「Defect」に関連した英語例文の一覧と使い方(52ページ目)

「Defect」を含む例文一覧(18306)

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METHOD FOR CONTROLLING DEFECT MODE USING THREE-DIMENSIONAL PHOTONIC CRYSTAL
３次元フォトニック結晶を用いた欠陥モードの制御方法 - 特許庁
To prevent occurrence of defect of an image by fusion of a developing agent.
現像剤の融着による画像欠陥の発生を防止する。 - 特許庁
DEFECT CORRECTING METHOD FOR TRANSLUCENT MESH ELECTROMAGNETIC WAVE SHIELD MATERIAL
透光性メッシュ電磁波シールド材料の欠陥修正方法 - 特許庁
LIQUID MATERIAL APPLYING UNIT AND FINE PATTERN DEFECT CORRECTING APPARATUS
液体材料塗布ユニットおよび微細パターン欠陥修正装置 - 特許庁
NONVOLATILE SEMICONDUCTOR MEMORY AND METHOD FOR DETECTING LEAKAGE DEFECT OF THE SAME
不揮発性半導体メモリ及びそのリーク不良検出方法 - 特許庁
To enhance the detection sensitivity of a defect in TFT array inspection.
ＴＦＴアレイ検査において欠陥の検出感度を高める。 - 特許庁
SEMICONDUCTOR DEVICE, MARKING DEVICE AND DEFECT INSPECTION APPARATUS THEREFOR
半導体装置とそのマーク形成装置，その欠陥検査装置 - 特許庁
METHOD TO IMPROVE METAL DEFECT IN SEMICONDUCTOR DEVICE FABRICATION
半導体デバイス製造において金属欠陥を改善する方法 - 特許庁
NONVOLATILE SEMICONDUCTOR MEMORY, AND ITS DEFECT RELIEVING METHOD
不揮発性半導体記憶装置およびその不良救済方法 - 特許庁
To provide an inexpensive bobbin for a deoxidant solving a defect of a bobbin made of paper.
紙製のボビンの欠点を解決した安価なものを得る。 - 特許庁
CIRCUIT FOR DETECTING MROM LEAK DEFECT, AND MROM MIXED CHIP
ＭＲＯＭリーク不良検出回路及びＭＲＯＭ混載チップ - 特許庁
GETTERING OF HIGH DIELECTRIC CONSTANT GATE DIELECTRICS DEFECT USING DOPANT
ドーパントを用いる高誘電率ゲート誘電体欠陥のゲッタリング - 特許庁
Succession of a Defect in the Possession of Property That Belongs to Trust Property
信託財産に属する財産の占有の瑕疵の承継 - 日本法令外国語訳データベースシステム
PIXEL DEFECT DETECTION/CORRECTION DEVICE AND IMAGE PICK- UP DEVICE USING THE SAME
画素キズ検出・補正装置およびそれを用いた撮像装置 - 特許庁
COLORED PHOTOSENSITIVE COMPOSITION FOR CORRECTION OF DEFECT AND COLOR FILTER
欠陥修正用着色感光性組成物およびカラーフィルター - 特許庁
METHOD AND APPARATUS FOR INSPECTING DEFECT IN LIGHT TRANSMISSION OPTICAL FILM
光透過性光学膜の欠陥検査方法および同装置 - 特許庁
To predict the defect which may be induced by washing after inspection.
検査後の洗浄により生ずるであろう欠陥を予測する。 - 特許庁
DETECTION SIGNAL PROCESSING METHOD FOR PERIODIC DEFECT, AND DEVICE THEREFOR
周期性欠陥の検出信号処理方法及びその装置 - 特許庁
SURFACE DISTORTION DEFECT INSPECTION DEVICE, INSPECTION METHOD, AND COMPUTER PROGRAM
表面歪み欠陥検査装置、検査方法及びコンピュータプログラム - 特許庁
The data structures include space bit map and defect management structures.
データ構造は、空間ビットマップ及び欠陥管理構造を含む。 - 特許庁
METHOD FOR HANDLING DEFECT OF HARD DISK DRIVE, AND RECORDING MEDIUM AND SYSTEM
ハードディスクドライブの欠陥処理方法，記録媒体及び装置 - 特許庁
METHOD AND DEVICE FOR DETECTING MACHINING DEFECT MADE BY LASER BEAM MACHINING DEVICE
レーザ加工機の加工不良検出方法およびその装置 - 特許庁
SEMICONDUCTOR DEFECT SORTING DEVICE AND METHOD THEREFOR
半導体欠陥分類装置及び半導体欠陥分類方法 - 特許庁
This results in impossible jetting of an ink drip and in an image defect.
この結果、インク滴が吐出不能となり、画質欠陥となる。 - 特許庁
