「Defect」を含む例文一覧(18306)

＜前へ 1 2 .... 6 7 8 9 10 11 12 13 14 .... 366 367 次へ＞
  • CRYSTAL-DEFECT EVALUATING METHOD
    結晶欠陥の評価方法 - 特許庁
  • DEFECT INSPECTION DATA PROCESSING METHOD
    欠陥検査データ処理方法 - 特許庁
  • METHOD FOR REPAIRING DEFECT OF CASTING
    鋳物の欠陥補修方法 - 特許庁
  • INSPECTION APPARATUS FOR DEFECT OF TAPE CARRIER
    テープキャリア欠陥検査装置 - 特許庁
  • DETECTION METHOD OF CRACK DEFECT
    亀裂欠陥の検出方法 - 特許庁
  • SURFACE SCRATCH DEFECT INSPECTION APPARATUS
    表面キズ欠陥検査装置 - 特許庁
  • DEFECT CORRECTING METHOD FOR PATTERN
    パターンの欠陥修正方法 - 特許庁
  • METHOD FOR REPAIRING DEFECT ON SUBSTRATE
    基板欠陥の修理方法 - 特許庁
  • FRONT PLATE DEFECT MEASURING APPARATUS
    前面板欠陥測定装置 - 特許庁
  • INSPECTION METHOD FOR SURFACE DEFECT
    表面欠陥の検査方法 - 特許庁
  • INSPECTION METHOD OF CRYSTAL DEFECT
    結晶欠陥の検査方法 - 特許庁
  • CORRECTING METHOD OF PHOTOMASK DEFECT
    フォトマスク欠陥修正方法 - 特許庁
  • Why didn't he defect to our side?!
    なぜ こちらに つかぬのじゃ! - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書
  • It's... a genetic defect of some kind.
    遺伝子の欠陥か何かよ - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書
  • METHOD FOR CORRECTION OF MASK DEFECT
    マスクの欠陥修正方法 - 特許庁
  • METHOD OF CORRECTING PHOTOMASK DEFECT
    フォトマスク欠陥修正方法 - 特許庁
  • IMPROVED DEFECT DETECTION SYSTEM
    不良検出システムの改良 - 特許庁
  • DETERMINATION OF REAL-TIME DEFECT CAUSE
    リアルタイム欠陥原因決定 - 特許庁
  • It is a defect data analysis method to analyze the defect distribution status based on defect position coordinates detected by an inspection device to classify into any one of the distribution characteristics categories among iterations defect, high density defect, line distribution defect, ring/massive distribution defect, and random defect.
    検査装置によって検出された欠陥位置座標に基づいて欠陥の分布状態を解析し、繰り返し欠陥、密集欠陥、線状分布欠陥、環・塊状分布欠陥、ランダム欠陥のうちいずれかの分布特徴カテゴリに分類する。 - 特許庁
  • SURFACE DEFECT INSPECTION APPARATUS AND SURFACE DEFECT INSPECTION METHOD
    表面欠陥検査装置および表面欠陥検出方法 - 特許庁
  • SURFACE DEFECT DETECTION METHOD AND SURFACE DEFECT DETECTING DEVICE
    表面欠陥検出方法および表面欠陥検出装置 - 特許庁
  • DEFECT EVALUATION DEVICE OF LENS, AND DEFECT EVALUATION METHOD OF LENS
    レンズの欠点評価装置およびレンズの欠点評価方法 - 特許庁
  • DEFECT CLASSIFICATION METHOD, ITS DEVICE, AND DEFECT INSPECTION DEVICE
    欠陥分類方法及びその装置並びに欠陥検査装置 - 特許庁
  • DEFECT INSPECTION DEVICE FOR FILM, AND DEFECT INSPECTION METHOD FOR FILM
    フィルムの欠陥検査装置およびフィルムの欠陥検査方法 - 特許庁
  • IMPROVEMENT FOR DEFECT DETECTION SYSTEM
    不良検出システムの改良 - 特許庁
  • APPARATUS FOR DETECTING DEFECT OF IMAGE AND ITS DEFECT DETECTION METHOD
    画像の欠陥検出装置及びその欠陥検出方法 - 特許庁
  • DEFECT DETECTION METHOD AND DEFECT DETECTION DEVICE OF PLATE BODY
    板状体の欠陥検出方法及び欠陥検出装置 - 特許庁
  • DEFECT INSPECTION METHOD AND APPARATUS
    不良検査方法及び装置 - 特許庁
  • DEFECT DETECTING OPTICAL SYSTEM AND SURFACE DEFECT INSPECTING DEVICE FOR MOUNTING DEFECT DETECTING IMAGE PROCESSING
    欠陥検出光学系および欠陥検出画像処理を搭載した表面欠陥検査装置 - 特許庁
  • DEFECT INSPECTION METHOD, SCHEDULE CONTROL METHOD AND DEFECT INSPECTION DEVICE
    欠陥検査方法、工程管理方法及び欠陥検査装置 - 特許庁
  • DEFECT INSPECTION APPARATUS, DEFECT INSPECTION METHOD, PROGRAM, AND RECORDING MEDIUM
    欠陥検査装置、欠陥検査方法、プログラムおよび記録媒体 - 特許庁
  • COATING DEFECT REMOVING METHOD, AND POLISHING MACHINE FOR REMOVING COATING DEFECT
    塗装欠陥除去方法及び塗装欠陥除去用研磨機 - 特許庁
  • DEFECT DETECTION METHOD AND DEFECT-DETECTING APPARATUS OF OPTICAL COMPONENT
    光学部品の欠陥検出方法および欠陥検出装置 - 特許庁
  • DEFECT MARKING AND DEFECT REMOVING METHOD FOR STEEL SHEET AND DEVICE THEREFOR
    鋼板の欠陥マーキングと欠陥除去方法およびその装置 - 特許庁
  • To minimize defect occurrence and defect processing cost by performing defect processing corresponding to the importance of an article defect.
