「Defect」を含む例文一覧(18306)
＜前へ 1 2 .... 211 212 213 214 215 216 217 218 219 .... 366 367 次へ＞- To prevent ink flow defect due to overflow of adhesive to bond a lower block 41 and an upper block 42 and due to incorrect shape of flow pass in an ink jet head 1.
インクジェットヘッド１において、下部ブロック４１と上部ブロック４２とを接着する接着剤のはみ出しや流路形状の不具合によるインクの流通不良を防止する。 - 特許庁 - Both a noise generated in the vicinity of a surface of a thin steel plate 1 and a signal generated by an internal defect 8 are detected thereby from the probe 5a.
これにより、渦流プローブ５ａからは、薄鋼板１の表面近傍から発生するノイズと共に、内部欠陥８によって発生する信号が検出される。 - 特許庁 - In the first process, a monitor light 14 absorbed by the glass defect is made incident on the core and the intensity of the monitor light 16 emitted from the optical waveguide is measured.
第１工程では、ガラス欠陥に吸収されうるモニター光１４をコアに入射させ、光導波路から出射するモニター光１６の強度を測定する。 - 特許庁 - To improve power consumption by reducing current flowing a bit line when reading is performed and to avoid operation defect due to concentration of charged/discharged current.
読み出し時にビット線を流れる電流を削減し、消費電力の向上を図ると共に、充放電電流の集中による動作不具合を回避できるようにする。 - 特許庁 - A memory control circuit 100 having a relief determination circuit (including a fuse circuit) 15 for relieving from a defect in a memory chip (DRAM) 20 sets at a logic chip side 10.
メモリ（ＤＲＡＭ）チップ２０の欠陥救済のための救済判定回路（ヒューズ回路を含む）１５を有するメモリ制御回路１００を、ロジックチップ１０側に設ける。 - 特許庁 - A detect detection level setting part 53 of this image pickup device 1 sets a defect detection level in accordance with photographing conditions, such as a photographing mode, a shutter speed, sensitivity and object brightness.
撮像装置１の欠陥検出レベル設定部５３は、撮影モード、シャッタスピード、感度、被写体輝度などの撮影条件に応じて欠陥検出レベルを設定する。 - 特許庁 - To solve the problem that such defect as cavity is produced in a joined part when a friction stir joining is performed with a rotating tool having shoulder parts on the upper and the lower sides of a pin.
ピンを挟んで上下にショルダ部を有する回転ツールにより摩擦攪拌接合を行う場合に、接合部に空洞等の欠陥が生ずるのを解決する。 - 特許庁 - To provide a method for continuously casting metal by which the clogging of an immersion nozzle can stably be prevented and the occurrence of a defective product caused by the defect in a cast slab can be prevented.
浸漬ノズルの閉塞を安定して防止するとともに、鋳片欠陥に起因する製品欠陥の発生を防止できる金属の連続鋳造方法を提供する。 - 特許庁 - To provide an image processing apparatus capable of efficiently executing parallel error diffusion processing by suppressing the generation of defect in executing the parallel error diffusion processing using a plurality of error diffusion processing units.
複数の誤差拡散処理ユニットを用いて並列誤差拡散処理を行う際に、ディフェクトの発生を抑制し、効率よく並列誤差拡散処理を行う。 - 特許庁 - To provide an array substrate which allows only a target pixel to be accurately eliminated when repairing the pixel of a bright spot defect by elimination, and a manufacturing method thereof.
輝点欠陥の画素を滅点化リペアする際、滅点化したい画素のみを的確に滅点化することができるアレイ基板及びその製造方法を提供する。 - 特許庁 - To particularly provide a photosensitive black paste without defect, a member for plasma displays and a plasma display by improving the formation of black partition walls used for contrast enhancement.
コントラスト向上のために用いる黒色隔壁形成を改善し、特に欠陥のない優れた感光性黒色ペースト、プラズマディスプレイ用部材およびプラズマディスプレイを提供する。 - 特許庁 - To provide an FRC (frame rate converter) capable of obtaining a satisfactory viewing and listening feeling by mutually complementing the defect of a vector type FRC and a frequency dispersion type FRC.
