「Defect」を含む例文一覧(18306)

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  • PHOTOVOLTAIC DEVICE INSPECTION APPARATUS AND METHOD OF DETERMINING DEFECT IN PHOTOVOLTAIC DEVICE
    太陽電池の検査装置及び太陽電池の欠陥判定方法 - 特許庁
  • CORRECTION METHOD AND CORRECTION COLOR FOR DEFECT PART OF COLOR FILTER PATTERN
    カラーフィルターのパターン欠陥部の補修方法および補修用カラー - 特許庁
  • RECORDING MEDIUM STORED WITH DEFECT MANAGEMENT INFORMATION FOR RECORDING REAL-TIME DATA, DEFECT MANAGING METHOD THEREFOR, AND RECORDING METHOD FOR REAL-TIME DATA
    リアルタイムデータを記録するための欠陥管理情報を貯蔵する記録媒体、その欠陥管理方法とリアルタイムデータの記録方法 - 特許庁
  • To provide a defective pixel correction technique for calculating a defect judgment reference for detecting a defect precisely, as easily as possible.
    正確な欠陥検出を可能とする欠陥判定基準をできるだけ簡単に算出する欠陥画素修正技術を提供する。 - 特許庁
  • To specify a color component of a color causing a defect, even when a defect of an image formed based on an image data is an achromatic color.
    画像データに基づいて形成された画像の欠陥が、無彩色の場合でも、欠陥の原因色となる色成分を特定する。 - 特許庁
  • RECORDING MEDIUM TO STORE DEFECT CONTROL INFORMATION FOR RECORDING REAL TIME DATA, DEFECT CONTROL METHOD THEREOF, AND REAL TIME DATA RECORDING METHOD
    リアルタイムデ—タを記録するための欠陥管理情報を貯蔵する記録媒体、その欠陥管理方法とリアルタイムデ—タの記録方法 - 特許庁
  • METHOD AND SYSTEM FOR PATTERN DEFECT INSPECTION AND COMPUTER-READABLE STORAGE MEDIUM WITH RECORDED PATTERN DEFECT INSPECTION PROGRAM
    パターン欠陥検査方法及びパターン欠陥検査システム並びにパターン欠陥検査プログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体 - 特許庁
  • APPARATUS AND METHOD FOR EVALUATION OF DEFECT IN EDGE REGION OF WAFER
    ウエハの縁部領域の欠陥の評価のための装置及び方法 - 特許庁
  • To select and apply an optimum defect treatment method to a condition of an individual surface defect occurring in an in-furnace apparatus.
    炉内機器に発生する個々の表面欠陥の状態に対して最適な欠陥処置方法を選択し適用することを可能にする。 - 特許庁
  • To rapidly evaluate a crystal defect occurring in a manufacturing process.
    製造過程で生じた結晶欠陥を迅速に評価すること。 - 特許庁
  • After that, according to the calibrated image data, a defect of the sample wafer is detected by the defect extract part 40 and the result is displayed.
    その後、較正された画像データに基づいて欠陥抽出部４０で試料ウエハの欠陥検出を行い、結果を表示する。 - 特許庁
  • To provide a gallium nitride semiconductor layer having a low defect density.
    低欠陥密度を有する窒化ガリウム半導体層を提供する。 - 特許庁
  • To enhance the efficiency of a matching processing between a defect image obtained by a defect review device or the like and a layout image based upon design data.
    欠陥レビュー装置などで取得された欠陥画像と設計データに基づくレイアウト画像とのマッチング処理の効率向上を図る。 - 特許庁
  • The image processing part 20 extracts a defect (crack, peeling) of the object for evaluation from the image data, and computes the size of each defect.
    画像処理部２０は、その画像データから評価対象物の欠陥（ひび割れ、剥離）を抽出して、各欠陥の大きさを算定する。 - 特許庁
  • DEFECT MARKING APPARATUS, SHEET MATERIAL, AND MANUFACTURING METHOD THEREOF
    欠陥マーキング装置、シート材料の製造方法およびシート材料 - 特許庁
  • ARRAY SUBSTRATE HAVING WIRE BREAKING DEFECT CORRECTED AND METHOD FOR MANUFACTURING THE SAME
    断線欠陥を矯正したアレイ基板、及び、その製造方法 - 特許庁
  • PATTERN FOR EVALUATING WIRING DEFECT AND EVALUATING METHOD FOR SEMICONDUCTOR CIRCUIT
    半導体回路の配線欠陥評価用パターン及び評価方法 - 特許庁
  • The first defect pixel binary data are displayed on a thin glow monitor.