    物品不具合の重要度に応じた不具合処理を行うことにより、不具合発生や不具合処理費用の極小化を図る。 - 特許庁
  • This detects a film thickness defect (first defect) and a film stripped part (second defect) of the protective film 15.
    保護膜１５の膜厚不良部（第１の欠陥）、膜剥離部（第２の欠陥）を検出する。 - 特許庁
  • METHOD FOR DETECTING DEFECT OF SUSCEPTOR
    サセプタの欠陥検出方法 - 特許庁
  • EVALUATION METHOD OF PIN HOLE DEFECT
    ピンホール欠陥の評価方法 - 特許庁
  • SURFACE DEFECT DETECTOR AND SURFACE DEFECT DETECTION METHOD
    表面欠陥検出装置および表面欠陥検出方法 - 特許庁
  • DEFECT INSPECTION METHOD, AND DEFECT INSPECTION DEVICE USING SAME
    欠陥検査方法およびその方法を用いた欠陥検査装置 - 特許庁
  • DEFECT ANALYSIS APPARATUS FOR PERFORMING DEFECT NAVIGATION OVER DEVICE UNDER TEST
    被試験デバイスの不良ナビゲーションを行う不良解析装置 - 特許庁
  • SEMICONDUCTOR DEFECT INSPECTION DEVICE AND SEMICONDUCTOR DEFECT INSPECTION METHOD
    半導体欠陥検査装置および半導体欠陥検査方法 - 特許庁
  • To provide a defect detection method, a defect detection device and a defect detection program, for detecting a stripe defect with high accuracy.
    スジ状欠陥を精度よく検出する欠陥検出方法、欠陥検出装置、および欠陥検出プログラムを提供する。 - 特許庁
  • ANTICIPATED DEFECT LOCATION IDENTIFICATION METHOD AND ANTICIPATED DEFECT LOCATION IDENTIFICATION TOOL
    見込み欠陥位置同定方法、見込み欠陥位置同定ツール - 特許庁
  • DEFECT REVIEWING SYSTEM, DEFECT REVIEWING METHOD, DEFECT ANALYZING METHOD AND METHOD OF MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE
    欠陥レビュー装置、欠陥レビュー方法及び欠陥解析方法、半導体装置の製造方法 - 特許庁
  • MASK FOR DEFECT INSPECTION AND METHOD FOR MANUFACTURING MASK FOR DEFECT INSPECTION
    欠陥検査用マスク及び欠陥検査用マスクの製造方法 - 特許庁
  • SURFACE DEFECT INSPECTION METHOD BY A PLURALITY OF SURFACE DEFECT METERS
    複数の表面欠陥計による表面欠陥検査方法 - 特許庁
  • IMAGE FEATURE LEARNING TYPE DEFECT DETECTION METHOD, DEFECT DETECTION DEVICE AND DEFECT DETECTION PROGRAM
    画像特徴学習型欠陥検出方法、欠陥検出装置及び欠陥検出プログラム - 特許庁
  • DEFECT DETECTION DEVICE AND DEFECT DETECTION METHOD OF HOLOGRAM PRODUCT
    ホログラム製品の欠陥検出装置および欠陥検出方法 - 特許庁
  • DEFECT REGISTERING METHOD, DEFECT MAP RECORDING MEDIUM AND DISK DEVICE
    欠陥登録方法、ディフェクト・マップ記録媒体、およびディスク装置 - 特許庁
＜前へ 1 2 .... 6 7 8 9 10 11 12 13 14 .... 366 367 次へ＞

例文データの著作権について