「Defect」を含む例文一覧(18306)

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  • DEFECT INSPECTION METHOD AND APPARATUS FOR THE SAME
    欠陥検査方法およびその装置 - 特許庁
  • METHOD OF DETECTING DISPLAY DEFECT IN LIQUID CRYSTAL PANEL, AND INSPECTION DEVICE FOR DISPLAY DEFECT THEREIN
    液晶パネルの表示欠陥検出方法及び表示欠陥検査装置 - 特許庁
  • Also, a defect frequency monitoring mechanism connected to the TLB is provided with a function for comparing the defect frequency with the defect threshold, and when the defect frequency exceeds the defect threshold, issuing a signal to stop the process.
    また、ＴＬＢに接続される障害回数監視機構は、これら２つを比較し障害回数が障害閾値を超えている場合には、当該プロセスを停止させる信号を発行する機能を有する。 - 特許庁
  • DEFECT INFORMATION DISPLAY DEVICE AND METHOD
    欠陥情報表示装置及び方法 - 特許庁
  • PATTERN DEFECT INSPECTION METHOD AND APPARATUS THEREOF
    パターン欠陥検査方法および装置 - 特許庁
  • SURFACE DEFECT INSPECTION APPARATUS AND METHOD
    表面欠陥検査装置及び方法 - 特許庁
  • SURFACE DEFECT INSPECTION METHOD AND APPARATUS
    表面欠陥検査方法及び装置 - 特許庁
  • DEFECT DETECTION DEVICE AND COMPUTER PROGRAM
    欠陥検出装置及びコンピュータプログラム - 特許庁
  • DEFECT DETECTION DEVICE FOR FPD SUBSTRATE
    ＦＰＤ用基板の欠陥検査装置 - 特許庁
  • CORD CONNECTION DEFECT INSPECTING DEVICE FOR HARNESS
    ハーネスのコード接続不良検査装置 - 特許庁
  • DEFECT DETECTION METHOD FOR ROLLED STEEL SHEET
    圧延鋼板の欠陥検出方法 - 特許庁
  • DEFECT DETECTING METHOD FOR PATTERN AND ITS DEVICE
    パターンの欠陥検出方法と装置 - 特許庁
  • METHOD OF MARKING DEFECT OF OPTICAL FILM
    光学フィルムの欠陥のマーキング方法 - 特許庁
  • DEFECT OBSERVING METHOD AND APPARATUS OF THE SAME
    欠陥観察方法及びその装置 - 特許庁
  • METHOD AND DEVICE FOR DEFECT JUDGEMENT
    疵判定方法及び疵判定装置 - 特許庁
  • SURFACE DEFECT INSPECTION DEVICE AND METHOD
    表面欠陥検査装置及び方法 - 特許庁
  • SURFACE DEFECT INSPECTION METHOD AND DEVICE
    表面欠陥検査方法及び装置 - 特許庁
  • STATIC RAM CIRCUIT FOR ANALYZING DEFECT
    欠陥分析用スタティックＲＡＭ回路 - 特許庁
  • METHOD AND DEVICE AND INSPECTING DEFECT ON FILM
    フィルム欠陥検査方法及び装置 - 特許庁
  • METHOD FOR ANALYZING CELL WITH GENETIC DEFECT
    遺伝子異常細胞の解析方法 - 特許庁
  • The defect inspection of the design pattern 3 and the defect inspection of the monitor pattern 5 are performed by using the defect inspection apparatus and after the defect of the monitor pattern 5 is confirmed to be detectable by the defect inspection apparatus, the defect of the design pattern 3 detected in the defect inspection is corrected.
    そして、欠陥検査装置を用いて設計パタン３の欠陥検査およびモニタパタン５の欠陥検査を行い、欠陥検査装置によってモニタパタン５の欠陥が検出可能であることを確認した後、欠陥検査において検出された設計パタン３の欠陥を修正する。 - 特許庁
  • My father always wanted me to defect.
    父はいつも 私の欠点を指摘して - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書
  • a birth defect involving the heart
    心臓に関係する先天的障害 - 日本語WordNet
  • a common congenital heart defect
    一般的な先天性の心臓障害 - 日本語WordNet
  • To provide a defect detection method and a defect detection device improving sensitivity of defect detection of an inspection object, even when a bright defect and a dark defect are mixed together.
    明欠陥と暗欠陥とが混在する場合にも被検査物の欠陥検出の感度を向上することができる欠陥検出方法及び欠陥検出装置を提供することを目的とする。 - 特許庁
  • METHOD FOR ANALYZING DEFECT OF SEMICONDUCTOR DEVICE
    半導体装置の不良解析方法 - 特許庁
  • DEFECT DETECTION APPARATUS, METHOD, AND PROGRAM
    欠陥検出装置、方法及びプログラム - 特許庁
  • INTERNAL DEFECT DETECTING METHOD FOR STRUCTURE
    構造体の内部欠陥検出方法 - 特許庁
  • DEFECT OBSERVATION METHOD AND APPARATUS FOR THE SAME
    欠陥観察方法及びその装置 - 特許庁
  • The defect area presumption section 128 presumes the defect positions on a second recording layer based on the defect positions on the first recording layer specified by the defect deciding section 125 and the defect position acquiring section 126.
