「Defect」を含む例文一覧(18306)
＜前へ 1 2 .... 200 201 202 203 204 205 206 207 208 .... 366 367 次へ＞- To provide an optical film which is free from the problem of a streak defect and a press defect on the film surface, ensures good surface workability of a hard coat layer, an antireflection layer or the like, keeps high contrast, and has excellent durability at high temperature and high humidity, a polarizing plate, and a liquid crystal display using the polarizing plate.
本発明の目的は、フィルムの表面のスジ故障と押され故障の問題がなく、ハードコート層や反射防止層などの表面加工性がよく、高いコントラスト、高温高湿時の耐久性に優れた光学フィルム、偏光板、及び該偏光板を用いた液晶表示装置を提供することにある。 - 特許庁 - A defect inspecting device 10 inspects the defect based on red reflected and scattered light reflected by the upper face 12B of a glass substrate 12, blue reflected and scattered light reflected by the lower face 12C of the glass substrate 12, and green reflected and scattered light reflected by an end face 12A of the glass substrate 12.
実施の形態の欠点検査装置１０は、ガラス基板１２の上面１２Ｂで反射した赤色の反射散乱光、ガラス基板１２の下面１２Ｃで反射した青色の反射散乱光、及びガラス基板１２の端面１２Ａで反射した緑色の反射散乱光に基づいて欠点を検査する。 - 特許庁 - Thereby, when there exists a defect at the portion provided in the hole 61 of the inspection electrode means 6, discharge is made at the defective part, thereby a defect of the piezoelectric tube 3 provided at the hole 61 of the inspection electrode means 6 can be identified, and a mark can be made at the defective part.
これによって、検査用電極手段６の孔６１に配設された部分に欠陥が存在する場合、その欠陥部で放電するため、欠陥が検査用電極手段６の孔６１に配設された圧電体チューブ３に存在することを特定できるとともに、欠陥部にマークをつけることができる。 - 特許庁 - To provide a silicon wafer and a method for manufacturing thereof, in which neither a COP nor a dislocation cluster is contained, a defect (grown-in defect containing oxide silicon) like oxygen precipitation nucleus which exists in an OSF nucleus and P_V region not actualized in an as-grown state is disappeared or reduced.
ＣＯＰや転位クラスターが含まれず、ａｓ−ｇｒｏｗｎ状態では顕在化していないＯＳＦ核やＰ_V領域に存在する酸素析出核のような欠陥（酸化シリコンを含むｇｒｏｗｎ−ｉｎ欠陥）が消滅もしくは低減されているシリコンウェーハおよびその製造方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a hollow fiber membrane selection method capable of easily performing selection and detection of a leak thread of a hollow fiber membrane module having a defect part in which a content such as a coloring liquid and a fluorescent dye does not remain on the membrane even after selection, and to provide a method for manufacturing the hollow fiber membrane repairing the subsequently detected defect part.
欠陥部を有する中空糸膜モジュールのリーク糸の選別、検出を容易に実施でき、しかも選別後であっても、膜に着色液や蛍光染料などの含有成分が残存しない中空糸膜選別方法、及び引き続き検出した欠陥部を補修する中空糸膜製造法を提供する。 - 特許庁 - To prevent a wiring conductor layer and a thin-film wiring conductor layer formed on the upper layer of a resin insulating layer from being short- circuited by preventing a defect hole from penetrating the wiring conductor layer even if a laser beam is applied to the resin insulating layer through a pin hole located on the dielectric layer of a mask and hence the defect hole is formed.
マスクの誘電体層にあるピンホールを通してレーザ光が樹脂絶縁層に照射され欠損孔が形成されても、配線導体層まで貫通しないようにして、配線導体層と樹脂絶縁層の上層に形成した薄膜配線導体層とがショートするのを解消すること。 - 特許庁 - In the field-effect transistor, the thin layer portion 6a of an AlGaN barrier layer 6 is formed on the V defect 13 of a second GaN layer 4 and the non-growth region G1 of a third GaN layer 5 continuous with the V defect 13, and thereby made thinner than a flat portion 6b without performing etching.
