「Defect」を含む例文一覧(18306)
＜前へ 1 2 .... 204 205 206 207 208 209 210 211 212 .... 366 367 次へ＞- To provide a marking device not required to remove after inspection a marking marked for the surface defect of a steel sheet by manual work or a separate removing device.
鋼板の表面欠陥に施したマーキングを検査後に手作業で除去したり、個別の除去装置で除去したりする必要のないマーキング装置を提供する。 - 特許庁 - The defect D such as reduction of the thickness of the inspection object 101 is inspected by comparing arrival times of the surface wave received by the receiving element 4 at respective scanning positions.
そして、受信子４による受信波の到達時間を各走査位置で比較することにより検査対象部１０１の減肉等の欠陥Ｄを検査する。 - 特許庁 - To provide a visual inspection device equipped with an image processing device capable of performing defect detection processing highly accurately, even when the image width of an input image is changed.
入力画像の画像幅が変化しても、高い精度にて欠陥検出処理を行うことができる画像処理装置を備えた外観検査装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a coolant circuit device which is capable of avoiding an operation defect at the time of start-up of a compressor and of reducing power consumption.
圧縮機の起動時の動作不良を回避することができるとともに、消費電力量の低減化を図ることができる冷媒回路装置を提供すること。 - 特許庁 - The polypropylene has, in 13C-NMR, a meso-pentad fraction mmmm of 99.9% or over and a positional regularity defect, derived from the 2,1-bond and 1,3-bond, of less than 0.02%.
^13Ｃ−ＮＭＲにおけるメソ−ペンタッド分率ｍｍｍｍが99.9％より大きく、２，１−結合、１，３−結合に由来する位置規則性欠陥が0.02％より少ないポリプロピレン。 - 特許庁 - To improve quality by suppressing a disconnection defect in panel cutting as to a manufacturing method for a solar battery which has a solar battery film laminated directly on a glass substrate as cover glass.
カバーガラスとなるガラス基板に太陽電池膜を直接積層する太陽電池の製造方法において、パネル切断時の切断不良を抑制し、品質向上を図る。 - 特許庁 - Since the auxiliary capacitance semiconductor layer 37 of the auxiliary capacitance 24 contains the impurities at a high concentration, a leakage current is lowered to suppress the rate of dot defect generation.
補助容量24の補助容量半導体層37の不純物が高濃度であるためリーク電流を低く抑え、点欠不良の点欠陥の発生率を抑制する。 - 特許庁 - Since the comparison of the wiring pattern to be inspected with the other reference pattern is dispensed with, the defect of a minute pattern can be detected in a short time.
欠陥検出の対象である配線パターンと他の標準パターンとを比較する必要がないため、短い時間で微細パターンの欠陥を検出することができる。 - 特許庁 - Consequently, the liquid crystal display device can be obtained which does not cause a dot defect due to an electric short circuit between adjacent pixels and has high quality and a high yield, and is inexpensive.
これにより、隣接画素間の電気的短絡による点欠陥不良の発生しない、高品質、高歩留りで安価な液晶表示装置を得ることができる。 - 特許庁 - The erasure of data due to a media defect is detected inside the iterative decoder 66 and a second erasure flag is inputted into the inner decoder to perform erasure compensation.
メディアディフェクトによるデータ消失は反復型復号器６６の内部で検出して第２イレージャフラグを内復号器８４に入力して消失補償を行う。 - 特許庁 - The size of an image or the number of pixels in re-detection is changed in accordance with the accuracy distribution of defect position information in an external inspection device without changing resolution.
解像度を変更することなく、外部の記検査装置における前記欠陥位置情報の精度分布に応じて再検出の際の画像サイズまたは画素数を変更する。 - 特許庁 - To provide a disk player and a disk playing-back method capable of realizing the highly accurate data reproduction by executing the exact data process to cope with a defect.
ディフェクトに対応して的確なデータ処理を実行することにより、精度の高いデータ再生を実現するディスク再生装置及びディスク再生方法を提供する。 - 特許庁 - When the coloring material is injected to the part from which the defect is removed by ink jet, injection and drying are repeated to perform correction with a high shape precision.
