「Defect」を含む例文一覧(18306)
＜前へ 1 2 .... 209 210 211 212 213 214 215 216 217 .... 366 367 次へ＞- To easily discriminate goodness/badness of a discharging condition of ink droplets, and effectively and surely solve discharging defect of a nozzle in a device smaller than before.
従来に比べ、小型の装置でインク滴の吐出状態の良否を容易に判別できるとともに、効率的且つ確実にノズルの吐出不良を解消する。 - 特許庁 - To provide an electronic endoscope apparatus in which the noise of kinds of signals due to electric defect can be reduced and the deterioration of operatability due to enlargement of an apparatus can be prevented.
電磁的障害による各種信号のノイズを低減すると共に、大型化による操作性の悪化を防止した電子内視鏡装置を提供すること。 - 特許庁 - To provide an inspection device that facilitates narrowing down of a defect part of an organic EL element from a wide range up to a high magnification.
本発明は、有機ＥＬ素子の欠陥部について広範囲から高倍率までの絞込みを容易に行うことが可能な検査装置を提供することを目的とする。 - 特許庁 - To provide a connector for substrate mounting which prevents solder defect of a substrate connection part of a contact terminal caused by warpage and twist of a housing in mounting on a surface of a substrate.
基板表面への実装の際に、ハウジングの反りや捩れによりコンタクト端子の基板接続部の半田不良が発生し難い基板実装用コネクタを提供する。 - 特許庁 - To provide a light source for surface inspection easy to find the defect of an inspecting surface, having a sufficient illumination area despite the size held with the hand of an inspector.
検査面の欠陥を見つけ易く、かつ、検査者が手で持つことのできる大きさでありながらも十分な照射面積を有する表面検査用光源を提供する。 - 特許庁 - To provide a hydraulic device for an industrial vehicle capable of surely suppressing a defect during the descent of a loading member, and regenerating power by the descent of the loading member.
荷役部材の下降の際の不具合の抑制と、荷役部材の下降による電力回生とを確実に行うことができる産業車両用油圧装置を提供する。 - 特許庁 - The colored curable composition can prevent occurrence of a defect due to the magnetic foreign matter when used for manufacturing the color filter.
このように得られる本発明によるカラーフィルタ用着色硬化性組成物は、カラーフィルタの製造に使用する際、磁性異物による欠陥発生を防止することができる。 - 特許庁 - To provide a means for forming an oxide film on a metal surface, a means for repairing a defect in an oxide film, a high-performance electrolytic capacitor using such means, and an electrolyte of the same.
金属表面の酸化皮膜形成手段、酸化皮膜欠陥の修復手段、その手段を用いた高性能電解コンデンサおよびその電解質を提供する。 - 特許庁 - To provide a transfer film for baking forming a functional pattern having no defect like a functional failure even in a high baking speed condition, onto a base material.
焼成速度が速い条件でも機能不良等の欠陥のない機能性パターンを基体上に形成することが可能な、焼成用転写フィルムを提供する。 - 特許庁 - There is also provided a molded body having reduced viscosity derived from the amount of the acid component, improved in peelability from a metallic roll and also improved in defect such as foaming being generated when molded.
酸成分の量に由来する粘度を下げ、金属ロールとの剥離性の改善し、且つ成形の際に生じる発泡等の不具合も改善された成形体。 - 特許庁 - When detecting a painting defect based on the intensity of the light reflected from the paint film of the base material, with each detection result of the light reflected having an intensity below the exception intensity is excluded.
基材の塗膜からの反射光の強度に基づいて塗装不良を検出する際に、前記除外強度以下の強度の反射光の検出結果を除外する。 - 特許庁 - To provide an image forming apparatus that prevents image defects such as "erase memory", while suppressing an adverse effect as much as possible, and to provide an image defect detection method.
極力弊害を抑えながら、イレースメモリなどの画像不良を防止することができる画像形成装置及び画像不良検出方法を提供することを目的とする。 - 特許庁 - To provide a display apparatus equipped with an inspection section capable of preventing the occurrence of a defect in reliability test and the degradation in production yield.
