「Defect」を含む例文一覧(18306)

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  • IMPLANT MATERIAL FOR DEFECT IN SUBSTANTIAL BONE
    実質骨欠損部用生体移植材料 - 特許庁
  • AUTOMATIC DEFECT INSPECTION APPARATUS FOR OPTICAL RECORDING MEDIUM
    光記録媒体の自動欠陥検査装置 - 特許庁
  • CHARGED PARTICLE BEAM APPARATUS AND DEFECT CORRECTING METHOD
    荷電ビーム装置および欠陥修正方法 - 特許庁
  • EQUIPMENT AND METHOD FOR DEFECT CLASSIFICATION
    欠陥分類装置及び欠陥分類方法 - 特許庁
  • DEFECT DETECTING DEVICE AND METHOD
    欠陥検出装置及び欠陥検出方法 - 特許庁
  • SYSTEM FOR PREVENTING MACHINING DEFECT IN LASER BEAM MACHINING
    レーザ加工における加工不良防止システム - 特許庁
  • APPARATUS FOR DETECTING DEFECT OF SHEARING EDGE FOR SIDE TRIMMER
    サイドトリマー用剪断刃の欠損検出装置 - 特許庁
  • To provide a line defect detection method with which even a line defect in a gate direction can be clearly detected in defect detection of a TFT array substrate, and a line defect detection apparatus.
    ＴＦＴアレイ基板の欠陥検出において、ゲート方向の線欠陥でも明確に検出することができる線欠陥検出方法及び線欠陥検出装置を提供する。 - 特許庁
  • SEMICONDUCTOR DEVICE HAVING DEFECT DETECTING FUNCTION
    欠陥検出機能を有する半導体装置 - 特許庁
  • METHOD FOR GROWING LOW-DEFECT NITRIDE SEMICONDUCTOR
    低欠陥窒化物半導体の成長方法 - 特許庁
  • DISPLAY PANEL AND LEAK DEFECT DETECTING METHOD
    表示パネル、およびリーク欠陥検出方法 - 特許庁
  • To provide a defect inspection method capable of inspecting a defect by setting a size determination region having defect detection sensitivity corresponding to the size of a defect part automatically according to the pattern density.
    パターンの密度に応じて自動的に欠陥部分のサイズに応じた欠陥検出感度を有するサイズ判定領域を設定して欠陥検査できる欠陥検査方法を提供すること。 - 特許庁
  • IMAGE DEFECT DETECTING APPARATUS AND IMAGE FORMING APPARATUS
    画像欠陥検出装置、画像形成装置 - 特許庁
  • PATTERN DEFECT INSPECTION METHOD AND ITS DEVICE
    パターンの欠陥検査方法およびその装置 - 特許庁
  • BATTERY DEFECT DETECTION CIRCUIT, AND POWER SUPPLY DEVICE
    電池異常検出回路、及び電源装置 - 特許庁
  • DISK SURFACE DEFECT INSPECTION METHOD AND APPARATUS
    ディスク表面欠陥検査方法及び装置 - 特許庁
  • LINE DEFECT DETECTION METHOD AND DEVICE FOR SCREEN
    画面の線欠陥検出方法及び装置 - 特許庁
  • The method for handling the defect of the hard disk drive comprises a process of detecting a potential defect which can develop to a defect in the future and a process of alternating the potential defect to an alternate area.
    将来に欠陥に発展できる潜在的欠陥を検出する過程，及び潜在的欠陥を代替領域に代替する過程を含む欠陥処理方法である。 - 特許庁
  • MACULAR AREA VISUAL FIELD DEFECT INDEX CALCULATION APPARATUS
    黄斑領域視野欠損指数算出装置 - 特許庁
  • INSPECTION METHOD FOR HOLE DEFECT OF ORIENTED FILM
    配向フィルムの穴明き欠陥の検査方法 - 特許庁
  • OPTICAL DISK DEVICE AND SYSTEM AND DEFECT MANAGING METHOD
    光ディスク装置および欠陥管理方法 - 特許庁
  • HF DEFECT MEASURING METHOD FOR SOI SUBSTRATE
    ＳＯＩ基板のＨＦ欠陥の測定方法 - 特許庁
  • To provide a defect inspection method and a defect inspection device of a sealed honeycomb structure, capable of specifying the position of a cell having a defect and of readily grasping the defect size.