    第１不良画素二値データは薄焼モニター上に表示される。 - 特許庁
  • DEFECT RESTORING METHOD OF MEMBRANE FORMED ON POROUS SUBSTRATE, MEMBRANE SEPARATING BODY AND GAS SEPARATING BODY WITH DEFECT OF MEMBRANE RESTORED
    多孔質基体上に成膜された膜の欠陥修復方法並びに膜の欠陥が修復された膜分離体及びガス分離体 - 特許庁
  • EVALUATION METHOD AND EVALUATING APPARATUS FOR CRYSTAL DEFECT IN ARTIFICIAL CRYSTAL
    人工水晶の結晶欠陥の評価方法、及び評価装置 - 特許庁
  • HARD DISK DRIVE, METHOD FOR DETECTING DEFECT ON DISK AND COMPUTER PROGRAM
    ハードディスクドライブ，ディスク上の欠陥検出方法，コンピュータプログラム物 - 特許庁
  • CATV INTERNET SERVICE AUTOMATIC RESTORATION SYSTEM ON OCCURRENCE OF DEFECT OF CENTER MODEM
    センタモデム不具合時のＣＡＴＶインターネットサービス自動復旧方式 - 特許庁
  • The preferred graphene has a defect formed by bonding of a carbon atom to an oxygen atom and the number density of the defect is 0.0001-0.1.
    好ましいグラフェンは、炭素原子が酸素原子と結合してできた欠陥を有し、その数密度は０．０００１以上０．１以下である。 - 特許庁
  • REMOVAL OF QUARTZ DEFECT USING GALLIUM DYEING AND FEMTOSECOND PEELING
    ガリウム染色およびフェムト秒剥離を使用する石英欠陥除去 - 特許庁
  • METHOD OF REDUCING POOR PLANARIZATION AND DEFECT DENSITY OF SILICON GERMANIUM
    シリコンゲルマニウムの、平坦化及び欠陥密度を減少させる方法 - 特許庁
  • APPARATUS FOR INSPECTING SOLAR CELL AND METHOD OF DETERMINING DEFECT OF SOLAR CELL
    太陽電池検査装置及び太陽電池欠陥判定方法 - 特許庁
  • A control part 2 of the defect detector is provided with a reference mask generating part 200, an inspection mask generating part 201, and a defect detecting part 202.
    欠陥検出装置の制御部２に基準マスク生成部２００、検査マスク生成部２０１、欠陥検出部２０２を設ける。 - 特許庁
  • To provide a defect detection device for detecting a defect with a simple method by setting a proper mask area.
    本発明は、適正なマスク領域を設定し、簡易な手法にて欠陥の検出を行う欠陥検出装置の提供を目的とする。 - 特許庁
  • To make detectable a defect even if the brightness of an article, e.g. a sheet, is high when a defect accompanied with irregularities is detected.
    シート等の物品における凹凸を伴う不良の検出に際し、物品の明度が高い場合でも不良を検出可能とする。 - 特許庁
  • The header, the N defect entries and the anchor area arrayed in this order.
    ヘッダとＮ個の欠陥エントリとアンカとはこの順で配置される。 - 特許庁
  • To provide a method for checking a defect of a honeycomb filter that allows for checking in a short time period, and a device for checking the defect of the honeycomb filter.
    短時間での検査が可能な、ハニカムフィルタの欠陥を検査する方法、及び、ハニカムフィルタの欠陥の検査装置を提供する。 - 特許庁
  • The output circuit 43 in activated state makes the judge of the presence of defect by the 2nd defect judging means C4 to be effective.
