「Defect」を含む例文一覧(18306)
＜前へ 1 2 .... 202 203 204 205 206 207 208 209 210 .... 366 367 次へ＞- Performance monitoring at the photonic node supports the performance control and the defect control of the entire network and triggering of an option on the protection and the recovery of the entire network as well.
フォトニック・ノードにおける性能のモニタリングは、ネットワーク全体の性能管理および欠陥管理をサポートし、またネットワーク全体の保護と回復のオプションのトリガリングをサポートする。 - 特許庁 - To provide an IGBT device for having high resistance to noise as well as for preventing luminescence defect and malfunction that result from electric power saving of a strobe control circuit.
ストロボ制御回路の省電力化に伴う発光不良および誤動作を防止すると共に、ノイズ耐性の高いストロボ制御用ＩＧＢＴデバイスを提供する。 - 特許庁 - To provide a welding apparatus with which the occurrence of welded defect is prevented by supplying the air having low moisture content and perfectly removing bedewed moisture.
低湿分エアを溶接個所に供給し、結露した水分を完全に除去させて、溶接欠陥の発生を防止する溶接装置を提供することを目的とする。 - 特許庁 - A mask blank is prepared (ST11), distribution of the position or size of defects existing in the thin film of the mask blank is inspected (ST12), and a defect map is made (ST13).
マスクブランクスを準備し（ＳＴ１１）、マスクブランクスの薄膜に存在する欠陥の位置や大きさなどの分布を検査し（ＳＴ１２）、欠陥マップを作成する（ＳＴ１３）。 - 特許庁 - To provide a method and an apparatus for manufacturing a high quality crystal having less internal defect by controlling a crystal growth rate constant in manufacturing a fluoride single crystal for an optical element.
光学部材用フッ化物単結晶の製造工程において、結晶成長速度を一定に制御し、内部欠陥の少ない高品質な結晶を製造する。 - 特許庁 - To eliminate an image defect (void) by eliminating the need to strongly pressing a transfer roller against a transfer belt while reduce the entire apparatus size.
装置全体を小型に構成することができながら、転写ベルトに対して転写ローラを強く押し付ける必要を無くして、いわゆる画像欠損（中抜け）の不具合も解消する。 - 特許庁 - To provide a mold release film having small release force at a release time and no defect such as a pinhole or the like of the sheet particularly in manufacturing of the ceramic sheet of a thin layer.
特に薄層のセラミックシートの製造において、剥離時の剥離力が小さく、かつセラミックシートのピンホール等の欠点がない離型フィルムを提供すること。 - 特許庁 - To provide a joint method of sealing sheet which can depressurize inside ventilation passage to seal defect on the lower joint, if any.
接合部の下側の接合に不良がある場合でも通気路内を減圧することによって不良を塞ぐことができるような遮水シートの接合方法の提供を課題とする。 - 特許庁 - To provide a storage device and its storing method which enables easy confirmation as to whether data has been written normally (whether a writing defect occurs) at data updating.
更新時におけるデータの書き込みが正常に行われたか否か（書き込み不良が生じた）を容易に知ることのできる記憶装置及びその記憶方法を提供する。 - 特許庁 - To provide an image forming apparatus free from the occurrence of an image defect and faulty conveyance by preventing the variation of paper conveying speed relative to an intermediate transfer body with simple constitution.
中間転写体に対する用紙搬送速度の変動を簡単な構成により防止し、画像不良や搬送不良の発生しない画像形成装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a preform compression mold which becomes better in demolding properties in demolding a preform from the compression mold and does not produce any wrinkle defect to the preform.
プリフォームを圧縮成形用金型から離型する際の離型性が良好となり、プリフォームにしわ不良が生じないプリフォーム圧縮成形用金型を提供する。 - 特許庁 - To provide a laminated ceramic capacitor whose capacitance can be increased, while an insulation defect is being prevented and whose cutting deviation or the like in the L direction can be detected easily.
絶縁不良を防ぎつつ大容量化が可能で、かつＬ方向の切断ずれなども容易に検出することができる積層セラミックコンデンサを提供する。 - 特許庁 - To provide a method for forming a smooth pattern without a defect entirely from the start to the end of drawing without using a complicated configuration.
