「Defect」を含む例文一覧(18306)
＜前へ 1 2 .... 43 44 45 46 47 48 49 50 51 .... 366 367 次へ＞- If the defect is not remedied within the said time-limit, the Patent Office itself may cause the defect to be remedied.
瑕疵が当該期限内に補正されない場合には，特許庁自ら当該瑕疵を他の者に補正させることができる。 - 特許庁 - TRANSPARENT PLATE BODY DEFECT DETECTING METHOD AND DEVICE THEREFOR
透明板状体の欠点検出方法およびその装置 - 特許庁 - ILLUMINATING DEVICE, DEFECT INSPECTION DEVICE USING THE SAME AND DEFECT INSPECTION METHOD, AND HEIGHT MEASURING DEVICE AND HEIGHT MEASURING METHOD
照明装置並びにそれを用いた欠陥検査装置及びその方法並びに高さ計測装置及びその方法 - 特許庁 - METHOD AND DEVICE OF EVALUATING DEFECT OF SEMICONDUCTOR CRYSTAL
半導体結晶の欠陥評価方法及び評価装置 - 特許庁 - The defect determination circuit 14 performs defect determination in accordance with the level of the SNR estimated by the SNR estimator 16.
キズ判定回路１４は、ＳＮＲ推定器１６にて推定されたＳＮＲの高低に応じたキズ判定を実施する。 - 特許庁 - To provide a manufacturing method for manufacturing an optical film which has no defect or little defect and has a large area with a continuous process.
連続工程で、欠陥なく又は少なく、大面積に光学フィルムを製造可能な製造方法を提供する。 - 特許庁 - DEFECT INSPECTION METHOD FOR DISCRETE TRACK TYPE MAGNETIC DISK MEDIUM
ディスクリート・トラック型磁気ディスク媒体の欠陥検査方法 - 特許庁 - PROBE NAVIGATION METHOD AND DEVICE AND DEFECT INSPECTION DEVICE
プローブナビゲーション方法及び装置並びに不良検査装置 - 特許庁 - COMMON DEFECT PROCESSING METHOD IN COLOR-FILTER PATTERN INSPECTION MACHINE
カラーフィルタパターン検査機における共通欠陥処理方法 - 特許庁 - DEFECT INSPECTION METHOD AND APPARATUS THEREFOR, AND PRODUCTION METHOD OF MASK
欠陥検査方法及びその装置、マスクの製造方法 - 特許庁 - LIQUID CRYSTAL DISPLAY ELEMENT, AND METHOD FOR REPAIRING PIXEL DEFECT THEREOF
液晶表示素子およびその画素欠陥修復方法 - 特許庁 - METHOD AND DEVICE FOR DETECTING DEFECT OF GRAY TONE MASK
グレートーンマスクの欠陥検査方法及び欠陥検査装置 - 特許庁 - DEFECT ANALYZER, ITS ADDRESS CONVERTING METHOD, AND MEMORY MEDIUM
不良解析装置、そのアドレス変換方法、及び記憶媒体 - 特許庁 - METHOD FOR INSPECTING DEFECT IN STEEL MATERIAL AND STEEL MATERIAL JOINT
鋼材及び鋼材接合部における欠陥の検査方法 - 特許庁 - To dispose of conductivity defect between an aluminum wiring and a positive electrode.
アルミニウム配線と陽極の間の導通不良をなくす。 - 特許庁 - METHOD AND APPARATUS FOR INSPECTING DEFECT OF RESIST PATTERN
レジストパターンの欠陥検査方法及びその欠陥検査装置 - 特許庁 - METHOD FOR PREVENTING BLISTER DEFECT ON HOT-ROLLED STEEL BAR AND WIRE ROD
熱間圧延棒鋼線材の膨れ欠陥防止方法 - 特許庁 - METHOD AND DEVICE FOR DETECTING EDGE DEFECT IN GLASS PLATE
ガラス板のエッジ欠陥検出方法及び同検出装置 - 特許庁 - DEVICE AND METHOD FOR INSPECTING DEFECT OF DISPLAY PANEL
表示パネルの欠陥検査装置および欠陥検査方法 - 特許庁 - METHOD OF CORRECTING DEFECT OF MASK AND METHOD OF MANUFACTURING THE MASK
マスクの欠陥修正方法およびマスクの製造方法 - 特許庁 - METHOD AND SYSTEM FOR INSPECTING DEFECT OF SUBSTRATE
基板の欠陥検査方法および基板の欠陥検査システム - 特許庁 - AUTOMATIC WELDING DEFECT DETECTING METHOD IN RADIOGRAPHIC INSPECTION
放射線透過検査における溶接欠陥自動検出法 - 特許庁 - METHOD FOR SOLVING DISPLAY DEFECT OF NEMATIC LIQUID CRYSTAL DISPLAY ELEMENT
ネマティック液晶表示素子の表示不良解決方法 - 特許庁 - METHOD FOR CLEANING SURFACE OF GLASS ARTICLE AND MAGNIFYING DEFECT
ガラス物品の表面洗浄および欠陥拡大方法 - 特許庁 - RADIOGRAPHING APPARATUS AND IMAGE DEFECT DISCRIMINATING METHOD
放射線画像撮影装置および画像欠陥識別方法 - 特許庁 - DEFECT-CORRECTING METHOD FOR PHASE SHIFT MASK, AND DEVICE FOR THE SAME
位相シフトマスクの欠陥修正方法およびその装置 - 特許庁 - METHOD FOR CORRECTING DEFECT IN GRAY TONE PART IN GRAY TONE MASK
グレートーンマスクにおけるグレートーン部の欠陥修正方法 - 特許庁 - REPEAT PATTERN ERASING METHOD AND PATTERN DEFECT INSPECTING DEVICE
繰り返しパターン消去方法及びパターン欠陥検査装置 - 特許庁 - CHEMICAL MECHANICAL POLISHING PAD HAVING BUILT-IN WINDOW WITH LOW DEFECT
低欠陥の一体型窓を有する化学機械研磨パッド - 特許庁 - To provide a method for correcting a defect in a gray tone mask, by which the defect occurring in a light semitransmitting part can be suitably corrected.
