「Defect」を含む例文一覧(18306)
＜前へ 1 2 .... 54 55 56 57 58 59 60 61 62 .... 366 367 次へ＞- DEFECT DETECTING METHOD FOR DIAPHRAGM PART OF LIQUID DROPLET DELIVERING HEAD, AND MANUFACTURING METHOD FOR LIQUID DROPLET DELIVERING HEAD USING THE DEFECT DETECTING METHOD
液滴吐出ヘッドのダイアフラム部の欠陥検出方法、及びその欠陥検出方法を用いた液滴吐出ヘッドの製造方法 - 特許庁 - INTERNAL DEFECT INSPECTING METHOD AND DEVICE OF GLASS PANEL FOR CATHODE-RAY TUBE
陰極線管用ガラスパネルの内部欠陥検査方法及び装置 - 特許庁 - METHOD FOR REPAIRING DEFECT OF PATTERN FORMED ON TRANSFERRED MASK FOR ELECTRON BEAM
電子線用転写マスクに形成されたパターンの欠陥修正法 - 特許庁 - LIQUID MATERIAL COATING MACHINE MECHANISM AND DEFECT REMEDY APPARATUS USING IT
液状材料塗布機構およびそれを用いた欠陥修正装置 - 特許庁 - To provide a defect analyzing method for a semiconductor capable of inexpensively identifying a short-circuiting defect part between wires with high efficiency.
低コスト且つ高効率で配線間のショート不良個所を同定することができる半導体装置の不良解析方法を提供する。 - 特許庁 - To improve quality of defect correction while largely improving work efficiency of defect correction processes, by properly detecting defects.
欠陥を適切に検出し、欠陥修正工程の作業効率を著しく向上させつつ、欠陥修正の品質を向上させる。 - 特許庁 - To improve quality of defect correction while largely improving work efficiency of defect correction processes, by properly determining defects.
欠陥を適切に判定し、欠陥修正工程の作業効率を著しく向上させつつ、欠陥修正の品質を向上させる。 - 特許庁 - To provide a high-throughput and high-sensitivity defect inspection apparatus.
高スループットかつ高感度の欠陥検査装置を提供すること。 - 特許庁 - To provide a review apparatus and an inspection apparatus system for easily and visually recognizing a defect regardless of a type and a size of the defect.
欠陥の種類やサイズにかかわらず、欠陥を容易に視認することのできるレビュー装置および検査装置システムを提供する。 - 特許庁 - To provide a defect inspection method capable of scanning the entire sample surface in a short time and detecting minute defect without causing thermal damage to the sample.
試料全面を短時間で走査し，試料に熱ダメージを与えることなく微小な欠陥を検出することができるようにする。 - 特許庁 - The difference signal between the simulation images is calculated as to the plurality of predicted fatal defects to display the difference signal the defect by the defect.
予想される複数の致命欠陥について、シミュレーション画像の差分信号を計算し、欠陥毎に差分信号を表示する。 - 特許庁 - The luminance distribution varies in accordance with kinds of defects, so the defect is classified from points of view of the shape and luminance distribution of the defect image.
欠陥の種類に応じて、輝度分布が相違するので、欠陥画像の形状及び輝度分布の観点より欠陥を分類する。 - 特許庁 - APPARATUS AND METHOD FOR CORRECTING DEFECT OF SUBSTRATE, AND LIQUID CRYSTAL SUBSTRATE
基板の欠陥修正装置及びその方法並びに液晶基板 - 特許庁 - To detect a flicker defect in a cycle as long as possible using a limited frame memory in flicker defect pixel detection of a solid-state imaging device.
固体撮像素子の点滅欠陥画素検出において、限られたフレームメモリでできるだけ長い周期の点滅欠陥を検出する。 - 特許庁 - To provide a defect correcting method and device capable of correcting even if the width of a rib defect of a flat display is narrow.
