To provide an electrode plate repairing apparatus which repairs the defect of an electrode plate, and to provide a battery including an electrode plate repaired by that apparatus and a manufacturing method of the battery. 電極板の欠陥部分を補修する電極板補修装置とこれにより補修された電極板を備える電池とその製造方法を提供すること。 - 特許庁
A defect in the field is detected by comparing two or more images corresponding to two or more numbers in the different parameters. 本方法は異なる値のうちの2又はそれを超える数の値に対応する像のうちの2又はそれを超える数の像の比較に基づいて、フィールド内の欠陥を検出する。 - 特許庁
To provide a semiconductor protection circuit that can surely prevent destruction of an element by quickly interrupting a current to a semiconductor switching element on the occurrence of a defect such as a short-circuit. 短絡等の欠陥が生じた場合に、半導体スイッチング素子への電流を迅速に遮断して、素子の破壊を確実に防止し得る半導体保護回路を提供する。 - 特許庁
A connection part between a thin-film transistor 22 of a defective pixel Pa outputting a defect signal larger than a specification of a photoelectric conversion substrate 12 and a signal wire 26 is cut. 光電変換基板12の規格よりも大きい欠陥信号を出力する欠陥画素Paの薄膜トランジスタ22と信号配線26との接続箇所を切断する。 - 特許庁
A defect that a sound volume is relatively small because of its small size can be solved by installing a magnetic, piezoelectric or microphonic pickup, to amplify an electric signal. 小型のため比較的音量が小さいという欠点は、磁気式、圧電式あるいはマイクロフォン式のピックアップを備え、電気信号を増幅することによって解決できる。 - 特許庁
To provide a developing device capable of restraining an image defect caused by foreign matter such as paper powder fiber mixed in developer, and an image forming apparatus using the same. 現像剤に混入した紙粉繊維等の異物に起因する画像不良を抑制することのできる現像装置およびそれを用いる画像形成装置を提供する。 - 特許庁
To provide an electrooptical liquid crystal display, especially and IPS display having no or decreased defect of conventional technology and provide a liquid crystal medium suitable for the display. 従来技術の欠点がないかまたは減少された電気光学液晶ディスプレイ、特にIPSディスプレイおよびこのディスプレイに有用な液晶媒体を提供する。 - 特許庁
To provide a substrate with no defect, whereon a uniform amount of liquid can be applied by an ink jet method, an ink coating system, and a device manufacturing apparatus using the substrate. インクジェット方式により欠陥がなく、均一な液量を塗布できる基板及びインク塗布システム並びにその基板を用いたデバイス製造装置を提供するにある。 - 特許庁
To provide a semiconductor chip, that has a PLL circuit with improved yield that can relieve the semiconductor chip, even when a defect is generated in the PLL circuit, and to provide its manufacturing method. PLL回路に不良が発生しても半導体チップを救済でき、歩留まりを向上できるPLL回路を有する半導体チップおよびその製造方法を得る。 - 特許庁
Moreover, The irradiation of laser beam allows a defect of crystal to be removed and an impurity existed in the amorphous semiconductor film and a contamination deposited on a surface to be removed. さらにレーザ光の照射により結晶欠陥を除去し、また非晶質半導体膜内に内在する不純物や表面に付着しているコンタミネーションを除去する。 - 特許庁
To provide an imaging apparatus and its defective pixel correction method by which calculation of position information is simplified and increase of circuit scale of a defect correction system is suppressed. 位置情報算出を単純化でき、また、欠陥補正系の回路規模の増大を抑えることが可能な撮像装置およびその欠陥画素補正方法を提供する。 - 特許庁
A determining part 13 compares target defect information of the uppermost layer N output from a data calculating part and determines where to carry out the substrate thereby notifying the controlling part 14. 判断部13は、データ演算部から出力された最上層レイヤーNの注目欠陥情報を比較し、基板の搬出先を判断し、制御部14に通知する。 - 特許庁
