「Defect」を含む例文一覧(18306)
＜前へ 1 2 .... 34 35 36 37 38 39 40 41 42 .... 366 367 次へ＞- METHOD FOR CORRECTING BLACK DEFECT OF MASK FOR EUV LITHOGRAPHY
ＥＵＶリソグラフィ用マスクの黒欠陥修正方法 - 特許庁 - LIQUID CRYSTAL DISPLAY DEVICE AND ITS DEFECT CORRECTING METHOD
液晶表示装置及びその欠陥修正方法 - 特許庁 - IMAGE PHOTOGRAPHING APPARATUS AND METHOD FOR DETECTING IMAGE DEFECT
画像撮影装置および画像欠陥検出方法 - 特許庁 - METHOD AND DEVICE FOR MONITORING DEFECT OCCURRENCE CONDITION
欠陥発生状態の監視方法およびその装置 - 特許庁 - METHOD AND DEVICE FOR INSPECTING CRYSTAL DEFECT IN SILICON WAFER
シリコンウェーハの結晶欠陥検査方法及び装置 - 特許庁 - DEFECT PIXEL DETECTION.CORRECTION DEVICE FOR SOLID-STATE AGE PICKUP ELEMENT
固体撮像素子の欠陥画素検出・補正装置 - 特許庁 - DEFECT INFORMATION CONTROL METHOD AND INFORMATION STORAGE DEVICE
欠陥情報管理方法及び情報記憶装置 - 特許庁 - INFORMATION STORAGE DEVICE AND DEFECT INFORMATION CONTROL METHOD
情報記憶装置及び欠陥情報管理方法 - 特許庁 - METHOD OF REMOVING DEFECT FROM MEMBER HAVING FINE STRUCTURE
微細構造を有する部材の欠陥除去方法 - 特許庁 - To provide a wobble defect detector and method.
ウォブル欠陥検出装置及び方法を提供する。 - 特許庁 - METHOD FOR CORRECTING PATTERN POSITION DEVIATION AND DEFECT INSPECTING APPARATUS
パターン位置ずれ補正方法及び欠陥検査装置 - 特許庁 - These crystal planes bend around a defect.
これらの結晶面は、(1つの)欠陥のまわりで曲がる。 - 科学技術論文動詞集 - The operator compares a defect mark and an actual surface flaw, when a defect mark is imparted by the error operation of the surface defect detector 14, an erasing command of defect mark is inputted from the setting display board 25.
オペレータは、欠陥マークと実際の表面疵を対比し、欠陥マークが表面欠陥検出器１４の誤作動によって付されたものであるときは、設定表示盤２５から欠陥マークの消去指令を入力する。 - 特許庁 - After first defect inspection processing (step S11) for inspecting whether there is a defect on a wafer or not is performed, a defective chip is determined by the defect detected by the first defect inspection processing (steps S12, S13).
ウェハ上に欠陥があるか否かを検査する第１の欠陥検査処理（ステップＳ１１）を実行した後、その第１の欠陥検査処理にて検出された欠陥により、不良チップを判定する（ステップＳ１２，Ｓ１３）。 - 特許庁 - COMPOSITION AND METHOD OF TREATING FACIAL SKIN DEFECT
顔の皮膚の欠陥を処置する組成物および方法 - 特許庁 - SUBSTRATE SURFACE DEFECT DETECTING METHOD AND DETECTOR
基板表面欠陥検出方法および検出装置 - 特許庁 - TEST PATTERN, AND METHOD OF MONITORING DEFECT USING THE SAME
テストパターン及びこれを用いる欠陥モニタリングの方法 - 特許庁 - To provide a defect inspection device having unprecedented high accuracy, in a defect inspection device of a manufacturing process of a semiconductor device; and to provide a defect inspection (or evaluation) method.
半導体デバイスの製造過程の欠陥検査装置において従来にはない精度の良い欠陥検査装置及び検査（或いは評価）方法を実現する。 - 特許庁 - SOLID-STATE IMAGE PICKUP DEVICE AND PIXEL DEFECT INSPECTING METHOD THEREFOR
固体撮像装置及びその画素欠陥検査方法 - 特許庁 - METHOD FOR INSPECTING DEFECT IN FORMATION OF SPACER FOR LIQUID CRYSTAL CELL
液晶セル用スペーサの形成不良の検査方法 - 特許庁 - To provide a cutting defect detection method in a plasma machine to prevent a cutting defect by automatically detecting generation of a cutting defect and a device therefor.