この電界効果型トランジスタは、ＡｌＧａＮ障壁層６の薄層部６ａは、第２のＧａＮ層４のＶ欠陥１３およびＶ欠陥１３に連なる第３のＧａＮ層５の非成長領域Ｇ１上に形成されているので、エッチングを行うことなく平坦部６ｂよりも薄くできる。 - 特許庁 - The storage device (2) stores analysis data (21) with analysis information recorded therein about each of a plurality of failure modes pre-extracted in a product design or process design stage, and defect occurrence history data (22, 23) comprising defect information noted after the start of system operation and accumulated while associated with failure mode analysis information.
記憶装置（２）には、製品設計又は工程設計の段階で事前抽出された複数の故障モードのそれぞれについての解析情報が記録された解析データ（２１）と、システム稼働後に知見される不良情報を故障モード解析情報と関連付けて累積してなる不良発生履歴データ（２２，２３）とを格納する。 - 特許庁 - The production pathway navigation system is configured to calculate the percentage of defect-free product for every manufacturing history and model based on manufacturing history information transmitted from a manufacturing process management device and inspection history information transmitted from the inspection process management device, and determines the optimal production pathway from the calculated percentage of defect-free product.
この生産経路ナビゲートシステムは、まず、製造工程管理装置から送信された製造履歴情報と、検査工程管理装置から送信された検査履歴情報とに基づいて、製造履歴、機種毎に直行率を算出し、算出した直行率から最適な生産経路を決定しておく。 - 特許庁 - To provide a defect correction method of a color filter substrate, which is free from exfoliation of a transparent conductive layer-correcting layer from a base and requires a short time for repair even when defect repair processing for a color layer and a transparent conductive layer of a color filter substrate is performed in the stage where formation of the transparent conductive layer has been finished.
カラーフィルタ基板の透明導電層の形成が終えた段階で、着色層と透明導電層の欠陥修復処理を施しても、透明導電層修正層の下地からの剥離がなく、修復に要する時間が短いカラーフィルタ基板の修正方法を提供することである。 - 特許庁 - To provide a lap laser welding method for galvanized steel sheets having excellent weld bead shape and quality, with which the explosion of a weld metal and the occurrence of a weld defect due to the occurrence of a zinc vapor can be reduced, in lap laser welding of two galvanized steel sheets, and a defect-free lap welded joint of the galvanized steel sheets.
２枚の亜鉛めっき鋼板の重ねレーザ溶接において、亜鉛蒸気の発生による溶融金属の爆飛や溶接部欠陥の発生を低減し、溶接ビード形状および品質に優れた亜鉛めっき鋼板の重ねレーザ溶接方法および欠陥の無い亜鉛めっき鋼板の重ね溶接継手を提供すること。 - 特許庁 - To provide an apparatus and a method capable of detecting a defect at each part of a reticle with severity corresponding to the change degree of a brightness value due to the pixel position of each part of the reticle and capable of detecting only a defect becoming a problem at a time of the exposure of a wafer at a high speed with a simple constitution.
レチクル各部において、その部分の画素位置による輝度値の変化度合いに応じた厳しさで、レチクル各部の欠陥を検出でき、ウエハ露光時に問題がある欠陥だけを、簡単な構成で、かつ、高速に検出できる欠陥検出装置及び方法を提供することを目的とする。 - 特許庁 - After a defect-introduced layer 3 is formed in a substrate by injecting Si or an inert gas into the substrate through ion implantation IPI, an impurity-injected layer 4 is formed by injecting impurity into the layer 3 through ion implantation IP2, and the impurity in the layer 4 is thermally diffused along the defect-introduced layer 3.
Ｓｉまたは不活性ガスのイオン注入ＩＰ１を行うことにより、欠陥導入層３を形成した後、不純物のイオン注入ＩＰ２を行うことにより、不純物注入層４を形成し、不純物注入層４の不純物を欠陥導入層３に沿うようにして熱拡散させる。 - 特許庁 - To obtain a transfer unit of an image forming apparatus with which the winding of transfer paper on a photoreceptor, a transfer defect and a defect in separating transfer paper from a transfer belt are securely prevented by setting positional relations when a transfer unit is actually designed and by further setting a guideline for determining materials.
