「Defect」を含む例文一覧(18306)

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  • A fluid is locally sprayed to a defect of a mask M by a fluid spray means 30, so that the defect is removed when being a foreign matter but the defect remains when being a black defect.
    流体噴出手段３０により、マスクＭの欠陥に局所的に流体が吹きつけられることにより、欠陥が異物であれば除去され、欠陥が黒欠陥であれば残存することとなる。 - 特許庁
  • METHOD FOR EVALUATING DEFECT ON SURFACE OF SEMICONDUCTOR WAFER
    半導体ウェーハ表面の欠陥評価方法 - 特許庁
  • SEMICONDUCTOR DEFECT INSPECTION DEVICE AND METHOD THEREOF
    半導体欠陥検査装置ならびにその方法 - 特許庁
  • To provide a defect inspection device capable of detecting an irregular defect such as fish eye generated in a film having light transmission, and capable of conducting effectively defect determination containing height information of the defect.
    光透過性を有するフィルムに生じたフィッシュアイ等の凹凸状の欠陥検出および欠陥の高さ情報を含んだ欠陥判定を有効に行うことができる欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁
  • METHOD FOR REDUCING SURFACE DEFECT IN HOT ROLLING
    熱間圧延における表面疵低減方法 - 特許庁
  • ROLLING METHOD FOR SUPPRESSING SURFACE DEFECT OF STEEL SHEET
    鋼板の表面疵を抑制する圧延方法 - 特許庁
  • DISK STORAGE AND SERVO DEFECT DETECTION METHOD
    ディスク記憶装置及びサーボ欠陥検出方法 - 特許庁
  • METHOD OF CONFIRMING AND REPAIRING DEFECT OF HARDWARE
    ハードウェアの欠陥の確認及び補修の方法 - 特許庁
  • SURFACE LUG DEFECT DETECTING DEVICE FOR LONG MATERIAL
    長尺材の表面突起欠陥検出装置 - 特許庁
  • I want to know the analysis results of that defect.
    その不良品の分析結果が知りたいです。 - Weblio Email例文集
  • DEFECT DETECTION CIRCUIT AND SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE
    不良検出回路および半導体記憶装置 - 特許庁
  • ANALYSIS METHOD OF SEMICONDUCTOR DEFECT AND SYSTEM THEREOF
    半導体不良解析方法およびそのシステム - 特許庁
  • ANALYSIS STRUCTURE FOR SEMICONDUCTOR DEFECT ANALYSIS
    半導体不良分析のための分析構造体 - 特許庁
  • ANALYSIS METHOD OF LATTICE DEFECT IN TITANIUM DIOXIDE
    二酸化チタン中の格子欠陥の分析方法 - 特許庁
  • SECONDARY PROCESSING METHOD FOR CORRECTION POINT OF PHOTOMASK DEFECT
    フォトマスク欠陥修正個所の二次処理方法 - 特許庁
  • Yes, as long as it's not the light bulb itself is not a defect.
    はい 電球自体に欠陥がない限りは - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書
  • There's a zero day defect on this firewall.
    このファイアウォールには ゼロデイ攻撃の弱点がある - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書
  • a congenital heart defect producing cyanosis
    チアノーゼを発生させる先天的な心臓の欠陥 - 日本語WordNet
  • METHOD AND APPARATUS FOR DECIDING DEFECT OF BRUSH SEALING
    ブラシ封じの欠陥を判定する方法と装置 - 特許庁
  • METHOD AND APPARATUS FOR DETECTING PIXEL LIGHT BEAM DEFECT
    画素光ビーム欠陥検出方法および装置 - 特許庁
  • To easily inspect a defect on the cylinder head bottom face.
    シリンダヘッド下面の欠陥を容易に検査する。 - 特許庁
  • ROLLING PASS METHOD WITHOUT OCCURRENCE OF CENTER DEFECT
    中心欠陥の発生しない圧延パス方法 - 特許庁
  • To improve efficiency of defect analysis.