ベクトル型ＦＲＣおよび周波数分散型ＦＲＣの欠点を相互に補完することで良好な視聴感を得ることが出来るＦＲＣを提供する。 - 特許庁 - Further, the defect inspection device can calculate a plurality of threshold coefficients, and display the result recalculated using the respective threshold coefficients on the assist tool picture (GUI).
また、複数個のしきい値係数の算出ができ、アシストツール画面(ＧＵＩ)上にそれぞれのしきい値係数で再算出した結果を表示させることができる。 - 特許庁 - Further, there are also provided a substantially relaxed SiGe-on-insulator, having an SiGe layer in which the flat surface defect density is decreased, and a heterostructure comprising the insulator.
また、平面欠陥密度が低下したＳｉＧｅ層を有する実質的に緩和したＳｉＧｅ−オン−インシュレータおよびこれを含むヘテロ構造も提供する。 - 特許庁 - A noise component contained in two signals in common from the sensors 6a, 6b is cancelled by operating the both signals, so as to realize defect detection excellent is an S/N ratio.
この２つの信号を演算することにより、両者に共通に含まれるノイズ成分をキャンセルすることができ、Ｓ／Ｎ比の良い欠陥検出が可能となる。 - 特許庁 - When there is an omission in the detection of the SYNC codes in the detection means 8 by a disk defect, etc., the generation means 13 interpolates addresses in this omission period.
ディスク欠陥等により検出手段８でＳＹＮＣコードの検出に欠落があると、生成手段１３は、この欠落期間、書込み用アドレスを補間する。 - 特許庁 - The method further comprises the steps of measuring the infrared absorption spectrum of the silicon crystal, and obtaining the strength of the absorption peak corresponding to the defect caused by the impurity nitrogen from the absorption spectrum.
シリコン結晶の赤外線吸収スペクトルを測定し、該吸収スペクトルから、不純物窒素に起因する欠陥に対応する吸収ピークの強度を求める。 - 特許庁 - To provide an image forming apparatus capable of evading a toner layer from growing caused by a developing layer thickness regulating member, and capable of obtaining an excellent image free from an image defect.
現像剤層厚規制部材に起因したトナー層の成長を回避し、画像欠陥がない良好な画像を得ることのできる画像形成装置を提供する。 - 特許庁 - To provide new aromatic polyamide fiber paper which has excellent heat resistance, thermal dimensional stability and plybond strength, and does not cause the problem of electric insulation defect under high humidity.
耐熱性や熱寸法安定性、層間剥離強度に優れ、高湿度下における電気絶縁性不良の問題を生じない新規な芳香族ポリアミド繊維紙の提供。 - 特許庁 - To provide a solder paste with which a soldering defect due to the degradation in self-alignment property is prevented and a soldering method using the solder paste.
セルフアライメント性の低下による半田付け不良を防止することができる半田ペーストおよびこの半田ペーストを用いた半田付け方法を提供することを目的とする。 - 特許庁 - To prevent deterioration in reliability due to generation of a defect at the interface between the side surface of capacitor and glass ceramics when the capacitor is formed like a block within the glass ceramic multilayer wiring substrate.
ガラスセラミック多層配線基板内に形成したコンデンサ部がブロック形状の場合、コンデンサ部の側面とガラスセラミックスとの界面の欠陥が生じ、信頼性を損なう。 - 特許庁 - The defect is set to be located in non-image parts 314 and 316 that are parts to which toner does not adhere when the sheet comes into contact with the fixing web in the image.
また、画像中、シートが定着ウェブに接触する際にトナーが付着されない部分である非画像部分３１４，３１６に欠陥が位置するようにする。 - 特許庁 - To provide a polypropylene-based composite resin composition which hardly causes the defective phenomena of surface formation defect, even when a molding cycle in injection molding is shortened.
射出成形における成形サイクルを短縮した場合でも、面張り不良の不良現象が発生し難いポリプロピレン系複合樹脂組成物を提供する。 - 特許庁 - To analyze a defect resulting from writing of servo information on single disk storage medium on the basis of management information on the writing.
ディスク記憶媒体単体でのサーボ情報書き込みであっても、その書き込みに起因する不良の解析が、その書き込みに関する管理情報に基づいて行えるようにする。 - 特許庁 - A sorting means sorts defect kinds on the basis of the maximum value, minimum value and area value of feature data merged by the feature data merging means 108.