DEFECT INSPECTION METHOD MAINLY CONCERNED WITH UNEVENNESS OF SHEET-LIKE TRANSPARENT BODY
シート状透明体の凹凸を主とした欠陥検査方法 - 特許庁
APPARATUS AND METHOD FOR INSPECTING SURFACE DEFECT ON STAINLESS STEEL PLATE
ステンレス鋼板の表面欠陥の検査装置および検査方法 - 特許庁
METHOD AND APPARATUS FOR INSPECTING PIXEL DEFECT OF SOLID-STATE IMAGING DEVICE
固体撮像素子の画素欠陥検査方法及び検査装置 - 特許庁
To minimize defect density in an SiGe layer.
ＳｉＧｅ層中の欠陥密度を最小化することができる。 - 特許庁
METHOD AND DEVICE FOR DETECTING SURFACE DEFECT OF NONMAGNETIC METAL TUBE
非磁性金属管の表面欠陥検出方法および装置 - 特許庁
To carry out a mask defect inspection in a short period of time with high accuracy.
短時間で精度の高いマスク欠陥検査を行うこと。 - 特許庁
METHOD AND DEVICE FOR CORRECTING DEFECT IN WIRING PATTERN
配線パターンの欠陥修正方法及び欠陥修正装置 - 特許庁
METHOD FOR AUTOMATIC DETECTION OF RED-EYE DEFECT IN PHOTOGRAPHIC IMAGE DATA
写真画像データにおける赤目欠陥の自動識別方法 - 特許庁
PROCESS AND APPARATUS FOR PLATING AND WAFER WITH FEW PIT DEFECT
めっき方法、めっき装置及ピット欠陥の少ない半導体ウエハ - 特許庁
To restrain detection sensitivity of a stripe-like defect and detection precision from getting worse.
スジ状の欠陥の検出感度や精度の低下を抑える。 - 特許庁
METHOD OF INSPECTING MASK DEFECT AND METHOD OF MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE
マスク欠陥検査方法および半導体装置の製造方法 - 特許庁
SYSTEM FOR CLEANING, INSPECTION, AND DEFECT HISTORY MANAGEMENT OF STUD BOLT HOLE
スタッドボルト穴の洗浄、検査及び損傷履歴管理システム - 特許庁
METHOD AND APPARATUS FOR INSPECTING DEFECT OF FILTER
フィルタの欠陥の検査方法、及び、フィルタの欠陥の検査装置 - 特許庁
To provide a high-precision pattern position with less defect.
欠陥が少なくかつ高精度なパタン位置精度を実現する。 - 特許庁
DEVICE AND METHOD FOR INSPECTING DEFECT OF SEMICONDUCTOR
半導体欠陥検査装置、および半導体欠陥検査方法 - 特許庁
DEFECT ANALYZING METHOD, PROGRAM, AND DEVICE
不良解析方法、不良解析プログラム及び不良解析装置 - 特許庁
INFORMATION RECORDING MEDIUM, DEFECT MANAGEMENT METHOD DEVICE
情報記録媒体、欠陥管理方法および欠陥管理装置 - 特許庁
INFORMATION RECORDING MEDIUM, DEFECT CONTROL METHOD AND ITS DEVICE
情報記録媒体、欠陥管理方法および欠陥管理装置 - 特許庁
APPARATUS, METHOD AND PROGRAM FOR ANALYZING DISTRIBUTION PATTERN OF SURFACE DEFECT
表面欠陥の分布形態解析装置、方法、及びプログラム - 特許庁
To rapidly and surely detect nozzle defect.
ノズル不良を迅速且つ確実に検出することを目的とする。 - 特許庁
METHOD FOR ESTIMATING CRYSTAL DEFECT STATE AND METHOD FOR MANUFACTURING SILICON WAFER
結晶欠陥状態予測方法、シリコンウェーハの製造方法 - 特許庁
To prevent the occurrence of the defect of an formed image.
形成した画像に画像欠陥が発生することを防止する。 - 特許庁
The defect information management method is used which includes steps (a) to (f).
（ａ）〜（ｆ）ステップを備える不具合情報管理方法を用いる。 - 特許庁
COATING NEEDLE, COATING UNIT USING IT AND DEFECT MODIFICATION APPARATUS
塗布針と、それを用いた塗布ユニットおよび欠陥修正装置 - 特許庁
METHOD FOR INSPECTING SURFACE DEFECT IN CYLINDRICAL WORK AND ITS DEVICE
円筒状ワークの表面欠陥検査方法及びその装置 - 特許庁
To provide inspect a defect of a fluorescent film of a cathode-ray tube.
陰極線管の蛍光膜の欠陥を精度良く検査する。 - 特許庁

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例文データの著作権について

※この記事は「日本法令外国語訳データベースシステム」の2010年9月現在の情報を転載しております。