半透光部に発生した欠陥を好適に修正できるグレートーンマスクの欠陥修正方法を提供する。 - 特許庁 - APPARATUS AND METHOD FOR INSPECTING DEFECT OF SUBSTRATE
基材の欠陥検査装置及び基材の欠陥検査方法 - 特許庁 - METHOD AND APPARATUS FOR INSPECTION OF SURFACE DEFECT
表面欠陥検査方法及び表面欠陥検査装置 - 特許庁 - A determining part 52 acquires a plurality of defect element pairs constituted of the deflect elements derived from the same defect.
判定部５２では、同一欠陥に由来する欠陥要素により構成される複数の欠陥要素ペアが取得される。 - 特許庁 - To perform the control made to correspond to dust or a defect by discriminating dust (a mote, a scratch) on the surface of a disk from the defect on a recording surface.
ディスク表面のゴミ（埃、傷）と記録面のディフェクトを識別して、ゴミ、ディフェクトに対応した制御を行う。 - 特許庁 - To improve the detection accuracy of an adjacent defect line.
隣接欠陥ラインの検出精度の向上を実現する。 - 特許庁 - DEFECT INSPECTION METHOD OF ELECTROLUMINESCENT DISPLAY, DEFECT CORRECTION METHOD, AND METHOD OF MANUFACTURING ELECTROLUMINESCENT DISPLAY
エレクトロルミネッセンス表示装置の欠陥検査方法及び欠陥修正方法及びエレクトロルミネッセンス表示装置の製造方法 - 特許庁 - METHOD OF INSPECTING COIL AND DEVICE FOR PREPARING POSITIONAL INFORMATION OF DEFECT
コイルの検査方法及び欠陥位置情報作成装置 - 特許庁 - METHOD AND DEVICE FOR INSPECTING DEFECT OF PERIODIC PATTERN
周期性パターンの欠陥検査方法及び欠陥検査装置 - 特許庁 - METHOD OF INSPECTING SURFACE DEFECT OF METAL ROLL, AND ITS DEVICE
金属ロールの表面欠陥検査方法およびその装置 - 特許庁 - Upon receiving the defect content, the receiver 7 reproduces the original content by using the defect content and down- loaded content.
欠損コンテンツの供給を受けた受信装置７は、欠損コンテンツとダウンロードコンテンツを用いてコンテンツの再生を行う。 - 特許庁 - DEFECT RELIEVING DISCRIMINATING CIRCUIT FOR SEMICONDUCTOR MEMORY AND METHOD THEREFOR
半導体メモリの欠陥救済判定回路および方法 - 特許庁 - WITHSTAND VOLTAGE DEFECT DETECTION METHOD AND DEVICE
耐電圧不良検出方法及び耐電圧不良検出装置 - 特許庁 - ALIGNMENT APPARATUS, DEFECT DETECTION DEVICE AND ALIGNMENT METHOD
位置合わせ装置、欠陥検出装置、および位置合わせ方法 - 特許庁 - MANUFACTURING METHOD AND DEFECT INSPECTING MACHINE FOR PLASMA ADDRESS DISPLAY DEVICE
プラズマアドレス表示装置の製造方法及び欠陥検査機 - 特許庁 - DEFECT CORRECTION METHOD OF COLOR FILTER SUBSTRATE, AND COLOR FILTER SUBSTRATE
カラーフィルタ基板の欠陥修正方法及びカラーフィルタ基板 - 特許庁 - CORRECTION DEVICE, AND ELECTRONIC CIRCUIT PATTERN DEFECT CORRECTION METHOD
修正装置及び電子回路のパターン欠陥修正方法 - 特許庁 - TFT ARRAY INSPECTION DEVICE AND DEFECT INTENSITY CALCULATION METHOD
ＴＦＴアレイ検査装置および欠陥強度算出方法 - 特許庁 - RECORDING MEDIUM, IMAGE FORMING APPARATUS, IMAGE DEFECT POSITION DETERMINATION DEVICE, IMAGE FORMATION PROGRAM, AND IMAGE DEFECT POSITION DETERMINATION PROGRAM
記録媒体、画像形成装置、画像欠陥位置判定装置、画像形成プログラム、及び画像欠陥位置判定プログラム - 特許庁 - To provide a defect information management method for a steel material for surely removing a defect in the steel material.
鋼材中の欠陥除去を確実なものとする鋼材の欠陥情報管理方法を提供することを目的とする。 - 特許庁 - SURFACE DEFECT INSPECTION DEVICE AND CONTROL PROGRAM RECORDING MEDIUM
表面欠陥検査装置及び制御プログラム記録媒体 - 特許庁