    検反有効化状態の出力回路４３は第２の欠点有無判定手段Ｃ４の欠点有りの判定を有効化する。 - 特許庁
  • METHOD AND DEVICE FOR SEARCHING DEFECT OF MOUNTING BOARD
    実装基板不良探索方法及び実装基板不良探索装置 - 特許庁
  • NOISE-REMOVING METHOD AND APPARATUS, UNEVENNESS DEFECT INSPECTING METHOD AND APPARATUS
    ノイズ除去方法および装置、ムラ欠陥検査方法および装置 - 特許庁
  • To shorten vulcanizing time while preventing a forming defect.
    成形不良を防止しつつ加硫時間の短縮などを可能とする。 - 特許庁
  • APPLICATION NEEDLE, APPLICATION MECHANISM USING THE SAME, DEFECT CORRECTING DEVICE, APPLICATION METHOD, AND DEFECT CORRECTING METHOD OF COLOR FILTER FOR LIQUID CRYSTAL DISPLAY PANEL
    塗布針と、それを用いた塗布機構、欠陥修正装置、塗布方法、および液晶表示パネル用カラーフィルタの欠陥修正方法 - 特許庁
  • To provide a defect detector for a sheet capable of accurately detecting even an infinitesimal defect and to provide a method of manufacturing the sheet.
    微小な欠点でも精度良く検出することができるシートの欠点検出装置ならびにシートの製造方法を提供する。 - 特許庁
  • DEFECT DETECTION METHOD OF LINER SHEET, AND DETECTION DEVICE USED FOR IT
    遮水シートの欠陥検知方法およびそれに用いる検知装置 - 特許庁
  • PROCESS FOR PREPARING LOW DEFECT DENSITY SILICON USING HIGH GROWTH RATE
    高成長速度を用いた低欠陥密度シリコンの製造方法 - 特許庁
  • To provide a semiconductor device which is free from contact defect of an electrode.
    電極の接触不良のない半導体装置を提供する。 - 特許庁
  • DEFECT MANAGEMENT METHOD FOR OPTICAL DISK, OPTICAL DISK AND OPTICAL DISK DEVICE
    光ディスクの欠陥管理方法、光ディスク、及び、光ディスク装置 - 特許庁
  • To provide a cam which can test for the presence of defect of a priority encoder, and a method of testing the presence of defect of a priority encoder.
    優先順位エンコーダの欠陥有無テストが可能なＣＡＭ及び優先順位エンコーダの欠陥有無テスト方法を提供する。 - 特許庁
  • METHOD FOR MANUFACTURING CAST SLAB FOR STEEL SHEET FREE FROM INCLUSION-INDUCED DEFECT
    介在物性欠陥のない薄鋼板用鋳片の製造方法 - 特許庁
  • (i) Matters concerning liability in the case the goods have a hidden defect
    一　商品に隠れた瑕疵がある場合の責任に関する事項 - 日本法令外国語訳データベースシステム
  • DEFECT-DETECTING METHOD OF METAL BODY, AND SCANNING TYPE MAGNETIC DETECTOR
    金属体の欠陥検出方法及びスキャニング式磁気検出器 - 特許庁
  • WELDED PART PROCESSING DEVICE AND METHOD OF REMOVING DEFECT OF WELDING PART
    溶接部加工装置および溶接部の欠陥箇所除去方法 - 特許庁
  • DRAWING METHOD OF METALLIC MATERIAL PREVENTING OCCURRENCE OF INTERNAL DEFECT
    内部欠陥発生を防止した金属材料の引抜き加工方法 - 特許庁
  • DEVICE, METHOD AND PROGRAM FOR IMAGE QUALITY DEFECT DETECTION
    画質欠陥検出装置、画質欠陥検出方法およびプログラム - 特許庁
  • INSPECTION METHOD OF OPTICAL FILM, AND DEFECT INSPECTION ELEMENT USED THEREFOR
    光学フィルムの検査方法及びこれに用いる欠陥検査用素子 - 特許庁
  • To precisely set a parameter, such as defect detecting thresholds and defect detecting focus, in a short time, in detect inspection.
    欠陥検査において欠陥検出閾値及び欠陥検出フォーカス等のパラメータを高精度で且つ短時間に設定できるようにする。 - 特許庁
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