「Defect」を含む例文一覧(18306)
＜前へ 1 2 .... 36 37 38 39 40 41 42 43 44 .... 366 367 次へ＞- To provide an insulation defect position locating device of a linear conductor capable of locating highly accurately an insulation defect position.
絶縁欠陥位置を高精度に標定可能な線状導体の絶縁欠陥位置標定装置を得る。 - 特許庁 - To provide an improved selector valve overcoming a defect of conventional technology provided with a complicated defect-solving means.
複雑な解決手段が設けられた従来技術の欠点を解消する改良された切換弁を提供する。 - 特許庁 - The differential interference image on the substrate surface is supplied to defect detecting means (34) for detecting a defect.
基板表面の微分干渉画像は欠陥検出手段（３４）に供給されて欠陥が検出される。 - 特許庁 - To provide a defect inspection method and a defect inspection apparatus for automatically adjusting a focus when a specimen is imaged, and determining whether a defect exists from obtained images.
被検体を撮影する際に自動的に焦点を合せ、得られた画像から欠陥の有無を判断する欠陥検査方法及び欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁 - DEFECT INSPECTION METHOD AND DEFECT INSPECTION DEVICE FOR MASK BLANK, AND METHOD FOR MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE USING THEM
マスクブランクの欠陥検査方法及び欠陥検査装置、並びにそれらを用いた半導体装置の製造方法 - 特許庁 - PIXEL DEFECT SIGNAL CORRECTION CIRCUIT FOR CCD IMAGE PICKUP ELEMENT
ＣＣＤ撮像素子の画素欠陥信号補正回路 - 特許庁 - A defect correction means 30 corrects fixed defect pixels and flicker defect pixels stored in the sensitivity coefficient defective information storage means 28A.
欠陥補正手段３０による補正は、感度係数欠陥情報記憶手段２８Ａに記憶されている固定欠陥画素及び点滅欠陥画素を対象として行う。 - 特許庁 - An inspection device detects the line unevenness area indicating a line unevenness defect in an objective image obtained from a substrate, and the point defect area indicating a point defect.
ムラ検査装置では、基板から得られる対象画像において筋ムラ欠陥を示す筋ムラ領域、および、点欠陥を示す点欠陥領域が検出される。 - 特許庁 - To provide a defect detecting circuit, by which a defect is detectable at a low frequency in the inspection of the defect at a high writing frequency, and a magnetic disk inspecting device.
高い書込周波数での欠陥検査を低い周波数で検出できる欠陥検出回路および磁気ディスク検査装置を提供することを目的とする。 - 特許庁 - A GaN substrate 1 has a main surface, and includes a low-defect crystal region 52 and a defect-concentrated region 51 adjacent to the low-defect crystal region 52.
主表面を有するＧａＮ基板１であって、低欠陥結晶領域５２と、当該低欠陥結晶領域５２に隣接する欠陥集合領域５１とを備える。 - 特許庁 - When a defect part detecting circuit 20 detects a defect part from a user data region of an optical disk 10, a defect management information generating and storing circuit 3 generates defect management information including at least an address of the defect part and the address of its alternative region and stores them.
欠陥部位検出回路２０が光ディスク１０のユーザデータ領域から欠陥部位を検出すると、欠陥管理情報生成記憶回路３は欠陥部位のアドレスと、その代替領域のアドレスとを少なくとも含む欠陥管理情報を生成して記憶する。 - 特許庁 - DEFECT DETECTING DEVICE, SENSITIVITY CORRECTION METHOD THEREOF, SUBSTRATE FOR DEFECT DETECTION SENSITIVITY CORRECTION, AND MANUFACTURING METHOD THEREOF
欠陥検査装置及びその感度校正方法、欠陥検出感度校正用基板及びその製造方法 - 特許庁 - PATTERN DEFECT INSPECTION DEVICE AND IMAGE SENSOR CALIBRATION METHOD
パターン欠陥検査装置及びイメージセンサの校正方法 - 特許庁 - MAGNETIC DISK UNIT AND METHOD FOR CHECKING DEFECT OF MAGNETIC DISK
磁気ディスク装置および磁気ディスクの欠陥検査方法 - 特許庁 - The defect etchant etches Si 16 to a thickness for a defect pit 18 to reach the SiGe layer 14 located under the Si 16.