本発明の目的は、実際に転写装置を設計する場合の位置関係および材質を決める際の指針を設定して感光体からの転写紙の巻きつきや転写不良および転写ベルトからの転写紙の分離不良を確実に防止することのできる画像形成装置の転写装置を得ることにある。 - 特許庁 - A micromachining apparatus is used, which includes an AFM having a plurality of independently actuatable probes and uses an electron beam or a helium ion beam produced by a gas field ion source; wherein an isolating pattern 9 including a defect is grounded by bringing the conducting probe 6 into contact with the pattern, and then an opaque defect 8 is corrected while preventing charge-up by the electron beam 1.
独立に駆動できる複数の探針を有するAFMを付加した電子ビームまたはガスフィールドイオン源から発生するヘリウムイオンビーム微細加工装置で、導電性探針6を接触させることで欠陥を含む孤立したパターン9を接地して、電子ビーム1によるチャージアップを防止しながら黒欠陥8を修正する。 - 特許庁 - To provide a method and an apparatus for manufacturing laminated body of a laminated electronic component in which sink of the printing ink of an internal forming body element such as an electrode into the laminated body, a defect in quality due to insufficient drying and defect in shape of printing due to a recess at the stepped portion can be suppressed and controlled.
本発明は、積層体の内部へ電極など内部形成体要素の印刷インクの染込み、乾燥不十分による品質上の不具合および段差の凹部分による印刷形状不良が抑止、抑制される積層型電子部品の積層体製造方法およびその装置を提供することを目的とする。 - 特許庁 - To provide a surface observation method for an optical member suitable for observation as to quality determination of the optical member, capable of correcting a shift between respective images about two surfaces of the optical member to correlate an image of a defect itself with a reflected image of the defect, while adopting a so-called one-face imaging method.
いわゆる片面撮像方法を採用しつつも、光学部材の二つの表面に関する各画像のずれを補正して欠陥そのものの像と該欠陥の映り込み像とを対応づけることができる、光学部材の良否判定に関する観察に好適な光学部材の表面観察方法を提供すること。 - 特許庁 - To efficiently manage an address and capacity of a defective area without requiring any special managing means for managing the defective area irrelevantly to an initial defect or a succeeding defect when the defective areas wherein the adequacy of recorded data can not be guaranteed are dispersed on a recording medium.
記録したデータの正当性が保証できない不良領域が記録媒体内に散在するような状況において、初期不良または後発不良に関わらず、不良領域を管理するための特別な管理手段を必要とせず、不良領域のアドレスや容量を効率的に管理することを可能とする。 - 特許庁 - To provide a polishing liquid composition capable of reducing a surface defect such as a pit, a projection, etc. for substrate polishing of a memory hard disc, especially for finish polishing, a reduction method of the surface defect of the substrate using this polishing liquid composition and a manufacturing method of the substrate using this polishing liquid composition.
メモリーハードディスクの基板研磨、特に仕上げ研磨用として、ピットや突起等の表面欠陥を低減することが可能である研磨液組成物、該研磨液組成物を用いた基板の表面欠陥の低減方法及び前記研磨液組成物を用いた基板の製造方法を提供すること。 - 特許庁 - A spatial filter is applied to the photographed image for emphasizing a section where the brightness changes, the emphasized section is binarized for detecting close defects without any overlap, and it is judged whether the defect is a true defect or a noise based on the amount of feature at the detected section to count the number of defects.
撮影画像に対して空間フィルタを適用して輝度が変化する部分を強調し、当該強調した部分を２値化することによって近接した欠陥も重なることなく検出し、その検出した部分の特徴量を基に欠陥かノイズかを判別して欠陥個数を計数する。 - 特許庁 - This device includes a PLL processing HPF 40 having a cut-off frequency set to eliminate a defect signal component for a reproducing information signal read from an optical disk, and PLL processing is performed by using the reproducing information signal from which the defect signal component generated due to the influence of a fingerprint or the like has been eliminated.
光ディスクから読み出された再生情報信号についてのディフェクト信号成分を除去するようにカットオフ周波数が設定されたＰＬＬ処理用ＨＰＦ４０を設け、指紋等の影響によるディフェクト信号成分が除去された再生情報信号を用いてＰＬＬ処理が行われるようにする。 - 特許庁 - The mounting line is provided with a mounting machine specifying means specifying a defective mounting machine processing a mounting defect component from a plurality of the mounting machines 10 when the inspection machine 93 detects the mounting defect component and a mounting machine stopping means stopping the defective mounting machine which the mounting machine specifying means specifies.