複雑な構成を用いることない、描画開始から終了に至るまでの全体にわたって欠陥のない滑らかなパターン形成方法を実現することを目的とする。 - 特許庁 - This defect detection device for the optically transparent film A includes: a conveyance means 5; an imaging means 1; an auxiliary member 2 for observation; a liquid filling means 7; and a liquid removal means 8.
光透過性フィルムＡの欠陥検出装置は、搬送手段５、撮像部１、観察用補助部材２、液体充填手段７、及び液体除去手段８を備える。 - 特許庁 - During a test sequence, the output signal of a row test circuit is monitored, and whether the defect such as the short circuit or the like is likely to exist in a row or the row driver is identified.
試験シーケンス中、行試験回路の出力信号を監視して、行又は行ドライバに短絡などの欠陥が存在していそうであるか否かを識別する。 - 特許庁 - To provide a method of manufacturing an SIMOX wafer capable of reducing or eliminating a defect gathering layer present nearby the interface of a bulk layer with an embedded silicon oxide film.
バルク層の埋め込みシリコン酸化膜との界面付近に存在する欠陥集合層を低減または消滅可能なＳＩＭＯＸウェーハの製造方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a cylindrical label with an IC tag in which damage and dropping off of the IC tag and attaching defect caused by the IC tag are prevented.
本発明は、ＩＣタグの損傷脱落や、ＩＣタグに起因する装着不良の発生を防止できるＩＣタグ付き筒状ラベルを提供することを課題とする。 - 特許庁 - Because of this idle transfer, an area from a defective pixel 13b-3 to a pixel at an end portion of the vertical transfer path becomes a state in which a dark current component 130 caused by defect exists.
この空転送により、欠陥画素１３ｂ−３から垂直転送路の終端の画素まで、欠陥に起因した暗電流成分１３０が存在する状態となる。 - 特許庁 - To resolve a communication defect caused by a failure to detect a gap in the idle state in the case that a communication network of serial connection is used to perform an arbitration process.
シリアル接続の通信網を用いてアービトレーション工程を行う場合に、アイドル状態においてギャップが検出できないことに起因する通信不良を解消する。 - 特許庁 - To improve a defect that a characteristic mode area of present two-dimensional bar code and format information relatively concentrate and easy to be broken and deformation-resistant ability is low.
現有の二次元バーコードの特徴モード領域とフォーマット情報が比較的集中しており、破壊されやすく、耐変形能力が悪いという欠点を改善する。 - 特許庁 - By changing clearance by the TFC, the defect detecting test in a different test condition can be performed without remarkably lowering the throughput of the manufacture of HDD.
ＴＦＣによってクリアランスを変化させることで、ＨＤＤ製造のスループットを大きく落とすことなく、異なるテスト条件における欠陥検出テストを行うことができる。 - 特許庁 - To provide a manufacturing method for a cold rolled steel strip capable of preventing a width defect and improving a yield by controlling a steel strip width before edge trimming.
エッジトリム前の鋼帯幅を制御して、幅不良発生の防止および歩留の向上を図ることができる冷延鋼帯の製造方法を提供すること。 - 特許庁 - To provide an image forming device which eliminates potential fall, the image unevenness or the like due to electrifying defect by means of preventing transfer residual toner from sticking to an electrifying member.
帯電部材に転写残りのトナーが付着するのを防止して、帯電不良による電位低下、画像ムラなどが生じないようにした画像形成装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a method and an apparatus for producing a tube with grooves on the inner surface with which the long tube with the grooves on the inner surface can be mass-produced at a low cost without developing any defect.
長尺な内面溝付き管を欠陥を招くことなく安価に量産することが可能な内面溝付き管の製造方法及び装置を提供する。 - 特許庁 - In this manufacturing method, a defect 4, wherein resist is not developed on a resist pattern 3 forming a wiring embedding groove 5 is formed in an interlayer insulating film 2, in the wiring forming process using damascene method.
ダマシン法を用いる配線形成工程において、層間絶縁膜２に配線埋込溝５を形成するレジストパターン３にレジストが現像されない欠陥４ができる。 - 特許庁 - A small diameter delivery device capable of arthroscopically delivering the tissue-loaded scaffold to a tissue defect or tissue injury site without reducing the pressure at the injury site is provided.