Ｓｉ１６を、欠陥ピット１８が下に位置するＳｉＧｅ層１４に到達可能な厚さまでエッチングする。 - 特許庁 - APPARATUS AND METHOD FOR REINSPECTION OF DEFECT ON OBJECT
物体上の欠陥を再検査する装置及び方法 - 特許庁 - PATTERN DEFECT INSPECTING METHOD AND DEVICE THEREOF
パターン欠陥検査方法およびパターン欠陥検査装置 - 特許庁 - In this internal defect detecting method, an internal defect of a bandlike body S is detected using an ultrasonic flaw detector.
帯状体Ｓの内部欠陥を超音波探傷装置を用いて検出する内部欠陥検出方法。 - 特許庁 - PATTERN DEFECT CORRECTING METHOD AND DEVICE
パターン欠陥修正方法およびパターン欠陥修正装置 - 特許庁 - METHOD, DEVICE, AND PROGRAM FOR PROCESSING FILE SYSTEM DEFECT, AND MEDIUM
ファイルシステム欠陥処理方法、装置、プログラム、及び媒体 - 特許庁 - To prevent occurrence of a defect by predicting occurrence time of the defect when products are produced lot by lot.
ロット毎に製品を生産していくときの不具合の発生時期を予測し、不具合の発生を未然に防止する。 - 特許庁 - METHOD OF REVEALING CRYSTALLINE DEFECT IN BULK SUBSTRATE
バルク基板中の結晶欠陥を顕在化する方法 - 特許庁 - To prevent increase in manufacturing cost accompanying image defect testing beforehand in pixel defect correction, or inappropriate corrections for a pixel becoming a defect through aging or temperature variation.
画素欠陥補正における、事前の有無試験に伴う製造コストの上昇や、あるいは、経年変化や温度変化で欠陥となる画素に対する不適切な補正を防止する。 - 特許庁 - DEFECT INSPECTION METHOD AND METHOD FOR MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE
欠陥検査方法及び半導体装置の製造方法 - 特許庁 - METHOD OF DRAWING OPTICAL FIBER WITH DECREASED PARTICULATE DEFECT
微粒子欠陥を減少させた光ファイバ引抜き法 - 特許庁 - To narrow down a defect factor caused by the defect of an electronic device for forming the circuit patterns of multiple layers by analyzing the defect to occur in each of layers of the electronic device.
多層の回路パターンを形成する電子デバイスの各層で発生する欠陥の解析を行い、電子デバイスの欠陥による不良原因の絞り込みを可能とする。 - 特許庁 - IMAGING APPARATUS, DEFECT DETERMINATION METHOD, PROGRAM AND INTEGRATED CIRCUIT
撮像装置、キズ判定方法、プログラムおよび集積回路 - 特許庁 - SEMICONDUCTOR DEVICE DEFECT INSPECTION METHOD AND SYSTEM THEREOF
半導体デバイスの欠陥検査方法およびそのシステム - 特許庁 - DYNAMIC DEFECT MANAGING METHOD FOR REWRITABLE OPTICAL DISK
書き換え可能型光ディスクの動的欠陥管理方法 - 特許庁 - SEMICONDUCTOR MEMORY AND METHOD FOR ANALYZING DEFECT OF SEMICONDUCTOR MEMORY
半導体メモリと半導体メモリの不良解析方法 - 特許庁 - Defect position information including sign information for showing signs combined with the reference home position M and defect coordinate information showing the calculated defect coordinates are generated.
基準となった原点Ｍと組合せをなす記号を示す記号情報と、算出した欠陥座標を示す欠陥座標情報とを含む欠陥位置情報を生成する。 - 特許庁 - LOW DEFECT DENSITY VACANCY-DOMINATED SILICON WAFER AND INGOT
低欠陥密度の空孔優勢シリコンウエハおよびインゴット - 特許庁 - To provide an image forming apparatus which can suppress the occurrence of a development defect due to a hopping defect of a toner.
