「Defect」を含む例文一覧(18306)
＜前へ 1 2 .... 49 50 51 52 53 54 55 56 57 .... 366 367 次へ＞- INSPECTING METHOD OF PACKAGE DEFECT OF SHRINK PACKAGE AND ITS APPARATUS
シュリンク包装体の包装欠陥検査方法及びその装置 - 特許庁 - METHOD FOR ANALYZING DEFECT DATA, INSPECTION EQUIPMENT AND REVIEW SYSTEM
欠陥データ解析方法および検査装置並びにレビューシステム - 特許庁 - DEVICE FOR CORRECTING DEFECT OF RETICLE PATTERN AND CORRECTION METHOD FOR THE SAME
レチクルパターンの欠陥修正装置およびその修正方法 - 特許庁 - DEVICE FOR INDICATING DEFECT OF SHEET MATERIAL AND METHOD THEREFOR
板材の欠陥標示装置及び板材の欠陥標示方法 - 特許庁 - PRODUCTION OF CONTINUOUSLY CAST SLAB HAVING LITTLE INCLUSION DEFECT
介在物欠陥の少ない連続鋳造鋳片の製造方法 - 特許庁 - To shorten the test time for leak defect detection of a driver circuit.
ドライバ回路のリーク不良検出のテスト時間を短縮する。 - 特許庁 - MEDIUM DEFECT INSPECTION METHOD AND UNRECORDED AREA RETRIEVAL METHOD
媒体の欠陥検査方法、及び未記録領域検索方法 - 特許庁 - To obtain a substrate for semiconductor element that is less in defect over a wide range.
広範囲で低欠陥な半導体素子用基板を得る。 - 特許庁 - IMAGING APPARATUS AND DEFECT DETECTING METHOD OF SOLID-STATE IMAGING ELEMENT
撮像装置および固体撮像素子の欠陥検出方法 - 特許庁 - MAGNETIC DISC SURFACE DEFECT DETECTOR AND FRICTIONAL TESTER
磁気ディスクの表面欠陥検出装置及び摩擦試験装置 - 特許庁 - The processing element can identify a defect of the complex structure.
処理要素は複合構造の欠陥を識別することができる。 - 特許庁 - SYSTEM, METHOD AND PROGRAM FOR ANALYZING DEFECT
欠陥解析システム、欠陥解析方法及び欠陥解析プログラム - 特許庁 - SUBSTRATE SURFACE DEFECT INSPECTION METHOD AND DEVICE
基板表面欠陥検査方法，基板表面欠陥検査装置 - 特許庁 - To prevent a defect in quality due to film thickness unevenness between pixels.
画素間の膜厚ムラに起因する品質不良を防止する。 - 特許庁 - SEMICONDUCTOR DEVICE AND DETECTION METHOD FOR ITS SHORT DEFECT LOCATION
半導体装置およびそのショート欠陥箇所の検出方法 - 特許庁 - To solve defect of a conventional technique of continuous hydrosilylation.
連続的ヒドロシリル化の従来技術の欠点を解消する。 - 特許庁 - AUTOMATIC WELDING, DEFECT REPAIR METHOD AND AUTOMATIC WELDING EQUIPMENT
自動溶接及び欠陥補修方法並びに自動溶接装置 - 特許庁 - DESTATICIZING METHOD OF ELECTRON BEAM DEFECT CORRECTION DEVICE AND ITS DEVICE
電子ビーム欠陥修正装置の除電方法およびその装置 - 特許庁 - ELECTRODE MITIGATING EFFECT OF DEFECT IN ORGANIC ELECTRONIC DEVICE
有機電子デバイスにおける欠陥の影響を軽減する電極 - 特許庁 - To decrease influences of a sector interface as a crystal defect.
結晶欠陥であるセクタ境界面の影響を低減する。 - 特許庁 - COMPACT COLUMN ELECTRON MICROSCOPE COMBINED DEVICE, AND DEFECT OBSERVATION METHOD
小型カラム電子顕微鏡複合装置及び欠陥観察方法 - 特許庁 - TEST OF SEMICONDUCTOR MEMORY, DEFECT RELIEVING METHOD, AND SEMICONDUCTOR MEMORY
半導体メモリの検査、欠陥救済方法、及び半導体メモリ - 特許庁 - To properly convert coordinates of a defect detected on a wafer.