    不良解析の効率向上を図ることにある。 - 特許庁
  • REDUCTION IN WATERMARK DEFECT BY RESIST OPTIMIZATION
    レジストの最適化によるウオータマーク欠陥の低減 - 特許庁
  • METHOD FOR DETECTING DEFECT UNDER SURFACE SKIN OF METAL CAST SLAB
    金属鋳片の表皮下欠陥検出方法 - 特許庁
  • PERIODIC DEFECT DETECTING DEVICE AND METHOD FOR THE SAME
    周期性欠陥検出装置及びその方法 - 特許庁
  • PROGRAM FOR EXTRACTING CANDIDATE FOR DEFECT SOURCE AND INSPECTION SYSTEM
    欠陥源候補抽出プログラムと検査システム - 特許庁
  • To improved the determination precision of defect classification.
    欠陥分類の判定精度を向上すること。 - 特許庁
  • 3.Period of the Vendor's defect warranty liability and other liability
    （３）ベンダーの担保責任等が問われる期間 - 経済産業省
  • To provide an apparatus for correcting a defect in a pattern, which corrects the defect on a photomask, by applying a pattern correcting material at an adequate size onto the defect in the pattern.
    フォトマスク上の欠陥にパターン修正材料を適切な大きさにて付与して欠陥を修正するパターン欠陥修正装置を提供する。 - 特許庁
  • The memory respectively stores primary defect information indicating a defect area on the disk including the protrusive defective part and the secondary defect information.
    メモリは、前記凸状欠陥部を含む前記ディスク上の欠陥エリアを示す主要ディフェクト情報及び前記補助的ディフェクト情報をそれぞれ記憶する。 - 特許庁
  • The defect detection process comprises an induction current detection type defect detection process 103 and a reflection light detection type defect detection process 104.
    欠陥検出工程は、誘導電流検出式欠陥検出工程１０３と反射光検出式欠陥検出工程１０４とを有する。 - 特許庁
  • To provide a system for specifying a defect-origin device, the system specifying a device which is an origin of defect generation when detecting a defect generated on a substrate.
    基板に発生した欠陥を検出した際、該欠陥の発生原因となっている装置を特定する欠陥原因装置特定システムを提供する。 - 特許庁
  • To provide a defect inspecting apparatus which quickly analyzes the cause of the occurrence of a defect by specifying a film in which the defect has occurred, to thereby prevent a decrease in productivity.
    欠陥検査装置において、欠陥の生じた膜を特定することにより、欠陥発生の原因分析を迅速化し、生産性の低下を防止する。 - 特許庁
  • PROFILE IRREGULARITY MEASURING AND SURFACE DEFECT OBSERVING APPARATUS, PROFILE IRREGULARITY MEASURING AND SURFACE DEFECT OBSERVING METHOD, AND PROFILE IRREGULARITY AND SURFACE DEFECT INSPECTING METHOD
    面精度測定及び表面欠陥観察装置、面精度測定及び表面欠陥観察方法、並びに面精度及び表面欠陥の検査方法 - 特許庁
  • To provide a fissure-like defect repairing method for a nuclear reactor structure capable of suppressing propagation of a fissure-like defect, even if water remains inside the fissure-like defect.
    き裂状欠陥内に水分が残存する場合であってもき裂状欠陥の進展を抑制することができるき裂状欠陥の補修方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide a pattern defect classifying and detecting method which can accurately detect a pattern defect and can classify the type of the defect and detect it.
    パターン欠陥を正確に検出できるとともに、その欠陥の種類を分別して検出することができるパターン欠陥分別検出方法を提供する。 - 特許庁
  • A primary defect detection part 36 executes primary defect detection processing for detecting existence of a large defect larger than the prescribed size on an inspection object.
    １次欠陥検出部３６は、検査対象物上の所定サイズ以上の大欠陥の有無を検出する１次欠陥検出処理を実行する。 - 特許庁
  • To provide a defect inspection device and an image display method capable of performing optimum color display corresponding to the purpose of the defect device, defect characteristics, or the like.
