「Defect」を含む例文一覧(18306)
＜前へ 1 2 .... 11 12 13 14 15 16 17 18 19 .... 366 367 次へ＞- METHOD FOR CORRECTING BLACK DEFECT IN CHROMIUM MASK
クロムマスク黒欠陥修正方法 - 特許庁 - DEFECT CORRECTION APPARATUS FOR DISPLAY DEVICE
表示装置の欠陥修正装置 - 特許庁 - DEFECT-INSPECTING DEVICE OF GLASS BOTTLE MOUTH
ガラス壜口部の欠陥検査装置 - 特許庁 - METHOD FOR CORRECTION OF DEFECT IN COLOR FILTER
カラーフィルタの欠陥修正方法 - 特許庁 - DEFECT INSPECTING DEVICE AND METHOD
欠陥検査装置およびその方法 - 特許庁 - DETECTING METHOD FOR DEFECT OF GLASS
ガラスの欠陥を検出する方法 - 特許庁 - DEFECT INSPECTION DEVICE AND METHOD
欠陥検査装置およびその方法 - 特許庁 - WHITE DEFECT CORRECTION METHOD FOR PHOTO MASK
ホトマスクの白欠陥修正方法 - 特許庁 - DEFECT INSPECTION APPARATUS OF PHASE SHIFT MASK
位相シフトマスクの欠陥検査装置 - 特許庁 - He labours under a defect of speech.
あの人は訥弁で苦しんでいる - 斎藤和英大辞典 - any developmental defect of the spinal cord
脊椎の発育障害の総称 - 日本語WordNet - the state of being without a flaw or defect
不具合や欠陥がない状態 - 日本語WordNet - DEFECT INSPECTION METHOD AND APPARATUS THEREOF
欠陥検査方法及びその装置 - 特許庁 - SURFACE DEFECT REMOVING METHOD FOR STEEL PLATE
鋼板の表面疵除去方法 - 特許庁 - DETECTOR FOR DEFECT IN SWITCHING ELEMENT
スイッチング素子の不良検出装置 - 特許庁 - DEFECT INSPECTION METHOD, AND DEVICE THEREOF
欠陥検査方法及びその装置 - 特許庁 - DEFECT REPAIRING METHOD FOR DISPLAY ELEMENT
表示素子の欠陥修復方法 - 特許庁 - DEFECT INSPECTION DEVICE AND ITS METHOD
欠点検査装置及びその方法 - 特許庁 - DEFECT INSPECTION METHOD AND ITS DEVICE
欠陥検査方法及びその装置 - 特許庁 - PATTERN DEFECT DETECTING METHOD AND DEVICE
パターン欠陥検出方法と装置 - 特許庁 - INTERNAL DEFECT DETECTOR FOR STEEL SHEET
鋼板の内部欠陥検出装置 - 特許庁 - DEFECT INSPECTION METHOD AND ITS DEVICE
不良検査方法及びその装置 - 特許庁 - DEFECT DETECTION METHOD FOR BURIED PIPE IN GAS STATION, DEFECT DETECTOR, AUXILIARY TOOL THEREFOR, AND DEFECT DETECTION SYSTEM
ガソリンスタンドにおける埋設管の欠陥検出方法、欠陥検出装置、その補助治具及び欠陥検出システム - 特許庁 - LINE DEFECT INSPECTION METHOD, LINE DEFECT DETECTION DEVICE, LINE DEFECT DETECTION PROGRAM, AND RECORDING MEDIUM FOR RECORDING PROGRAM
線欠陥検査方法、線欠陥検出装置、線欠陥検出プログラム、このプログラムを記録した記録媒体 - 特許庁 - To provide a point defect detecting device and a point defect detecting method capable of detecting point defect at high precision.
精度よく点欠陥を検出可能な点欠陥検出装置、および点欠陥検出方法を提供する。 - 特許庁 - To prevent a line defect from occurring by keeping a defect to a point defect even when an electron emitting element is short-circuited in use.
使用中に電子放出素子が短絡しても点欠陥に留めて線欠陥になることを防止する。 - 特許庁 - To provide a defect classification device for easily predicting a defect occurrence rate, based on defect inspection results.
欠陥検査結果から不良発生率を容易に予測することが可能な欠陥分類装置を提供すること。 - 特許庁 - UNEVENNESS DEFECT DETECTION METHOD AND DEVICE, SPATIAL FILTER, UNEVENNESS DEFECT INSPECTION SYSTEM, AND PROGRAM FOR UNEVENNESS DEFECT DETECTION METHOD
ムラ欠陥検出方法及び装置、空間フィルタ、ムラ欠陥検査システム並びにムラ欠陥検出方法のプログラム - 特許庁 - DEFECT DETECTOR, CLUSTER GENERATOR, DEFECT CLASSIFIER, DEFECT DETECTION METHOD, CLUSTER GENERATION METHOD, AND PROGRAM
欠陥検出装置、クラスタ生成装置、欠陥分類装置、欠陥検出方法、クラスタ生成方法およびプログラム - 特許庁 - The defect is searched by using the SEM apparatus based on coordinates of the defect specified by the defect inspection apparatus.
