まりを向上させる。 - 特許庁 - Or the reason for refusal stated in the notice of reasons for refusal given to the other patent application may be a clerical error or other minor defect.
第50条の2の通知を行う際は、その通知中において、拒絶の理由が同一である他の特許出願の出願番号及び拒絶理由通知の起案日を記載する。 - 特許庁 - To reduce deterioration in image quality even under a status in which deterioration in image quality occurs owing to pixel defect in an OB pixel area without changing a conventional circuit configuration.
従来の回路構成を変えることなく、ＯＢ画素領域の画素欠陥によって画質劣化が起きるような状況下においても、画質劣化を軽減する。 - 特許庁 - Thereby the product including the defect having no practical problem can be delivered without losing customer's credit with the manufacturer and the yield of the product can be improved.
したがって、顧客の製造者に対する信頼を失うことなく、実質上問題のない欠陥を含む製品を納入することが可能になり、歩留まりが向上する。 - 特許庁 - To provide a wire drawing method of a coated metal wire effectively suppressing generation of a surface defect and hardly causing wire breaking.
特に最終伸線工程において、表面欠陥の発生を有効に抑制して断線が生じにくい被覆金属線材の伸線方法を提供することにある。 - 特許庁 - To prevent a shape defect of an insulating film and fluctuation of height of the insulating film due to etching-back of the insulating film buried in a groove formed in a semiconductor substrate.
半導体基板に形成した溝内に埋め込んだ絶縁膜のエッチバックによる絶縁膜の形状不良や絶縁膜の高さのばらつきを防ぐことができる。 - 特許庁 - By presenting the obtained judging result to an observer, the system points out a human-induced defect in diagnostic imaging, and records the judging result in a report etc.
得られた判定結果を観察者に提示することで、当該装置が画像診断における人為的不備を指摘し得ると共に、当該判定結果をレポート等に記録する。 - 特許庁 - To provide a semiconductor device that includes a plurality of kinds of elements juxtaposed, and is manufactured with fewer steps and a low defect rate, and also to provide a method of manufacturing the same.
並置された複数種類の素子を有し、低工程数で、且つ低不良率により製造することができる半導体装置とその製造方法を提供する。 - 特許庁 - To provide an electrostatic latent image developer with which an image of high image quality can be stably obtained by suppressing an image defect and roughness of the image and the contamination within the machine.
画像欠陥や画像のガサツキ、機械内部の汚染を抑制し、高画質な画像を安定的に得ることが可能な静電潜像現像剤を提供すること。 - 特許庁 - Thus the foreign matter is hardly incorporated into the cast product by guiding the molten metal at the intermediate level into the mold by the stoke 24, then the occurrence of casting defect can be prevented.
したがって、中間レベルの溶湯をストーク２４によって鋳型に導くことにより、鋳造製品に異物が混入し難くなり、鋳造欠陥を防止することができる。 - 特許庁 - When an optical disk is inserted, the defect is detected based on measurement results of curvature of the optical disk, intensity of reflected light from a recording surface and error rate in reproduction.
光ディスクが挿入されると、光ディスクの反りと記録面からの反射光の強度と再生時のエラーレートの計測結果に基づいて欠陥を検出する。 - 特許庁 - To provide a sun visor having no defect from a view point of attaching/detaching facility, storing facility, simplicity, bulking properties, storing performance, and easy manufacturing method.
サンバイザーにおいて、取りつけ、取り外しの容易性、収納容易性、簡便性、嵩低さ、収納性、簡単な製法の観点から欠点の無いサンバイザーを提供すること． - 特許庁 - In a test sequence, output signals 194, 184 from the row test circuits are monitored to identify whether a defect, such as a short circuit, is likely to exist in the row or row driver.
テストシーケンスでは、行テスト回路からの出力信号（１９４，１８４）が監視されて、欠陥、例えば、短絡が行や行ドライバーに存在していそうかどうかを識別する。 - 特許庁 - To provide a voting system of a wireless system having no defect of a cable voting system, which is suitable to be used for the conference of a small scale and comparatively simple in configuration.
有線投票システムの欠点が無い無線式のシステムであって、しかも比較的簡単な構成で、小規模の会議での使用に適した投票システムを提供する。 - 特許庁 - To provide a vacuum RTM method capable of efficiently and surely manufacturing an FRP molded article with a high fiber volume content, no resin defect and a high quality.
繊維体積含有率が高く、樹脂欠損の無い、高品質のＦＲＰ成形品を効率よく確実に製造できる真空ＲＴＭ成形方法を提供する。 - 特許庁 - A metallic material, such as a metallic fine wire, rapidly cooled after heating (Step S1, S2), and strain or defect is introduced into crystal lattice in this metallic material (Step S3).
