「Defect」を含む例文一覧(18306)

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  • INSPECTION METHOD FOR COMMON SHAPE DEFECT
    共通形状欠陥の検査方法 - 特許庁
  • APPARATUS AND METHOD FOR MONITORING FILM DEFECT
    フィルム欠陥監視装置及び方法 - 特許庁
  • DEFECT CORRECTION METHOD FOR PHASE SHIFT MASK
    位相シフトマスクの欠陥修正方法 - 特許庁
  • DEFECT MARKING APPARATUS FOR SHEET-LIKE PRODUCT
    シート状製品の欠陥マーキング装置 - 特許庁
  • DEFECT ANALYSIS SYSTEM, RECORDING MEDIUM, DEFECT ANALYZING METHOD AND PROCESS CONTROLLING METHOD
    欠陥解析システム、記録媒体、欠陥解析方法、及び工程管理方法 - 特許庁
  • To prevent color irregularity and color development defect.
    色むらや発色不良を防止する。 - 特許庁
  • ROAD SURFACE DEFECT DETECTION SYSTEM AND METHOD
    路面欠陥検出システム及び方法 - 特許庁
  • DEFECT INSPECTION DEVICE AND METHOD OF THE SAME
    欠陥検査装置およびその方法 - 特許庁
  • To provide a defect-inspection optical system and a surface-defect inspection apparatus wherein a recess defect and a protrusion defect can be discriminated and inspected with high accuracy regarding an irregular defect on the surface of a face plate.
    面板表面の凹凸欠陥について凹部欠陥と凸部欠陥を精度よく区別して検出することができる欠陥検出光学系および表面欠陥検査装置を提供することにある。 - 特許庁
  • METHOD FOR CORRECTING DEFECT OF LIQUID CRYSTAL PANEL
    液晶パネルの欠陥修正方法 - 特許庁
  • NONDESTRUCTIVE DEFECT DETECTION DEVICE FOR THIN SHEET
    薄板の非破壊欠陥検出装置 - 特許庁
  • IMAGING METHOD, DEFECT DETERMINATION METHOD, AND DEFECT DETERMINATION DEVICE FOR HOLOGRAM
    ホログラムの撮像方法および欠陥判別方法ならびに欠陥判別装置 - 特許庁
  • UNEVENNESS DEFECT INSPECTION DEVICE OF TRAVELING SHEET
    走行シートの凹凸不良検査装置 - 特許庁
  • DEFECT PIXEL DETECTION METHOD FOR SOLID-STATE IMAGE PICKUP ELEMENT AND PIXEL DEFECT CORRECTION METHOD
    固体撮像素子の欠陥画素検出方法および画素欠陥補正方法 - 特許庁
  • CAMERA HAVING EXPOSURE DEFECT DETECTION MECHANISM
    露出不良検知機構を備えたカメラ - 特許庁
  • MANUFACTURING DEFECT FACTOR ANALYSIS SUPPORT DEVICE
    製造不良要因分析支援装置 - 特許庁
  • DEFECT DETECTING METHOD, MANUFACTURING METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE, AND DEFECT DETECTOR
    欠陥検出方法、半導体装置の製造方法および欠陥検出装置 - 特許庁
  • IMAGING DEVICE, DEFECT INSPECTION DEVICE, DEFECT INSPECTION METHOD AND ELECTRON BEAM INSPECTION DEVICE
    撮像装置、欠陥検査装置、欠陥検査方法及び電子線検査装置 - 特許庁
  • DEFECT DETECTING CIRCUIT AND IMAGING DEVICE
    欠陥検出回路及び撮像装置 - 特許庁
  • METHOD FOR ANALYZING DEFECT OF SEMICONDUCTOR ELEMENT
    半導体素子の欠陥解析方法 - 特許庁
  • INTERNAL DEFECT DETECTION METHOD FOR FORGING
    鍛造品の内部欠陥検出方法 - 特許庁
  • LINE INSPECTION DEVICE FOR METAL SURFACE DEFECT
    金属表面欠陥ライン検査装置 - 特許庁
  • DEFECT CHECKING METHOD AND APPARATUS FOR THE SAME
    欠陥検査方法およびその装置 - 特許庁
  • DEFECT INSPECTION METHOD BY IMAGE RECOGNITION
    画像認識による不良検査方法 - 特許庁
  • SHAPE DEFECT INSPECTION DEVICE, SHAPE MODELING DEVICE, AND SHAPE DEFECT INSPECTION PROGRAM
    形状欠損検査装置、形状モデリング装置および形状欠損検査プログラム - 特許庁
  • No alignment defect is therefore caused and a display defect does not occur.