本実装ラインは、検査機９３によって実装不良部品が発見された際に、複数の実装機１０の中から実装不良部品を処理した不良実装機を特定する実装機特定手段と、実装機特定手段によって特定された不良実装機を停止させる実装機停止手段と、を備える。 - 特許庁 - The transmitted and scattered light is cut by a B band cut filter 28 and an R band cut filter 30 and a defect is inspected, so that even the defect that can be detected by image pickup by reflected and scattered light but cannot be detected by image pickup by transmitted and scattered light can be detected certainly.
すなわち、本発明は、Ｂバンドカットフィルタ２８、Ｒバンドカットフィルタ３０によって透過散乱光をカットして欠点の検査を実施するため、反射散乱光による撮像では検出できるが、透過散乱光による撮像では検出できない欠点であっても確実に検出することができる。 - 特許庁 - When the cholesteric liquid crystal layer 20 to be inspected has a defect, the polarization state of light generates abnormality in the position where the defect is present on the plane of the cholesteric liquid crystal layer 20, which generates irregularity in brightness (in-plane distribution) of the illumination light L exiting from the second absorption type linearly polarizing layer 13.
検査対象となるコレステリック液晶層２０に欠陥がある場合には、コレステリック液晶層２０の平面のうち欠陥が存在する箇所で光の偏光状態に異常が生じるので、第２の吸収型直線偏光層１３から出射した照明光Ｌに明暗の差（面内分布）が生じる。 - 特許庁 - By dispersing a beam of laser induction plasma generated in welding, presence or absence of defect generation is discriminated based on an intensity ratio between the emission spectrum intensity of the specific element relating to welding defect generation and the emission spectrum intensity of the material to be welded having a wave length close to a wave length of the specific element.
溶接時に発生するレーザ誘起プラズマの光を分光し、溶接欠陥の発生に関わる特定の元素の発光スペクトルの強度と、この元素の発光スペクトルの波長に近接する波長を持つ被溶接材の元素の発光スペクトルの強度との強度比に応じて欠陥発生の有無を判定する。 - 特許庁 - The defect inspecting apparatus has a laser source 3, and a linear sensor 13 for detecting reflection light from a sample 1 irradiated with laser beams emitted from the laser source 3 and an observation camera 24 for acquiring defect inspection images for detecting defects on the sample by the linear sensor and acquiring the observation images of the samples by the observation camera.
レーザ源３と、レーザ源３から出射したレーザ光によって照射された試料１からの反射光を検出するリニアセンサ１３と観察カメラ２４とを有し、上記リニアセンサにより試料上の欠陥を検出するための欠陥検査画像を取得し、上記観察カメラにより試料の観察画像を取得する。 - 特許庁 - In dry etching employing a resist pattern 13 for patterning a silicon nitride film 12 and a silicon oxide film 11, a defect introduced into a silicon substrate 10 at the time of growth to cause a conical pattern defect is removed by digging down the surface of an isolation trench forming region on a silicon substrate at the time of overetching.
シリコン窒化膜１２及びシリコン酸化膜１１をパターン化するためのレジストパターン１３を用いたドライエッチングにおいて、オーバーエッチング時にシリコン基板１０における分離用溝形成領域の表面部を掘り下げることにより、円錐状パターン欠陥の原因となるシリコン基板１０中の成長時導入欠陥を除去する。 - 特許庁 - Defect kind number distribution work is repeated when a plurality of defects of an inspection object exists after all is evaluation-finished, and a recipe file is output as the accumulated condition with the large defect signal intensity and an inspection condition item distribution as an inspection recipe to be provided to the inspection condition setting person.
全て評価完了し、検査対象としたい欠陥が複数ある場合には欠陥種類数分作業を繰返し、蓄積された欠陥信号強度の大きい条件及び検査条件項目分布を検査条件レシピとして自動的にレシピファイルを出力して検査条件設定作業者に提供する。 - 特許庁 - To provide an SEM-type defect-reviewing device that automatically classifies defects in continuity fail such as discontinuity and short-circuiting generated in conductor components such as a contact hole buried in a substrate to be inspected such as a semiconductor wafer to categories correlating closely with the causes of the defect.