欠陥が除去された部位にインクジェットにより着色材料を吐出させる際、吐出と乾燥を繰り返すことで、形状精度良く修正することが可能となる。 - 特許庁 - To provide an adhesive composition controlling occurrence of a shrinkage at a joint which is a defect of the conventional adhesive for wallpaper, excellent in water-resistant adhesion and initial adhesion.
従来の壁紙用接着剤の欠点である壁紙施工時の目地すきを抑え、且つ、耐水接着性、初期接着性に優れる接着剤組成物を提供する。 - 特許庁 - The feedforward control of an image formation parameter is carried out from the developer time constant and the toner electrostatic charge capability, and the generation of TED or an image defect called STV is prevented.
現像剤時定数及びトナー帯電能力から作像パラメータをフィードフォワード制御して、ＴＥＤやＳＴＶといった画像ディフェクトの発生を防止する。 - 特許庁 - To carry out image formation and mail transmission and reception smoothly by processing confirmation mail such as confirmation-of-receipt mail and error notification mail after transmission economically with no defect.
送信後における送達確認メールやエラー通知メールなどの確認メールを経済的にかつ不具合なく処理し、画像形成やメール送受信の円滑化を図る。 - 特許庁 - To shorten a turn-off time by forming a lattice defect region for a recombination of carriers in a semiconductor layer without causing fluctuation in device characteristics in IGBT.
ＩＧＢＴにおいて、素子特性の変動を招くことなく半導体層にキャリア再結合のための格子欠陥領域を形成してターンオフ時間を短縮化する。 - 特許庁 - Then it uses the 2nd brightness illuminometer reference value to determine whether the unit determined as defective actually has any pattern defect or non-defective foreign material.
そして、不良として判別されたユニットは第２の明るさ照度計基準値を利用して実際にパターン不良であるか、良品性異物による不良であるかを判別する。 - 特許庁 - To provide a controller using a recurrent neural network for conquering a defect of a known controller, by preventing adverse influence caused by a change in weight of the interconnection of nodes.
ノードの相互接続の重みの変化に伴う悪影響を防止することにより、既知のコントローラの欠点を克服するリカレントニューラルネットワークを使用したコントローラの提供。 - 特許庁 - The first to m-th control circuits test respective defects of the first to m-th circuit devices, using the test signal, and stop the test when the defect is observed.
第１乃至第ｍ制御回路は、前記テスト信号を用いて前記第１乃至第ｍ回路装置の各々の欠陥をテストし、欠陥が発見されればテストを止める。 - 特許庁 - To provide a liquefied petroleum gas for an automobile, capable of reducing an exhaust gas and capable of avoiding deterioration of a driving performance caused by a defect of a fuel supply system.
排出ガスを低減するとともに、燃料供給系の不具合に起因する運転性能の低下を回避することができる自動車用液化石油ガスを提供する。 - 特許庁 - After the positions of the reference patterns 3a, 3b, 3c are recorded, a process region 4 including the defect is determined and the extent of the process region 4 and a reference point 5 are recorded.
参照パターン３ａ，３ｂ，３ｃの位置を記録した後、欠陥を含む加工領域４を設定し、加工領域４範囲及び基準点５を記録する。 - 特許庁 - To realize quick return of a reproduction signal to normally reproduce the reproduction signal by changing a processing method depending on a kind and a position of scratch even if a disk has defect (scratch).
欠陥(傷)のあるディスクであっても、傷の種類、位置により処理方法を変えることにより、再生信号を正常に再生するために復帰を早くすることができる。 - 特許庁 - To provide a high-purity aluminum alloy material on which an anodic oxide film free from unevenness and a defect can be easily formed into sufficient thickness, though containing a comparatively large amount of magnesium.
比較的高いマグネシウム含有量で、十分な厚みでムラや欠陥のない陽極酸化皮膜を容易に形成しうる高純度アルミニウム合金材を提供する。 - 特許庁 - To efficiently manufacture a SIMOX substrate which has little defect such as threading dislocation, has a highly safe SOI layer, and has a surface and an interface of high flatness.
貫通転位などの欠陥が少なく、完全性の高いＳＯＩ層を有し、かつ、平坦度の高い表面及び界面を有するＳＩＭＯＸ基板を効率良く製造する。 - 特許庁 - Inside an active layer 13 on an embedded oxide film 12, secondary defect layers 15 and 15-1 used as a gettering layer are formed near an element isolation insulating film 14.
