「Defect」を含む例文一覧(18306)
＜前へ 1 2 .... 16 17 18 19 20 21 22 23 24 .... 366 367 次へ＞- The device is also characterized by determining the defect generation cause by performing defect discrimination from frequency component information of the defect signals.
この欠陥信号の周波数成分情報から、欠陥弁別をおこない欠陥の発生原因を判定する。 - 特許庁 - APPARATUS FOR IDENTIFYING OBSTACLE CAUSING GHOST DEFECT, METHOD FOR IDENTIFYING OBSTACLE CAUSING GHOST DEFECT, AND PROGRAM FOR IDENTIFYING OBSTACLE CAUSING GHOST DEFECT
ゴースト障害誘起物特定装置、ゴースト障害誘起物特定方法およびゴースト障害誘起物特定プログラム - 特許庁 - CRIMPING DEFECT DETERMINATION DATA FORMING METHOD FOR TERMINAL CRIMPING DEFECT DETECTION DEVICE, AND CRIMPING DEFECT DETERMINATION DATA INSPECTION METHOD
端子圧着不良検出装置の圧着不良判定データ作成方法および圧着不良判定データ検査方法 - 特許庁 - SHAPE RECOGNITION DEVICE FOR PHOTOMASK DEFECT, METHOD FOR SHAPE RECOGNITION OF PHOTOMASK DEFECT AND METHOD FOR CORRECTING DEFECT OF PHOTOMASK
フォトマスク欠陥の形状認識装置及びフォトマスク欠陥の形状認識方法並びにフォトマスクの欠陥修正方法 - 特許庁 - Subsequently, the defect correcting apparatus selects the defect correction method, according to the specified requirements by reading the defect correction methods from the database, on the basis of a location of the detected defect on the wiring board to perform defect correction, in accordance with selected defect correction method.
そして、検出された欠陥の配線基板内における位置に基づいてデータベースから欠陥修正手法を読み出して所定の条件に従い選定し、選定された欠陥修正手法に基づき欠陥の修正を実行する。 - 特許庁 - Distribution state of defects is analyzed based on a defect position coordinate detected by an inspection equipment and classified into one distribution feature category of repetitive defect, aggregated defect, linear distribution defect, annular block distribution defect or random defect.
検査装置によって検出された欠陥位置座標に基づいて欠陥の分布状態を解析し、繰り返し欠陥、密集欠陥、線状分布欠陥、環・塊状分布欠陥、ランダム欠陥のうちいずれかの分布特徴カテゴリに分類する。 - 特許庁 - The inspection apparatus of the display panel is provided with a streak defect emphasizing means 300, a defect distinguishing means 400 distinguishing a streak defect from the rubbing streak defect on the basis of the image emphasized by the streak defect emphasizing means 300 and a rubbing streak defect evaluating means 500 evaluating the defect distinguished as the rubbing streak defect by the defect distinguishing means 400.
表示パネルの検査装置は、スジ欠陥強調手段３００と、前記スジ欠陥強調手段３００において強調された画像に基づいて、スジ欠陥とラビジングスジ欠陥とを分別する欠陥分別手段４００と、前記欠陥分別手段４００においてラビングスジ欠陥と分別された欠陥を評価するラビングスジ欠陥評価手段５００とを備える。 - 特許庁 - METHOD AND SYSTEM FOR DEFECT DETECTION
欠陥検出のための方法及びシステム - 特許庁 - SURFACE DEFECT DATA DISPLAY MANAGEMENT DEVICE, AND SURFACE DEFECT DATA DISPLAY MANAGEMENT METHOD
表面欠陥データ表示管理装置および表面欠陥データ表示管理方法 - 特許庁 - DEFECT DETECTION METHOD, DEFECT DETECTION APPARATUS, LEARNING METHOD, PROGRAM, AND RECORDING MEDIUM
欠陥検出方法、欠陥検出装置、学習方法、プログラム、及び記録媒体 - 特許庁 - MEMORY DEFECT TREATMENT DEVICE AND ITS METHOD
メモリー欠陥処理装置及びその方法 - 特許庁 - DEFECT DETECTION METHOD, DEFECT DETECTION SYSTEM AND METHOD OF MANUFACTURING LIGHT EMITTING DEVICE
欠陥検出方法及び欠陥検出システム並びに発光素子の製造方法 - 特許庁 - DEFECT INSPECTION DEVICE OF PLANE DISPLAY DEVICE
平面表示装置の欠陥検査装置 - 特許庁 - METHOD FOR REPAIRING DEFECT ON ALUMINUM CAST MEMBER
アルミ鋳物部材の欠陥補修方法 - 特許庁 - When a defect is observed during the defect inspection, defect information such as a position, a size and a shape of the defect is recorded, and a data such as the number of the defects is displayed.
