「Defect」を含む例文一覧(18303)
＜前へ 1 2 .... 8 9 10 11 12 13 14 15 16 .... 366 367 次へ＞- DEFECT CORRECTION CIRCUIT OF IMAGING SENSOR
画像センサの欠陥補正回路 - 特許庁 - DEFECT INSPECTION DEVICE AND METHOD
欠陥検査装置および方法 - 特許庁 - DEFECT INSPECTION METHOD AND DEVICE
欠陥検査方法および装置 - 特許庁 - DEFECT INFORMATION FEEDBACK METHOD
欠陥情報のフィードバック方法 - 特許庁 - DEFECT CORRECTING METHOD OF PHOTOMASK
フォトマスクの欠陥修正方法 - 特許庁 - PRODUCT DEFECT ANALYSIS SUPPORT SYSTEM
製品不良解析支援システム - 特許庁 - DEFECT REVIEW METHOD AND DEVICE
欠陥レビュー方法および装置 - 特許庁 - METHOD AND DEVICE FOR DEFECT INSPECTION
欠陥検査方法及び装置 - 特許庁 - DISK SURFACE DEFECT INSPECTING DEVICE
ディスク表面欠陥検査装置 - 特許庁 - DEFECT CLASSIFICATION DICTIONARY TEACHING APPARATUS
欠陥分類辞書教示装置 - 特許庁 - DEFECT INSPECTION METHOD AND DEVICE
不良検査方法および装置 - 特許庁 - DEFECT INSPECTION DEVICE FOR GLASS CONTAINER
ガラス容器の欠陥検査装置 - 特許庁 - DEFECT INSPECTING DEVICE FOR PRINTING PAPER
印刷用紙欠陥検査装置 - 特許庁 - a disorder or defect of metabolism
代謝の障害または欠陥 - 日本語WordNet - An image defect is detected by a defect detecting part 50 based on the image data to store defect information indicating the position of the image defect into a defect information memory area 44a.
この画像データに基づき欠陥検出部５０で画像欠陥を検出し、画像欠陥の位置を示す欠陥情報を欠陥情報記憶領域４４ａに記憶する。 - 特許庁 - This defect detection method includes a defect emphatic processing process for performing defect emphatic processing to an imaged image, and a defect detection process for detecting a defect.
欠陥検出方法は、撮像画像に対して欠陥強調処理を行う欠陥強調処理工程と、欠陥を検出する欠陥検出工程とを有している。 - 特許庁 - DEVICE FOR REMOVING SOLDERING DEFECT AND METHOD FOR REMOVING SOLDERING DEFECT
半田付け不良除去装置および半田付け不良除去方法 - 特許庁 - DEFECT DETECTION METHOD, DEFECT DETECTION CIRCUIT, AND OPTICAL DISK DRIVE
欠陥検出方法、欠陥検出回路及び光ディスク駆動装置 - 特許庁 - DEFECT CLASSIFICATION SYSTEM, DEFECT CLASSIFICATION DEVICE, AND IMAGE PICKUP DEVICE
欠陥分類システム及び欠陥分類装置及び画像撮像装置 - 特許庁 - DEFECT ANALYZING SYSTEM, FATAL DEFECT EXTRACTING METHOD, AND RECORDING MEDIUM
不良解析システム、致命不良抽出方法及び記録媒体 - 特許庁 - DEFECT INSPECTION DEVICE, SPECIMEN FOR ELECTRONIC DEVICE AND DEFECT INSPECTION METHOD
欠陥検査装置、電子装置用試験体、及び欠陥検査方法 - 特許庁 - METHOD FOR REPAIRING CRACKING DEFECT
亀裂状欠陥の補修方法 - 特許庁 - A defect image being not an inspection excluding defect is selected, and the overall defect is detected by discriminating an image on the basis of this defect image.