フラットディスプレイのリブ欠陥の幅が小さくても修正が可能な欠陥修正方法および欠陥修正装置を提供する。 - 特許庁 - METHOD AND DEVICE OF DEFECT INSPECTION FOR CCD SOLID-STATE IMAGING ELEMENT
ＣＣＤ型固体撮像素子の欠陥検査方法及びその装置 - 特許庁 - METHOD OF MEASURING ELECTRONIC STATE OF IMPURITY AND DEFECT IN SEMICONDUCTOR
半導体内不純物および欠陥の電子状態測定方法 - 特許庁 - To provide a new implant being excellent in ossification capability, which transplanted into a defect in a substantial bone to effectively cure the defect.
骨形成能に優れ、実質骨欠損部へ移植して効果的に骨欠損部を治癒し得る新規な生体移植片を提供する。 - 特許庁 - To provide a defect inspection apparatus capable of acquiring a desired image with high precision and carrying out a precise defect inspection.
所望の画像を高精度で取得することができ、高精度の欠陥検査を行うことが可能な欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁 - To prevent image defect by cleaning an intermediate transfer body well.
中間転写体を良好にクリーニングして画像不良を防止する。 - 特許庁 - APPARATUS, SYSTEM AND METHOD FOR INSPECTING DEFECT OF FILM
フィルムの欠陥検査装置、欠陥検査システムおよび欠陥検査方法 - 特許庁 - To provide a defect classifying/inspecting device having high classification accuracy.
高い分類精度を有する欠陥分類検査装置を提供する。 - 特許庁 - SIGNAL PROCESSOR, IMAGE PROCESSOR, AND SURFACE DEFECT INSPECTION DEVICE
信号処理装置、画像処理装置及び表面欠陥検査装置 - 特許庁 - Subsequently, the marker 30 is detected by the mask defect correction device, and the defect 20 is corrected with reference to the position of the marker 30.
次いで、マスク欠陥修正装置でマーカ３０を検出すると共に、該マーカ３０の位置を基準にして欠陥２０を修正する。 - 特許庁 - TILE SURFACE DEFECT INSPECTING DEVICE AND METHOD
瓦表面欠陥検査装置および瓦表面欠陥検査方法 - 特許庁 - To improve a transfer property and prevent an occurrence of defect in optical functions.
転写性を良くし、光学機能面の不良発生を防止する。 - 特許庁 - NICKEL BASE SUPERALLOY EXHIBITING ONLY MINIMUM DEFECT OF CRYSTAL GRAIN
最小限の結晶粒欠陥しか呈さないニッケル基超合金 - 特許庁 - BLACK INK FOR CORRECTING MICROSCOPIC DEFECT IN COLORING PATTERN, AND COLOR FILTER
微小着色パターン欠陥修正用黒インキ、及び、カラーフィルター - 特許庁 - METHOD AND STRUCTURE FOR INSPECTING WIRING DEFECT OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT
半導体集積回路の配線欠陥検査方法および構造 - 特許庁 - To provide a scanning probe microscope capable of observing individually an energy level of each crystal defect or each defect caused by a process.
個々の結晶欠陥やプロセス起因欠陥のエネルギー準位を個別に見ることができる走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - When a pixel discriminated not to be a black pixel does not correspond to the pixel defect having been stored in advance, the result is stored as a new pixel defect (S112).
黒でないと判定された画素が予め記憶された画素欠陥でないときは、新規の画素欠陥として記憶する（Ｓ１１２）。 - 特許庁 - To effectively prevent a dross defect or a ripple defect which occurs on a plated steel strip when hot-dip plating the steel strip continuously.
鋼帯を連続溶融金属めっきする際、めっき鋼帯に発生するドロス欠陥あるいはさざ波欠陥を効果的に防止する。 - 特許庁 - If the surface defect inspecting device detects a surface defect of the wafer, sensor data associated with the processing of the wafer are evaluated.