Next, whether chips adjacent to the defective chip have defects or not is inspected excluding the defective chip with inspection sensitivity higher than that of the first defect inspection processing (step S16). 続いて、不良チップを除いて、その不良チップに隣接するチップに欠陥があるか否かを、第1の欠陥検査処理よりも検査感度を上げて検査する(ステップS16)。 - 特許庁
Defect candidate data, which is image data of an object to be inspected, development data, which is image data of master data, and inspection area data are inputted to a mismatch counting circuit 132. 不一致計数回路132には,検査対象の画像データである欠陥候補データと,マスターデータの画像データである展開データと,検査領域データとが入力される。 - 特許庁
To prevent an image defect due to interference between alternating voltages applied to magnetic brush chargers in an image forming apparatus which performs charging by using a plurality of magnetic brush chargers. 複数の磁気ブラシ帯電器を用いて帯電を行う画像形成装置において、磁気ブラシ帯電器に印加される交番電圧の干渉による画像不良を防止する。 - 特許庁
The interlattice atoms, which may cause the crystal defect, can be diffused by the above mentioned RTA treatment, but the diffusion of the impurity diffusion layer are not diffused. このRTA処理は、結晶欠陥の原因となる格子間原子を拡散させるが、不純物拡散層の不純物は拡散させないように設定されている。 - 特許庁
To provide a means for depolarization capable of dissolving defect arising from wavelength dependency and realizing enlargement, and an optical low pass filter using the means. 波長依存性に伴う不具合を解消し、且つ大型化を図ることが可能な偏光解消のための手段及びこの手段を使用した光学ローパスフィルタを提供する。 - 特許庁
The laser is emitted from a lower reflecting mirror side in a surface-emitting laser having an upper reflecting mirror structure comprising a photonic crystal structure with a point defect at the central part. 中央部に点欠陥を持つフォトニック結晶構造を有する上部反射鏡構造を有する面発光レーザで、下部反射鏡側からレーザを出射させる。 - 特許庁
To provide a coil forming die which can prevent the occurrence of a defect caused by a lead wire by preventing the occurrence of a lead wire not arranged normally for the forming die. 成形型に対して正常に配置されない導線の発生を防止し,そのような導線による不良の発生を防止したコイル成形型を提供すること。 - 特許庁
To prevent defect of a weft by introducing leaning control into shedding control of a heddle or heald frame and making real behavior pattern converging to an optimum pattern. 綜絖又は綜絖枠の開口制御に学習制御を取り入れ、綜絖又は綜絖枠の実挙動パターンを最適パターンに収束させることにより緯糸不良を防止すること。 - 特許庁
To provide a method for continuously casting a P-containing steel with which in a hot-dip galvannealed steel sheet, a string defect developed after plating and alloying can stably be prevented. 合金化溶融亜鉛めっき鋼板においてめっき・合金化後に生ずる筋状欠陥を安定して防止できるP含有鋼の連続鋳造方法を提示する。 - 特許庁
To provide a hologram recording medium that does not deform by heat upon layering a filter layer or layering a recording layer and has no defect such as cracks in the filter layer. フィルタ層積層時または記録層積層時の熱により変形することなく、フィルタ層にひび割れ等の欠陥が生じないホログラム記録媒体を提供する。 - 特許庁
To provide a method for manufacturing a gas barrier film showing an effect in preventing an application defect when a stretched gas barrier film having a PVA gas barrier layer is manufactured by an in-line coating method. PVAガスバリア層を有する延伸ガスバリアフィルムをインラインコート法によって製造する際の塗工欠陥の発生を防止する効果のある製造方法を提供する。 - 特許庁
To provide a semiconductor memory capable of efficiency relieving the defect of a memory cell unit including a plurality of cells accessed from a common bit line by a small number of circuits. 共通のビット線からアクセスされる複数のセルを含んだメモリセルユニットの欠陥を、少ない回路で効率的に救済できる半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁
To provide an X-cube having no such defect of interruption of layer systems at a joint position in conventional X-cubes and to provide its manufacturing method. 従来のX立方体では、継ぎ目箇所において層システム同士が中断していたが、このような欠点のないX立方体とその製造工程を提供する。 - 特許庁
