「Defect」を含む例文一覧(18306)
＜前へ 1 2 .... 53 54 55 56 57 58 59 60 61 .... 366 367 次へ＞- To provide a defect reviewing system, a defect reviewing method, a defect analyzing method and a method of manufacturing a semiconductor device by which the purpose of inspection can be limited and a process that generates defects can be easily specified.
検査目的を限定でき、欠陥の発生する工程を特定することが容易になる欠陥レビュー装置、欠陥レビュー方法及び欠陥解析方法、半導体装置の製造方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a defect information management method which can collect information on the defect of a product in a store or the like timely, permitting to promptly grasp the product defect occurred in the market.
販売店等における製品の不具合の情報をタイムリーに収集し、市場で発生している製品の不具合を迅速に把握することが可能な不具合情報管理方法を提供する。 - 特許庁 - A defect identification determining part 21 obtains the times of defect detection by determining whether the defects detected by defect inspection devices arranged in a plurality of inspection processes are the same defects or not.
欠陥同一判定部２１は、複数の検査工程に配置された欠陥検査装置によって検出された欠陥が同一欠陥であるか否かを判定して欠陥検出回数を求める。 - 特許庁 - After the principal surface is subjected to precision processing and to defect inspection, to specify a defect on the principal surface, the polishing process is carried out on the specified defect.
上記主表面の研磨加工は、当該主表面を精密加工した後欠陥検査を行って当該主表面上の欠陥を特定し、この特定された欠陥に対して実施するものである。 - 特許庁 - A defect correction circuit 110 uses defect information (a defective position and a defective level) stored in a defect information storage RAM 120 to particularize a defective pixel in the image signal thereby correcting the defective pixel.
欠陥補正回路１１０は、欠陥情報格納ＲＡＭ１２０に格納された欠陥情報（欠陥個所、欠陥レベル）を用いて、画像信号の欠陥画素を特定し、この欠陥画素の補正を行う。 - 特許庁 - To provide a defect inspection method and a defect inspection apparatus capable of improving visibility of a small signal defect within a pattern and preventing information in the whole review area from being lost wherever possible.
パターン中の信号の小さい欠陥の視認性を向上する一方で、レビュー領域全体の情報を可能な限り失わない欠陥検査方法および欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a defect inspection device capable of certainly detecting a defect such as foreign matter or the like having mixed in an object to be detected without being affected by the shape of the object to be detected or the position of the defect.
検出対象の形状や、欠点の位置に影響されず、検出対象に混入している異物等の欠点を確実に検出することができる欠点検出装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a glass substrate defect inspection device or a glass substrate defect inspection method or a glass substrate defect inspection system attaining accurate inspection by securing flatness over the entire surface of a separated glass substrate.
分ガラス基板の全面亘って平坦性を確保し、精度よく検査できるガラス基板欠陥検査装置またはガラス基板欠陥検査方法あるいはガラス基板欠陥検査システムを提供する。 - 特許庁 - To provide a defect inspection method detecting automatically a defect wherein a foreign matter or the like is intermingled in an object having a plane, especially a defect of film thickness fluctuation on the plane caused by the foreign matter.
平面を有する対象物に異物などが混入した欠陥、特に異物による平面上の膜厚変動の欠陥を自動的に検出することのできる、欠陥検査方法を提供する。 - 特許庁 - A defect detection circuit 12 compares the picture signal of a target pixel with the picture signal of peripheral pixels, detects a pixel defect candidate and stores the address information of the pixel defect candidate in a position memory circuit 13.
欠陥検出回路１２で目標画素の画像信号を周辺画素の画像信号と対比して画素欠陥候補を検出し、画素欠陥候補のアドレス情報を位置メモリ回路１３に記憶する。 - 特許庁 - The defect detection sensitivity is inspected by using a mask for defect inspection having a photomask pattern which includes a basic pattern and a pattern defect comprising a resist pattern at a specified position of the basic pattern.
基本パターンと、基本パターンの所定の位置に、レジストパターンにより形成されたパターン欠陥とを含むフォトマスクパターンを有する欠陥検査用マスクを用いて、欠陥検出感度検査を行う。 - 特許庁 - When the data recorded by this recording method are erased, only a key part in a file including a deciphering key is physically set as a defect or registered as the defect by a defect management system.
この記録方法により記録したデータを消去するとき、暗号を解くキーが含まれるファイル内のキー部分のみを物理的にディフェクトとし、又は、ディフェクト管理システムによりディフェクトとして登録する。 - 特許庁 - To preliminarily prevent the occurrence of a large amount of failures by specifying a stamper which is the factor of defect occurrence in an early stage by extracting a defect originated in the stamper from the defect of a pattern generated on the disk.