分類手段１０９は、特徴データ統合手段１０８により統合された特徴データの最大値、最小値、面積値に基づいて、欠陥種類を分類する。 - 特許庁 - To efficiently retrieve a database by making an engineer select and combine keywords for retrieving information about foreign matter and defect counter measures.
異物・欠陥対策に関する情報を検索するためのキーワードの選択、組み合わせをエンジニアに行わせることにより、効率よくデータベースを検索可能とすること。 - 特許庁 - This causes no potential difference due to electrostatic charge on the electrode layers 11a to 11h, which prevents a defect between the lead layers due to an electric discharge.
そのため、電極層１１ａないし１１ｈに静電気の帯電による電位差が発生しなくなり、リード層間に放電による欠陥が生じるのを防止できる。 - 特許庁 - To obtain a crosslinked resin particle providing a methacrylic resin molding hardly causing a whitening defect, to provide a method for producing the same and to obtain a resin composition using the crosslinked resin particle.
白化欠陥の生じにくいメタクリル系樹脂成形体を与える架橋樹脂粒子を提供し、さらにはその製造方法、それを用いた樹脂組成物を提供する。 - 特許庁 - For a linear defective pixel column (longitudinal line flaw 62) caused by the defect of the vertical transfer path, only the head coordinates of the flaw are recorded in the ROM.
本発明では、垂直転送路の欠陥に起因する直線状の欠陥画素列（縦線キズ６２）について、キズの先頭座標のみをＲＯＭに記録しておく。 - 特許庁 - A detection means detects the defect such as foreign matter or the like having mixed in the object 10 to be detected from a change in the detection quantities of light of the first and second photodetectors.
検出手段は、第１の受光器と第２の受光器の受光量の変化から、検出対象１０に混入している異物等の欠点を検出する。 - 特許庁 - To obtain a semiconductor-device analytical system for investigating an influence of a semiconductor device on the generation of a defect without being collated with an inspection result of an actual semiconductor device.
実際のデバイスの検査結果と照合させることなく、不良発生に対する半導体デバイスの影響を調べることが可能な半導体デバイス解析システムを得る。 - 特許庁 - To provide a toner replenishing device capable of avoiding a defect in electric connection made with a main body simultaneously with mounting by preventing play of a mounted cartridge.
装着されたカートリッジのがたつきを防止し、装着と同時に本体との間で行う電気的な接続の不良が回避可能なトナー補給装置を提供する。 - 特許庁 - The bonding position of a wire (301) to an electrode (113) provided on the upper surface of a semiconductor laminated structure is deviated from the upper side of the dislocation (crystal defect) concentrated area (X) of a substrate.
半導体積層構造上面に設けた電極（１１３）へのワイヤー（３０１）のボンディング位置を、基板の転位（結晶欠陥）集中領域（Ｘ）の上方から外す。 - 特許庁 - To provide a highly reliable and inexpensive high pressure fuel pump having a flow rate adjuster capable of conquering a defect of a fuel supply pump in a conventional technology.
信頼性が高く、コストが低く、従来技術における燃料供給ポンプの欠点を克服できる流量調整器を備えた高圧燃料ポンプを提供すること。 - 特許庁 - To provide a machine for inspecting a glass container, capable of performing a pair of different inspections for inspecting a defect in a bottom part of a bottle in a single inspection station.
単一の検査ステーションにおいてボトルの底部内の欠陥を検査する一対の異なる検査を行うことができるガラス容器を検査するための機械の提供。 - 特許庁 - As for a liquid crystal panel constituting the liquid crystal display device, phase difference plates 15A and 15B in an area of a pixel 50 having a bright point defect are removed with laser light.
液晶表示装置を構成する液晶パネルにおいて、輝点欠陥を有する画素５０の領域の位相差板１５Ａ，１５Ｂをレーザ光により除去する。 - 特許庁 - To provide an electron beam inspection method and device quick in identification without contamination and static charge, and with high accuracy in identification of a substance with structural defect.
同定の時間が早く、コンタミネーションおよび帯電が無いと共に、構造欠陥の物質を同定する精度の高い電子ビーム検査方法および装置を実現する。 - 特許庁 - To prevent a curing defect of a liquid on a recording medium and also continue liquid curing even if a failure occurs in a curing means for curing the liquid on the recording medium.