欠陥検査装置で特定された欠陥の座標に基づき、ＳＥＭ装置を用いて欠陥を探索する。 - 特許庁 - From the stage position of a defect detected by a review device, a defect candidate close to that stage position is listed along with the defect information (defect type, defect image, defect size) provided by an inspection device, so that a defect for use in the fine alignment correction can be selected.
レビュー装置が検出した欠陥のステージ位置から、そのステージ位置に近い欠陥候補を検査装置が提供する欠陥情報（欠陥種別，欠陥画像，欠陥サイズ）とともに一覧表示し、ファインアライメント補正に使用する欠陥を選択できるようにする。 - 特許庁 - PIXEL DEFECT CORRECTING DEVICE AND METHOD
画素欠陥補正装置および方法 - 特許庁 - NONDESTRUCTIVE DEFECT DETECTOR FOR SHEET
薄板の非破壊欠陥検出装置 - 特許庁 - IMAGING APPARATUS AND DEFECT CORRECTION APPARATUS
撮像装置及び欠陥補正装置 - 特許庁 - DEFECT MARKING METHOD TO THIN STEEL SHEET
薄鋼板への欠陥マーキング方法 - 特許庁 - METHOD FOR SAFELY PERFORMING CONFIRMING WORK OF UNREMOVED DEFECT WITH STEEL DEFECT REMOVING MACHINE AND SAFETY DEVICE OF CONFIRMING WORK OF UNREMOVED DEFECT WITH STEEL DEFECT REMOVING MACHINE
鋼材疵取機による疵取り残し確認作業の安全な実施方法及び鋼材疵取機による疵取り残し確認作業の安全装置 - 特許庁 - METHOD FOR CORRECTING BLACK DEFECT IN PHOTOMASK
フォトマスクの黒欠陥修正方法 - 特許庁 - METHOD FOR CORRECTING WHITE DEFECT IN PHOTOMASK
フォトマスクの白欠陥修正方法 - 特許庁 - By using the primary defect list or the secondary defect list, the defect management information is simultaneously reproduced from a plurality of the adjacent defect management areas (step 3).
この一次欠陥リストまたは二次欠陥リストを用いて、近接する複数の欠陥管理領域から一度に欠陥管理情報を再生する（ステップ３）。 - 特許庁 - An image of the detected defect is supplied to a defect classification means (36), and the defect is classified based on the shape or the brightness distribution of the image of the defect.
検出された欠陥の画像は、欠陥分類手段（３６）に供給され、欠陥画像の形状及び輝度分布に基づいて欠陥が分類される。 - 特許庁 - DEFECT ANALYSIS SUPPORT SYSTEM FOR GAME MACHINE
遊技機の不良解析支援システム - 特許庁 - DEFECT HANDLING FOR RECORDING MEDIUM
記録媒体に対する欠陥の操作 - 特許庁 - DIGITAL EDDY CURRENT DEFECT DETECTION TEST DEVICE
デジタル式渦流探傷試験装置 - 特許庁 - ANTIREFLECTION FILM DEFECT DETECTOR
反射防止フィルム欠陥検出装置 - 特許庁 - DEFECT DETECTION DEVICE OF SHEET-SHAPED OBJECT
シート状物の欠陥検出装置 - 特許庁 - To provide a learning-type defect detecting apparatus, a learning-type defect detecting method and a learning-type defect detecting program for quickly and accurately detecting a defect.
より正確かつより高速に欠陥検出が可能な学習型の欠陥検出装置、欠陥検出方法および欠陥検出プログラムを提供する。 - 特許庁 - DEFECT CLASSIFICATION METHOD AND DEVICE THEREOF
欠陥分類方法及びその装置 - 特許庁 - DEFECT INSPECTION METHOD AND DEVICE THEREFOR
欠陥検査方法およびその装置 - 特許庁 - DEFECT INSPECTION DEVICE AND METHOD THEREFOR
欠陥検査装置およびその方法 - 特許庁 - The simulation defect sample 10 is so attached to the defect inspecting device that the simulation defect 13 is diagonal to the scan line of the defect inspecting device.
この模擬欠陥１３が欠陥検査装置の走査ラインに対して斜めになるように、模擬欠陥サンプル１０を欠陥検査装置に取り付ける。 - 特許庁