半導体ウエハ等の被検査対象基板内に埋もれたコンタクトホール等の導体部品に発生する導通不良（非導通、短絡など）欠陥について、その発生原因と直接相関の高いカテゴリに自動的に分類してユーザに提示するＳＥＭ式欠陥レビュー装置およびその方法を提供することにある。 - 特許庁 - When the end face defects of the metal ring 2 are inspected by a defect inspection section 15, an angle to the surface to be inspected at least in first and second waveguides included in the defect inspection section 15 is continuously changed in a prescribed range (θ1 to θ5) by an angle changing means.
欠陥検査部１５によって金属リング２の端面欠陥が検査する際に、角度変更手段により、前記欠陥検査部１５に含まれる少なくとも前記第一の導光路及び第二の導光路の前記被検査面に対する角度を所定の範囲（θ１〜θ５）で連続的に変更操作する。 - 特許庁 - A defect part 3 which is provided in a linear photonic crystal structure 1 periodically varying in refractive index and different in cycle at one place is arranged shifting from the center part of the photonic crystal to one side and the defect part 3 is constituted of a light absorbing member made of a material which varies in absorption coefficient with external control light 5.
周期的に屈折率が変わる一次元フォトニック結晶構造１に設ける1 箇所周期の異なる欠陥部３をフォトニック結晶の中心部より一方側にずれて配置するとともに、前記欠陥部３を外部からの制御光５で吸収係数の変わる材質からなる光吸収部材で構成する。 - 特許庁 - To provide an image forming method and an image forming apparatus which prevent occurrence of image defects due to surface flawing of a photoreceptor, improve the transferability of a toner by an image forming system using an intermediate transfer member and cause neither streaky image defect nor image defect such as a void.
本発明の目的は感光体の表面傷の発生に原因する画像欠陥の発生を防止し、中間転写体を用いた画像形成方式のトナーの転写性を改善し、筋状の画像欠陥や中抜け等の画像欠陥を発生させない画像形成方法、画像形成装置を提供。 - 特許庁 - The defect inspection device for inspecting the presence of the defect of an object to be inspected using the neural network is equipped with an artificial flaw forming means for forming the artificial defective image of the object to be inspected by image processing and a learning means for learning the neural network on the basis of the artificially formed defective image.
ニューラルネットワークを用いて被検物の欠陥の有無を検査する欠陥検査装置において、被検物の人工的な欠陥画像を画像処理により作成する人工欠陥作成手段と、人工的に作成された欠陥画像により前記ニューラルネットワークを学習させる学習手段と、を備える。 - 特許庁 - To provide an image pickup apparatus and an imaging method capable of always maintaining a high-quality image without defect and preventing a photographing chance from being missed by providing a means of performing defect detection based on user's intention by a user's operation, in the detection of defective pixels in an image pickup element such as a CCD image sensor.
本発明は、CCDイメージセンサーなどの撮像素子の欠陥画素の検出において、ユーザー操作によりユーザーの意思で欠陥検出をおこなう手段を提供することにより、常に欠陥のない高品質な画像を維持できると共に、撮影機会を損ねることがない撮像装置及び撮像方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a defect correction method by a laser beam in which a compound substrate disposed with a resin section of a correction object and an underlayer composed of ITO which is the underlayer thereof, successively from the surface side of a substrate on the substrate can be readily and surely subjected to correction of a projection defect of the resin section.
基材上に、その表面側から順に、修正対象の樹脂部とその下地であるＩＴＯからなる下地層を配設した複合基材において、下地層を損傷することなく、簡単に、且つ、確実に、樹脂部の突起欠陥の修正を行える、レーザ光による欠陥修正方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a smaller-sized liquid crystal display device wherein a continuity defect of a counter electrode and an alignment defect of a liquid crystal generated by expansion and contraction of a conductive resin are eliminated and connection using the conductive resin is made possible even when a liquid crystal display panel has a narrow spacing between a pixel electrode substrate and a counter electrode substrate.
