「Defect」を含む例文一覧(18306)
＜前へ 1 2 .... 47 48 49 50 51 52 53 54 55 .... 366 367 次へ＞- When a plurality of defect candidates are detected by a first automatic inspection, the distance between the defect candidates is calculated, a defect candidate existing within a fixed distance determined by a visual field size and magnification are grouped as a group of defect candidates, and a visual field position is determined for performing a second inspection so that all defect candidates included one group of defect candidates enter one visual field.
第１の自動検査により欠陥候補が複数検出された際に、欠陥候補間の距離を計算し、視野サイズや倍率から決められる一定距離以内に存在する欠陥候補をひとつの欠陥候補群としてグルーピングし、一の欠陥候補群に含まれる全ての欠陥候補が一視野に入るように視野位置を決めて第２の検査を行うようにする。 - 特許庁 - To provide a method for detecting a metal defect and a defect detection device, which allow clear detection of a defect portion by improving the uniformity, and increasing the brightness, of a non-defect portion of an imaged image of an inspecting surface when etching the inspecting surface of a metal sample to cause the defect to appear and imaging an image of the inspecting surface using an imaging device to detect the defect.
金属試料の検査面をエッチング処理して欠陥を現出させ、撮像装置によって検査面を撮像することにより欠陥を検出するに際し、検査面撮像画像における非欠陥部の明度を均一かつ明るくすることにより、欠陥部を明瞭に検出することのできる金属の欠陥検出方法及び欠陥検出装置を提供する。 - 特許庁 - A defect image in which the image of the wiring board to be inspected is picked up is collated with a reference image without any defect to detect the defects; the defect correcting method is read and selected from the database based on the position of the detected defect in the wiring board, and the defect is corrected based on the selected defect correcting method.
そして、検査対象の配線基板を撮影した欠陥画像と、欠陥のない参照画像とを照合して欠陥を検出し、その検出された欠陥の配線基板内における位置に基づいて、データベースから欠陥修正手法を読み出して選定し、その選定された欠陥修正手法に基づき欠陥の修正を実行することを特徴とする。 - 特許庁 - ORGANIC ELECTROLUMINESCENT PANEL AND DEFECT DETECTING METHOD OF THE SAME
有機ＥＬパネル、及び有機ＥＬパネルの欠陥検出方法 - 特許庁 - METHOD OF INSPECTING QUALITY DEFECT OF LINEAR CONTROL VALVE, AND INSPECTION DEVICE
リニア制御弁の品質不良の検査方法、及び、検査装置 - 特許庁 - BLACK INK FOR CORRECTING MINUTE COLORED PATTERN DEFECT, AND COLOR FILTER
微小着色パターン欠陥修正用黒インキ、及び、カラーフィルター - 特許庁 - INTERNAL PRESSURE DEFECT DETECTING METHOD AND ITS DEVICE FOR CASE INTERNAL CONTAINER
ケース内容器の内圧不良検出方法およびその装置 - 特許庁 - STEEL HAVING EXCELLENT INTERNAL DEFECT QUALITY, AND METHOD FOR PRODUCING THE SAME
内部欠陥品質に優れた鋼材およびその製造方法 - 特許庁 - MANUFACTURING METHOD FOR COLOR FILTER AND DEFECT REMOVING APPARATUS FOR COLOR FILTER
カラーフィルタの製造方法およびカラーフィルタの欠陥除去装置 - 特許庁 - DEFECT INSPECTION METHOD FOR SHEET MATERIAL, AND INSPECTION TOOL USED THEREFOR
シート材の欠陥検査方法、及びそれに用いる検査用治具 - 特許庁 - YIELD OPTIMIZATION IN ROUTER FOR SYSTEMATIC DEFECT
システマティック欠陥に対応したルータにおける歩留まりの最適化 - 特許庁 - To reduce an amount of processing data in detecting discharge defect.
吐出不良検出における処理データの量を削減する。 - 特許庁 - To provide a solution to geometric defect of an image.
画像の幾何学的な欠陥に対する解決法を提供する。 - 特許庁 - IMAGE FORMING APPARATUS AND METHOD FOR MONITORING IMAGE DEFECT SUPPRESSION PROCESSING
画像形成装置及び画像欠陥抑制処理監視方法 - 特許庁 - DEFECT MANAGING METHOD FOR RECORDING MEDIUM AND REAL TIME DATA RECORDING METHOD
記録媒体の欠陥管理方法とリアルタイムデータの記録方法 - 特許庁 - IMAGE CORRECTING METHOD AND PATTERN DEFECT INSPECTING METHOD USING SAME
画像補正方法、およびこれを用いたパターン欠陥検査方法 - 特許庁 - OPTICAL DISK DRIVE, AND DEFECT AREA DETECTION METHOD FOR OPTICAL DISK
光ディスク装置及び光ディスクの欠陥領域検出方法 - 特許庁 - METHOD AND DEVICE FOR INSPECTING DEFECT OF CONCRETE
コンクリートの欠陥検査方法およびコンクリートの欠陥検査装置 - 特許庁 - METHOD, DEVICE, AND PROGRAM FOR DETERMINATION OF CONTINUOUS DEFECT
連続欠陥判定方法、連続欠陥判定装置及びプログラム - 特許庁 - METHOD OF CORRECTING DEFECT OF COLOR FILTER SUBSTRATE AND COLOR FILTER SUBSTRATE
カラーフィルター基板の欠陥修正方法およびカラーフィルター基板 - 特許庁 - ACTIVE MATRIX SUBSTRATE, DISPLAY APPARATUS AND ITS DEFECT CORRECTION METHOD
アクティブマトリクス基板、表示装置およびその欠陥修正方法 - 特許庁 - MULTIPLE ILLUMINATION PATH SYSTEM AND METHOD FOR DETECTION OF DEFECT
欠陥検出のための複数照明経路システム及び方法 - 特許庁 - IMAGE DEFECT CORRECTION SYSTEM OF IMAGING DEVICE USING DIRECTION DETECTION
方向検出を用いた撮像デバイスの画像欠陥補正システム - 特許庁 - DEVICE AND METHOD FOR DETECTING DEFECT OF PALLET
パレットの不良検出装置、及び、パレットの不良検出方法 - 特許庁 - DEFECT REMOVING METHOD AND EPITAXIAL WAFER MANUFACTURED BY THE METHOD
欠陥除去方法及びそれを用いて作製したエピタキシャルウェハ - 特許庁 - To detect defect as a white spot and a black dot good.
