「Defect」を含む例文一覧(18306)

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  • CAM CABABLE OF TESTING PRESENCE OF DEFECT OF PRIORITY ENCODER, AND METHOD OF TESTING PRESENCE OF DEFECT OF PRIORITY ENCODER
    優先順位エンコーダの欠陥有無テストが可能なＣＡＭ及び優先順位エンコーダの欠陥有無テスト方法 - 特許庁
  • Review work is performed after defect inspection is performed.
    欠陥検査を実施した後、レビュー作業を実施する。 - 特許庁
  • To improve quality of defect correction while remarkably improving work efficiency in a defect correcting process against an interlayer short-circuit defect between upper and lower parts of a multilayer structure.
    多層構造の上下間での層間ショート欠陥に対する欠陥修正工程の作業効率を著しく向上させつつ、欠陥修正の品質を向上させる。 - 特許庁
  • To provide a defect evaluation device of a lens and a defect evaluation method of a lens capable of evaluating objectively and quantitatively a defect of a lens such as a damage degree.
    傷つき具合等のレンズの欠点を客観的かつ定量的に評価することができるレンズの欠点評価装置、および、レンズの欠点評価方法を提供する。 - 特許庁
  • A defect area computing means conducts labeling processing for defect position information stored in a defect position-storing means 16 to compute the number and respective areas of respective defects.
    欠陥面積演算手段１８は欠陥位置記憶手段１６に記憶した欠陥位置情報をラベリング処理を行い、欠陥の数と個々の欠陥の面積を演算する。 - 特許庁
  • Next, processing 45 is performed for excluding fine defects to narrow down defect data as a target of defect analysis.
    次に、微小欠陥を除外する処理４５を行い、欠陥解析の対象とする欠陥データを絞り込む。 - 特許庁
  • Further, when a defect is formed on the substrate, a desired defect is introduced into the particulate photonic crystal.
    また、基板に欠陥を形成すれば、微粒子のフォトニック結晶にも所望の欠陥を導入することができる。 - 特許庁
  • CRYSTAL DEFECT EVALUATING METHOD OF SILICON SINGLE CRYSTAL SUBSTRATE
    シリコン単結晶基板の結晶欠陥評価方法 - 特許庁
  • To provide a defect inspection technology capable of performing defect detection with high sensitivity at a high speed that uses an electron beam.
    電子線を用いた、高速かつ高感度に欠陥検出を可能にする欠陥検査技術を提供する。 - 特許庁
  • A method for defect analysis includes identifying single-class classifiers for a plurality of defect classes, the plurality of defect classes being characterized by respective ranges of inspection parameter values.
    欠陥解析方法は、検査パラメータ値のそれぞれの範囲によって特徴付けられる複数の欠陥部類に対する単一部類分類子を識別する段階を含む。 - 特許庁
  • Phase defect can be corrected by laminating a multilayer film for correction, even for a protrusion defect directly above a substrate and a protrusion defect in the center of the multilayer film.
    基板真上の突起欠陥と多層膜中央の突起欠陥であっても、修正用多層膜を積層することでこれらの位相欠陥を修正することが可能である。 - 特許庁
  • SEMICONDUCTOR DEVICE AND ITS BONDING DEFECT DETECTION METHOD
    半導体デバイス、及びそのボンディング不良検出方法 - 特許庁
  • DEFECT INSPECTION APPARATUS, DEFECT INSPECTION METHOD, PHOTOMASK MANUFACTURING METHOD, PATTERN TRANSFERRING METHOD AND SEMICONDUCTOR WAFER MANUFACTURING METHOD
    欠陥検査装置及び方法、フォトマスクの製造方法、パターン転写方法、並びに半導体ウェハの製造方法 - 特許庁
  • CONVERGENT ION BEAM CORRECTING DEVICE AND DEFECT GUARANTEEING METHOD
    集束イオンビーム修正装置及び欠陥保証方法 - 特許庁
  • To reduce any crystal defect, especially, twin crystal defect in an Si epitaxial layer film-formed on a sapphire substrate.