切断不良の発生を自動的に検出して切断不良を防ぐことのできるプラズマ加工機における切断不良検出方法およびその装置を提供する。 - 特許庁 - DEVICE AND METHOD FOR DETECTING DEFECT OF SUBSTRATE SURFACE, AND RECORDING MEDIUM WITH RECORDED PROGRAM FOR DEFECT DETECTION
基板面の不良検出装置、不良検出方法、及び不良検出のためのプログラムを記録した記録媒体 - 特許庁 - METHOD FOR PREVENTING SURFACE DEFECT OF TIN ELECTROPLATED STEEL SHEET
電気錫めっき鋼板の表面欠陥防止方法 - 特許庁 - METHOD OF REVIEWING DEFECT IN SEMICONDUCTOR DEVICE, AND APPARATUS THEREFOR
半導体デバイスの欠陥レビュー方法及びその装置 - 特許庁 - In a semiconductor evaluating method 100, a defect condition detecting process 110, a defect position specifying process 120 and a defect factor analyzing process 130 are successively executed.
半導体評価方法１００では，不良状況検出工程１１０と欠陥位置特定工程１２０と不良原因解析工程１３０とが順次実施される。 - 特許庁 - METHOD FOR DETECTING DEFECT OF IMAGING ELEMENT AND IMAGING DEVICE
撮像素子の欠陥検出方法及び撮像装置 - 特許庁 - COLD ROLLED STEEL SHEET FOR CAN REDUCED IN DEFECT CAUSED BY INCLUSION
介在物性欠陥の少ない缶用冷延鋼板 - 特許庁 - METHOD FOR INSPECTING DEFECT OF MAGNETIC DISK AND MAGNETIC DISK CERTIFIER
磁気ディスク欠陥検査方法および磁気ディスクサーテファイア - 特許庁 - To surely fetch an image of a single defect.
単発欠陥の画像を確実に切り出せるようにする。 - 特許庁 - The method is provided with a defect information storage means 35 for storing a defect point correlating with a portion of an education material.
教材箇所と関連付けて不具合点数を格納した不具合情報記憶手段３５を具備する。 - 特許庁 - The differential interference image on the surface of the substrate is supplied to defect detection means (34) so that a defect therein is detected.
基板表面の微分干渉画像は欠陥検出手段（３４）に供給されて欠陥が検出される。 - 特許庁 - Crystal growth is conducted under a condition that the central part of the crystal becomes a defect-free zone, an oxidation inducement stacking defect-formed zone or an infrared scattering defect-formed zone.
結晶中心部が無欠陥領域、酸化誘起積層欠陥発生領域又は赤外散乱欠陥発生領域となる条件で結晶育成を行う。 - 特許庁 - To correct a point defect and a line defect of an imaging device by accurately detecting them in a short time.
撮像素子の点欠陥及び線欠陥を短時間で精度良く検出して補正することを可能とする。 - 特許庁 - CRYSTAL DEFECT DETECTING METHOD FOR SILICON WAFER, CRYSTAL DEFECT EVALUATING METHOD, AND OXIDE FILM BREAKDOWN VOLTAGE CHARACTERISTICS EVALUATING METHOD
シリコンウエーハの結晶欠陥検出法および結晶欠陥評価法ならびに酸化膜耐圧特性評価法 - 特許庁 - A controlling part 14 generates defect information which identifies a defect on a substrate during inspection of a substrate installed.
制御部１４は、搬入された基板の検査時に、基板上の欠陥を識別する欠陥情報を生成する。 - 特許庁 - According to the relationship between the upper-limit peak and the lower-limit peak in the arrangement direction of the light receiving elements, the recess defect and the protrusion defect are discriminated, and the defect is detected.