欠陥検査中に欠陥を発見した場合、その欠陥の位置や大きさ、形状などの欠陥情報を記録し欠陥数などのデータを表示する。 - 特許庁 - METHOD FOR CORRECTING DEFECT OF ACTIVE MATRIX SUBSTRATE, PRODUCTION AND DEFECT CORRECTION APPARATUS
アクティブマトリクス基板の欠陥修正方法、製造方法及び欠陥修正装置 - 特許庁 - DEFECT IMAGE SENSING DEVICE AND IMAGE SENSING METHOD
欠陥撮像装置及び撮像方法 - 特許庁 - PERIODICAL DEFECT INSPECTION METHOD AND APPARATUS
周期性欠陥検査方法及び装置 - 特許庁 - METHOD FOR INSPECTING DEFECT IN METAL MATERIAL
金属材料中の欠陥検査方法 - 特許庁 - MANUFACTURING METHOD OF COIL WITH DEFECT MARKED THEREON
欠陥マーキングしたコイルの製造方法 - 特許庁 - INSULATION DEFECT INSPECTION DEVICE OF ROTATING ELECTRICAL MACHINE COIL, AND METHOD FOR INSPECTING INSULATION DEFECT
回転電機巻線の絶縁欠陥検査装置および絶縁欠陥検査方法 - 特許庁 - METHOD OF DETECTING DEFECT, AND APPARATUS FOR THE SAME
欠陥検出方法及びその装置 - 特許庁 - DEFECT INSPECTION APPARATUS, DEFECT INSPECTION PROGRAM, FIGURE DRAWING APPARATUS, AND FIGURE DRAWING SYSTEM
欠陥検査装置、欠陥検査プログラム、図形描画装置および図形描画システム - 特許庁 - Also, a waveform part of large defect is detected from the full-wave rectification signal, and a defect compensation pulse for compensating and adding a defect time of the large defect is generated.
また全波整流信号からラージ・ディフェクトの波形部分を検出し、そのラージ・ディフェクトのディフェクト時間を補償加算するためのディフェクト補償パルスを生成する。 - 特許庁 - METHOD FOR DETECTING DEFECT IN OZONE GENERATING ELEMENT
オゾン発生素子の欠陥検出方法 - 特許庁 - DEFECT-PIXEL SENSING DEVICE AND RECORDING MEDIUM WITH RECORDED DEFECT-PIXEL SENSING PROGRAM
欠陥画素検出装置及び欠陥画素検出プログラムが記録された記録媒体 - 特許庁 - A defect occurrence rate deriving part 22 derives the defect occurrence rate, based on the times of defect detection obtained by the defect identification determining part 21 with referring to the database 24.
不良発生率導出部２２は、データベース２４を参照して、欠陥同一判定部２１によって求められた欠陥検出回数から不良発生率を導出する。 - 特許庁 - DEFECT RELIEVING CIRCUIT FOR STORAGE DEVICE FOR PROCESSING PICTURE, AND ITS DEFECT RELIEVING METHOD
画像処理用記憶装置の欠陥救済回路およびその欠陥救済方法 - 特許庁 - DEFECT DETECTION USING GRAY LEVEL SIGNATURE
グレーレベルシグネチャを使用する欠陥検出 - 特許庁 - Then, in a failure probability calculation processing 13 for each defect, the failure probability of each defect in the defect map data is calculated and the defect map data with the failure probability are prepared.
次に、欠陥別不良確率算出処理１３で、欠陥マップデータ中の各欠陥の不良確率を算出し、不良確率付き欠陥マップデータを作成する。 - 特許庁 - The defect is automatically identified and a charged particle beam image of the defect is then obtained.