金属細線などの材料金属を加熱した後に急冷し（ステップＳ１，Ｓ２）、その材料金属の結晶格子に歪みあるいは欠陥を導入する（ステップＳ３）。 - 特許庁 - To provide a high-definition semiconductor substrate where the crystal defect of a single crystal semiconductor layer caused by the difference of a grating constant and a coefficient of thermal expansion is reduced.
格子定数及び熱膨張係数の差に起因して生じる単結晶半導体層の結晶欠陥を低減した高品の半導体基板の提供。 - 特許庁 - To provide a method for manufacturing a galvannealed steel sheet by which the occurrence of projecting coating defect can be suppressed when electrodeposition coating is applied to the galvannealed steel sheet.
合金化溶融亜鉛めっき鋼板を電着塗装したときに塗装凸状欠陥の発生を抑制しうる合金化溶融亜鉛めっき鋼板の製造方法を提供する。 - 特許庁 - Thus, the coefficients of friction on the operation side and the drive side can be made equal and the meandering of the rolled stock 6, breakage by the meandering and defect in shape are prevented.
これにより、操作側と駆動側の摩擦係数を同じにでき、圧延材６の蛇行及び蛇行による絞り込み、形状不良などを防止することができる。 - 特許庁 - Thus, the reduction of a bump electrode 9 due to defect in shape of the stress relaxation layer 5 can be prevented, and the bump electrode can be formed as multi-terminals as a result.
これにより、応力緩和層５の形状不良に起因するバンプ電極９の減少を防止することができ、バンプ電極の多端子化を図ることができる。 - 特許庁 - To obtain a metal cast slab having no surface defect and having high quality without bringing about such problems as the development of sweating zone, defective draw-out from a mold, breakout, etc.
発汗帯の発生や鋳型からの引き出し不良，ブレークアウト等の問題を生じることなく、表面欠陥のない高品質の金属鋳塊を得ることができる。 - 特許庁 - The densities a and aG of the read pixels C and G are compared with thresholds ath and when they surpass the threshold ath (bright), the pixels C and G are counted as a defect candidate point.
読み出した画素Ｃ，Ｇの濃度ａ_C，ａ_Gをしきい値ａthと比較し、しきい値ａthを超えていれば（明るければ）、画素Ｃ，Ｇを欠陥候補点としてカウントする。 - 特許庁 - To provide a thin steel plate with extremely less surface defect originating in cracks caused in the hot rolling, even in the straight forward rolling process and its manufacturing method.
この発明は、直送圧延プロセスにおいても、熱間圧延での割れに起因した表面欠陥が極めて少ない薄鋼板およびその製造方法を提供する。 - 特許庁 - A signal detection circuit 211 and a controller 212 receive a signal from an imaging element and determine a pixel with a signal level in excess of a prescribed defect discrimination level to be a defective pixel.
信号検出回路２１１とコントローラ２１２は、撮像素子からの信号を受信し、所定の欠陥判定レベルを越える信号レベルの画素を欠陥画素と判定する。 - 特許庁 - Furthermore, inspection data by a plurality of inspection devices can be registered in one defect and the grouping information of defects as an analyzing object can be selected arbitrarily.
また、ひとつの欠陥について複数の検査装置による検査データを登録可能とし、解析対象である欠陥の分類情報を任意に選択可能とした。 - 特許庁 - Depending on a detected position state at inspection, the position coordinates of a detected defect or contamination is corrected based on the central coordinates of the workpiece.
そして、検出された被検査時の位置状態に応じて、検出された異物や欠陥の位置座標を、被検査物の中心座標を基に補正するように構成した。 - 特許庁 - To provide an image detector capable of preventing an electrostatic defect when manufacturing a substrate, and capable of restraining a signal value from being fluctuated by a leak current when driven.
基板製造時の静電気不良を防ぐ一方で、駆動時のリーク電流による信号値の変動を抑制することができる画像検出装置を提供する。 - 特許庁 - To provide an electronic camera provided with an 'exposure defect detection system' function easily understandable and usable for a photographer without the need of a dedicated detection mechanism and without useless power consumption.
専用の検知機構を要せず無駄な電力消費もなく、撮影者に解り易くて使い易い「露光不良検出システム」機能を有する電子カメラを提供すること。 - 特許庁 - To provide in situ cartilage defect therapy which includes implantable devices combined with dry materials that are activated by the presence of aqueous physiological fluids.
水性生理学的流体の存在によって活性化される乾燥物質と組み合わせた、移植可能なデバイスを備えるインサイチュ軟骨欠損治療を提供すること。 - 特許庁 - To provide a method for removing surely even a crystal defect formed on a position deep from the surface of an SiC layer deposited by an epitaxial growth method.