記録媒体上の液体を硬化させる硬化手段に故障が生じても記録媒体上の液体の硬化不良を防止すると共に液体硬化を続けること。 - 特許庁 - To provide an electric wire processing device capable of preventing defect from occurring in processing performed after cutting a coated electric wire by detecting bending in an end portion of an electric wire before performing the processing.
電線処理装置における被覆電線の切断後に行われる処理の不良を未然に防止するため、当該処理を行う前に電線端部の曲がりを検知する。 - 特許庁 - A differential interference microscope 3 and a CCD camera 4 of the surface defect inspection apparatus 1 image the surface of an information recording medium to be inspected M for acquiring differential interference images.
表面欠陥検査装置１の微分干渉顕微鏡３とＣＣＤカメラ４で検査対象物Ｍの情報記録媒体表面の微分干渉画像を撮像する。 - 特許庁 - To provide a new method for fablicating a liquid crystal display panel, which can solve the problem of gap defect in the conventional technique of sticking liquid crystal panels.
液晶表示パネルを貼り合わせる従来の技術におけるギャップディフェクトの問題を解決するため、液晶表示パネルを製作する新しい方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a new photoresponsive material having responsiveness to visible light though it has not an oxygen defect substantially, a method for manufacturing the photoresponsive material and a use of the photoresponsive material.
実質的に酸素欠陥を有さないにもかかわらず、可視光線への応答性は有する新規な光応答性材料、その製造方法、及びその用途を提供。 - 特許庁 - To securely separate paper from a photosensitive drum at a specified position without causing a separation defect nor a retransfer phenomenon and to prevent an unfixed image from being disordered when the paper is separated from a photosensitive drum.
紙を感光ドラムから分離する際に、分離不良・再転写現象を起こすことなく所定の位置で確実に分離し、かつ未定着画像を乱さないようにする。 - 特許庁 - To provide a method for resistance spot welding of an aluminum alloy plate by which the break and a blow hole weld defect of the aluminum alloy plate are decreased and a welding condition is simplified.
アルミニウム合金板材の割れやブローホール溶接欠陥を低減し、かつ溶接条件を簡易化したアルミニウム合金板材の抵抗スポット溶接方法を提供する。 - 特許庁 - To provide an earphone jack support that has a structure that causes no defect against an external stress such as a wrenching force by an earphone plug or the like, and offers electric stability.
イヤホンプラグ等のこじり等による外的ストレスに対して不具合を起こさないようにし、且つ、電気的にも安定させる構造としたイヤホンジャック保持装置を提供する。 - 特許庁 - To inspect a pixel defect by estimating an incident light quantity with high precision even if there is a pixel which is not normal in a circumference without requiring a standard light quantity generating device.
標準光量発生装置を必要とせず、周囲に正常でない画素があっても高精度に入射光量を推定して画素欠陥を検査する。 - 特許庁 - To provide a slurry for a metal film CMP to polish the metal film stably and evenly at a low friction without causing a defect on the metal film and an insulating film.
金属膜や絶縁膜に欠陥を引き起こすことなく、低摩擦で均一に金属膜を安定して研磨し得る金属膜ＣＭＰ用スラリーを提供する。 - 特許庁 - To provide a crystal substrate having a high-quality GaN-based crystal film continuous film small in defect density and suitable for crystal growth of a GaN-based semiconductor device.
ＧａＮ系半導体デバイスの結晶成長用に適した、欠陥密度の小さい高品質のＧａＮ系結晶膜連続膜を備えた結晶基板を得る。 - 特許庁 - The defect position and the area which is subject to stress are compared with each other and the defects are classified into classes based on the form and the result of a photoelasticity stress measurement.
欠陥の位置および応力を受けた領域の位置を互いに比較し、欠陥をその形状および光弾性応力測定の結果に基づいてクラスに分類する。 - 特許庁 - A light shielding plate 18 is installed so as to shut off part of an optical path 12 of the argon laser beam past the collector lens 16, by which the phase difference defect inspection device described above is obtained.
このコレクターレンズ１６を通過したアルゴンレーザー光の光路１２の一部を遮断するように遮光板１８を設置し、本発明の位相差欠陥検査装置を得る。 - 特許庁
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