ウェハで検出された欠陥の座標を適正に変換する。 - 特許庁 - METHOD FOR CORRECTING AMPLITUDE DEFECT IN MULTILAYER FILM OF EUVL MASK
ＥＵＶＬマスクの多層膜中の振幅欠陥修正方法 - 特許庁 - MIRROR ELECTRON MICROSCOPE, AND PATTERN DEFECT INSPECTION DEVICE USING IT
ミラー電子顕微鏡及びそれを用いたパターン欠陥検査装置 - 特許庁 - METHOD FOR MANUFACTURING SILICON SEMICONDUCTOR WAFER HAVING LOW DEFECT DENSITY
低欠陥密度を有するシリコン半導体ウエハの製造方法 - 特許庁 - CORRECTION METHOD OF ISOLATED BLACK DEFECT OF PHOTOMASK AND ITS DEVICE
フォトマスクの孤立した黒欠陥修正方法およびその装置 - 特許庁 - APPARATUS FOR INSPECTING GROUT DEFECT OF PC STEEL MATERIAL BY NEUTRON BEAM
中性子線によるＰＣ鋼材のグラウト欠陥検査装置 - 特許庁 - QUALITY DEFECT DATA REFERENCE SUPPORT APPARATUS IN DESIGNING CIRCUIT BLOCK
回路ブロック設計における品質不良データ参照支援装置 - 特許庁 - GENE DEFECT METHOD ACETIC ACID BACTERIUM NOT INSERTED WITH EXOGENOUS DNA
外来ＤＮＡを挿入しない酢酸菌の遺伝子欠損法 - 特許庁 - WAVELENGTH CONVERSION OPTICAL SYSTEM, LASER APPARATUS AND MASK DEFECT INSPECTING MACHINE
波長変換光学系、レーザ装置、及びマスク欠陥検査装置 - 特許庁 - METHOD FOR MEASURING POINT DEFECT DISTRIBUTION OF SILICON MONOCRYSTAL INGOT
シリコン単結晶インゴットの点欠陥分布を測定する方法 - 特許庁 - speech defect involving excessive use or unusual pronunciation of the phoneme `l'
音素『l』の過度に使用したり異常に発音する言語障害 - 日本語WordNet - hemophilia is determined by a gene defect on an X chromosome
血友病はX染色体の遺伝子欠陥によって決定する - 日本語WordNet - visual defect in which objects appear to have a yellowish hue
物が黄ばんでいる色を持っているように見える視覚障害 - 日本語WordNet - a defect of an optical system, called astigmatism
物理光学における非点収差という,レンズなどの収差現象 - EDR日英対訳辞書 - a defect in a crystal of a semiconductor due to an electron having left its normal position
半導体の結晶で,原子価電子が欠けてできた孔 - EDR日英対訳辞書 - Thus, the image defect is prevented from occurring.
これにより、画像欠陥を生じることが防止されるようになる。 - 特許庁 - METHOD AND APPARATUS FOR DEFECT DETECTION BASED ON SHAPE FEATURE
形状特徴に基づく欠陥検出の方法及び装置 - 特許庁 - The defect 3 as a light emitting area 3L emits a light.
すなわち、欠点３が発光することとなる（発光域３Ｌ）。 - 特許庁 - DEFECT CORRECTION METHOD AND DEVICE USING LASER BEAM
レーザ光による欠陥修正方法および欠陥修正装置 - 特許庁 - ACTIVE MATRIX SUBSTRATE, AND DISPLAY DEVICE, AND ITS DEFECT CORRECTING METHOD
アクティブマトリクス基板、表示装置およびその欠陥修正方法 - 特許庁 - METHOD FOR CORRECTING MASK DEFECT AND METHOD FOR MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE
マスク欠陥修正方法及び半導体装置の製造方法 - 特許庁 - PRODUCTION FOR SOFT PACKAGE MATERIAL AND DEFECT INFORMATION TRANSMITTING DEVICE
軟包装材料の生産方法及び不良情報伝達装置 - 特許庁 - SIMULATION DEFECT SAMPLE AND SENSITIVITY DETECTING METHOD FOR DEFECTIVE INSPECTING DEVICE
模擬欠陥サンプル及び欠陥検査装置の感度検出方法 - 特許庁 - To obtain high production efficiency while reducing mounting defect.
実装不良の低減を図りながら高い生産効率を得る。 - 特許庁 - DEFECT MONITORING DEVICE AND SECONDARY BATTERY STORAGE SHELF PROVIDED WITH THE SAME
異常監視装置及び該装置を備えた二次電池収容棚 - 特許庁 - METHOD OF MANUFACTURING REORIENTED Si OF LOW DEFECT DENSITY
配向変更された低欠陥密度のＳｉを製造する方法 - 特許庁 - To suppress the occurrence of a defect in the base of a thin film (mask layer).
薄膜（マスク層）の下地に欠陥が発生するのを抑える。 - 特許庁 - METHOD FOR MANUFACTURING OPTICAL WAVEGUIDE, AND DEVICE FOR GENERATING GLASS DEFECT
光導波路の製造方法およびガラス欠陥生成装置 - 特許庁
