「Defect」を含む例文一覧(18306)
＜前へ 1 2 .... 56 57 58 59 60 61 62 63 64 .... 366 367 次へ＞- PIXEL DEFECT DETECTING/CORRECTING APPARATUS AND METHOD THEREFOR
画素欠陥検出補正装置及び画素欠陥検出補正方法 - 特許庁 - DEFECT POSITION INSPECTION DECISION METHOD OF WEB-LIKE RAW MATERIAL, AND ITS DEVICE
ウエブ状素材の不良位置検査確定方法およびその装置 - 特許庁 - APPLICATION MECHANISM OF CORRECTION LIQUID AND DEFECT CORRECTION DEVICE USING THE SAME
修正液塗布機構およびそれを用いた欠陥修正装置 - 特許庁 - DEVICE AND METHOD FOR DETECTING DEFECT OF PARTICLE COLLECTION FILTER
微粒子捕集フィルタの欠陥検出装置および検出方法 - 特許庁 - METHOD FOR INSPECTING SURFACE DEFECT IN INFORMATION-RECORDING DISK, AND DEVICE THEREFOR
情報記録ディスクの表面欠陥検査方法及びその装置 - 特許庁 - To effectively defect and evaluate the state of an internal defect of a material to be measured such as a bulk material or the like even at a deep position from its surface.
バルク材料など被測定物の内部欠陥の状況を表面から深い位置であっても有効に検出し評価する。 - 特許庁 - To provide a defect correction device capable of improving the yield by preventing a specific defect from becoming a problem in subsequent processes.
特定の欠陥が後の工程で問題となることを防止し、歩留まりを向上させることができる欠陥修正装置を提供する。 - 特許庁 - APPARATUS AND METHOD FOR CORRECTING DEFECT OF COLOR FILTER SUBSTRATE
カラーフィルタ基板の欠陥修正装置および欠陥修正方法 - 特許庁 - To restrain production of an interface defect at the time of forming an insulating film and to reduce the produced defect.
絶縁膜を形成する際の界面欠陥の生成を抑制するとともに、生成された欠陥を低減させることを可能にする。 - 特許庁 - METHOD AND DEVICE FOR DETECTING DEFECT AND METHOD OF MANUFACTURING FOR MASK
欠陥検出方法及びその装置並びにマスクの製造方法 - 特許庁 - DEVICE, METHOD AND PROGRAM FOR DEFECT DETECTION
欠陥検出装置、欠陥検出方法および欠陥検出プログラム - 特許庁 - METHOD AND DEVICE FOR SPECIFYING POSITION OF FILM DEFECT ON INNER SURFACE OF LAMINATE CAN
ラミネート缶内面のフィルム欠陥位置特定方法及び装置 - 特許庁 - To automatically put defect marks on chips that are located around a defective chip, when a continuous defect distribution is generated in measurement of a wafer.
ウエハ測定で連続的な不良分布が発生した時、不良チップ周辺に自動的に不良マークができるようにすること。 - 特許庁 - METHOD FOR MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE AND METHOD FOR OPTICALLY INSPECTING DEFECT
半導体装置の製造方法及び光学式欠陥検査方法 - 特許庁 - METHOD AND SENSOR FOR DETECTING CONDUCTOR DEFECT IN ELECTRIC WIRE
電線の導体欠陥検知方法及び導体欠陥検知用センサ - 特許庁 - APPARATUS AND METHOD FOR DETECTION OF DEFECT IN MULTI- CHANNEL SCAN DRIVER
マルチチャネルスキャンドライバにおける欠陥を検出する装置及び方法 - 特許庁 - METHOD AND DEVICE FOR DETECTING DEFECT ON CYLINDRICAL SURFACE
円筒状表面の欠陥検出方法および欠陥検出装置 - 特許庁 - To provide a defect correction device and method for reliably correcting a defect, and also to provide a method for manufacturing a patterned substrate.
確実に欠陥を修正することができる欠陥修正装置、欠陥修正方法、及びパターン基板の製造方法を提供する。 - 特許庁 - METHOD FOR CLASSIFYING CAST DEFECT IN FRAMEWORK OF X-RAY ANALYSIS
Ｘ線解析のフレームワーク内での鋳造欠陥の分類方法 - 特許庁 - To prevent deformation of a blank and unfilled defect caused by the deformation.
素材の変形や変形に起因する未充填欠陥を防止する。 - 特許庁 - To suppress a pinhole to be a defect of a reflection film of an optical disk.
光ディスクの反射膜の欠損であるピンホールを抑制する。 - 特許庁 - SEM-TYPE DEFECT-REVIEWING DEVICE AND METHOD AND INSPECTION SYSTEM
ＳＥＭ式欠陥レビュー装置およびその方法並びに検査システム - 特許庁 - To provide a continuous casting method for producing a cast slab without developing the surface defect and the internal defect when the continuous casting of steel is performed.
鋼の連続鋳造を行なう際に、表面欠陥や内部欠陥のない鋳片を製造する連続鋳造方法を提供する。 - 特許庁 - METHOD AND DEVICE FOR DEFORMATION DEFECT INSPECTION OF HOOP
フープ材の変形不良検査装置および変形不良検出方法 - 特許庁 - METHOD AND APPARATUS FOR CHECKING HOLLOW FIBER MEMBRANE MODULE FOR DEFECT
中空糸膜モジュールの欠陥検査方法および欠陥検査装置 - 特許庁 - To provide a manufacturing method of a group III nitride semiconductor having less crystal defect.