    従って、配向欠陥を誘発することがなく、表示不良になることがない。 - 特許庁
  • METHOD OF SIMULATING POINT DEFECT AREA AND MINUTE DEFECT DISTRIBUTION OF SILICON SINGLE CRYSTAL
    シリコン単結晶の点欠陥領域と微小欠陥分布のシミュレーション方法 - 特許庁
  • DEFECT INSPECTION METHOD, ITS DEVICE, DEFECT ANALYSIS METHOD AND ITS DEVICE
    欠陥検査方法及びその装置並びに欠陥解析方法及びその装置 - 特許庁
  • To efficiently exclude an initial defect.
    初期不良を効率的に排除する。 - 特許庁
  • VACANCY DOMINATED SILICON HAVING LOW DEFECT DENSITY
    低欠陥密度の空孔優勢シリコン - 特許庁
  • DEVICE AND METHOD FOR SURFACE DEFECT INSPECTION
    表面欠陥検査装置及び方法 - 特許庁
  • DEFECT INSPECTING METHOD AND DEFECT INSPECTING DEVICE FOR PLASMA DISPLAY PANEL BACK PLATE
    プラズマディスプレイパネル用背面板の欠陥検査方法および欠陥検査装置 - 特許庁
  • DISPLAY AND DEFECT DETECTING METHOD
    表示装置、および欠陥検出方法 - 特許庁
  • DEFECT EVALUATION METHOD OF LONG MEMBER, AND DEFECT EVALUATION DEVICE OF LONG MEMBER
    長尺部材の欠陥評価方法及び長尺部材の欠陥評価装置 - 特許庁
  • ELECTRICAL DEFECT ANALYSIS METHOD OF WIRING BOARD AND ELECTRICAL DEFECT ANALYSIS APPARATUS
    配線基板の電気的欠陥解析方法および電気的欠陥解析装置 - 特許庁
  • PIXEL DEFECT CORRECTION METHOD, PIXEL DEFECT CORRECTION APPARATUS, INSPECTION METHOD AND INSPECTION APPARATUS
    画素欠陥補正方法、画素欠陥補正装置、検査方法及び検査装置 - 特許庁
  • Then, based on at least positional information of the defect included in the reference image, a defect candidate overlaying the defect included in the reference image is removed from the defect candidates by a defect detecting section 45.
    そして、欠陥検出部４５にて基準画像が有する欠陥の少なくとも位置情報に基づいて欠陥候補から基準画像が有する欠陥と重複するものが除外される。 - 特許庁
  • METHOD FOR INSPECTING DEFECT IN BLOCK OF FURNACE BODY IN BLAST FURNACE AND METHOD FOR REPAIRING THIS DEFECT
    高炉炉体のブロックの欠陥検査方法、および、その欠陥補修方法 - 特許庁
  • DEFECT INSPECTION DEVICE, AND PARAMETER ADJUSTING METHOD USED FOR DEFECT INSPECTION DEVICE
    欠陥検査装置およびこの欠陥検査装置に用いるパラメータ調整方法。 - 特許庁
  • DEVELOPMENT DEFECT PREVENTING PROCESS AND MATERIAL
    現像欠陥防止プロセス及び材料 - 特許庁
  • METHOD FOR INSPECTING DEFECT OF SEMICONDUCTOR DEVICE
    半導体装置の欠陥検査方法 - 特許庁
  • IMAGE DEFECT EVALUATION DEVICE AND METHOD
    画像欠陥評価装置および方法 - 特許庁
  • DEFECT EVALUATING DEVICE UTILIZING POSITRON
    陽電子を利用した欠陥評価装置 - 特許庁
  • DEFECT CORRECTING METHOD OF COLOR FILTER, METHOD FOR MANUFACTURING COLOR FILTER, AND DEFECT CORRECTING DEVICE
    カラーフィルタの欠陥修正方法、製造方法、および、欠陥修正装置 - 特許庁
  • METHOD OF DETECTING SEMICONDUCTOR ELEMENT DEFECT
    半導体素子欠陥の検出方法 - 特許庁
  • DEFECT OBSERVATION METHOD AND DEVICE FOR THE SAME
    欠陥観察方法及びその装置 - 特許庁
  • RECORDING MEDIUM HAVING SPARE AREA FOR DEFECT MANAGEMENT AND INFORMATION ON DEFECT MANAGEMENT
    欠陥管理のための余裕空間とその管理情報を有する記録媒体 - 特許庁
  • MEASURING METHOD FOR DEPTH OF DEFECT IN STRUCTURE
    構造物欠陥深さ測定方法 - 特許庁
  • IMAGING APPARATUS AND METHOD FOR CORRECTING DEFECT
    撮像装置および欠陥補正方法 - 特許庁
  • DEFECT INSPECTION APPARATUS AND METHOD FOR THE SAME
    欠陥検査装置およびその方法 - 特許庁
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