信頼性試験における不良の発生及び製造歩留まりの低下を防止することが可能な検査部を備えた表示装置を提供することを目的とする。 - 特許庁 - To provide a method of making high-precision position corrections of imaging data of a mask pattern in an easy method, and to provide a high-reliability pattern defect inspecting method.
マスクパターンの撮像データに対して簡便な方法により、高精度の位置補正を行う方法を実現し、高信頼性のパターン欠陥検査方法を実現する。 - 特許庁 - To provide a manufacturing method for a display element in which an uneven shape is uniformly formed on a continuous plastic substrate with large area without causing a defect in peeling.
連続した大面積のプラスチック基板上に、剥離不良を生じることなく凹凸形状を均一に形成する表示素子の製造方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a method for forming a diamond thin film capable of forming a high-quality diamond thin film by decreasing a crystal defect, an impurity, etc., existing in the diamond thin film.
ダイヤモンド薄膜内に存在する結晶欠陥、不純物等を減少させ、高品質なダイヤモンド薄膜を作製可能なダイヤモンド薄膜作製方法を提供すること。 - 特許庁 - To provide a semiconductor device suppressed in a crystal defect in an n-type MOSFET while keeping a characteristic of a p-type MOSFET, and to provide a method for manufacturing the same.
ｐ型ＭＯＳＦＥＴの特性を維持したまま、ｎ型ＭＯＳＦＥＴにおける結晶欠陥を抑制した半導体装置及びその製造方法を提供する。 - 特許庁 - To prevent transfer defect, such as transfer-missing, even in the case where a resistance value in a system for applying a secondary transfer voltage is higher than a certain value.
二次転写のための電圧を印加する系における抵抗値が、ある値よりも高抵抗の場合であっても、転写抜け等の転写不良が発生しないようにする。 - 特許庁 - To provide a wire surface defect detector for detecting a micro flaw occurring in a wire surface without missing without requiring application of a penetrant and flaw detection agent.
浸透液や探傷剤を塗布することなく、線材表面に付いた微小な傷を抜け無く検出することのできる線材表面探傷装置を提供する。 - 特許庁 - To provide an objective lens for an optical pickup device which prevents a defect in molding a high-NA lens, and a molding die for molding the objective lens.
高ＮＡのレンズにおいて成形時の不具合を抑制できる光ピックアップ装置用の対物レンズ及びそのような対物レンズを成形できる成形金型を提供する。 - 特許庁 - To obtain an information processor which can prevent such a defect that one of two cascade connected tuners cannot normally receive broadcast signals.
縦続接続された２つのチューナの一方が放送信号を正常に受信できないという不具合の発生を防止することができる情報処理装置を実現する。 - 特許庁 - To provide an inspection method capable of determining quality related to a dislocation defect of an SOI wafer before forming a semiconductor element on the SOI wafer.
ＳＯＩウェーハに半導体素子を形成する前に当該ＳＯＩウェーハの転位欠陥に関する良否の判定を行うことが可能な検査方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a toner which has a low-temperature fixation property and with which the occurrence of image defect due to the filming of a photosensitive body can be suppressed and a manufacturing method of the toner.
低温定着性を有すると共に、感光体フィルミングに起因する画像不良の発生を抑制することのできるトナーおよびその製造方法を提供する。 - 特許庁 - To perform precise defect detection by excluding an influence of variations in imaging, as much as possible, without correcting printing unit images to be inspected.
検査対象の印刷単位画像を補正することなく、撮像時における変動の影響を可及的に排除し、精度の高い欠陥検出を行うことができる。 - 特許庁 - To provide an image acquisition device, a defect correction device and an image acquisition method that stably focus on an electrode pattern or wiring pattern.
電極パターンまたは配線パターンに安定的に焦点を合わせることができる画像取得装置、欠陥修正装置および画像取得方法を提供すること。 - 特許庁 - To provide a device and method capable of reliably sticking an adhesive sheet on an adherend, while preventing a defect in adhesion without performing complicated control.
