「Defect」を含む例文一覧(18306)
＜前へ 1 2 .... 27 28 29 30 31 32 33 34 35 .... 366 367 次へ＞- SYSTEM FOR INSPECTING SAMPLE FOR DEFECT AND INSPECTION METHOD
試料の欠陥検査システム、および検査方法 - 特許庁 - DEFECT DETECTION METHOD AND DEVICE OF PLATE-LIKE BODY
板状体の欠陥検出方法及び装置 - 特許庁 - METHOD FOR MANUFACTURING DEFECT-FREE SILICON SINGLE CRYSTAL
無欠陥のシリコン単結晶を製造する方法 - 特許庁 - DETECTION METHOD OF WHEEL DEFECT AND ITS EQUIPMENT
車輪損傷の検出方法及びその装置 - 特許庁 - To provide a defect inspecting device of a cathode ray tube capable of easily specifying on which device a defect is developed from information about the defect when the defect is developed on a surface.
表面に欠陥が生じた場合、その欠陥に関する情報からどの装置によって欠陥が生じたかを容易に特定することができる陰極線管の欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁 - AUTOMATIC DEFECT CHECKER FOR PHOTOMASK AND ITS CHECKING METHOD
フォトマスクの自動欠陥検査装置及び方法 - 特許庁 - Then, a good/bad map data read step 14 is executed, and in a fatal defect rate calculation step 15, the defect map data and the good/bad map data are checked to calculate a fatal defect rate in the defect map data.
次に，良品・不良品マップデータ読込みステップ１４を行い，致命率計算ステップ１５で，欠陥マップデータと良品・不良品マップデータを照合して，欠陥マップデータの致命率を計算する。 - 特許庁 - The defect signal corresponding thereto and a plurality of the defect approach signals corresponding to the defect signal and the ultrasonic response signals from the measuring places on both sides of the defect position, are inputted to an educated artificial neural network.
そして、欠陥信号及び欠陥位置の両側の測定箇所からの超音波応答信号に対応する複数の欠陥近接信号は、教育された人工ニューラルネットワークに入力される。 - 特許庁 - METHOD FOR INSPECTING SURFACE DEFECT OF HIGH CARBON STEEL PRODUCT
高炭素鋼材の表面欠陥検査方法 - 特許庁 - METHOD OF DETECTING PIXEL DEFECT FOR SOLID STATE IMAGING DEVICE
固体撮像素子の画素欠陥検出方法 - 特許庁 - To provide a display defect inspection device for accurately inspecting defect on the outermost side of a lighting region of a display, and to provide a display defect inspection method, and a display defect inspection program.
ディスプレイの点灯領域の最も外側においても精度良く欠陥を検出することができる、ディスプレイ欠陥検査装置、ディスプレイ欠陥検査方法、ディスプレイ欠陥検査プログラムを提供する。 - 特許庁 - To reduce or eliminate the risk of imaging defect.
像の欠陥のリスクを低減または除去する。 - 特許庁 - The patterns of the test mask are transferred onto a wafer; the certified defect dimension of each kind of defects is determined; and the detection sensitivity of the defect inspection apparatus, with respect to a semitransparent defect, is controlled by using the test mask in the defect inspecting apparatus.
テストマスクをウェハーへ転写し、各種欠陥の保証欠陥寸法と決定し、欠陥検査装置にて、テストマスクにより半透明欠陥に対する欠陥検査装置の検出感度調整する。 - 特許庁 - DEFECT DATA PROCESSING METHOD AND DATA PROCESSING DEVICE
欠陥データ処理方法、およびデータの処理装置 - 特許庁 - METHOD FOR INSPECTING DEFECT IN SEMICONDUCTOR SINGLE CRYSTAL
半導体単結晶中の欠陥検査方法 - 特許庁 - DISK DRIVE APPARATUS AND MEDIA DEFECT DETECTION METHOD
ディスクドライブ装置及びメディア欠陥検出方法 - 特許庁 - DEFECT ANALYZER AND METHOD FOR SEMICONDUCTOR DEVICE
半導体デバイスの欠陥解析装置及び方法 - 特許庁 - FUEL CELL DEFECT DETERMINATION DEVICE AND METHOD
燃料電池の不具合判定装置および方法 - 特許庁 - DARK FIELD ILLUMINATION DEVICE AND DEFECT DETECTION DEVICE
暗視野照明装置、及び欠陥検出装置 - 特許庁 - DEVICE AND METHOD FOR INSPECTING DEFECT OF STEEL STRIP
鋼帯の欠陥検査装置及び検査方法 - 特許庁 - BONE DEFECT FILLER, AND METHOD FOR PRODUCING THE SAME
骨欠損充填材およびその製造方法 - 特許庁 - METHOD AND DEVICE FOR CORRECTING WHITE DEFECT IN PHOTOMASK
フォトマスクの白欠陥修正方法及び装置 - 特許庁 - DEFECT ANALYSIS APPARATUS, INSPECTION SYSTEM, AND INSPECTION METHOD
欠陥解析装置，検査システム、及び、検査方法 - 特許庁 - METHOD OF EVALUATING CRYSTAL DEFECT IN SILICON SINGLE CRYSTAL
シリコン単結晶の結晶欠陥評価方法 - 特許庁 - METHOD AND APPARATUS FOR INSPECTING DEFECT OF STEEL PLATE SURFACE
鋼板表面欠陥検査方法および装置 - 特許庁 - To effectively recover a defect of an optical member.