結晶欠陥の少ないIII 族窒化物半導体の製造方法 - 特許庁 - LENS, OPTICAL PICKUP, OPTICAL DISK DRIVE AND TRANSFER DEFECT DISCRIMINATION METHOD
レンズ、光ピックアップ、光ディスク装置及び転写不良判別方法 - 特許庁 - METHOD FOR CORRECTING DEFECT INDEPENDENT FROM CALIBRATION IN IMAGE SYSTEM
画像システムにおける、較正から独立した欠陥の修正方法 - 特許庁 - DEFECT PIXEL CORRECTING METHOD FOR LIQUID CRYSTAL DISPLAY, AND LIQUID CRYSTAL DISPLAY
液晶ディスプレイの欠陥画素修正方法及び液晶ディスプレイ - 特許庁 - To improve stability by reducing the defect rate of trimming caused by fusing.
フューズによるトリミングの不良率を低減して安定性を高める。 - 特許庁 - To provide a surface defect detection method capable of detecting a defect present on the surface of an object to be tested with high precision.
被検査体の表面に存在する欠陥を高い精度で検出することができる表面欠陥の検出方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a liquid crystal display without a line defect in pixel display.
画素表示に線欠陥のない液晶表示装置を提供する。 - 特許庁 - METHOD AND APPARATUS FOR INSPECTING SURFACE DEFECT IN PLATE
板材の表面欠陥検査方法および表面欠陥検査装置 - 特許庁 - That is, the relief is carried out by a redundancy replacement in the case of defect being physically broken, and by a timing adjustment in the case of defect of margin.
すなわち物理的に壊れている場合は冗長置換で救済し、マージン不良の場合は、タイミング調整で救済する。 - 特許庁 - To accurately detect a black defect of a solid state image sensing device.
固体撮像素子について黒欠陥検出を正確に行う。 - 特許庁 - To provide an image defect detector capable of automatically setting a threshold for detecting a defect of a displayed image.
表示画像の欠陥を検出するためのしきい値を自動的に設定することができる画像欠陥検出装置を提供する。 - 特許庁 - FINE PATTERN CORRECTION DEVICE AND METHOD FOR CORRECTING DEFECT OF FINE PATTERN
微細パターン修正装置および微細パターンの欠陥修正方法 - 特許庁 - To relax a dot defect in appearance when a pixel is caused to be the dot defect due to pattern failure or the like in a liquid crystal display device.
液晶表示装置において、画素がパターン不良等で点欠陥になった場合に、その点欠陥の見え方を緩和させる。 - 特許庁 - The classification support unit forms separated defect parts data for setting or changing the defect detection parameters and forming the knowledge base.
分類支援装置は、上記欠陥検出パラメータの設定や変更、上記知識ベース作成のための分離欠陥部分データを作成する。 - 特許庁 - METHOD AND DEVICE FOR INSPECTING DEFECT IN FOAM ROLLER
発泡体ローラーの欠陥検出方法及び欠陥検出装置 - 特許庁 - METHOD OF INSPECTING FLOATING DEFECT OF COMPONENT ELECTRODE AND SUBSTRATE INSPECTING DEVICE
部品電極の浮き不良の検査方法および基板検査装置 - 特許庁 - DEFECT DETECTION METHOD, AND VISUAL INSPECTION DEVICE USING THE SAME
欠陥検出方法およびその方法を用いた視覚検査装置 - 特許庁 - SURFACE INSPECTION DEVICE OF STEEL STRIP, AND DETECTING METHOD OF SURFACE DEFECT
鋼帯の表面検査装置及び表面欠陥の検出方法 - 特許庁 - To provide an efficient semiconductor easy to specify a defect.
不具合特定が容易で、効率的な半導体装置を提供する。 - 特許庁 - METHOD OF INSPECTING DEFECT OF WAFER AND METHOD OF MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE
ウェーハの欠陥検査方法および半導体デバイスの製造方法 - 特許庁 - DEVICE AND METHOD FOR PROCESSING RECORDING MEDIUM, AND DEFECT DETECTION METHOD
記録媒体処理装置及び方法、並びに欠陥検出方法 - 特許庁 - An image signal from a receiver board 23 is processed by a data processing board 25, and image data on a defect is sent to a defect-image display device 15.
レシーバボード２３からの画像信号をデータ処理ボード２５で処理して、欠陥の画像データを欠陥画像表示装置１５に送る。 - 特許庁 - LIQUID MATERIAL APPLICATOR AND DEFECT CORRECTING APPARATUS USING THE SAME
液状材料塗布装置およびそれを用いた欠陥修正装置 - 特許庁 - FOGGING DEFECT DETECTING DEVICE, AND JUDGING METHOD FOR DOCTOR BLADE REPLACEMENT TIMING
カブリ不良検出装置およびドクターブレード交換時期判断方法 - 特許庁 - PRODUCTION OF STEEL SLAB WITHOUT DEVELOPING SURFACE DEFECT DUE TO WIDTH REDUCTION
幅圧下による表面欠陥が生じない鋼片の製造方法 - 特許庁
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