「Defect」を含む例文一覧(18306)
＜前へ 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 .... 366 367 次へ＞- DEFECT MARKER, DEFECT MARKING METHOD, AND DEFECT MARKING EVALUATOR
欠陥マーキング装置及び欠陥マーキング方法、並びに欠陥マーキング評価装置 - 特許庁 - SEMICONDUCTOR DEFECT ANALYZING APPARATUS, DEFECT ANALYZING METHOD, AND DEFECT ANALYZING PROGRAM
半導体不良解析装置、不良解析方法、及び不良解析プログラム - 特許庁 - PRODUCT DEFECT CONTROL SYSTEM
製品欠陥管理システム - 特許庁 - PROJECTION DEFECT REPAIR DEVICE
突起欠陥補修装置 - 特許庁 - PATTERN DEFECT EXAMINING METHOD
パターン欠陥検査方法 - 特許庁 - PHOTOMASK DEFECT REPAIR DEVICE
フォトマスク欠陥リペア装置 - 特許庁 - A defect correction function section 184 corrects the defect by using defect information read from the defect address memory 38b.
欠陥アドレスメモリ38b から読み出した欠陥情報を用いて欠陥補正機能部184 で欠陥補正を行う。 - 特許庁 - COATING DEFECT CORRECTING APPARATUS
塗布不良修正装置 - 特許庁 - PIXEL DEFECT CORRECTION DEVICE
画素欠陥修正装置 - 特許庁 - SUBSTRATE DEFECT DETECTOR
基板欠陥検出装置 - 特許庁 - WORK DEFECT DETECTION SYSTEM
ワーク不良検出システム - 特許庁 - CONNECTOR DEFECT INSPECTION DEVICE
コネクタ不具合検査装置 - 特許庁 - DEFECT INSPECTION SUPPORT DEVICE AND DEFECT INSPECTION SUPPORT METHOD
欠陥検査支援装置、欠陥検査支援方法 - 特許庁 - OBSERVED DEFECT SELECTING/PROCESSING METHOD, DEFECT OBSERVING METHOD, OBSERVED DEFECT SELECTING/PROCESSING SYSTEM, AND DEFECT OBSERVATION APPARATUS
観察欠陥選択処理方法、欠陥観察方法、観察欠陥選択処理装置、欠陥観察装置 - 特許庁 - DEFECT INSPECTING APPARATUS, DEFECT INSPECTION METHOD, AND PROGRAM
欠陥検査装置、欠陥検査方法およびプログラム - 特許庁 - INSPECTING APPARATUS FOR SUBSTRATE DEFECT
基板欠陥検査装置 - 特許庁 - EQUIPMENT DEFECT NOTIFYING SYSTEM
設備異常通知方式 - 特許庁 - treatment of a specific defect
特定の欠陥の処置 - 日本語WordNet - PAINTING DEFECT INSPECTION METHOD
塗装不良検査方法 - 特許庁 - PATTERN DEFECT CLASSIFICATION DEVICE
パタ—ン欠陥分類装置 - 特許庁 - DEFECT INSPECTION DEVICE FOR FILM
フィルム欠陥検査装置 - 特許庁 - PATTERN DEFECT INSPECTION METHOD
パターン欠陥検査方法 - 特許庁 - IMAGE DEFECT INSPECTION DEVICE, IMAGE DEFECT INSPECTION SYSTEM, AND IMAGE DEFECT INSPECTION METHOD
画像欠陥検査装置、画像欠陥検査システム及び画像欠陥検査方法 - 特許庁 - LOW-DEFECT DEPOSITION METHOD AND LOW-DEFECT THIN FILM, AND LOW- DEFECT FILM DEPOSITION APPARATUS
低欠陥成膜法及び低欠陥薄膜並びに低欠陥膜成膜装置 - 特許庁 - PATTERN DEFECT CORRECTING DEVICE
パターン欠陥修正装置 - 特許庁 - INTERNAL DEFECT DETECTING APPARATUS
内部欠陥検出装置 - 特許庁 - PREPREG DEFECT INSPECTION METHOD
プリプレグ欠点検査方法 - 特許庁 - MASK DEFECT INSPECTION APPARATUS AND MASK DEFECT INSPECTION METHOD
マスク欠陥検査装置及びマスク欠陥検査方法 - 特許庁 - SURFACE DEFECT INSPECTION DEVICE
表面欠陥検査装置 - 特許庁 - PROJECTION DEFECT CORRECTING DEVICE
突起欠陥修正装置 - 特許庁 - PIXEL DEFECT CORRECTING DEVICE AND PIXEL DEFECT CORRECTING METHOD
画素欠陥補正装置及び画素欠陥補正方法 - 特許庁 - DEFECT IN BRAKE EXPERIENCING APPARATUS
ブレーキ失陥体験装置 - 特許庁 - WAFER DEFECT INSPECTING METHOD AND WAFER DEFECT INSPECTING APPARATUS
ウェハ欠陥検査方法及びウェハ欠陥検査装置 - 特許庁 - SURFACE-DEFECT INSPECTION APPARATUS
表面欠陥検査装置 - 特許庁 - DEFECT SHAPE OBSERVING METHOD AND DEFECT INSPECTING DEVICE
欠陥形状観察方法および欠陥検査装置 - 特許庁 - METHOD OF COATING DEFECT INSPECTION
塗装不良検査方法 - 特許庁 - MINUTE DEFECT REMOVAL DEVICE
微小欠陥除去装置 - 特許庁 - STEEL SHEET DEFECT INSPECTION DEVICE
鋼板欠陥検査装置 - 特許庁 - PATTERN DEFECT CORRECTING DEVICE
パタ—ン欠陥修正装置 - 特許庁 - PATTERN DEFECT DETECTION DEVICE
パターン欠陥検出装置 - 特許庁 - LEAK DEFECT DETECTING METHOD
リーク欠陥検出方法 - 特許庁 - INSPECTION APPARATUS FOR DEFECT OF WAFER
ウェーハ欠陥検査装置 - 特許庁 - SURFACE DEFECT INSPECTION APPARATUS
表面欠陥検査装置 - 特許庁 - CRYSTAL DEFECT ANALYZER
結晶欠陥解析装置 - 特許庁 - DISCHARGE DEFECT DETECTION METHOD
吐出不良検知方法 - 特許庁 - SURFACE DEFECT INSPECTING DEVICE
表面欠陥検査装置 - 特許庁 - DEFECT CLASSIFICATION EQUIPMENT, DEFECT CLASSIFICATION METHOD, AND PROGRAM
欠陥分類装置、欠陥分類方法およびプログラム - 特許庁 - NONDESTRUCTIVE DEFECT INSPECTION SYSTEM
非破壊欠陥検査システム - 特許庁 - SURFACE DEFECT INSPECTING APPARATUS
表面欠陥検査装置 - 特許庁 - WOOD DEFECT DETECTOR
木材欠陥検出装置 - 特許庁