光学部材の欠点を効果的に回収する。 - 特許庁 - IMAGE READING APPARATUS AND CONVEYANCE DEFECT DETECTING METHOD
画像読取装置及び搬送不備検出方法。 - 特許庁 - METHOD AND DEVICE FOR DETECTING DEFECT IN GLASS SHEET
ガラスシート内の欠陥検出方法および装置 - 特許庁 - DEFECT PIXEL REPLACEMENT SYSTEM AND VIDEO DISPLAY DEVICE
欠陥画素置換方式及び映像表示装置 - 特許庁 - METHOD OF INSPECTING COATING FILM DEFECT OF RESIN COATED FILM
樹脂塗布フィルムの塗膜欠陥の検査方法 - 特許庁 - Also, defect inspection is carried out at a linear recording density equal to or lower than 1/(2 to 4) of a defect size impossible to be error-corrected at the magnetic disk device, and a defect size targeted for acceptance/rejection determination in defect inspection.
また、磁気ディスク装置でエラー訂正不可能な欠陥サイズであって且つ欠陥検査で合否判定の対象とする欠陥サイズの１／（２〜４）以下の線記録密度で欠陥検査を行うこと。 - 特許庁 - METHOD AND DEVICE FOR MEASURING CRYSTAL DEFECT OF WAFER
ウェーハの結晶欠陥測定方法及び装置 - 特許庁 - IMAGE DEFECT CORRECTING DEVICE FOR SOLID-STATE IMAGE PICKUP DEVICE
固体撮像装置用画像欠陥補正装置 - 特許庁 - DEFECT MANAGEMENT METHOD FOR INFORMATION RECORDING DEVICE
情報記録媒体における欠陥管理方法 - 特許庁 - To prevent generation of a stain like display defect.
しみ状の表示不良の発生を防止する。 - 特許庁 - THROUGH HOLE WALL SURFACE DEFECT INSPECTION DEVICE OF PRINTED BOARD
プリント基板のスルーホール壁面欠陥検査装置 - 特許庁 - IMAGING DEVICE AND IMAGE DEFECT CORRECTING METHOD
画像撮影装置および画像欠陥補正方法 - 特許庁 - MONITORING DEVICE FOR PERFORMANCE OF SURFACE-DEFECT INSPECTION APPARATUS
表面欠陥検査装置の性能監視装置 - 特許庁 - METHOD OF INSPECTING COLOR FILTER DEFECT IN COLOR FILTER SUBSTRATE
カラーフィルタ基板のカラーフィルタ欠陥検査方法 - 特許庁 - INSPECTION METHOD FOR SURFACE DEFECT AND INSPECTION DEVICE THEREOF
表面欠陥の検査方法および検査装置 - 特許庁 - The header a defect list identifier 131 for identifying the defect list, and first updating number-of-time information 133, and a defect entry number 132 indicating the number of defect entries.
ヘッダは、欠陥リストを識別する欠陥リスト識別子１３１と、欠陥リストの更新回数を示す第１の更新回数情報１３３と、欠陥エントリの個数を示す欠陥エントリ数１３２とを含む。 - 特許庁 - PROCESS FOR SIMULATING REGION WITHOUT DEFECT IN SINGLE CRYSTAL
単結晶の無欠陥領域シミュレーション方法 - 特許庁 - SELF-INTERSTITIAL DOMINATED SILICON HAVING LOW DEFECT DENSITY
低欠陥密度の自己格子間物優勢シリコン - 特許庁 - APPARATUS FOR THICKNESS DEFECT INSPECTION AND ITS INSPECTION METHOD
厚み欠陥検査装置及びその検査方法 - 特許庁 - DEFECT ANALYZER, INSPECTION SYSTEM, AND INSPECTION METHOD
欠陥解析装置，検査システム、及び、検査方法 - 特許庁 - DEFECT DETECTING METHOD OF SURFACE OF SEMICONDUCTOR SUBSTRATE
半導体基板表面の欠陥検出方法 - 特許庁 - To actually experience a defect in brake.
ブレーキ失陥を実際に体験できるようにする。 - 特許庁 - DEFECT INSPECTION METHOD FOR MAGNETIC TAPE AND APPARATUS FOR THE SAME
磁気テープ欠陥検査方法およびその装置 - 特許庁 - METHOD FOR CORRECTING PIXEL DEFECT AND IMAGE DISPLAY DEVICE
画素欠陥補正方法、及び画像表示装置 - 特許庁 - PIXEL DEFECT DETECTION METHOD AND IMAGE PROCESSOR
画素欠陥検出方法及び画像処理装置 - 特許庁
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