エピタキシャル成長法により堆積させたＳｉＣ層の表面から深い位置に形成された結晶欠陥でも、確実に除去することができる方法を提供する。 - 特許庁 - To provide an inspection method for normally fetching an instruction which is recorded in a rewritable non-volatile memory, and for inspecting before delivery a defect that the instruction is not performed.
書き換え可能な不揮発性メモリに記録された命令を、正常に命令フェッチし実行できない不具合を、出荷前に検査する検査方法を提供する。 - 特許庁 - To reduce a carrier re-coupling loss by reducing a transparent electrode/p-layer interface defect (or relaxing a composition mismatching between p-layer and i-layer).
透明電極／ｐ層界面欠陥を減少させる（又はｐ層とｉ層の組成不整合を緩和させる）ことにより、キャリア再結合損失を低減することを課題とする。 - 特許庁 - To provide a DRAM device having twist type bit line architecture in which a redundant row consisting of memory cells can be effectively used when a memory cell row has a defect.
メモリセル行が欠陥を有する場合にメモリセルからなる冗長行を効果的に使用することが可能なツイスト型ビット線アーキテクチャを有するＤＲＡＭ装置を提供する。 - 特許庁 - Improvement in the accuracy of the defect inspection can be attained, because the signal can be detected by irradiating the laser light 5a at each irradiation position, while controlling the effect of the ambient temperature.
各照射位置に周囲温度の影響を抑えてレーザ光５ａを照射して信号を検出することができ、欠陥検査の精度向上が図られる。 - 特許庁 - To enable brazing defect inspection in a tube for a heat exchanger equipped with a tubular member, and an inner fin having a thickness of the same or more as the tubular member.
筒状部材と、筒状部材と同等以上の板厚を有するインナーフィンとを備える熱交換器用チューブにおいて、ろう付け不良検査を可能とする。 - 特許庁 - To detect the missing of a mask pattern or a deposit using transmission electrons instead of reflection electrons when inspecting the defect of a scattering-type mask by applying electron beams.
電子線を照射して散乱型マスクの欠陥検査を行なう際、反射電子ではなく透過電子を用いてマスクパターンの抜けあるいは付着物の検出を行なう。 - 特許庁 - To provide an inkjet recording medium having no coating defect such as bubble baldness, remarkably excellent ink absorption and color development, and having dull-tone glossiness and a high quality.
泡ハゲ等の塗工欠陥が無い上、インク吸収性や発色性に著しく優れると共にダル調の光沢度がある、高品質のインクジェット記録媒体を提供する。 - 特許庁 - To provide a laser thermal transfer recording method capable of forming a transferred image with a good image quality without an image defect derived from foreign substances such as dusts and motes, or the like.
本発明は、埃や塵などの異物による画像欠陥等のない良好な画質の転写画像を形成することができるレーザー熱転写記録方法を提供する。 - 特許庁 - Then, signals acquired from each converter are processed to form a complex field of view so that a defect sign can be observed.
その後、各変換器により収集された信号は、コンピュータにより処理され、欠陥標識を観測することができるように、試験領域に対する複合視界を形成する。 - 特許庁 - APPARATUS, METHOD, AND PROGRAM FOR DETECTING DEFECT, IMAGE SENSOR DEVICE AND MODULE, IMAGE PROCESSING APPARATUS, DIGITAL IMAGE-QUALITY TESTER, COMPUTER-READABLE RECORDING MEDIUM
欠陥検出装置、イメージセンサデバイス、イメージセンサモジュール、画像処理装置、デジタル画像品質テスタ、欠陥検出方法、欠陥検出プログラム、およびコンピュータ読取可能な記録媒体 - 特許庁 - Since noise is as large as N×1 pixels, this electron beam type inspecting device removes a detection pattern and a defect of N×1 by judging them to be generated by noise.
電子線式検査装置において、ノイズがＮ×１画素の寸法であることに着目して、Ｎ×１の検出パターン、欠陥をノイズにより生じたものと考え削除する。 - 特許庁 - To realize a semiconductor device ensuring high reliability by sustaining a low impedance of interconnect lines even if a defect resulting from a dust occurs during fabrication process.
製造工程中でゴミなどに起因する欠陥が生じても配線の低インピーダンスを維持し、高い信頼性を確保することができる半導体装置を実現する。 - 特許庁 - To detect a defect of a selector which selects one from a plurality of test results of memories to output to a result output terminal without adding a special circuit or the like.
特別な回路等を追加することなく、複数のメモリの試験結果から一つを選択して結果出力端子へ出力するセレクタの不良を検出すること。 - 特許庁 - To highly accurately detect a defect in an exhaust purification system with a selective reduction NO_x catalyst provided in an exhaust passage of an internal combustion engine.
内燃機関の排気通路に設けられた選択還元型ＮＯｘ触媒を備えた排気浄化システムの故障をより高い精度で検出することを目的とする。 - 特許庁