ホワイトスポット、ブラックドットとしてのディフェクトを良好に検出する。 - 特許庁 - METHOD FOR DETECTING DEFECT IN DIGITAL CAMERA AND PHOTOELECTRIC CONVERSION DEVICE
ディジタルカメラおよび光電変換デバイスの欠陥検出方法 - 特許庁 - SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE, AND DEFECT DETECTING METHOD FOR THE SAME
半導体集積回路装置及びその不良検出方法 - 特許庁 - To improve a brazing defect at a mating part of outside flanges each other.
外側のフランジ同士の合わせ部のろう付け不良の改善。 - 特許庁 - DEFECT INSPECTION DEVICE AND METHOD BY PHOTO LUMINESCENCE OF SOLAR BATTERY
太陽電池のフォトルミネセンスによる欠陥検査装置及び方法 - 特許庁 - METHOD AND DEVICE FOR DETECTING MACHINING DEFECT FOR LASER BEAM MACHINING DEVICE
レーザ加工機の加工不良検出方法およびその装置 - 特許庁 - METHOD FOR REDUCING SENSITIVITY OF ENCODER TO OPTICAL DEFECT
光学的欠陥に対するエンコーダの感度を減少させる方法 - 特許庁 - A measurement part 62 measures the number of pixels in the defect candidate land.
計測部６２は、欠陥候補ランドの画素数を計測する。 - 特許庁 - The oxide-layer/substrate interface is relatively pristine and defect-free.
酸化層／基板界面は比較的にプリスチンであり、欠陥がない。 - 特許庁 - The defect inspection device 1 includes a setting part 2 and an inspection part 3.
欠陥検査装置１は、設定部２と検査部３を含む。 - 特許庁 - Thus, the defect of the turning shaft part 11 can be prevented.
このため、回転軸部１１の破損を防止することができる。 - 特許庁 - The light emission layer 40 functions also as defect section 300.
有機発光層４０は、欠陥部３００としても機能する。 - 特許庁 - PHASE SHIFT RETICLE, ITS MANUFACTURING METHOD, AND INSPECTION METHOD FOR DEFECT THEREIN
位相シフトレチクルとその製造方法とその欠陥検査方法 - 特許庁 - To highly accurately detect a weld defect in seam welding.
シーム溶接時における溶接不良を高精度で検出する。 - 特許庁 - At this time, size of the defect management area is also expanded simultaneously.
このとき、同時にディフェクト管理エリアのサイズも拡張される。 - 特許庁 - To permit a battery cover mounting defect by a user.
ユーザによる電池カバー取り付け不備を許容できるようにする。 - 特許庁 - DETECTING AND POSITION-CONFIRMING METHOD FOR SENSOR DEFECT IN AUTOMOBILE
自動車におけるセンサ欠陥の検出及び位置確認方法 - 特許庁 - METHOD FOR DETECTING DEFECT OF LIQUID CRYSTAL ARRAY, AND DEVICE USED THEREFOR
液晶アレイの欠陥検出方法とそれに用いる装置 - 特許庁 - METHOD OF MANUFACTURING SOLID-STATE ELECTRONIC DEVICE USING CRYSTALLINE DEFECT CONTROL
結晶性欠陥制御を用いる固体電子デバイスの製造 - 特許庁 - CRYSTAL DEFECT EVALUATING METHOD OF SOI WAFER AND ETCHING LIQUID
ＳＯＩウエーハの結晶欠陥評価方法およびエッチング液 - 特許庁 - METHOD FOR CAMOUFLAGING PRINT ELEMENT WITH DEFECT IN PRINTER
プリンタにおける欠陥のあるプリントエレメントをカムフラージュする方法 - 特許庁 - YARN CLEANING METHOD AND YARN CLEANING DEVICE BY CUTTING-OFF DEFECT
欠陥箇所切除による洗糸方法および洗糸装置 - 特許庁 - CHARGED PARTICLE BEAM APPARATUS, DEFECT OBSERVATION DEVICE AND ADMINISTRATIVE SERVER
荷電粒子線装置、および欠陥観察装置、および管理サーバ - 特許庁 - To detect a medium defect occurring at an edge.
エッジに発生する媒体異常を検出することを課題とする。 - 特許庁 - DEVICE AND METHOD FOR CORRECTING DEFECT IN SOLID-STATE IMAGE DEVICE
固体撮像素子の欠陥補正装置および欠陥補正方法 - 特許庁
- 特許庁
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