ディスク上に発生したパターンの欠陥からスタンパに由来する欠陥を抽出して、欠陥発生の原因となっているスタンパを早期に特定して大量の不良の発生を未然に防止する。 - 特許庁 - Moreover, the device is equipped with a storage determination circuit 16 for determining if the defect information is stored or not in the defect information storing register 17, according to the information on the preset defect information storing method.
また、予め設定された不良情報格納方法情報に応じて不良情報を不良情報格納レジスタ１７に格納するか否かを判定する格納判定回路１６を備えている。 - 特許庁 - A defect detecting part analyzes the extracted featured values to generate the defect of a candidate based on a set of the trained featured values with respect to the kind of each defect and on a weight values corresponding to it.
欠陥検出部が抽出された特徴値を分析して、各々の欠陥の種類に対する一組のトレーニング済み特徴値と対応する重み値とに基づいて候補の欠陥を生成する。 - 特許庁 - For example, in the case of the defect which is in communication with the bottom of the test object, the size of the defect is determined from appearances of the creeping wave, the mode transformed wave and the longitudinal wave or the transversal wave from the head edge section of the defect.
例えば、欠陥が試験体の底に連通するものであり、クリーピング波、モード変換波及び欠陥先端部からの横波又は縦波の表れ方により欠陥の大きさを判別する。 - 特許庁 - To decide whether the defect generated on the surface of a substrate is the defect that arises from the defect existing on a prescribed pattern or not, in the substrate which is manufactured so that a repeated pattern is transferred on the major surface.
主面に、繰り返しパターンが転写されて製造される基板において、その表面に生じる欠陥が、所定パターンに存在する欠陥に起因した欠陥であるか否かを確定する。 - 特許庁 - METHOD OF REPAIRING CONCRETE DEFECT OCCURRING DURING CONSTRUCTION OF CONCRETE STRUCTURE, AND VIBRATOR FOR USE IN REPAIRING THE CONCRETE DEFECT
コンクリート構造物の施工中に発生したコンクリート欠陥の修復方法及び該コンクリート欠陥を修復するために使用する振動機 - 特許庁 - The device for correcting color filter defect corrects a defect of a color filter with a plurality of picture elements arranged therein, each of the picture elements having a plurality of pixels.
カラーフィルタ欠陥修正装置は、複数個の画素を有する絵素が複数個配置されるカラーフィルタの欠陥を修正する。 - 特許庁 - METHOD FOR DISCRIMINATING DISCONNECTION OR CONNECTION DEFECT IN AUTOMATIC TEE-UP DEVICE
自動ティアップ装置における断線、接続不良等の判別方法 - 特許庁 - The past defect information is displayed in the application form.
これにより申請フォーム中に過去の不具合情報を表示する。 - 特許庁 - DIAGNOSTIC DEVICE AND METHOD FOR DIAGNOSING MATERIAL DEFECT USING POSITRON
陽電子を用いた材料欠陥診断装置および診断方法 - 特許庁 - To provide a semiconductor memory device having a defect check circuit.
欠陥チェック回路をもつ半導体メモリ装置を提供すること。 - 特許庁 - METHOD AND APPARATUS FOR DETECTING DEFECT IN TOOTH OF GENERATOR ROTOR
発電機ロータの歯の欠陥を検出するための方法および器具 - 特許庁 - To provide a defect detecting circuit which can detect a defect highly accurately and quickly independently of operation speed of an optical disk apparatus.
光ディスク装置の動作速度によらずディフェクトを高精度かつ迅速に検出することが可能なディフェクト検出回路を提供する。 - 特許庁 - To suppress degradation of reliability and reduce the time for observing a defect in an automatic defect review of a semiconductor device.
半導体装置の自動欠陥観察において、欠陥観察の信頼性の劣化を抑え、欠陥観察に要する時間の短縮を図る。 - 特許庁 - To provide a cutting tool combined with abrasion resistance and defect resistance.
耐摩耗性と耐欠損性を兼ね備えた切削工具を提供する。 - 特許庁 - METHOD FOR NON-CONTACT MEASUREMENT OF SUBSTRATE, AND METHOD OF INSPECTING PAINTING DEFECT
基材の非接触測定方法及び塗装不良検査方法 - 特許庁 - To provide a surface defect inspecting device which secures an S/N ratio required for inspection of a surface defect by certainly removing diffracted light.
回折光を確実に除去して表面欠陥の検査に必要なＳＮ比を確保できる表面欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁 - When there is the second reception signal whose crest value is equal to or larger than the threshold, the determination unit determines the defect candidate signal as a defect signal.