    欠陥領域推定部１２８は、欠陥判定部１２５及び欠陥位置取得部１２６によって特定された第１記録層の欠陥位置に基づいて第２記録層の欠陥領域を推定する。 - 特許庁
  • METHOD AND APPARATUS FOR INSPECTION COLOR UNEVENNESS DEFECT
    色ムラ欠陥検査方法及び装置 - 特許庁
  • SURFACE TREATING METHOD OF COATING DEFECT ARTICLE
    塗装不良品の表面処理方法 - 特許庁
  • DEFECT DETECTING CIRCUIT AND CONTROLLER
    ディフェクト検出回路及び制御装置 - 特許庁
  • DEFECT PREVENTION METHOD IN BLOOMING
    分塊圧延における疵防止方法 - 特許庁
  • MANUFACTURING METHOD FOR DEFECT-MARKED COIL
    欠陥マーキングしたコイルの製造方法 - 特許庁
  • DEFECT INSPECTION METHOD OF PDP SUBSTRATE
    ＰＤＰ用基板の欠陥検査方法 - 特許庁
  • CRYSTAL DEFECT EVALUATION METHOD AND APPARATUS
    結晶欠陥評価方法及び装置 - 特許庁
  • A kind of the defect in the defect candidate is determined based on the brightness of the original image in a periphery of the block of the defect candidate.
    欠点候補のブロックの周囲の原画像の輝度に基づいて、当該欠点候補の欠点種類を判別する。 - 特許庁
  • To detect only a projecting defect, of the projecting defect and a recessed defect on a cylindrical surface of a measuring object.
    被測定物の円筒状表面における凸状欠陥と凹状欠陥のうちの凸状欠陥のみを検出する。 - 特許庁
  • The pseudo-defect information used for retrieval of the pseudo-defect includes position data of the pseudo-defect and intensity data of the pseudo-defects.
    疑欠陥の検索に用いる疑欠陥情報は、疑欠陥の位置データと疑欠陥の強度データを含む。 - 特許庁
  • Then, the detection device determines a point defect and a line defect from the defect pixel candidates in each classification after movement.
    そして、検出装置は、移動後の前記種別ごとの欠陥画素候補から、点欠陥又は線欠陥を決定する。 - 特許庁
  • The implant is cut to fit the defect when the depth of the defect is determined, and then inserted in the defect.
    インプラントは、欠損の深さが決定されるとその欠損に適合するように切断され、次いで欠損に挿入される。 - 特許庁
  • To put it concretely, defect data stored in a defect data storing part 31 are classified based on a defect parameter value.
    具体的には、欠陥データ記憶部３１に記憶されている欠陥データを欠陥パラメータ値に基づいて分類する。 - 特許庁
  • To provide an optical defect inspection device capable of improving defect coordinate accuracy and reducing detection defect coordinate errors.
    欠陥座標精度を向上し、検出欠陥座標誤差を低減可能な光学式欠陥検査装置を実現する。 - 特許庁
  • To evaluate the degree of risk that a defect may occur in concrete, on a defect-type-by-defect-type basis, in accordance with a concrete construction plan.
    コンクリート施工計画に基づいて、コンクリートに欠陥が発生する危険度を欠陥の種類毎に評価する。 - 特許庁
  • A determination part 52 acquires a plurality of defect factor pairs comprising defect factors deriving from the same defect.
    判定部５２では、同一欠陥に由来する欠陥要素により構成される複数の欠陥要素ペアが取得される。 - 特許庁
  • OPTICAL SYSTEM FOR DETECTING DEFECT, APPARATUS FOR DETECTING DEFECT, AND METHOD FOR DETECTING DEFECT ON PERIPHERAL SURFACE OF TRANSLUCENT DISK
    透光性ディスクの周面欠陥検出光学系、周面欠陥検出装置および周面欠陥検出方法 - 特許庁
  • To provide a defect inspection device, defect inspection method, and defect inspection program capable of shortening the inspection time.
    検査時間を短縮することができる欠陥検査装置、欠陥検査方法及び欠陥検査プログラムを提供すること。 - 特許庁
  • IMAGE DEFECT DETECTING METHOD, IMAGE DEFECT REPAIRING METHOD, IMAGE DEFECT DETECTING DEVICE, AND COMPUTER READABLE RECORDING MEDIUM
    画像欠陥検出方法、画像欠陥修復方法、画像欠陥検出装置およびコンピュータ読み取り可能な記録媒体 - 特許庁
  • Defect information to indicate a position of the detected defect in the image is generated and memorized in a defect information memory part 26.
    検出された画像欠陥の位置を示す欠陥情報を生成して欠陥情報メモリ部２６に記憶する。 - 特許庁
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