「Defect」を含む例文一覧(18306)

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  • METHOD AND APPARATUS FOR DETECTION OF DEFECT
    欠陥検出方法及び欠陥検出装置 - 特許庁
  • To provide a device for correcting color filter defect and a method of correcting color filter defect for appropriately correcting a defect of a color filter.
    カラーフィルタの欠陥修正を適切に行なうことが可能なカラーフィルタ欠陥修正装置およびカラーフィルタ欠陥修正方法を提供する。 - 特許庁
  • METHOD OF EVALUATING CRYSTAL DEFECT OF SOI WAFER
    ＳＯＩウェーハの結晶欠陥の評価方法 - 特許庁
  • METHOD FOR DETECTING GENE DEFECT AND SPOT MUTATION
    遺伝子欠損と点変異との検出方法 - 特許庁
  • DEVICE AND METHOD FOR DEFECT CORRECTION
    欠陥修正装置および欠陥修正方法 - 特許庁
  • DEVICE AND METHOD FOR DEFECT CORRECTION
    欠陥修正装置及び欠陥修正方法 - 特許庁
  • DEFECT CORRECTION METHOD AND CORRECTING DEVICE
    欠陥修正方法および欠陥修正装置 - 特許庁
  • DEFECT INSPECTING METHOD, DEFECT INSPECTING DEVICE, SIGNAL RECORDING AND REPRODUCING DEVICE, AND SIGNAL RECORDING MEDIUM
    欠陥検査方法、欠陥検査装置、信号記録及び再生装置、並びに信号記録媒体 - 特許庁
  • SYSTEM AND METHOD FOR ANALYZING DEFECT DISTRIBUTION, AND PROGRAM
    欠陥分布解析システム、方法およびプログラム - 特許庁
  • DEVICE AND METHOD FOR INSPECTING DEFECT OF OPTICAL INFORMATION RECORDING MEDIUM, AND DEFECT SIZE DETERMINING METHOD
    光情報記録媒体の欠陥検査装置及びその方法並びに欠陥サイズ決定方法 - 特許庁
  • DEFECT COUNTERMEASURE SELECTING DEVICE, DEFECT COUNTERMEASURE SELECTING METHOD, PROGRAM FOR SELECTING DEFECT COUNTERMEASURE, AND RECORDING MEDIUM WITH THE PROGRAM RECORDED THEREON
    不良対策選択装置、不良対策選択方法、不良対策選択用プログラム、および不良対策選択用プログラムを記録した記録媒体 - 特許庁
  • LASER-ASSISTED CVD SYSTEM, LASER-ASSISTED CVD METHOD, PATTERN DEFECT CORRECTING SYSTEM, AND PATTERN DEFECT CORRECTING METHOD
    レーザＣＶＤ装置、レーザＣＶＤ法、パターン欠陥修正装置及びパターン欠陥修正方法 - 特許庁
  • To eliminate a line trouble caused by harmful defect, without beforehand cutting the harmful defect portion.
    有害欠陥部分を事前にカットすることなく、有害欠陥によるライントラブルを解消する。 - 特許庁
  • The defect within the selected section area is picked up by the imaging device, and a defect image is acquired.
    選択された部分領域内の欠陥を撮像装置で撮像し、欠陥画像を取得する。 - 特許庁
  • CIRCUIT AND METHOD FOR DEFECT DETECTION
    欠陥検出回路及び欠陥検出方法 - 特許庁
  • METHOD FOR MEASURING DEFECT OF OLED DEVICE
    ＯＬＥＤデバイスの欠陥を測定する方法 - 特許庁
  • OPTICAL SCAN DEVICE AND DEFECT DETECTING DEVICE
    光学式走査装置及び欠陥検出装置 - 特許庁
  • DEFECT DETECTION METHOD AND DEVICE
    欠陥検出方法および欠陥検出装置 - 特許庁
  • DEFECT DETECTION DEVICE AND METHOD
    欠陥検出装置および欠陥検出方法 - 特許庁
  • To provide a color filter defect detection method for easily detecting a growth type common defect.
    成長型共通欠陥を容易に検出可能なカラーフィルタの検査方法を提供すること。 - 特許庁
  • To provide a defect list of a 2ECC size or more, and an information recording medium capable of dealing with the delete of a defect entry in the defect list.
    ２ＥＣＣサイズ以上である欠陥リスト、および、欠陥リスト内の欠陥エントリの削除に対応した情報記録媒体を提供すること。 - 特許庁
  • To discriminate a surface defect from an internal defect of the substrate efficiently in a one-time inspection process.
    基板の表面の欠陥と内部の欠陥とを、１回の検査工程で効率良く弁別する。 - 特許庁
  • To prevent a point defect or a line defect of a thin film semiconductor device used for a display or the like.
    ティスプレイなどに用いられる薄膜半導体装置の点欠陥や線欠陥を防止する。 - 特許庁
  • DEFECT MANAGEMENT METHOD AND INFORMATION RECORDING MEDIUM
    欠陥管理方法および情報記録媒体 - 特許庁
  • The position specified by the defect detection process corresponds to the site where the surface defect occurs.
    欠陥検出処理で特定された位置が表面欠陥の発生している箇所に相当する。 - 特許庁
  • To improve reliability for inspecting a defect by enabling a defect candidate to be verified easily by the visual inspection of an image or the like and the defect to be verified by all means.