    サファイア基板上に成膜されるＳｉエピタキシャル層中の結晶欠陥、特に双晶欠陥を低減する。 - 特許庁
  • To quickly detect the defect in combustion.
    燃焼不良をすばやく検出することを目的とする。 - 特許庁
  • MASS DEFECT LABELING FOR DETERMINATION OF OLIGOMER SEQUENCE
    オリゴマー配列の決定のための質量欠損標識 - 特許庁
  • METHOD FOR MANUFACTURING PHOTOMASK, METHOD FOR DETERMINING POSITION OF PHOTOMASK DEFECT CORRECTION, AND APPARATUS FOR DETERMINING POSITION OF PHOTOMASK DEFECT CORRECTION
    フォトマスク製造方法、フォトマスク欠陥修正箇所判定方法、及びフォトマスク欠陥修正箇所判定装置 - 特許庁
  • DETECTION METHOD OF CRYSTAL DEFECT OF SILICON MONOCRYSTAL WAFER
    シリコン単結晶ウエーハの結晶欠陥の検出方法 - 特許庁
  • LASER CORRECTING DEVICE AND METHOD FOR GUARANTEEING DEFECT OF PHOTOMASK
    レーザー修正装置及びフォトマスク欠陥保証方法 - 特許庁
  • STEEL PLATE HAVING NO HYDROGEN DEFECT, AND MANUFACTURE THEREOF
    水素性欠陥のない鋼板およびその製造方法 - 特許庁
  • METHOD FOR EVALUATING PHOTOMASK DEFECT TRANSFER CHARACTERISTIC, METHOD FOR CORRECTING PHOTOMASK DEFECT AND METHOD FOR MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE
    フォトマスク欠陥転写特性評価方法、フォトマスク欠陥修正方法及び半導体装置の製造方法 - 特許庁
  • By doing this, the one defect correcting method of a V line defect which is set is selectively executed in actual photographing.
    そうすると、本撮影時には、設定された一のＶライン傷の補正方法が選択的に実行される。 - 特許庁
  • PROCESS FOR IDENTIFYING DEFECT DISTRIBUTION IN SILICON SINGLE CRYSTAL INGOT
    シリコン単結晶インゴットの欠陥分布の識別方法 - 特許庁
  • To provide a defect classification system capable of reducing misclassification in defect sorts even when information necessary for defect sort judgment is increased and capable of achieving more accurate classification.
    欠陥種類判定に必要な情報が多くなったとしても欠陥種類の誤分類を低減し、より精度の高い分類が可能な欠陥分類システムを提供する。 - 特許庁
  • DEFECT DETECTION DEVICE AND METHOD ON ANTIREFLECTION FILM
    反射防止フィルムの欠陥検出装置および方法 - 特許庁
  • The output includes: first output which corresponds to a defect on the wafer; and second output which does not correspond to the defect.
    出力は、ウエハ上の欠陥に対応する第一出力と、欠陥に対応しない第二出力とを含む。 - 特許庁
  • So when sentinel left cybertron, it was to defect?
    Sentinelはサイバトロンを去ったので、とき それは、欠陥ことでした? - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書
  • So when sentinel left cybertron, it was to defect?
    sentinelはサイバトロンを去ったので、とき それは、欠陥ことでした? - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書
  • a fault or defect in a computer program, system, or machine
    コンピュータ・プログラム、システム、または機械の不具合や欠陥 - 日本語WordNet
  • To provide a defect marking method capable of highly visibly marking defect without damaging an object.
    対象物に傷をつけることなく、かつ視認性良好なマーキングが可能な欠陥マーキング方法を提供する。 - 特許庁
  • METHOD FOR INSPECTING DEFECT OF CATHODE RAY TUBE AND DEVICE THEREOF
    陰極線管の欠陥検査方法およびその装置 - 特許庁
  • To provide a stain defect detection method and a device capable of detecting highly accurately a stain defect, even when an illuminance difference of the stain defect caused by a voltage change has a noise level.