To prevent defect such as scratch by preventing abrasive waste and slurry scattering in the process of polishing a semiconductor substrate from again adhering to a polishing pad through a scattering preventing cover. 半導体基板の研磨処理中に飛散した研磨屑やスラリーが飛散防止カバーを経て研磨パッドへ再付着することを防止し、スクラッチなどの欠陥を防止する。 - 特許庁
To eliminate the occurrence of image defect by preventing toner from being retransferred from an intermediate transfer body to a photoreceptor drum when the drum is used for a long time or under the high humid environment. 感光ドラムの耐久時や高湿環境下において、トナーが中間転写体から感光ドラムに再転写される再転写現象を防止して画像不良をなくす。 - 特許庁
To easily judge which of deterioration etc., due to secular change etc., of equipment and poorer eyesight etc., of an observer causes a video display defect of a head mount display. ヘッドマウントディスプレイの映像表示不良の原因が、機器の経年変化等による劣化等であるのか、観者の視力低下等であるのかを簡便に判断する。 - 特許庁
To provide constitution of a semiconductor memory in which redundancy relieving can be normally performed even when defect is caused in a program element storing a defective address. 不良アドレスを記憶するプログラム素子に欠陥が生じた場合においても、冗長救済を正常に実行することが可能な半導体記憶装置の構成を提供する。 - 特許庁
Therefore, as compared with the case in which the surface of the separator base material is exposed at the defect 32 part of the resin coat 30, corrosion resistance of the fuel cell separator 10 is improved. そのため、樹脂コート30の欠陥32部分でセパレータ基材の表面が露出したままの場合に比べて、燃料電池セパレータ10の耐食性が高められる。 - 特許庁
To provide a front face filter for a plasma display panel capable of effectively reducing an expense loss and a defect rate, and a manufacturing method of the plasma display panel including this. 費用損失及び不良率を効果的に減少させることができるプラズマディスプレイパネル用前面フィルタ、及びこれを含むプラズマディスプレイパネル製造方法を提供する。 - 特許庁
A defect information management device is used which has a display unit 13, a first database 31, a transmission/reception part 21, a second database 33, a data analysis part 24 and an access monitor part 26. 表示装置13、第1データベース31、送受信部21、第2データベース33、データ解析部24及びアクセス監視部26を備える不具合情報管理装置を用いる。 - 特許庁
To provide toner with which a stable image is formed over a long term and a high-resolution and high-definition image having no image defect such as fogging. 長期にわたって安定した画像を形成することができ、カブリなどの画像欠陥の発生の無い、高解像で高精細な画像を形成するトナーを提供する。 - 特許庁
To provide a solid-state imaging device that can, for example, improve photoelectric conversion efficiency and reduce undesirable current due to crystal defect. 1つの実施形態は、例えば、光電変換効率を向上でき、結晶欠陥起因の望ましくない電流を低減できる固体撮像装置を提供することを目的とする。 - 特許庁
To provide a device for ultrasonic inspection inspecting easily and highly accurately an internal defect, a void or exfoliation, concerning an inspection object displayed internally in a two-dimensional manner. 二次元化して内部表示される検査対象において、内部欠陥やボイド、剥離の検査を高精度かつ容易に実施できる超音波検査用装置を提供する。 - 特許庁
To provide a visual inspection method of a transparent sheet for reducing a frequency at which a defect is overlooked even if the transparent sheet is not inspected on front and back surfaces. 透明シートを表裏反転させて検査しなくても、欠陥を見逃してしまう頻度を低下することができる透明シートの目視検査方法を提供する。 - 特許庁
The surface inspection device includes a moving stage for the body to be inspected; a lighting device; an inspection coordinate detecting device; a light detector; an A/D converter; and a foreign object/defect determining unit. 表面検査装置は、被検査体移動ステージ、照明装置と、検査座標検出装置、光検出器と、A/D変換器と、異物・欠陥判定部、を有する。 - 特許庁
