「Defect」を含む例文一覧(18306)
＜前へ 1 2 .... 19 20 21 22 23 24 25 26 27 .... 366 367 次へ＞- IMAGING CONDITION DETERMINATION METHOD FOR PERIODIC PATTERN, DEFECT INSPECTION METHOD, AND DEFECT INSPECTING DEVICE
周期性パターンの撮像条件決定方法、欠陥検査方法、および欠陥検査装置 - 特許庁 - DEVICE AND METHOD FOR DEFECT INSPECTION
欠陥検査装置及び欠陥検査方法 - 特許庁 - DEVICE AND METHOD FOR DEFECT INSPECTION
欠陥検査装置および欠陥検査方法 - 特許庁 - DEFECT INSPECTION METHOD AND DEVICE THEREFOR
欠陥検査方法及び欠陥検査装置 - 特許庁 - METHOD AND DEVICE FOR DEFECT INSPECTION
欠陥検査方法および欠陥検査装置 - 特許庁 - METHOD FOR CORRECTING DEFECT IN GRAY TONE PATTERN FILM
グレートーンのパターン膜欠陥修正方法 - 特許庁 - IMAGING APPARATUS, AND DEFECT PIXEL PROCESSING METHOD
撮像装置及び欠陥画素処理方法 - 特許庁 - IMAGING SYSTEM AND PIXEL DEFECT CORRECTING DEVICE
撮像システムおよび画素欠陥補正装置 - 特許庁 - PIXEL DEFECT DETECTING METHOD AND ELECTRONIC CAMERA
画素欠陥検出方法及び電子カメラ - 特許庁 - DEFECT INSPECTION MANAGEMENT SYSTEM AND DEFECT INSPECTION SYSTEM AND APPARATUS OF ELECTRONIC CIRCUIT PATTERN
電子回路パターンの欠陥検査管理システム，電子回路パターンの欠陥検査システム及び装置 - 特許庁 - METHOD AND APPARATUS FOR DETAIL INSPECTION OF DEFECT
欠陥の詳細検査方法および装置 - 特許庁 - Using peripheral pixels of the other defect parts 46, 48, the defect parts 46, 48 are complemented.
その他の欠落部４６，４８の周辺画素を用いて、欠落部４６，４８を補完する。 - 特許庁 - RADIATION IMAGE PHOTOGRAPHING APPARATUS, IMAGE DEFECT DETECTION PROGRAM AND IMAGE DEFECT DETECTION METHOD
放射線画像撮影装置、画像欠陥検出プログラム、及び画像欠陥検出方法 - 特許庁 - CARDIOVASCULAR DEFECT PATCH DEVICE AND METHOD
心血管欠損部パッチ装置及び方法 - 特許庁 - DEFECT DETECTOR AND WEB PRODUCTION SYSTEM
欠陥検出装置及びウェブ生産システム - 特許庁 - DEFECT INSPECTION DEVICE, DEFECT INSPECTION METHOD, OPTICAL SCANNING DEVICE, AND PRODUCTION METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE
欠陥検査装置、欠陥検査方法、光学式走査装置、半導体デバイス製造方法 - 特許庁 - To make a defect of a liquid crystal panel inconspicuous.
液晶パネルの欠点を目立たなくする。 - 特許庁 - To make an analysis of a defect easy and to prevent cause investigation of the defect from becoming difficult.
欠陥の解析を容易にし、欠陥の原因究明が困難になるのを防止する。 - 特許庁 - To obtain a defect analyzing system which can investigate automatically cause of fatal defect.
自動的に致命不良の原因究明が可能な不良解析システムを提供する。 - 特許庁 - NON-UNIFORMITY DEFECT INSPECTION MASK, APPARATUS AND METHOD FOR NON-UNIFORMITY DEFECT INSPECTION, AND METHOD FOR MANUFACTURING PHOTOMASK
ムラ欠陥検査マスク、ムラ欠陥検査装置及び方法、並びにフォトマスクの製造方法 - 特許庁 - IMAGING APPARATUS AND DEFECT PIXEL CORRECTION METHOD
撮像装置および欠陥画素補正方法 - 特許庁 - iv) Grade D implies that a defect or serious defect has been found in the system of controls.