埋め込み酸化膜１２上の活性層１３の内部で、素子分離絶縁膜１４の近傍にゲッタリング層としての２次欠陥層１５、１５−１を形成する。 - 特許庁 - The defect correction efficiency is improved in comparison with a conventional technique which narrows down the correction object only by bus line resistances or electric characteristics of pixels.
バスライン抵抗または絵素の電気的特性のみによって修正対象を絞り込む従来技術に比べて、欠陥修正効率を向上させることができる。 - 特許庁 - The silicon carbide monocrystal wafer has at its specific direction end a working defect portion whose total area size is small or whose shape is asymmetric and notch-form.
ウェハの特定の方位端に総面積の小さい加工欠損部、あるいは非対称な形状を有するノッチ状の加工欠損部を有する炭化珪素単結晶ウェハ。 - 特許庁 - In a processing system 1 for defect information which is caused by a production line 100 of products, input display devices 2 are disposed for each operator M along the production line 100.
製品の製造ライン１００に付随する不具合情報の処理システム１において、製造ライン１００に沿って作業者Ｍごとに入力表示装置２を配置する。 - 特許庁 - When a defect exists inside the substrate 1, the scattered light received by the light-receiving part 32 formed by bundling the plurality of optical fibers has a cross shape widened longitudinally and laterally.
基板１の内部に欠陥が存在する場合、複数の光ファイバーを束ねた受光部３２で受光された散乱光は、縦横に広がった十字形状となる。 - 特許庁 - To provide a lap welding copying method for thin plates for largely decreasing the welding defect by enlarging the tolerance against the gap between an upper plate and a lower plate.
上板と下板の間のギャップに対する裕度を拡大し、溶接不良を大幅に減少させる薄板の重ね溶接倣い方法およびその溶接装置を提供する。 - 特許庁 - The image of the color A has smaller difference in brightness (or color) between a part corresponding to the defect of the workpiece W and the periphery of the part than the image of the color B (or the image of the color C).
Ａ色画像はＢ色画像（あるいはＣ色画像）に比べて、ワークＷの欠陥に対応する部分と、その周囲との明るさ（あるいは色）の差が小さい。 - 特許庁 - By irradiating an inspection surface A with each irradiation light LA1, LB1 from mutually different directions, each position on the domain showing a defect in each image is deviated slightly.
照射光ＬＡ１，ＬＢ１が互いに異なる方向から被検査面Ａを照射することにより、各画像において欠陥を示す領域の位置がわずかにずれる。 - 特許庁 - Specifically, a substrate and a film deposition method therefor are provided for an extreme ultraviolet reflective lithography mask blank of which very strict defect specifications are required.
特に非常に厳しい欠点の仕様が要求される極端紫外光反射型リソグラフィ用マスクブランク用基板、およびその基板への成膜方法を提供する。 - 特許庁 - To provide an IP phone terminal, a registration server, and an IP phone system capable of solving a defect related to setting mistake of proxy server information with respect to the IP phone terminal.
ＩＰ電話端末に対するプロキシサーバ情報の設定ミスに係る不都合を解決できるＩＰ電話端末、登録サーバ及びＩＰ電話システムを提供する。 - 特許庁 - A plurality of pieces of grouping information can be registered to a plurality of inspection data in one defect, and the grouping information of defects as an analyzing object can be selected arbitrarily.
ひとつの欠陥に複数の検査データに対する複数の分類情報を登録可能とし、解析対象である欠陥の分類情報を任意に選択可能とした。 - 特許庁 - To provide a pattern drawing device which is capable of early finding out a defect having a high urgency level on a mask and of shortening the inspection time of the mask.
マスク上の緊急性の高い欠陥を早期に発見することができるとともに、マスクの検査時間を短縮することができるパターン描画装置を提供する。 - 特許庁 - This method allows surface defects to be inspected, even when an image of an object to be inspected includes constant, periodic variations in density, and there is a defect therein.
