「Defect」を含む例文一覧(18306)
＜前へ 1 2 .... 13 14 15 16 17 18 19 20 21 .... 366 367 次へ＞- LASER SCATTERING DEFECT INSPECTION SYSTEM AND LASER SCATTERING DEFECT INSPECTION METHOD
レーザー散乱式欠陥検査装置及びレーザー散乱式欠陥検査方法 - 特許庁 - SURFACE DEFECT INSPECTION METHOD AND SURFACE DEFECT INSPECTION APPARATUS USING THE SAME
表面欠陥検査方法及びそれを用いた表面欠陥検査装置 - 特許庁 - METHOD FOR DETECTING SPECIFIC DEFECT, AND SYSTEM AND PROGRAM FOR DETECTING SPECIFIC DEFECT
特定欠陥の検出方法、特定欠陥の検出システムおよびプログラム - 特許庁 - DEFECT INSPECTION METHOD, METHOD FOR MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE, AND DEFECT INSPECTION APPARATUS
欠陥検査方法、半導体装置の製造方法及び欠陥検査装置 - 特許庁 - SOLID-STATE IMAGE PICKUP DEVICE, PIXEL DEFECT INSPECTION DEVICE AND PIXEL DEFECT CORRECTION METHOD
固体撮像装置、画素欠陥検査装置および画素欠陥補正方法 - 特許庁 - DEFECT CORRECTION DEVICE, DEFECT CORRECTION METHOD AND METHOD FOR MANUFACTURING PATTERNED SUBSTRATE
欠陥修正装置、欠陥修正方法、及びパターン基板の製造方法 - 特許庁 - DEFECT DETECTOR, APPARATUS FOR ACQUIRING AMOUNT OF POSITION DEVIATION, AND DEFECT DETECTION METHOD
欠陥検出装置、位置ずれ量取得装置および欠陥検出方法 - 特許庁 - IMAGE DEFECT INSPECTION METHOD, IMAGE DEFECT INSPECTION DEVICE, AND VISUAL INSPECTION DEVICE
画像欠陥検査方法、画像欠陥検査装置及び外観検査装置 - 特許庁 - MASK FOR INSPECTION OF DEFECT DETECTION SENSITIVITY AND METHOD FOR INSPECTING DEFECT DETECTION SENSITIVITY
欠陥検出感度検査用マスク及び欠陥検出感度検査方法 - 特許庁 - ANALYZING DEVICE FOR DEFECT OF MEMORY LSI, AND ANALYZING METHOD FOR DEFECT OF MEMORY LSI
メモリＬＳＩ不良解析装置およびメモリＬＳＩ不良解析方法 - 特許庁 - ON-LINE DEFECT REMOVING DEVICE FOR STEEL STRIP, AND DEFECT REMOVING METHOD THEREFOR
金属鋼帯のオンライン欠陥除去装置及びその欠陥除去方法 - 特許庁 - GLASS SUBSTRATE CONVEYANCE DEVICE, DEFECT DETECTION METHOD AND DEFECT DETERMINATION METHOD
ガラス基板の搬送装置、欠陥検出方法および欠陥判定方法 - 特許庁 - SUBSTRATE DEFECT CHECKUP SYSTEM AND SUBSTRATE DEFECT CHECKUP METHOD, AND CONVEYING APPARATUS
基板欠陥検査システム及び基板欠陥検査方法並びに搬送装置 - 特許庁 - DEFECT CORRECTION METHOD FOR HALFTONE MASK AND HALFTONE MASK WITH CORRECTED DEFECT
ハーフトーンマスクの欠陥修正方法及び欠陥が修正されたハーフトーンマスク - 特許庁 - DEFECT REPAIR METHOD AND DEFECT REPAIR APPARATUS IN FLAT MEMBRANE FOR WATER TREATMENT
水処理用平膜上の欠点補修方法および欠点補修装置 - 特許庁 - DEVICE FOR CORRECTING DEFECT OF COLOR FILTER AND METHOD OF CORRECTING DEFECT OF COLOR FILTER
カラーフィルタの欠陥修正装置、およびカラーフィルタの欠陥修正方法 - 特許庁 - To detect defects and to classify defect types and defect causes.
欠陥の検出、並びに欠陥タイプ及び欠陥原因の分類を行う。 - 特許庁 - The educated artificial neural network discriminates the type of the defect positioned in the defect position on the basis of the defect signal and a plurality of the defect approach signals to output the type of the defect positioned in the defect position.