    欠陥のあるセルの位置を特定するとともに、欠陥の大きさを容易に把握することが可能な目封止ハニカム構造体の欠陥検査方法及び欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁
  • DEFECT INSPECTION METHOD AND DEVICE MANUFACTURING METHOD
    欠陥検査方法及びデバイス製造方法 - 特許庁
  • DEFECT OBSERVING AND CLASSIFYING METHOD, AND ITS DEVICE
    欠陥観察分類方法及びその装置 - 特許庁
  • DETECTION OF MATERIAL DEFECT AT GROUND POSITION
    地上位置における材料欠陥の検出 - 特許庁
  • OBSERVATION METHOD FOR LATTICE DEFECT AT INSIDE OF MATERIAL
    材料内部の格子欠陥観察方法 - 特許庁
  • METHOD AND DEVICE FOR INSPECTING FPD DOT DEFECT
    ＦＰＤドット欠陥検査方法及び装置 - 特許庁
  • METHOD FOR DETECTING CONTAINER DEFECT AND ITS APPARATUS
    容器欠陥検出方法およびその装置 - 特許庁
  • METHOD AND APPARATUS FOR DETECTING PATTERN DEFECT
    パターン欠陥検出方法およびその装置 - 特許庁
  • METHOD AND APPARATUS FOR INSPECTION OF DEFECT OF ROUND MATERIAL
    丸材の欠陥検査方法および装置 - 特許庁
  • METHOD OF DETECTING DEFECT POSITION OF SEMICONDUCTOR WAFER
    半導体ウエハの欠陥位置検出方法 - 特許庁
  • SURFACE DEFECT INSPECTING APPARATUS AND METHOD OF THE SAME
    表面欠陥検査装置及びその方法 - 特許庁
  • DEFECT INSPECTION METHOD ON SUBSTRATE FOR DISPLAY DEVICE
    表示装置用基板の欠陥検査方法 - 特許庁
  • To provide a defect inspection device and a defect inspection method with which a defect inspection is possible in all areas of a semiconductor wafer to eliminate an area where the defect inspection is impossible.
    半導体ウェハの全ての領域で欠陥検査が可能であり、欠陥検査が不可能な領域をなくすことができる欠陥検査装置及び欠陥検査方法を提供する。 - 特許庁
  • DEFECT INSPECTION APPARATUS AND METHOD FOR LENTICULAR SHEET
    レンチキュラシートの欠陥検査装置及び方法 - 特許庁
  • SHAPE MEASURING APPARATUS AND DEFECT INSPECTING METHOD
    形状計測装置及び欠陥検査方法 - 特許庁
  • DEFECT DETECTION METHOD FOR ROUND BODY CIRCUMFERENCE
    円形体周縁部の欠陥検出方法 - 特許庁
  • SYSTEM AND METHOD FOR DEFECT CLASSIFICATION
    不良分類システムおよび不良分類方法 - 特許庁
  • OPTICAL SCANNER AND DEFECT DETECTOR
    光学式走査装置及び欠陥検出装置 - 特許庁
  • METHOD AND DEVICE FOR MODIFYING MICRO PORE DEFECT
    微細孔欠陥の修正方法及び装置 - 特許庁
  • BLOT DEFECT DETECTING METHOD FOR SOLID-STATE IMAGING ELEMENT
    固体撮像素子のシミ欠陥検査方法 - 特許庁
  • METHOD AND APPARATUS FOR DETECTION OF DEFECT ON COATING FACE
    塗装面欠陥検出方法及び装置 - 特許庁
  • INSPECTING METHOD OF PATTERN DEFECT AND INSPECTING DEVICE
    パターン欠陥検査方法および検査装置 - 特許庁
  • RIGID BODY SURFACE MICRO DEFECT DETECTING METHOD
    剛体表面の微細欠陥検出方法 - 特許庁
  • METHOD FOR IMPROVING DEFECT OF CAST STEEL CRANK THROW
    鋳鋼製クランクスローの欠陥改善方法 - 特許庁
  • INSPECTION DEVICE AND METHOD OF PATTERN DEFECT
    パターン欠陥の検査装置及び検査方法 - 特許庁
  • Since the pixel defect information is corrected starting from one having the highest defect level or a latest detection time, defect pixels can be corrected efficiently even when a defect pixel is generated anew.
    従って、新たに画素欠陥が発生しても欠陥レベルの大きいものから、或いは検出時期の新しいものから補正されるため、効率的に欠陥画素を補正することができる。 - 特許庁
  • However, if the light bulb itself is a defect.
    しかし もし電球自体に欠陥があれば - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書
  • Bearing in mind the possibility that memory defect will be incurred
    記憶障害が出る可能性も含めて - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書
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