In the defect repairing device using an ion beam, a blank defect hard to repair is observed with AFM(atomic force microscope) or the like. イオンビームを用いた欠陥修正装置では修正し難い白欠陥に対してAFM等で観察する。 - 特許庁
METHOD FOR CORRECTING SURFACE DEFECT OF SYNTHETIC RESIN MATERIAL AND SYNTHETIC RESIN MATERIAL OF WHICH SURFACE DEFECT IS CORRECTED 合成樹脂材の表面欠陥修正方法及び表面欠陥を修正した合成樹脂材 - 特許庁
To provide a defect inspection device capable of inspecting a defect in a large-sized photomask and a glass substrate at high speed. 大型のフォトマスクやガラス基板を高速で欠陥検査できる欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁
COMPOSITE IMPLANT FOR RESTORING TISSUE DEFECT IN PATIENT AND METHOD FOR REPAIRING TISSUE DEFECT 患者の組織の欠陥を修復するための組み合わせ移植片および組織の欠陥を修復する方法 - 特許庁
METHOD FOR DETECTING WELD DEFECT IN LASER BEAM WELDING レーザ溶接における溶接欠陥の検知方法 - 特許庁
METHOD AND APPARATUS FOR INSPECTING DEFECT OF INSPECTION OBJECT 被検査体の欠陥検査方法及びその装置 - 特許庁
MASK DEFECT INSPECTING DEVICE AND METHOD マスク欠陥検査装置及びマスク欠陥検査方法 - 特許庁
METHOD FOR DETECTING SURFACE DEFECT OF GLASS FIBER PRODUCT ガラス繊維物品の表面欠陥検出方法 - 特許庁
PROCESS AND PRINTER WITH MASKING OF DEFECT 欠陥をマスクすることを備える方法およびプリンタ - 特許庁
THIN FILM DEFECT DETECTING METHOD, THIN FILM DEFECT REPAIRING METHOD USING THE SAME, AND DEVICE THEREFOR 薄膜の欠陥検出方法と装置および該欠陥検出方法を用いた薄膜の欠陥補修方法 - 特許庁
DEFECT INSPECTING METHOD FOR METAL FOIL PATTERN ETCHING PRODUCT 金属箔パターンエッチング製品の欠陥検査方法 - 特許庁
SYSTEM FOR IDENTIFYING DEFECT IN COMPLEX STRUCTURE 複合構造内の欠陥を識別するためのシステム - 特許庁
METHOD AND APPARATUS FOR MANAGING DEFECT IN RECORDING MEDIUM, AND DEFECT MANAGED RECORDING MEDIUM OBTAINED BY USING THE METHOD 記録媒体の欠陥管理方法、装置及びその方法を利用して得られた欠陥管理記録媒体 - 特許庁
According to this, the part which is newly taken as defect pixel data is corrected similarly to other defect pixel data. これにより、新たに欠陥画素データとされた部分も他の欠陥画素データと同様に補正する。 - 特許庁
At agreement, a defect corresponding to the agreed waveform is outputted at a defect outputting part. 合致した場合は、不良部位出力部にて、合致した波形に対応する不良部位を出力する。 - 特許庁
To form a germanium ELO layer without defect. 欠陥のないゲルマニウムELO層を形成すること。 - 特許庁
The output includes: first output which corresponds to the defect; and second output which does not correspond to the defect. 出力は、欠陥に対応する第一出力と、欠陥に対応しない第二出力を含む。 - 特許庁
SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND DEFECT DETECTOR DEVICE 走査型電子顕微鏡及び欠陥検出装置 - 特許庁
To perform mask defect inspection with high accuracy by quantitatively judging a stripe defect caused in a mask. マスクに発生するスジ状の欠陥を定量的に判断し、精度の高いマスク欠陥検査を行うこと。 - 特許庁
There could possibly some memory defect. 《記憶障害が出てきたりする 可能性もあります》 - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書
Does the defect lie in the woman or in the man?
子の無いのは畑が悪いのか種が悪いのか - 斎藤和英大辞典
The style is faultless, except for this single defect.