教育された人工ニューラルネットワークは、欠陥信号及び複数の欠陥近接信号に基づいて欠陥位置に位置する欠陥のタイプを識別して、欠陥位置に位置する欠陥のタイプを出力することができる。 - 特許庁 - In the second defect detection, since detection is performed in the unseparated state between the second true device defect and a pseudo defect, the second true device defect is detected separately by using a pseudo defect detected by the pseudo defect detection.
第２の欠陥検出では、第２の真のデバイス欠陥と擬似欠陥とが分離されない状態で検出されるため、擬似欠陥検出で検出した擬似欠陥を用いて、第２の真のデバイス欠陥を分離して検出する。 - 特許庁 - WOBBLE DEFECT DETECTOR AND METHOD
ウォブル欠陥検出装置及び方法 - 特許庁 - DEFECT DISPLAY METHOD AND ITS DEVICE
欠陥表示方法およびその装置 - 特許庁 - TESTING APPARATUS FOR REVELATION OF DEFECT IN CLOTH
布地の欠陥の発現試験装置 - 特許庁 - To surely and rapidly know a defect.
不良を確実に、かつ迅速に知る。 - 特許庁 - DEFECT EVALUATION OF SEMICONDUCTOR SUBSTRATE
半導体基板の欠陥評価方法 - 特許庁 - PIXEL DEFECT MASKING METHOD FOR IMAGING DEVICE
撮像素子の画素欠陥マスク方法 - 特許庁 - METHOD FOR SPECIFYING I/O MODULE DEFECT
故障Ｉ／Ｏモジュールの特定方法 - 特許庁 - DEFECT CORRECTION METHOD BY LASER BEAM
レーザ光による欠陥修正方法 - 特許庁 - MASK AND MASK DEFECT MODIFYING METHOD
マスクおよびマスク欠陥修正方法 - 特許庁 - EUV MASK WHITE DEFECT CORRECTING METHOD
ＥＵＶマスク白欠陥修正方法 - 特許庁 - METHOD AND DEVICE FOR DEFECT CLASSIFICATION
欠陥分類方法およびその装置 - 特許庁 - DEFECT DETECTION METHOD AND APPARATUS THEREFOR
欠陥検出方法及びその装置 - 特許庁 - IMAGING DEVICE AND DEFECT CORRECTION METHOD
撮像装置及び欠陥補正方法 - 特許庁 - PATTERN DEFECT INSPECTING DEVICE AND METHOD
パターン欠陥検査装置および方法 - 特許庁 - METHOD OF CORRECTING DEFECT OF EUV MASK
ＥＵＶマスクの欠陥修正方法 - 特許庁 - DEFECT INSPECTION METHOD AND DEVICE THEREFOR
欠陥検出方法及びその装置 - 特許庁 - PATTERN DEFECT INSPECTION METHOD AND APPARATUS
パターン欠陥検査方法および装置 - 特許庁 - DEFECT INSPECTION METHOD AND APPARATUS FOR THE SAME
欠陥検査方法及びその装置 - 特許庁 - DEFECT REPAIRING METHOD AND REPAIRING MATERIAL
欠陥補修方法および補修材 - 特許庁 - DEFECT INFORMATION MANAGEMENT METHOD FOR STEEL MATERIAL
鋼材の欠陥情報管理方法 - 特許庁 - DEFECT POSITION DETECTION METHOD AND DEVICE
不良位置検出方法及び装置 - 特許庁 - DEFECT DETECTION METHOD OF SOI SUBSTRATE
ＳＯＩ基板の欠陥検出方法 - 特許庁 - STAIN DEFECT DETECTION METHOD AND DEVICE
シミ欠陥検出方法および装置 - 特許庁 - METHOD AND APPARATUS FOR INSPECTION OF DEFECT
欠陥検査方法およびその装置 - 特許庁 - METHOD AND ITS APPARATUS FOR DETECTING DEFECT
欠陥検査方法およびその装置 - 特許庁 - DEFECT DETECTING METHOD BY LASER BEAM
レーザ光による欠陥検出方法 - 特許庁 - METHOD FOR CORRECTING DEFECT OF ITO FILM
ＩＴＯ膜の欠損修正方法 - 特許庁 - DEFECT DETECTION APPARATUS FOR SEMICONDUCTOR WAFER
半導体ウェハの欠陥検出装置 - 特許庁 - a defect that is present at birth
出生時に存在している欠陥 - 日本語WordNet - DEFECT DETECTION METHOD FOR SOI SUBSTRATE
ＳＯＩ基体の欠陥検出方法 - 特許庁 - DEFECT PROCESSING ANALYZER AND METHOD
不具合処理分析装置及び方法 - 特許庁