トナーのホッピング不良による現像不良の発生を抑えることができる画像形成装置を提供する。 - 特許庁 - The surface of a defect substrate to be subjected to defect inspection is scanned by a light beam and is detected of its defects and their address coordinates.
欠陥検査すべき基板の表面を光ビームで走査し、欠陥及びそのアドレス座標を検出する。 - 特許庁 - The visual field size for defect search of the defect review device is set on the basis of the error without any inclination.
傾向を持たない誤差に基づいて、欠陥レビュー装置における欠陥探索用の視野サイズを設定する。 - 特許庁 - To provide a laser cut apparatus for detecting any defect of a laser cut line with high accuracy, and eliminating the defect.
レーザーカット線の不良を高い精度で検出して排除することができるレーザーカット装置を提供すること。 - 特許庁 - Consequently, the defect in fixation of a metal plate is improved.
これにより金属プレートの固着不良を回避できる。 - 特許庁 - CIRCUIT AND METHOD FOR CORRECTING DEFECT DETECTION
欠陥検出補正回路及び欠陥検出補正方法 - 特許庁 - Therein, an excess defect part is immersed in a defect removal accelerator 4, thereby, the chemical dissolution operation acts between the defect removal accelerator 4 and the excess defect 3, while the operation is acting, the machine grinding by pressing the probe 1 against the excess defect is performed, whereby the working operation can be accelerated.
この時余剰欠陥部分が欠陥除去促進剤４に浸るようにすることで、除去促進剤４と余剰欠陥３との間に化学的溶解作用が働いている中、探針１を押しつけることによる機械研磨を併用させることにより、加工作用を増速させることができる。 - 特許庁 - To prevent a bright defect caused by an alignment defect at an edge part of an open portion of a color filter with the open portion.
開口部を有するカラーフィルターの開口部端部での配向不良による光抜けを防止すること。 - 特許庁 - INSPECTION METHOD, INSPECTION DEVICE AND MASKED DEFECT INSPECTION METHOD
検査方法、検査装置およびマスク欠陥検査方法 - 特許庁 - To provide a display device capable of correcting a defect surely and efficiently and its defect correcting method.
確実に、且つ、効率良く欠陥の修正が可能な表示装置およびその欠陥修正方法を提供する。 - 特許庁 - To achieve detection of a fine defect, highly accurate measurement of the size of the detected defect, and so on.
微小な欠陥を検出すること、検出した欠陥の寸法を高精度に計測することなどが求められる。 - 特許庁 - APPARATUS AND METHOD FOR DETECTING DEFECT OF FILTER
フィルターの欠陥検出装置及び欠陥検出方法 - 特許庁 - To provide a patter defect detecting method capable of exactly detecting a defect larger than the cycle size of a pattern.
パターンの周期サイズより大きな欠陥を正確に検出できるパターン欠陥検出方法を提供する。 - 特許庁 - DISPLAY DEVICE AND DEFECT REPAIRING METHOD OF DISPLAY DEVICE
表示装置および表示装置の欠陥修復方法 - 特許庁 - SAMPLE DEFECT INSPECTING APPARATUS AND METHOD, AND DEVICE-MANUFACTURING METHOD USING THE SAMPLE DEFECT INSPECTING APPARATUS AND THE METHOD
試料欠陥検査装置及び方法並びに該欠陥検査装置及び方法を用いたデバイス製造方法 - 特許庁 - METHOD FOR MANAGING DISK DEFECT, DEVICE, AND ITS DISK
ディスク欠陥を管理する方法、装置及びそのディスク - 特許庁 - METHOD FOR RECOGNIZING WAFER COORDINATE OF AUTOMATIC DEFECT DETECTOR
自動欠陥検出装置のウェハ座標認識方法 - 特許庁 - To provide a line defect inspection method capable of detecting highly accurately even a line defect generated from linearly-aligned pixels having respectively a defect on a part in each pixel.
画素内の一部に欠陥を有する画素が線状に並んで生じる線欠陥をも高精度に検出することができる線欠陥検査方法を提供する。 - 特許庁
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