複雑な制御をしなくても接着不良を防止しつつ確実に接着シートを被着体に貼付できるシート貼付装置および貼付方法を提供すること。 - 特許庁 - To provide an image processing apparatus that obtains high-quality images which have been subjected to proper defect-correction and scaling processing, and achieves reduction in circuit scale and low power consumption.
適切なキズ補正及びスケーリング処理を経た高品質な画像が得られ、回路規模の削減及び低消費電力化を可能とする画像処理装置を提供すること。 - 特許庁 - To prevent a defect such as a crack from being generated when press-bonding an FPC to a device after transferred to a flexible substrate having flexibility such as a plastic film substrate.
プラスチックフィルム基板などの柔軟性を有するフレキシブル基板に転写後のデバイスに対してＦＰＣを圧着する際、クラック等の不良発生を防止する。 - 特許庁 - To provide a heat roller fixation type fixing device preventing a fixation defect, and shortening a first copying time when starting a fixing operation from a standby state.
待機状態から定着動作を開始するときに、定着不良を防止しつつ、ファーストコピー時間を短くする加熱ローラ定着方式の定着装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a circuit structure in which the lead terminal of an electronic component and a bus bar are securely soldered, and the molding defect of a synthetic resin material is suppressed.
本発明は、電子部品のリード端子とバスバーとを確実に半田付けすると共に、合成樹脂材の成形不良が抑制された回路構成体を提供する。 - 特許庁 - To provide an image processing apparatus for defect inspection or the like for detecting various types of defects having different occurring variation in a light route with sufficient accuracy at the same time.
生じる光線経路の変化が異なる様々な種類の欠陥を一度に十分な精度で検出できる欠陥検査用画像処理装置等を実現する。 - 特許庁 - To provide a semiconductor substrate where a lattice defect for life-time control over a carrier is not formed as a semiconductor device capable of switching at high speed with low ON resistance and a high breakdown voltage.
低オン抵抗かつ高耐圧で高速スイッチング可能な半導体装置をキャリアのライフタイムコントロールの為の格子欠陥を形成していない半導体基板で実現する。 - 特許庁 - To reduce occurrence of movement defect of grain culm and threshed materials after treatment and unthreshed remains in a treatment space between a threshing cylinder and the internal surface of a threshing chamber.
扱胴と扱室の内面との間の処理空間において、処理後の穀稈や脱穀物の移動不良が発生したり、扱ぎ残しが生じたりすることを少なくする。 - 特許庁 - To provide a nitride semiconductor device having a substrate high in heat radiation capability and small in a crystal defect of a nitride semiconductor layer formed on the substrate, and to provide a method of manufacturing the same.
基板の放熱性が高くて基板に形成される窒化物半導体層の結晶欠陥が少ない窒化物半導体装置及びその製造方法を提供する。 - 特許庁 - Thus, the holes (minority carriers) are prevented from reaching the substrate 21, and a lamination defect is prevented from expanding from the substrate 21 to prevent the forward-direction voltage from rising.
これにより、正孔(少数キャリア)が基板２１へ到達することを防いで、基板２１から積層欠陥が拡大するのを防いで、順方向電圧の増大を防止できる。 - 特許庁 - The inspection device is structured to correct the positional coordinates of a detected foreign matter or defect based on the central coordinates of the inspection object, in accordance with the detected positional condition when inspected.
そして、検出された被検査時の位置状態に応じて、検出された異物や欠陥の位置座標を、被検査物の中心座標を基に補正するように構成した。 - 特許庁 - To provide a method for manufacturing a power semiconductor device and an apparatus for manufacturing the power semiconductor device, which accurately controls a crystal defect amount.
正確な結晶欠陥量の制御を行うことができる電力用半導体装置の製造方法および電力用半導体装置の製造装置を提供する。 - 特許庁 - Since the spacers 4 are arranged after the rubbing treatment, a high contrast liquid crystal display device, which has no stripe patterned alignment defect from peripheral parts of spacers 4, is manufactured.