傷害部位の圧力を低下させずに、組織欠損部位或いは組織外傷部位に組織含有足場を関節鏡的に送達できる小径のデリバリー装置。 - 特許庁 - To prevent a trouble not predicted based on an internal defect density found conventionally from being generated, and enhance a yield to make productivity excellent.
従来求めていた内部欠陥密度からは予想されない不具合の発生を防止し、歩留り向上して生産性を良好とできる内部欠陥検出方法を提供する。 - 特許庁 - To provide an omnidirectional flaw detection probe capable of executing flaw detection inspection of a defect in a wide area of a specimen, in a short time, by the single probe.
本発明の目的は、単一のプローブで、被検体の広い領域における欠陥の探傷検査を短時間で実施することができる探傷プローブを提供することである。 - 特許庁 - To suppress the intrusion of garbage such as decomposed matter and by-products causing a black point defect during film deposition; and to prevent the reduction of a vapor deposition rate.
暗点欠陥の原因となる分解物質や副生成物などのゴミが成膜中に混入することを抑制し、さらに蒸着レートの低下を防ぐことを目的とする。 - 特許庁 - To correct a defect in which a user does not recognize the availability of an IP phone of a communication opposite party although the communication opposite party is provided with a service function of the IP phone operated at a low communication cost.
通信相手先に通信コストの安価なＩＰ電話のサービス機能があるにも関わらず、ＩＰ電話が使用できることをユーザが知ることができない。 - 特許庁 - The secondary defect layers 15 and 15-1 trap a heavy metal being diffused from the element isolation insulating film 14 into the active layer 13, and prevent deterioration in the characteristics of an element.
この２次欠陥層１５、１５−１は主に素子分離絶縁膜１４から活性層１３内に拡散する重金属をトラップし、素子の特性劣化を防止する。 - 特許庁 - To provide a disk surface inspection device capable of adjusting automatically an optical system so as to have sufficient sensitivity for detecting a defect which is an inspection object.
検査対象とする欠陥に対して検出するに十分な感度を持つよう光学系を自動調整できるようにしたディスク表面検査装置を提供することにある。 - 特許庁 - To provide a mobile phone that can eliminate a defect when a user is unaware of it even when an incoming call arrives during the absence of the user from a caller with whom the user desires to maintain routine contact.
例えば連絡を密にしたい発信元からの不在着信があってもユーザがそれに気づかないときの不具合を解消する携帯電話機を提供する。 - 特許庁 - To provide a casting mold for die casting which does not cause mold collapse during casting, is excellent in a collapsing property after casting and can suppress a penetration defect and a method for manufacturing it.
鋳造時に型くずれせず，鋳造後の崩壊性に優れ，かつ，差込不良を抑制することができる，ダイカスト用鋳型及びその製造方法を提供すること。 - 特許庁 - In the case that this defect detection percentage fulfills the detection percentage condition being set optionally, the provisional inspection parameter (a) used at this time is decided as an inspection parameter A (ST108).
この欠陥検出率が、任意に設定した検出率条件を満たす場合、この際用いた暫定検査パラメータａが検査パラメータＡとして決定される（ＳＴ１０８）。 - 特許庁 - To provide a continuous casting method and immersion nozzle which effectively prevents mold powder from being engulfed into spouting flow of molten steel, when the molten steel is poured from the immersion nozzle into a mold, and as a result can prevent occurrence of a surface defect and an internal inclusion in a rolled steel sheet.
浸漬ノズルからモールド内に溶鋼を注入する際に、該溶鋼の吐出流にモールドパウダが巻き込まれることを有効に防止する。 - 特許庁 - To realize defect-less film formation and, at the same time, to improve the treating capacity of a chemical vapor growth device by uniformly heating substrates placed in the apparatus in a short time.
化学的気相成長装置内の基板を均一にかつ短時間に加熱して、欠陥の発生が少ない成膜を実現するとともに処理能力の向上を図る。 - 特許庁 - A nullifying period-setting circuit 22 signally connected to the output circuit 39 sets a period for nullifying the inspection after the detection of the defect presence and the subsequent restart of the weaving operation.