そして、受光素子の配列方向における上限ピークと下限ピークとの関係に応じて凹部欠陥か、凸部欠陥かを判定して欠陥を検出する。 - 特許庁 - INKJET RECORDING APPARATUS AND METHOD FOR DETECTING DISCHARGE DEFECT
インクジェット記録装置及び吐出不良検出方法 - 特許庁 - DISCHARGE DEFECT INVESTIGATION METHOD FOR FUNCTIONAL DROPLET DISCHARGE HEAD
機能液滴吐出ヘッドの吐出不良究明方法 - 特許庁 - METHOD FOR DETECTING JOINT DEFECT IN FRICTION STIR JOINING
摩擦撹拌接合における継ぎ手不良検知方法 - 特許庁 - To detect a processing defect which causes the deterioration of high-density multicolor reproduction, and to perform correction in accordance with the defect.
高濃度の多重色の色再現の劣化を招くプロセス不良を検出し、それに応じた補正を行う。 - 特許庁 - METHOD AND DEVICE FOR DETECTING DEFECT OF SUBSTRATE
基板の欠陥検出方法および欠陥検出装置 - 特許庁 - To provide a defect detection device for an optically transparent film A, detecting a defect highly accurately.
欠陥検出を高精度で行うことができる光透過性フィルムＡの欠陥検出装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a defect inspection analysis system and a defect inspection analysis method capable of improving the efficiency of a series of inspection analysis processes, including the defect inspection of a wafer at the manufacturing of a semiconductor device and a final defect analysis result of a target portion, and to provide a management computer that uses the defect inspection analysis method.
半導体装置製造時のウエハの欠陥検査や注目部の最終的な欠陥解析結果を含む一連の検査解析工程を高効率化することができる欠陥検査解析システム、欠陥検査解析方法及びこれに用いる管理コンピュータを提供する。 - 特許庁 - An image processor 12 detects a defect on the basis of a defect image which is obtained by picking up an image of a glass substrate 2 by an imaging section 11, and recognizes a position and an area of the defect.
撮像部１１がガラス基板２を撮像した欠陥画像に基づき画像処理部１２は欠陥を検出し、欠陥の位置および範囲を認識する。 - 特許庁 - METHOD AND DEVICE FOR CORRECTING DEFECT OF DIGITAL IMAGE
ディジタル・イメージの欠陥を修正する方法および装置 - 特許庁 - This video camera is provided with an illumination 1, a lens protecting shutter 2, a focus driving device 3, a lens part 4, a CCD driving circuit 5, a CCD image pickup element 6, a microcomputer 8, a black defect level register 10, a black defect judging circuit 11, a white defect level register 12, a white defect judging circuit 13 and a defect correcting circuit 15.
本発明によるビデオカメラは、照明１、レンズ保護シャッタ２、フォーカス駆動装置３、レンズ部４、ＣＣＤ駆動回路５、ＣＣＤ撮像素子６、マイコン８、黒キズレベルレジスタ１０、黒キズ判定回路１１、白キズレベルレジスタ１２、白キズ判定回路１３およびキズ補正回路１５を備える。 - 特許庁 - STRUCTURE AND METHOD FOR DETECTING VIA DEFECT
ビア不良検出構造及びビア不良検出方法 - 特許庁 - METHOD AND DEVICE FOR INSPECTING SURFACE DEFECT IN DISC
ディスクの表面欠陥検査方法および検査装置 - 特許庁 - Final defect distributions on each substrate are sorted into defect-distribution patterns P1 and P2 by using final defect-distribution information in a final inspection process 10g.
最終検査工程１０ｇにおける最終欠陥分布情報を用いて、各基板上の最終欠陥分布を欠陥分布パターンＰ１、Ｐ２毎に分類する。 - 特許庁 - PATTERN DEFECT INSPECTION METHOD, PATTERN DEFECT INSPECTING TEST PATTERN BOARD, PATTERN DEFECT INSPECTION DEVICE, PHOTO MASK MANUFACTURING METHOD, AND METHOD OF MANUFACTURING DISPLAY DEVICE SUBSTRATE
パターン欠陥検査方法、パターン欠陥検査用テストパターン基板、及びパターン欠陥検査装置、並びにフォトマスクの製造方法、及び表示デバイス用基板の製造方法 - 特許庁
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