    画像による目視検査での欠陥候補の確認をし易くし、欠陥の見逃しなどをなくして欠陥検査の信頼性を高める。 - 特許庁
  • Thereby reduction in defect transfer property of a mask or expansion of allowable defect size becomes possible.
    このため、マスクの欠陥転写性の軽減、あるいは欠陥許容サイズの拡大が可能となる。 - 特許庁
  • DEFECT INSPECTION METHOD AND PROGRAM OF IMAGE SENSOR
    撮像素子の欠陥検査方法及びプログラム - 特許庁
  • APPARATUS AND METHOD FOR DEFECT DETECTION
    欠陥検出装置及び欠陥検出方法 - 特許庁
  • The defect presentation part 7 presents the defect data onto the back side of the film 2 corresponding to the defect location of the film 2 to be unwound/conveyed.
    欠陥提示部７は、巻出し搬送されるフィルム２の欠陥位置に対応して当該フィルム２の背面側に欠陥データを提示する。 - 特許庁
  • CHEST WALL DEFECT AMOUNT MEASUREMENT METHOD AND PHANTOM
    胸壁欠損量計測方法およびファントム - 特許庁
  • DARK FIELD DEFECT INSPECTION METHOD, DARK FIELD DEFECT INSPECTION DEVICE, ABERRATION ANALYSIS METHOD, AND ABERRATION ANALYZER
    暗視野欠陥検査方法、暗視野欠陥検査装置、収差解析方法及び収差解析装置 - 特許庁
  • DEFECT DETECTOR AND METHOD FOR DETECTING DEFECT OF METAL BAND, COMPUTER PROGRAM THEREFOR, AND COMPUTER- READABLE STORAGE MEDIUM
    金属帯の欠陥検出装置、方法、コンピュータプログラム、及びコンピュータ読み取り可能な記憶媒体 - 特許庁
  • The defect management information includes the defect location information indicating the location of defective areas and the defect status information indicating the state of the defective areas.
    欠陥管理情報は、欠陥領域の位置を示す欠陥位置情報と、欠陥領域の状態を示す欠陥状態情報とを含む。 - 特許庁
  • To provide a defect inspection method and defect inspection device capable of stably detecting a defect occurring on the surface of an inspecting object.
    被検査物の表面上に発生する欠陥を安定して検出することができる欠陥検査方法及び欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁
  • METHOD AND DEVICE FOR SURFACE DEFECT DETECTION
    表面欠陥検出方法およびその装置 - 特許庁
  • DEFECT INSPECTION METHOD AND ITS SYSTEM, AND DEFECTIVE AREA DETECTION METHOD FOR AUTOMATIC DEFECT CLASSIFICATION
    欠陥検査方法とその装置、及び欠陥の自動分類のための欠陥位置検出方法 - 特許庁
  • DEFECT CORRECTION DEVICE FOR PATTERN SUBSTRATE, DEFECT CORRECTION METHOD THEREFOR, AND METHOD OF MANUFACTURING PATTERN SUBSTRATE
    パターン基板の欠陥修正装置及び欠陥修正方法並びにパターン基板製造方法 - 特許庁
  • OPTICAL DEFECT INSPECTION METHOD AND DEVICE FOR THE SAME
    光学式欠陥検査方法及びその装置 - 特許庁
  • To prevent a transfer defect of a rugged pattern from a stamper to a resist and a defect caused by dust.
    スタンパからレジストへの凹凸パターンの転写不良、及びダストによる欠陥を防止する。 - 特許庁
  • The position on which a defect position specified by the non-lighting inspection part is superimposed on a defect position specified by the lighting inspection part is decided as a real defect position.
    非点灯検査部で特定した欠陥位置と点灯検査部で特定した欠陥位置とが重なる位置を真の欠陥位置と判定する。 - 特許庁
  • To provide an inspection method for inspecting a dot-shape defect, a line shape defect, a defect in unevenness of luminance and the like in the stage of an active matrix substrate.
    アクティブマトリクス基板の段階で、点欠陥、線欠陥、輝度むら欠陥などを検査することができる検査方法を提供すること。 - 特許庁
  • When a defect is detected, a paint is applied to the location of the defect by a marking device 270.
    欠陥を検出すると、マーキング装置２７０によって欠陥の位置に塗料を塗布する。 - 特許庁
  • The presentation means 21 presents the defect candidate detected by the defect candidate detection part 20.
    提示手段２１は前記欠陥候補検出部２０で検出された欠陥候補を提示する。 - 特許庁
  • DEFECT CLASSIFICATION METHOD AND DEVICE OF MASK
    マスクの欠陥分類方法および分類装置 - 特許庁
  • A linear high-luminance defect (V line defect) may occur on a photographed image due to the defect in a vertical CCD of an imaging sensor.
    撮像センサの垂直ＣＣＤにおける欠陥に起因して撮影画像上にライン性の高輝度の傷（Ｖライン傷）が発生することがある。 - 特許庁
  • METHOD AND DEVICE FOR INSPECTING DEFECT OF AIRTIGHT COMPONENT
    気密部品の欠陥検査方法および装置 - 特許庁
  • METHOD FOR DETECTING DEFECT OF COMPOSITE HOLLOW FIBER MEMBRANE
    複合中空糸膜の欠陥検出方法 - 特許庁
  • inclined to shake as from weakness or defect
    弱さまたは欠陥から震える傾向がある - 日本語WordNet
  • DEFECT CORRECTION METHOD FOR PHOTOMASK HAVING GRADATION
    階調をもつフォトマスクの欠陥修正方法 - 特許庁
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