ラビング処理後にスペーサ４を設置するので、スペーサ４周辺からの筋状の配向不良のない、高コントラストな液晶表示装置を製造することができる。 - 特許庁 - To provide a semiconductor device which can realize a simple defect relieving and in which circuit scale is reduced, its manufacturing method, and a computer including the semiconductor device.
簡易な欠陥救済を実現できると共に、回路規模が低減された半導体装置とその製造方法及び該半導体装置を含む計算機を提供する。 - 特許庁 - A recipe setting GUI for presetting a parameter required for determining the pattern region and the defect inspection method and sensitivity corresponding to each pattern region are provided.
また、上記パターン領域の判定に必要なパラメータやパターン領域毎に対応する欠陥検査方式及び感度を予め設定するレシピ設定ＧＵＩを設ける。 - 特許庁 - To provide cationic polymerization inkjet ink having excellent adhesiveness even when used in a line printer and showing improved resistance against a stripe defect, and to provide an inkjet recording method using the ink.
インプリンタで使用しても密着性に優れ、かつスジ故障耐性が向上したカチオン重合型インクジェットインクとそれを用いたインクジェット記録方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a radiation-sensitive resin composition, capable of producing a resist film hardly causing liquid blot and pattern failure defect while maintaining excellent resolution and sensitivity.
優れた解像度及び感度を維持しつつ、液痕、及びパターン不良欠陥が発生し難いレジスト膜を形成可能な感放射線性樹脂組成物を提供する。 - 特許庁 - To provide a coiled contrast marker which has less possibility to damage the inside of a body with its end and rarely causes defect when set on a catheter.
端部によって生体内部を傷つけるおそれが小さく、カテーテルに設置する場合において不良品の発生を引き起こしにくいコイル状造影マーカーを提供する。 - 特許庁 - To provide a method and device for monitoring of arc welding capable of monitoring displacement of an arc in position, and such a defect that base materials are melted and parted from each other by generating a clearance between them.
アークの位置ずれ、母材間に隙間が生じて両者が接合せずに溶け別れる不良等をモニタリング可能としたアーク溶接モニタリング方法／装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a manufacturing method of a silicon single crystal ingot which method does not allow point defect clusters to occur in the drawing direction of the ingot and can draw the ingot comprising a perfect region substantially over its entire length and diameter.
インゴットの引上げ方向に点欠陥の凝集体が発生せず、ほぼ全長及び全径にわたりパーフェクト領域となるシリコン単結晶インゴットを引上げる。 - 特許庁 - To provide a radiographic apparatus capable of accurately correcting a line defect even in the case of using an X-ray grid with an error or an X-ray grid of different density.
誤差のあるＸ線グリッドや異なる密度のＸ線グリッドを用いた場合でも、正確にライン欠損を補正することができるＸ線撮影装置を提供する。 - 特許庁 - According to the defect detect method, ultrasonic waves are brought into a piping 20 from an ultrasonic vibrator 11 through a probe 12, and received by an ultrasonic wave-receiving element 13 at points P1 and P2.
超音波振動子１１から接触子１２を介して配管２０に超音波を入射し、点Ｐ１及びＰ２の超音波受信子１３で超音波を受信する。 - 特許庁 - To provide an electro-optical device which does not generate a picture defect resulting from contrast unevenness such as color unevenness even when a scanning direction is reversed.
走査方向を反転させる場合でも色むら等のコントラストむらに起因する画像不良を発生させることのない電気光学装置を提供することを課題とする。 - 特許庁 - To provide a detector capable of easily detecting microscopic leaks and penetrated defect parts with high sensitivity without use of any special machinery or apparatus.
特別な機械や装置を使用することなく簡単、かつ高い感度で微細な漏れ個所及び貫通欠陥を容易に見つけることができる検出具を提供する。 - 特許庁 - To provide a laminated polyester film which can give a high quality image having no irregularity and no defect when used as a member of a liquid crystal display (LCD) of a large screen.
大画面の液晶ディスプレー（ＬＣＤ）の部材として使用した際に、ムラや欠陥がなく、高品質な画像を付与できる積層ポリエステルフィルムを提供する。 - 特許庁
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