To provide a substrate that can be used even in a DC-DC converter, has no defect such as a gap, is easy to be manufactured, and compact in size, and a method for manufacturing the substrate. DC−DCコンバータにも使用可能な基板であって、空隙等の欠陥がなく、また、製造が容易でコンパクトな基板および基板の製造方法を提供する。 - 特許庁
To provide a silicon wafer, wherein a void defect existing in a wafer bulk portion is prevented from functioning as a contamination source in a device process or a source of slip generation. ウェーハバルク部に存在するボイド欠陥が、デバイスプロセスにおいて汚染源となることが抑制され、さらに、スリップの発生源となることも抑制されたシリコンウェーハの提供。 - 特許庁
To provide an imaging apparatus minimally suppressing an effect on an imaging element when a defect resulting from a failure or the like of a temperature sensor controlling the operation of the imaging element occurs. 撮像素子の動作制御を行う温度センサが故障等による異常が発生した場合、撮像素子への影響を最小限に抑える撮像装置を提供する。 - 特許庁
To provide an FFS mode liquid crystal display device with a simple structure capable of preventing a display defect such as an image persistence after turning off of the power. FFSモードの液晶表示装置の電源オフ後の焼付きなどの表示不良を防止できる簡便な構造の液晶表示装置を提供することを目的とする。 - 特許庁
To provide a waste treatment device and a waste treatment method for treating combustible gas appropriately which is continuously generated in a heating furnace even if the operation of the waste treatment device is stopped due to an electrical defect. 電気的失陥によって廃棄物処理装置の運転が停止した場合でも、加熱炉内で継続的に発生し得る可燃性ガスを適切に処理する。 - 特許庁
To provide a liquid crystal display device capable of suppressing a display defect due to foreign matters in the device having a middle frame capable. 本発明は、ミドルフレームを有する液晶表示装置において、異物による表示不良を抑制することができる液晶表示装置を提供することを目的とする。 - 特許庁
To provide a cleaning method of a roller in a film forming method which can continuously form a film-like object with little surface defect demanded by an optical film. 光学的フィルムで要求される表面欠陥の少ないフィルム状物を連続的に成形できるフィルム成形方法におけるロールの清掃方法を提供する。 - 特許庁
To provide a method of manufacturing a light emitting device in which satisfactory image display can be performed by the inspection and repair of short circuits in defect portions of light emitting elements. 発光素子の欠陥部におけるショートを検査して修理することにより、良質な画像表示を行うことができる発光装置の作製方法を提供する。 - 特許庁
To provide a heat treatment method and apparatus, capable of excellently activating impurities, while promoting recovery of a defect introduced during impurity implantation. 不純物注入時に導入された欠陥の回復を促進しつつ、不純物の良好な活性化を行うことができる熱処理方法および熱処理装置を提供する。 - 特許庁
To provide a dye-sensitized solar cell element which hardly has a connection defect, and a manufacturing method of easily manufacturing the dye-sensitized solar cell element. 接続不良を生じにくい色素増感型太陽電池素子モジュール、および色素増感型太陽電池素子モジュールを容易に製造する製造方法を提供する。 - 特許庁
To provide an image forming apparatus capable of reducing the number of recording materials causing horizontal black stripe due to current leak caused by the defect of a photoreceptor drum or the like. 感光ドラムの欠陥などにより生じる電流のリークによって横黒スジが生じる記録材の枚数を低減させることが可能な画像形成装置を提供する。 - 特許庁
The wrinkle-like defect such as deflection caused in the paper P unrolled from the roll R, is corrected by blowing the pressure air from the air injection nozzle 12. 前記空気噴射ノズル12から圧力空気を吹き付けることにより、巻取Rから巻解かれた紙Pに発生した撓み等のシワ状欠陥が矯正される。 - 特許庁
Thus, memory cells of two or more layers are stacked without forming a memory cell of characteristics deteriorated by bonding leak in the part of the crystal defect 26b. これによって、結晶欠陥26bの部分に、接合リークにより特性の劣化したメモリセルを形成することなく、メモリセルを二層以上積層することができる。 - 特許庁