判定部は、波高値が閾値以上の第２受信信号がある場合、欠損候補信号を欠損信号として判定する。 - 特許庁 - DEFECT DETECTING CIRCUIT AND STORAGE MEDIUM REPRODUCING DEVICE EQUIPPED WITH THE SAME
欠陥検出回路及びそれを備えた記憶媒体再生装置 - 特許庁 - DEFECT-DETECTING CIRCUIT AND STORAGE MEDIUM REPRODUCING DEVICE PROVIDED THEREWITH
欠陥検出回路及びそれを備えた記憶媒体再生装置 - 特許庁 - DEVICE AND METHOD FOR RECOVERING EJECTION DEFECT, AND INK JET RECORDER
吐出不良回復装置及び方法並びにインクジェット記録装置 - 特許庁 - RADIOLOGICAL IMAGE PHOTOGRAPHIC APPARATUS AND METHOD FOR OBTAINING PIXEL DEFECT INFORMATION
放射線画像撮影装置及び画素欠陥情報取得方法 - 特許庁 - To provide an apparatus of correcting a defect improved so that various defect can be corrected efficiently.
様々な欠陥を効率よく修正することができるように改良された欠陥の修正装置を提供することを目的とする。 - 特許庁 - To provide an exposure apparatus suppressing the occurrence of an exposure defect.
露光不良の発生を抑制できる露光装置を提供する。 - 特許庁 - METHOD FOR DEFECT DETECTING AND PROCESSING OF OPTICAL DISK AND RECORDING/REPRODUCING APPARATUS
光ディスクの欠陥検出処理方法及び記録再生装置 - 特許庁 - To efficiently inspect the working defect, etc., of a magnetic head with high accuracy.
磁気ヘッドの加工不良等を高精度に効率良く検査する。 - 特許庁 - To transfer a softened element member after thermal development without a defect.
熱現像後の軟化したエレメント部材の転写を欠陥なく行う。 - 特許庁 - PICTURE DEFECT CORRECTING METHOD AND RECORDING MEDIUM RECORDING THE SAME
画像欠陥補正方法およびこの方法を記録した記録媒体 - 特許庁 - IMMERSION NOZZLE FOR CONTINUOUS CASTING, RESTRAINING DEVELOPMENT OF SURFACE DEFECT AND INTERNAL DEFECT AND CONTINUOUS CASTING METHOD USING THIS NOZZLE FOR CONTINUOUS CASTING
表面欠陥および内部欠陥の発生を抑制する連続鋳造用浸漬ノズルおよびこのノズルを使用した連続鋳造方法 - 特許庁 - The defect correction method comprises imparting a correction film 4 to a halftone mask 1 having a white defect in a halftone portion 2 comprising a semitransmitting film.
半透過膜からなるハーフトーン部２に白欠陥を含むハーフトーンマスク１に修正膜４を付加する欠陥修正方法である。 - 特許庁 - CUTTING DEFECT DETECTION METHOD IN PLASMA MACHINE AND DEVICE THEREFOR
プラズマ加工機における切断不良検出方法およびその装置 - 特許庁 - SEMICONDUCTOR MEMORY EVALUATING DEVICE AND DEFECT ANALYSIS METHOD USING THE SAME
半導体メモリ評価装置及びそれを用いた不良解析方法 - 特許庁 - OPTICAL DISK APPARATUS AND METHOD FOR ESTIMATING ERROR CAUSED BY ITS DISK DEFECT
光ディスク装置及びそのディスク欠陥によるエラー推定方法 - 特許庁 - APPARATUS AND METHOD FOR DETECTION OF DEFECT IN SEMICONDUCTOR DEVICE
半導体装置の欠陥検出装置および欠陥検出方法 - 特許庁 - To enable no-defect build-up welding by eliminating a casting defect in a build-up welding section of a casting beforehand.
鋳造品の肉盛溶接部位における鋳造欠陥を前もってなくし、欠陥のない肉盛溶接を行うことができるようにする。 - 特許庁 - SYNCHRONIZING SIGNAL SHAPING CIRCUIT, IMAGE PROCESSOR AND DEFECT INSPECTION DEVICE
同期信号整形回路、画像処理装置及び欠陥検査装置 - 特許庁 - A plurality of defective area lists (TDFL) and structure information (TDDS) are recorded in the temporary defect management area (TDMS) of the defect management area.
当該欠陥管理領域の一時的欠陥管理領域(TDMS)には、複数の欠陥領域リスト(TDFL)と、構造情報(TDDS)とが記録されている。 - 特許庁 - SEMICONDUCTOR DEVICE AND METHOD OF SPECIFYING POSITION OF DEFECT OF SEMICONDUCTOR DEVICE
半導体装置および半導体装置の欠陥位置特定方法 - 特許庁
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