表面欠陥検査装置によりウェハの表面欠陥が検出された場合には、当該ウェハの処理に関するセンサデータを評価する。 - 特許庁 - METHOD OF MEASURING AMOUNT OF CRYSTAL DEFECT CONTAINED IN SEMICONDUCTOR SUBSTRATE
半導体基板に含まれる結晶欠陥量を測定する方法 - 特許庁 - To provide an apparatus and method for finding a defect on a reticle.
レチクル上の欠陥を発見する装置及び方法を開示する。 - 特許庁 - A defect information storage unit 310 stores defect information on a defective pixel having a large offset of a pixel signal generated by an imaging device.
欠陥情報記憶部３１０は、撮像素子で生成される画素信号のオフセットが大きい欠陥画素の欠陥情報を記憶する。 - 特許庁 - WATERPROOF SHEET OR EXTENSION SHEET, ITS DEFECT DETECTING METHOD, AND DEFECT DETECTING METHOD FOR JOINT BETWEEN WATERPROOF SHEET AND EXTENSION SHEET
防水シート又は増し張りシート、及びその欠陥部検知方法並びに防水シートと増し張りシートとの接合部の欠陥部検知方法 - 特許庁 - To provide a configuration enabling the selective repair, exchange, or the like of one portion related to a defect, when the defect occurs in one portion.
一部に不具合が生じた場合に、その不具合に係る一部を選択的に修理、交換等することができる構成を提供する。 - 特許庁 - Especially, this OB defect corrector classifies the OB signals for every color filter array, and performs defect correction for every classification thereof.
特に、このＯＢ欠陥補正部は、カラーフィルタアレイの色別にＯＢ信号を区分し、その区分別にＯＢ信号の欠陥補正を行う。 - 特許庁 - The positional information and the defect grade of the defective pixel are stored.
この欠陥画素の位置情報と欠陥グレードとを記憶しておく。 - 特許庁 - To prevent a high-resistance defect and an open defect of a via while reducing an element or a wiring arrangement area.
本発明によれば、素子や配線の配置面積を縮小しつつ、ビアの高抵抗不良およびオープン不良が発生しないようにする。 - 特許庁 - The high-defect regions exist in three positions, namely, a central part and both end parts of the substrate, and the low-defect region exists among them.
高欠陥領域が基板の中央領域と両端部との３カ所にあり、それらの間に低欠陥領域が存在している。 - 特許庁 - To provide an observation system and an installation defect detection program, capable of automatically detecting the installation defect of a container in an optical axis direction.
光軸方向における容器の設置不備を自動で検出できる観察システム及び設置不備検出プログラムを提供する。 - 特許庁 - As a result, a defect in the weak pin 30 can be detected.
これにより、弱点ピン３０の欠損を検出することができる。 - 特許庁 - To provide a pattern defect inspection apparatus having stable inspection performance.
検査性能が安定したパターン欠陥検査装置を実現すること。 - 特許庁 - DEFECT INSPECTION SYSTEM, DISPLAY DEVICE AND METHOD FOR MANUFACTURING DISPLAY DEVICE
欠陥検査システム、表示装置および表示装置の製造方法 - 特許庁 - To provide a method for manufacturing an intermediate transfer belt, capable of eliminating a coating film defect and an appearance defect for ensuring uniform surface property.
塗膜の欠陥、外観不良を無くし均一な表面性を確保することが可能な中間転写ベルトの製造方法である。 - 特許庁 - To provide an inexpensive digital eddy current defect detection test device capable of performing efficiently an eddy current defect detection test of a pipe.
パイプの渦流探傷試験を効率よく実施することができる安価なデジタル式渦流探傷試験装置を提供すること。 - 特許庁 - METHOD AND APPARATUS FOR INSPECTING DEFECT INSIDE QUARTZ GLASS
石英ガラス材内部の欠陥検査方法および欠陥検査装置 - 特許庁 - BLACK INK FOR CORRECTING DEFECT OF FINE COLORED PATTERN, AND COLOR FILTER
微小着色パターン欠陥修正用黒インキ、及び、カラーフィルター - 特許庁
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