    電圧変化によるシミ欠陥の輝度差がノイズレベルであっても、シミ欠陥を高精度に検出することができるシミ欠陥検出方法および装置を提供すること。 - 特許庁
  • To prevent wrong detection for a pattern defect on a board.
    基板上のパターンの欠陥の誤検出を防止する。 - 特許庁
  • To solve such a problem, a photographing person operates a frame feed/zoom switch before main photographing to designate any one of a plurality of kinds of defect correcting methods including a defect correcting method by offset for correcting a V line defect and a defect correcting method of a V line defect by pixel correction.
    このような問題に対して、本撮影前に、撮影者がコマ送り・ズームスイッチを操作することで、Ｖライン傷を補正するオフセットによる傷補正方法および画素補間による傷補正方法を含む複数種類の傷補正方法のうち一のＶライン傷の傷補正方法を指定する。 - 特許庁
  • OPTICAL DISK APPARATUS AND DEFECT PROCESSING METHOD FOR OPTICAL DISK
    光ディスク装置及び光ディスクの欠陥処理方法 - 特許庁
  • To prevent an erroneous defect signal from being caused even though a bright defect is caused during reproducing.
    再生時に明欠陥が発生しても、誤ったディフェクト信号が生成されてしまうのを未然に防止すること。 - 特許庁
  • SHADING CORRECTION METHOD IN SURFACE DEFECT INSPECTION DEVICE
    表面欠陥検査装置におけるシェーディング補正方法 - 特許庁
  • DEFECT INSPECTING METHOD AND DEVICE FOR METAL SAMPLE SURFACE
    金属試料表面の欠陥検査方法及び装置 - 特許庁
  • LIQUID CRYSTAL DISPLAY DEVICE AND ITS DEFECT CORRECTING METHOD
    液晶表示装置およびその欠陥修正方法 - 特許庁
  • METHOD OF OBSERVING DEFECT OF SEMICONDUCTOR DEVICE, AND EQUIPMENT THEREFOR
    半導体デバイスの欠陥観察方法及びその装置 - 特許庁
  • METHOD FOR SETTING ILLUMINATION ANGLE IN DEFECT INSPECTION INSTRUMENT
    欠陥検査装置における照明角度設定方法 - 特許庁
  • LIQUID CRYSTAL DISPLAY DEVICE AND METHOD FOR REPAIRING ITS DEFECT
    液晶表示装置及びその欠陥修復方法 - 特許庁
  • DEVICE AND METHOD FOR SURFACE DEFECT INSPECTION
    表面欠陥検査装置及び表面欠陥検査方法 - 特許庁
  • To provide a defect detection method and a defect detection device capable of detecting a defect of the surface state of an inspection object with extremely high accuracy.
    検査対象物の表面状態の欠陥を極めて高精度に検出することが可能な欠陥検出方法及び欠陥検出装置を提供すること。 - 特許庁
  • To provide a defect inspection method of a mask substrate that can adequately perform defect inspection of the mask substrate.
    マスク基板の欠陥検査を的確に行うことが可能なマスク基板の欠陥検査方法を提供する。 - 特許庁
  • INTERNAL DEFECT INSPECTION METHOD AND DEVICE OF TIRE SIDEWALL PART
    タイヤ側壁部の内部欠陥検査方法および装置 - 特許庁
  • METHOD FOR MANUFACTURING ELECTRONIC DEVICE AND PROGRAM FOR ANALYZING DEFECT DATA
    電子デバイスの製造方法と欠陥データ解析プログラム - 特許庁
  • To detect a defect with one set of light sources and a line sensor type camera, and to determine the type of the defect.
    １組の光源とラインセンサ型カメラによって欠陥の検出に加え、欠陥の種別の判別も行う。 - 特許庁
  • DEFECT DETECTION METHOD OF OBJECT SURFACE, AND DEVICE THEREOF
    物体表面の欠陥検出方法およびその装置 - 特許庁
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