この方法により、被検査物の画像が、ある一定の周期的な濃淡を有し、その中に欠陥があるような場合でも、表面欠陥を検査することができる。 - 特許庁 - Moreover, a crystal defect which generates a leak current is formed at the area near the junction area of the source/drain region of the transistor 17 connected to the gate of transfer transistor 13.
さらに、転送用トランジスタ１３のゲートに接続されるトランジスタ１７のソース・ドレイン領域の接合近傍に、リーク電流が発生する結晶欠陥を形成する。 - 特許庁 - ORGANIC OPTICAL CRYSTAL, DIFFERENTIAL FREQUENCY GENERATING ELEMENT, TERAHERTZ WAVE GENERATING APPARATUS, LINEAR DEFECT GENERATION PREVENTING METHOD OF ORGANIC OPTICAL CRYSTAL AND MANUFACTURING METHOD OF ORGANIC OPTICAL CRYSTAL
有機光学結晶、差周波発生素子、テラヘルツ波発生装置、有機光学結晶の直線状欠陥発生防止方法および有機光学結晶の製造方法 - 特許庁 - To shorten the time required in defect formation with respect to unwanted carbon nanotubes, and to manufacture an integrated circuit using the carbon nanotube, even if the area size of the wafer is large, in a short period of time.
不要カーボンナノチューブに対する欠陥生成に要する時間を短縮でき、大面積ウェハであってもカーボンナノチューブを利用した集積回路を短時間で形成する。 - 特許庁 - Next, an image imaging means images a region that is narrowed into a narrow range inside the partition element by the measurement of the resistance value and has a structural defect R.
次に、抵抗値の測定によって区画素子内で狭い範囲に絞り込まれた、構造欠陥Ｒの存在する領域を画像撮像手段によって撮像する。 - 特許庁 - The defect inspection device is mainly formed of only the light condensing lens 13 and the CCD sensor 25 as major components, and thus the device can be reduced in size and in cost.
また、集光レンズ１３およびＣＣＤセンサー２５のみを主要構成として欠陥検査装置を構成できるため、欠陥検査装置を小型化、低コスト化できる。 - 特許庁 - The biological tissue slice can be harvested from healthy tissue to have a geometry that is suitable for implantation at the site of the injury or defect.
この生体組織スライスは、組織傷害部位或いは組織欠損部位に移植するのに好適な形状を有するように健常組織から採取することができる。 - 特許庁 - To provide phase difference film, etc. in which polymerization liquid crystalline compounds used for an optical anisotropic layer are oriented and fixed in the perpendicular direction uniformly and without a defect.
光学異方性層に用いられる重合性液晶性化合物を欠陥無く均一に垂直方向に配向固定化させた位相差膜等を提供する。 - 特許庁 - To provide a defective process estimating method for estimating whether a manufacturing process using only one manufacturing apparatus is a defect generating factor to generate defective products.
１つの製造装置のみを用いる製造工程が不良品を発生させる不良発生要因であるかどうかを推定できる不良工程推定方法を提供すること。 - 特許庁 - To obtain a formed article free from working defect and having excellent shape accuracy by softening the areas to be subjected to large working deformation in advance prior to press forming.
プレス成形に先立って大きな加工変形を受ける部位を予め軟質化しておくことにより、加工欠陥がなく形状精度の良好な成形品を得る。 - 特許庁 - To provide a method of dividing a semiconductor wafer, with which the semiconductor wafer having a solder layer formed on its reverse surface can be divided without causing a cutting defect.
裏面に半田層が形成された半導体ウエーハを切削不良を起こすことなく分割可能な半導体ウエーハの分割方法を提供することである。 - 特許庁 - The host computer 3 determines normality/ defect of the oxygen concentrator 1 according to the data, and transmits the determination result through the communication network 4 to the terminal device 2.
ホストコンピュータ３は，これらのデータに基づいて，酸素濃縮器１の正常／不具合を判断し，判断結果を通信ネットワーク４を介して端末装置２に送信する。 - 特許庁 - To prevent the defect of a product in a coating material such as an adhesive or pigment having flowability on a long web to prevent the reduction of the yield in the manufacture.
長尺状のウェブ上に流動性のある接着材、顔料等の塗布材を塗布する際の製品不良を防止し、製造上の歩留まりの低下を防止する。 - 特許庁
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