導電性樹脂の伸縮によって発生する対向電極の導通不良及び液晶の配向不良を無くし、画素電極基板と対向電極基板の間隔が狭い液晶表示パネルであっても、導電性樹脂を用いた接続が可能となり、より小型化した液晶表示装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a cellulose acylate film which dissolves the defect that unevenness of display develops when a polarizing plate, which uses a cellulose acylate film that has been formed into a film by melting, is incorporated in a liquid crystal display, and to provide a cellulose acylate preparation for melt casting which, being melted, can form the cellulose acylate film that dissolves this defect.
溶融製膜したセルロースアシレートフィルムを用いた偏光板を液晶表示装置に組み込んだ際に表示むらが発生する不具合を解消したセルロースアシレートフィルム、及びこの不具合を解消したセルロースアシレートフィルムを溶融成膜することができる溶融流延用セルロースアシレート製剤を提供する。 - 特許庁 - The defect detecting device performs a filtering process for the reduced image in the first direction for removing the defect in the reduced image, and generates a first enlarged image formed by enlarging the reduced image to which the filtering process has been performed, in the first direction at an image enlargement ratio equivalent to the inverse number of the image reduction ratio.
縮小画像に対して縮小画像における欠陥を除去するためのフィルタ処理を第一の方向に実行し、フィルタ処理が実行された縮小画像を、画像縮小率の逆数に相当する画像拡大率で第一の方向へ拡大した第一の拡大画像を生成する。 - 特許庁 - To provide a sugarless candy continuously producible by dramatically shortening a solidification time as a defect of the sugarless hard candy having sorbitol as the main ingredient, and overcoming a problem of having weak heat resistance as a defect of the sugarless candy; to provide candy combined with the sugarless candy; and to provide a method for producing the candy.
ソルビトールを主成分としたシュガーレスハードキャンディの欠点である固化時間を飛躍的に短縮し、連続生産可能にすることと、シュガーレスキャンディの欠点である耐熱性が弱いという問題点を克服したシュガーレスキャンディ、これを組み合わせたキャンディ及びその製造方法を提供すること。 - 特許庁 - The pattern correcting device irradiates a defect portion where patterns of a substrate 7 to be corrected on a Y-axis table 6 connect with each other with laser light from a laser light source 1 to cut an unnecessary portion, and then irradiates a defect portion circumference while making the output of the laser light source 1 smaller to remove scattered bodies of the unnecessary part.
このパターン修正装置では、Ｙ軸テーブル６上の被修正対象基板７のパターン同士が繋がっている欠陥部にレーザ光源１からレーザ光を照射して不要な部分を切断した後、レーザ光源１の出力を小さくして欠陥部周辺を照射し、不要な部分の飛散物を除去する。 - 特許庁 - This inspection device is provided with an imaging device 11 for imaging the plurality of transmission surfaces, and an image processing part 16 for processing an image imaged by the imaging device to detect a foreign matter or a defect, in order to inspect a foreign matter or a defect on the plurality of transmission surfaces in a specimen including the plurality of laminated transmission surfaces.
積層された複数の透過部材を含む被検物における複数の透過面の異物または欠陥に関して検査するために、前記複数の透過面を撮像する撮像装置１１と、前記撮像装置にて撮像した画像を処理して前記異物または欠陥を検出する画像処理部１６とを設ける。 - 特許庁 - To perform determination as efficiently as possible in a method for determining a drive unit for medium inspection by which the drive unit for medium inspection determines whether the drive unit for medium inspection normally detects a defect by inspecting a medium in which defect information representing the defective state of the medium is known.
媒体の欠陥の状況を表す欠陥情報が既知の媒体を検査して、媒体検査用ドライブ装置が正常に欠陥を検出できたか否かの判定を上記媒体検査用ドライブ装置が行う媒体検査用ドライブ装置の判定方法において、判定をできるだけ効率的に行うことである。 - 特許庁 - Preferably, the ultrasonic waves are oscillated from the side of the outside surface 2a of the face part 2 toward the side of the inside surface thereof, and reflected waves are received on the inside surface 2b side to detect the size of the defect S and the distance of the defect S from the inside surface 2a.