出力回路３９に信号接続された無効化期間設定回路２２は、欠点有検出後の製織再開後の検反を無効化する期間を設定する。 - 特許庁 - To provide a printed circuit board not only restraining shape defect of a concave portion but also expanding applications of the concave portion, and to provide a method of manufacturing the printed circuit board.
凹部の形状不良などを抑制できるだけでなく、凹部の用途を拡大し得るプリント基板及びそのようなプリント基板の製造方法を提供すること。 - 特許庁 - To provide an apparatus for applying a proper amount of a highly viscous fluid on an accurate position of a workpiece in which a flange is stood from a peripheral part without generating a coating defect.
周縁部からフランジ部が立設しているワークに対して、塗布不良を発生させることなく、適正な量の高粘度流体を正確な位置に塗布する。 - 特許庁 - To provide an apparatus and a method for the treatment of a substrate wherein a treatment defect on the surface of a square substrate is suppressed and the surface of the square substrate can be treated uniformly.
角型基板上面の処理不良を抑え、角型基板上面を均一に処理することが可能な基板処理装置および基板処理方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a can body inspection device and a can body inspection method capable of inspecting exactly a defect of a shape generated in a can body formed with unevenness in a side face.
側面に凹凸が形成された缶体に生じる形状の欠陥を的確に検査することが可能な缶体検査装置及び缶体検査方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a laminated ceramic electronic component that eliminates a defect in connection due to insufficient charging of paste into via holes and can obtain low Rdc (DC resistance).
バイアホールへのぺ一ストの充填不足に起因する接続不良を解消し、しかも低Ｒｄｃ（直流抵抗）を得ることができる積層セラミック電子部品を提供する。 - 特許庁 - To provide an image processing apparatus capable of executing defect correction of an image sensor without an error, even in the case of an image picked up with an optical system having a large distortion.
大きな歪曲収差を持つ光学系で撮影された画像の場合にも、誤差なくイメージセンサの欠陥補正を行うことができる画像処理装置を提供する。 - 特許庁 - To protect an inspection coil system from a heating action caused by inspected steel to improve detection sensitivity as to a location and a laying length of a defect portion contained in an inspected material.
検査コイルシステムを被検査鋼による加熱作用から保護し、被検査材料に含まれている欠陥個所の場所および延在長さに関する検出感度を改善する。 - 特許庁 - This system is constructed for extracting feature value from a position, in which occurrence of an electric property defect due to influence of a board layout is expected, in inputted board layout information.
本発明では、入力された基板レイアウト情報の基板レイアウトの影響による電気特性不良の発生が予測される位置から特徴量を抽出する。 - 特許庁 - To provide an SIMOX (Separation by Implanted Oxygen) substrate where pit-like defect generation on a silicon layer surface is extremely small, and further an SIMOX substrate which has a sufficient gettering site inside.
シリコン層表面のピット状欠陥発生のきわめて少ないＳＩＭＯＸ基板、およびさらに内部に十分なゲッタリングサイトを有するＳＩＭＯＸ基板の提供。 - 特許庁 - More specifically, in the inspection of the mask RM, it is possible to perform the defect inspection without performing a comparison inspection that requires a great amount of measuring time and advanced techniques.
すなわち、マスクＲＭの検査において、多くの測定時間と高度な技術が要求される比較検査を行わないで、欠陥検査を行うことができる。 - 特許庁 - To provide an optical sheet having easy mold release property and improving the yield while maintaining defect concealing property, and also to provide a roll mold, and a method for manufacturing the roll mold.
欠陥隠蔽性を保ちながら、離型が容易であり、歩留まりを向上させることができる光学シート、ロール金型、及びロール金型の製造方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a sliding device for shaft eliminating a defect bringing a belt-like cover into contact with a frame and causing dust when a slider moves and improving dustproof effect.
スライダ移動時にベルト状カバーがフレームに接触し、発塵するという欠点を解消し、防塵効果の向上を図った軸用スライド装置を提供すること。 - 特許庁
- 特許庁
- Copyright © Japan Patent office. All Rights Reserved.