    欠陥検査の目的や欠陥の特性等に応じて、最適なカラー表示を行うことができる欠陥検査装置及び画像表示方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide an optical disk apparatus and a defect processing method for an optical disk by which a defect of a disk can be detected without delay and the defect can be removed.
    遅延なくディスクの欠陥を検出してその欠陥を除去することができる光ディスク装置及び光ディスクの欠陥処理方法を提供すること。 - 特許庁
  • To detect a defect around a synchronization mark with one write operation in a defect testing method for testing a defect in a synchronization mark part of a data part of a disk.
    ディスクのデータ部の同期マーク部の欠陥を検出する欠陥検査方法に関し、１回のライト動作で、同期マーク周辺の欠陥を検出する。 - 特許庁
  • MASK CORRECTION OPTICAL SYSTEM FOR PHASE DEFECT CORRECTION, MASK CORRECTION DEVICE FOR PHASE DEFECT CORRECTION, AND LASER CVD MASK CORRECTION DEVICE FOR PHASE DEFECT CORRECTION
    位相欠陥修正用マスク修正光学系，位相欠陥修正用マスク修正装置，及び位相欠陥修正用レーザＣＶＤマスク修正装置 - 特許庁
  • To detect a defect in wiring, the defect being latent in the wiring of a printed board made of a composite material of a resin and copper, and discriminate the defect in a state of a printed board.
    樹脂と銅の複合材料からなるプリント基板の配線に潜む配線異常を検出し、プリント基板の状態で判別可能とすること。 - 特許庁
  • To provide a defect inspection device capable of suppressing a defect data amount to be managed without impeding acquisition of a defect generation state on a substrate to be inspected.
    被検査基板における欠陥発生状況の把握を妨げることなく、管理すべき欠陥データ量を抑制できる欠陥検査装置の提供。 - 特許庁
  • To correct a black defect or a white defect having a perpendicular cross section without tilting the stage in a mask defect correcting apparatus using an electron beam.
    電子ビームを用いたマスク欠陥修正装置でステージを傾斜させずに垂直な断面を持つ黒欠陥修正や白欠陥修正を実現する。 - 特許庁
  • To provide a defect detector which can detect the defect of a carrier, using an optimum defect detection method, according to the classification of the tape carrier.
    テープキャリアの種別などに応じて、最適な欠陥検出手法を用いて、テープキャリアの欠陥を検出可能な欠陥検出装置を提供する。 - 特許庁
  • To provide an inspection method of an active matrix substrate capable of inspecting point defect, line defect, or brightness defect at the stage of the active matrix substrate.
    アクティブマトリクス基板の段階で、点欠陥、線欠陥または輝度不良を検査することができるアクティブマトリクス基板の検査方法を提供すること。 - 特許庁
  • SURFACE DEFECT DETECTOR, GRINDING DEVICE, SURFACE DEFECT DETECTION METHOD AND SURFACE DEFECT DETECTION PROGRAM FOR REDUCTION ROLL, AND REDUCTION ROLL GRINDING METHOD
    圧延用ロールの表面欠陥検出装置、研削装置、表面欠陥検出方法及び表面欠陥検出用プログラム並びに圧延用ロール研削方法 - 特許庁
  • To provide a differential interference microscope capable of picking up the image of a defect without depending on the directivity of the defect even when it is the defect having the directivity.
    方向性を有する欠陥であっても、欠陥の方向性に依存することなく欠陥像を撮像できる微分干渉顕微鏡を提供する。 - 特許庁
  • To achieve a defect detection apparatus for detecting defects in a flat panel at the high defect detection accuracy, without sacrificing defect detection speed.
    欠陥検出速度を犠牲にすることなく高い欠陥検出精度でフラットパネルの欠陥を検出し得る欠陥検出装置を実現することにある。 - 特許庁
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