④Ｄ評価は、管理態勢に欠陥または重大な欠陥が認められる状態。 - 金融庁 - DEFECT INSPECTION DEVICE OF PHOTOMASK, DEFECT INSPECTION METHOD OF PHOTOMASK, AND MANUFACTURING METHOD OF PHOTOMASK
フォトマスクの欠陥検査装置、フォトマスクの欠陥検査方法及びフォトマスクの製造方法 - 特許庁 - METHOD OF INSPECTING SURFACE DEFECT OF AUTOMOBILE BODY, AND INSPECTION APPARATUS OF SURFACE DEFECT OF THE AUTOMOBILE BODY
自動車ボディ表面欠陥検査方法、及び自動車ボディ表面欠陥検査装置 - 特許庁 - METHOD AND APPARATUS FOR DEFECT INSPECTION
欠陥検査方法および欠陥検査装置 - 特許庁 - APPARATUS AND METHOD FOR DEFECT INSPECTION
欠陥検査装置および欠陥検査方法 - 特許庁 - APPARATUS AND METHOD FOR DEFECT INSPECTION
欠陥検査装置及び欠陥検査方法 - 特許庁 - To provide a defect inspection method capable of improving accuracy of defect detection.
欠陥検出の精度を向上させることのできる欠陥検査方法を提供する。 - 特許庁 - DEFECT INSPECTION METHOD OF POWER SEMICONDUCTOR DEVICE
パワー半導体装置の欠陥検査方法 - 特許庁 - METHOD AND APPARATUS FOR INSPECTING DEFECT OF HEAT SEAL PART
ヒートシール部の不良検査方法と装置 - 特許庁 - DEFECT INSPECTING APPARATUS FOR ROD-LIKE CUTTING TOOL
棒状切削工具の欠陥検査装置 - 特許庁 - DEFECT REVIEW METHOD, AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE TYPE DEFECT REVIEW APPARATUS USING SCANNING ELECTRON MICROSCOPE TYPE REVIEW APPARATUS
ＳＥＭ式レビュー装置を用いた欠陥レビュー方法及びＳＥＭ式欠陥レビュー装置 - 特許庁 - SURFACE DEFECT INSPECTION DEVICE AND INSPECTED RESULT DISPLAY METHOD FOR SURFACE DEFECT INSPECTION DEVICE
表面欠陥検査装置の検査結果表示方法及び表面欠陥検査装置 - 特許庁 - HARD DISK DRIVE, METHOD FOR DETECTING DEFECT PATTERN ON DISK AND METHOD FOR DETECTING DEFECT
ハードディスクドライブ，ディスク上の欠陥類型検出方法および欠陥検出方法 - 特許庁 - METHOD FOR DETECTING DEFECT AND DEFECT DETECTION DEVICE IN CONTINUOUSLY CAST SLAB FOR THIN STEEL SHEET
薄鋼板用連続鋳造鋳片の欠陥検出方法および欠陥検出装置 - 特許庁 - METHOD FOR EVALUATING MINUTE DEFECT IN SILICON WAFER
シリコンウエハの微小欠陥の評価方法 - 特許庁 - OPTICAL TYPE DEFECT INSPECTION METHOD FOR METAL BAND
金属帯の光学式欠陥検査方法 - 特許庁 - APPARATUS AND METHOD FOR DETECTION OF POINT DEFECT
点欠陥検出装置及びその方法 - 特許庁 - METHOD FOR CORRECTING PIXEL DEFECT OF LIQUID CRYSTAL PANEL
液晶パネルの画素欠陥修正方法 - 特許庁 - PATTERN DEFECT INSPECTION METHOD AND ITS DEVICE
パターン欠陥検査方法およびその装置 - 特許庁 - METHOD FOR INSPECTING MASK DEFECT, DEVICE FOR INSPECTING MASK DEFECT, AND METHOD FOR MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE
マスク欠陥検査方法、マスク欠陥検査装置、および半導体装置の製造方法 - 特許庁 - METHOD FOR EVALUATING CRYSTAL DEFECT OF SILICON WAFER
シリコンウェーハの結晶欠陥評価方法 - 特許庁 - METHOD FOR EVALUATING CRYSTAL DEFECT OF SILICON WAFER
シリコンウエーハの結晶欠陥評価方法 - 特許庁 - DEFECT INSPECTING APPARATUS AND METHOD
欠陥検査装置および欠陥検査方法 - 特許庁 - DEFECT INSPECTION METHOD AND APPEARANCE INSPECTION DEVICE
欠陥検査方法及び外観検査装置 - 特許庁 - To provide a defect relieving circuit which can relieve defect of a memory with simple constitution.
メモリ欠陥を簡易構成で救済し得る欠陥救済回路を提供する点にある。 - 特許庁 - To prevent a pseudo defect due to an alignment defect from being induced in a sample inspection apparatus.
試料検査装置において、位置合わせ不良による擬似欠陥の誘発を防止する。 - 特許庁 - DISK STORAGE DEVICE AND DEFECT MANAGEMENT METHOD
ディスク記憶装置及びディフェクト管理方法 - 特許庁 - INTERNAL DEFECT DETECTOR FOR TUNNEL LINING
トンネル覆工の内部欠陥検出装置 - 特許庁 - DEFECT INSPECTION DEVICE AND ITS RECORDING MEDIUM
欠陥検査装置およびその記録媒体 - 特許庁