欠点はこれ一つあるだけで無キズな文章だ - 斎藤和英大辞典
A defect determination section 32 detects a defect of an inspecting object based on the difference value SUB after the correction. 欠陥判定部32は、補正後の差分値SUBに基づき被検査物における欠陥を検出する。 - 特許庁
DETECTION METHOD OF DEFECT IN ACTIVE MATRIX LIQUID CRYSTAL PANEL アクティブマトリクス液晶パネルの欠陥検出方法 - 特許庁
INSPECTION METHOD OF SURFACE DEFECT OF TRANSPARENT RESIN FILM 透明樹脂フィルムの表面欠陥の検査方法 - 特許庁
To record contents which does not have a recording defect part due to a broadcast radio wave reception defect. 放送電波受信不良に起因する記録不良箇所が存在しないコンテンツを記録すること。 - 特許庁
DEFECT DETECTION METHOD AND DEVICE OF TRANSPARENT PLATE 透明板の欠陥検出方法及びその装置 - 特許庁
SHADING CORRECTION METHOD, DEFECT DETECTION METHOD, AND DEFECT DETECTOR AND CONTROL METHOD PROGRAM THEREOF シェーディング補正方法、欠陥検出方法、欠陥検出装置、欠陥検出装置の制御方法プログラム - 特許庁
INSPECTION METHOD AND INSPECTION DEVICE OF LINE WIDTH AND DEFECT 線幅や欠陥の検査方法及び検査装置 - 特許庁
In a CPU 56, the continuity of the defect in each scan is decided on the basis of the defect signal. CPU56では、この欠陥信号に基づき各スキャンにおける欠陥の連続性を判定する。 - 特許庁
(1) To inform users of the occurrence of the defect. 異常が発生していることをユーザに知らせる。 - 特許庁
METHOD FOR SIMULATING DISTRIBUTION OF POINT DEFECT IN SINGLE CRYSTAL 単結晶の点欠陥分布のシミュレーション方法 - 特許庁
INSPECTING DEVICE AND INSPECTING METHOD FOR DEFECT IN WAFER FRAME ウェハー枠の欠陥検査装置及び検査方法 - 特許庁
METHOD AND DEVICE FOR DETECTING DEFECT OF MICRO PATTERN 微細パタ−ンの欠陥検出方法及び装置 - 特許庁
To prevent a defect having no influence or small influence as a defect from being detected. 本発明は、欠陥として影響のない或いは影響の少ない欠陥を検出することがない。 - 特許庁
METHOD FOR EVALUATING DEFECT IN SILICON SINGLE-CRYSTAL WAFER シリコン単結晶ウエハ中の欠陥評価方法 - 特許庁
To improve a defect inspection in detection sensitivity for a minute defect while suppressing generation of pseudo defects. 欠陥検査において、疑似欠陥の発生を抑制しつつ、微小欠陥の検出感度を向上する。 - 特許庁
To provide a defect detection device for an optically transparent film capable of enhancing the defect detection accuracy. 欠陥の検出精度を高めることができる光透過性フィルムの欠陥検出装置を提供する。 - 特許庁
RECORDING METHOD AND READING METHOD FOR TEMPORARY DEFECT LIST 臨時欠陥リストの記録方法及び読取方法 - 特許庁
To provide a leak defect detecting method capable of detecting easily the leakage defect generated inside a pixel. 容易に画素内に発生するリーク欠陥を検出可能なリーク欠陥検出方法を提供する。 - 特許庁
SPECIFICATION DEFECT VERIFICATION SYSTEM, METHOD THEREOF, AND PROGRAM 仕様欠陥検証システム、その方法及びプログラム - 特許庁
APPARATUS AND METHOD FOR INSPECTING DEFECT OF FILM フイルムの欠陥検査装置及び欠陥検査方法 - 特許庁
METHOD AND APPARATUS FOR REVIEWING MASK DEFECT マスク欠陥レビュー方法及びマスク欠陥レビュー装置 - 特許庁
REFERENCE DATA GENERATION METHOD, PATTERN DEFECT INSPECTION DEVICE, PATTERN DEFECT INSPECTION METHOD, AND REFERENCE DATA GENERATION PROGRAM 参照データ生成方法、パターン欠陥検査装置、パターン欠陥検査方法、及び参照データ生成プログラム - 特許庁