好ましくは、前記フェース部２の外表面２ａ側から内表面２ｂ側に向かって超音波を発振させ、且つ前記内表面２ｂ側で反射した反射波を受振することにより、前記内部欠点Ｓの大きさと、該内部欠点Ｓの前記内表面２ａからの距離とを検出する。 - 特許庁 - To provide a production method of a silicon wafer capable of effectively exercising a gettering effect also in a thin film device while having BMD (Bulk Micro Defect) in a shallow region of, for example, ≤10 μm from a surface layer with high density, but having no defect in an extreme surface layer functioning as a device active layer.
表層から例えば１０μｍ以内までの浅い領域にＢＭＤ（Ｂｕｌｋ Ｍｉｃｒｏ Ｄｅｆｅｃｔ）が高密度で存在するが、デバイス活性層として機能する極表層には欠陥が存在せず、薄膜デバイスに対してもゲッタリング効果を有効に発揮しうるシリコンウェーハの製造方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a power-supply current measuring method for a semiconductor device capable of detecting the defect generation state of a semiconductor device to be tested by a test system, and measuring stably the change of the power-supply current flowing in the semiconductor device to be tested by another testing device, while maintaining the defect generation state.
テストシステムにより被試験半導体デバイスの不良発生状態を検出し、その不良発生状態を維持したまま、他の試験装置が被試験半導体デバイスに流れる電源電流の変化を安定に測定することができる半導体デバイスの電源電流測定方法を提案する。 - 特許庁 - Since the substrate warp state in component mounting processes can be obtained from the substrate ID information and its approximate curved surface data when a substrate defect occurs as the years pass, it is possible to analyze the causal relationship of the defect and the substrate warp and take appropriate measures to meet the situation such as review of production conditions.
経年的に基板に不具合が発生した場合に、基板のＩＤ情報に基づいて近似曲面データから実装過程における基板の反り状態を把握することができるので、不具合と基板の反りとの因果関係を解析し、生産条件の見直し等の有効な対策を講じることができる。 - 特許庁 - To enable accurate and quick decision on the quality of a glass substrate, by precisely calculating the position of a defect in the depth direction, based on the image of a defect photographed, while moving the focal surface of a camera from the surface of the glass substrate to the inside, to obtain a clear image of a micro defects.
カメラの焦点面をガラス基板の表面から内部に移動させながら撮影された欠陥の映像に基づいて欠陥の深さ方向位置を正確に算出して、微細な欠陥の鮮明な映像を取得することにより、ガラス基板の良否を正確且つ素早く判断できるようにする。 - 特許庁 - The number of peaks, appearing in the envelope signal exceeding a set value obtained by multiplying an effective value of the envelope signal with a dB magnification, is integrated by a peak counter 111, and the presence of the defect, such as flaws in the rolling bearing is determined by a defect determination part 112, based on whether an integrated value exceeds a prescribed threshold value.
包絡線信号に表れるピークが包絡線信号の実効値にｄＢ倍率を乗じて得られる設定値を超える数をピークカウンタ１１１で積算し、欠陥判定部１１２により積算値が所定のしきい値を超えるか否かで転がり軸受におけるきず等の欠陥の有無を判定する。 - 特許庁 - Then, a black image is obtained under the same condition when the data is imaged, "defective pixel of defect grade N" in the black image is specified from the positional information of the defective pixel of defect grade N, and a representative value R of a differential value d between the pixel value of the specified defective pixel and the pixel value of pixels having the same color around the pixel is obtained.
その後、撮像されたときと同じ条件で黒画像を得て、欠陥グレードＮの欠陥画素の位置情報から、その黒画像における「欠陥グレードＮの欠陥画素」を特定し、特定した欠陥画素の画素値とその周囲の同色の画素の画素値との差分値ｄの代表値Ｒを得る。 - 特許庁 - A vehicle painted face inspection device is provided with an image pick-up device, and an image processing means for detecting automatically a fine defect generated on a vehicular painted face, based on a change in an image signal therefrom, and for preparing a two-dimensional defect position data projected with the fine defective position on a two-dimensional horizontal or vertical projection face.
車両塗面検査装置は、撮像装置と、その画像信号の変化から車両塗面に生じている微小欠陥を自動的に検知して、この微小欠陥位置を水平もしくは垂直の二次元投影面に投影した二次元の欠陥位置データを作成する画像処理手段とを備える。 - 特許庁
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