検査除外欠陥でない欠陥画像を選択し、これに基づいて画像を判別することによって全体の欠陥を検出する。 - 特許庁 - DEFECT MARKING METHOD AND WORK METHOD OF COIL MARKED WITH DEFECT
欠陥マーキング方法及び欠陥マーキングしたコイルの作業方法 - 特許庁 - DEFECT EXAMINATION APPARATUS, DEFECT EXAMINATION METHOD AND MANUFACTURING APPARATUS FOR LENS SHEETS
レンズシートの欠陥検査装置、欠陥検査方法及び製造装置 - 特許庁 - DEFECT DETECTING APPARATUS AND DEFECT DETECTING METHOD FOR SOLID-STATE IMAGING ELEMENT, DEFECT CORRECTION APPARATUS AND DEFECT CORRECTION METHOD, AND IMAGING APPARATUS
固体撮像素子の欠陥検出装置および欠陥検出方法、欠陥補正装置および欠陥補正方法ならびに撮像装置 - 特許庁 - DEFECT DIMENSION MEASURING APPARATUS, DEFECT DIMENSION MEASUREMENT METHOD, AND PROGRAM
欠陥寸法測定装置、欠陥寸法測定方法、及びプログラム - 特許庁 - DEFECT MANAGEMENT METHOD AND PROGRAM THEREOF
欠陥管理方法及びプログラム - 特許庁 - DEFECT EVALUATION METHOD FOR STRUCTURE
構造物の欠陥評価方法 - 特許庁 - DEFECT CONTROL METHOD FOR FLASH MEMORY
フラッシュメモリの欠陥管理方法 - 特許庁 - SURFACE DEFECT TREATMENT METHOD, AND SURFACE DEFECT TREATMENT SELECTION SYSTEM
表面欠陥処置方法および表面欠陥処置選択システム - 特許庁 - DEFECT INSPECTION METHOD AND APPARATUS THEREOF
欠陥検査方法とその装置 - 特許庁 - In the case of the single defect, a defect image is fetched every time.
また、単発欠陥の場合にはその都度、欠陥画像を切り出す。 - 特許庁 - METHOD FOR CORRECTING DEFECT IN PHOTOMASK
フォトマスクの欠陥修正方法 - 特許庁 - DEFECT CONCENTRATION DEGREE INSPECTION DEVICE AND DEFECT CONCENTRATION DEGREE INSPECTION PROGRAM
欠陥密集度検査装置および欠陥密集度検査プログラム - 特許庁 - APPARATUS FOR REPAIRING DEFECT OF WOOD AND METHOD FOR REPAIRING DEFECT OF WOOD
木材の欠点補修装置、及び木材の欠点補修方法 - 特許庁 - METHOD FOR DISCRIMINATING DEFECT OF PHOTOMASK AND DEFECT PART HAVING BEEN CORRECTED
フォトマスクの欠陥部ないし修正後の欠陥部の判定方法 - 特許庁 - DEFECT INSPECTION METHOD AND DEFECT DETECTING DEVICE FOR ELECTROLUMINESCENT ELEMENT
エレクトロルミネッセンス素子の欠陥検査方法及び欠陥検出装置 - 特許庁 - DISPLAY DEFECT INSPECTION DEVICE, DISPLAY DEFECT INSPECTION METHOD, AND PROGRAM
ディスプレイ欠陥検査装置、ディスプレイ欠陥検査方法及びプログラム - 特許庁 - DEFECT INSPECTION DEVICE AND DEFECT INSPECTION METHOD OF POLYCRYSTAL SILICON SUBSTRATE
多結晶シリコン基板の欠陥検査装置および欠陥検査方法 - 特許庁 - IMAGING APPARATUS WITH DEFECT CORRECTION FUNCTION
キズ補正機能付き撮像装置 - 特許庁 - DEFECT INSPECTION DEVICE AND DEFECT INSPECTION METHOD OF SUBSTRATE FOR PDP
ＰＤＰ用基板の欠陥検査装置および欠陥検査方法 - 特許庁 - DEFECT DETECTION CIRCUIT, OPTICAL DISK DEVICE, AND DEFECT DETECTION METHOD
ディフェクト検出回路、光ディスク装置及びディフェクト検出方法 - 特許庁 - DEFECT INSPECTING DEVICE FOR ELECTRONIC CIRCUIT
電子回路の欠陥検査装置 - 特許庁 - METHOD AND DEVICE FOR DEFECT INSPECTION
欠陥検査方法および装置 - 特許庁 - DEFECT CLASSIFICATION DEVICE, DEFECT CLASSIFICATION METHOD, AND ITS COMPUTER PROGRAM
欠陥分類装置、欠陥分類方法およびそのコンピュータ・プログラム - 特許庁 - DEFECT DETECTION DEVICE AND METHOD
欠陥検出装置及び方法 - 特許庁 - METHOD OF DETECTING CRYSTAL DEFECT AND METHOD OF OBSERVING CRYSTAL DEFECT
結晶欠陥の検出方法及び結晶欠陥の観察方法 - 特許庁 - DETECTING METHOD FOR DEFECT ON GLASS SUBSTRATE
ガラス基板の欠陥検出法 - 特許庁 - DEFECT CORRECTING DEVICE FOR COLOR FILTER
カラーフィルタの欠陥修正装置 - 特許庁