その欠陥が自動的に特定され、欠陥の荷電粒子ビーム画像が得られる。 - 特許庁 - The GaN layer 10 includes a high-defect region 10a and a low-defect region 10b lower in defect density than the high-defect region 10a, and has a principal surface 10c.
ＧａＮ層１０は、高欠陥領域１０ａと、高欠陥領域１０ａよりも欠陥密度の低い低欠陥領域１０ｂとを含み、主表面１０ｃを有する。 - 特許庁 - PRODUCT DEFECT MONITORING SYSTEM FOR PRODUCTION PROCESS
生産工程の製品不良監視システム - 特許庁 - METHOD AND APPARATUS FOR DISPLAYING PRINTING DEFECT
印刷欠陥表示方法および装置 - 特許庁 - DEFECT DETECTION METHOD OF MATRIX STRUCTURE AND DEFECT DETECTION DEVICE OF MATRIX STRUCTURE
マトリクス構造の欠陥検出方法およびマトリクス構造の欠陥検出装置 - 特許庁 - DEFECT INSPECTION METHOD, DEFECT INSPECTION DEVICE, AND LINEAR LIGHT SOURCE DEVICE USED FOR IT
欠陥検査方法、欠陥検査装置及びそれに用いるライン状光源装置 - 特許庁 - DROSS DEFECT INSPECTION DEVICE AND DROSS DEFECT INSPECTION METHOD OF MOLTEN METAL PLATING STEEL PLATE
溶融金属メッキ鋼板のドロス欠陥検査装置およびドロス欠陥検査方法 - 特許庁 - In the first defect detection, since detection is performed in the unseparated state between a pseudo defect and a normal state, the pseudo defect is detected by pseudo defect detection.
第１の欠陥検出では、擬似欠陥と正常状態とが分離されない状態で検出されるため、擬似欠陥検出によって擬似欠陥を検出する。 - 特許庁 - To realize defect inspection data processing by which the TAT reduction of a defect inspection process is possible and the precise defect coordinate data of a defect position can be obtained.
欠陥検査工程のＴＡＴ短縮が可能で、また欠陥位置の高精度な欠陥座標データを得ることができる欠陥検査データ処理を可能とする。 - 特許庁 - ARTICLE DEFECT INFORMATION DETECTOR AND ARTICLE DEFECT INFORMATION DETECTION PROCESSING PROGRAM
物品欠陥情報検出装置及び物品欠陥情報検出処理プログラム - 特許庁 - To promptly detect a flowing defect of a drying object and to carry out countermeasures against the defect.
被乾燥物の流動不良をいち早く検知して対策を実施すること。 - 特許庁 - UNDERWATER DEFECT INSPECTION DEVICE FOR LINING TANK
ライニング貯槽の水中欠陥検査装置 - 特許庁 - DEFECT DETECTING DEVICE OF EXHAUST PURIFYING FILTER
排気浄化フィルタの欠陥検出装置 - 特許庁 - INTERNAL DEFECT INSPECTION DEVICE FOR TUNNEL LINING
トンネル覆工の内部欠陥検査装置 - 特許庁 - APPARATUS FOR INSPECTING DISPLAY DEFECT OF DISPLAY PANEL
表示パネルの表示欠陥検査装置 - 特許庁 - DEFECT DETECTING UNIT, DEFECT DETECTING METHOD, AND MANUFACTURING METHOD FOR PATTERN SUBSTRATE
欠陥検出装置及び欠陥検出方法並びにパターン基板の製造方法 - 特許庁 - ELECTRON BEAM DEVICE AND DEFECT INSPECTION METHOD
電子線装置及び欠陥検査方法 - 特許庁 - MEDIA DRIVE AND METHOD OF GENERATING DEFECT MAP FOR REGISTERING DEFECT POSITION OF MEDIA
メディア・ドライブ及びメディアの欠陥位置を登録するディフェクト・マップを生成する方法 - 特許庁 - DEFECT EVALUATION METHOD FOR SEMICONDUCTOR CRYSTAL
半導体結晶の欠陥評価方法 - 特許庁 - PATTERN DEFECT INSPECTION METHOD, AND DEVICE THEREFOR
パターン欠陥検査方法及びその装置 - 特許庁
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