「Defect」を含む例文一覧(18306)

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  • DEFECT DETECTION DEVICE FOR LAMINATED BODY AND INSPECTING DEVICE FOR FUEL CELL
    積層体の欠陥検出装置及び燃料電池の検査装置 - 特許庁
  • We will accept a retune only when a defect was found at the time of opening the package.
    開封時に瑕疵がある場合に限り返品を受け付けます。 - Weblio Email例文集
  • DEFECT INPUT DEVICE, REPAIR INPUT DEVICE, DEFECT DISPLAY DEVICE, DEFECTIVE PRODUCT REPORTING SYSTEM, DEFECTIVE PRODUCT PROCESSING SYSTEM, AND PROGRAMS THEREFOR
    不良入力装置、修理入力装置、不良表示装置、製品不良報知システム、製品不良処理システム、及びこれらのプログラム - 特許庁
  • A defect detection device detects a defect of a plate body P with photoelasticity by allowing light to pass through the plate body P.
    欠陥検出装置は、光弾性を有する板状体Ｐに光を透過させることにより、該板状体Ｐの欠陥を検出する。 - 特許庁
  • PREPREG DEFECT INSPECTION METHOD, INSPECTION SYSTEM, AND PREPREG MANUFACTURING METHOD
    プリプレグ欠点検査方法、検査システム、およびプリプレグの製造方法 - 特許庁
  • Defect map data are read in a defect map data read processing 11 and failure probability data are read in a failure probability data read processing 12.
    欠陥マップデータを欠陥マップデータ読出し処理１１で読み出し、不良確率データを不良確率データ読出し処理１２で読み出す。 - 特許庁
  • To make it possible to take action against a defect before the defect is generated concerning operation performed in an image forming apparatus.
    画像形成装置で行われる動作について不具合が発生する前に、当該不具合に対する対応を採ることを可能にする。 - 特許庁
  • To provide a nitride semiconductor substrate with less crystal defect.
    結晶欠陥の少ない窒化物半導体基板を提供すること。 - 特許庁
  • LAYERED FILM MANUFACTURING METHOD, LAYERED FILM DEFECT DETECTION METHOD, LAYERED FILM DEFECT DETECTION DEVICE, LAYERED FILM AND IMAGE DISPLAY DEVICE
    積層フィルムの製造方法、積層フィルムの欠陥検出方法、積層フィルムの欠陥検出装置、積層フィルム、及び画像表示装置 - 特許庁
  • To provide a thin intravascular occluding device in order to medically treat an atrium septum defect and a ventricular septum defect (respectively ASD and VSD).
    心房および心室中隔欠損（それぞれＡＳＤおよびＶＳＤ）を治療するための薄型の血管内閉鎖デバイスの提供。 - 特許庁
  • METHOD AND APPARATUS FOR UNIFORMITY DEFECT INSPECTION AND METHOD FOR MANUFACTURING PHOTOMASK
    ムラ欠陥検査方法及び装置、並びにフォトマスクの製造方法 - 特許庁
  • A main camera detects the defect when it is necessary and additionally registers the defect data in an EEPROM 118 based on its result.
    本カメラは必要時に欠陥検出を行ない、その結果に基づき上記欠陥データをＥＥＰＲＯＭ１１８に追加登録する。 - 特許庁
  • EPITAXIAL STRUCTURE HAVING LOW DEFECT DENSITY, AND PRODUCTION PROCESS OF THE SAME
    低欠陥密度を有するエピタキシャル構造およびその製造方法 - 特許庁
  • DISK DEFECT TESTING METHOD, DISK STORAGE DEVICE, AND READ CHANNEL CIRCUIT
    ディスクの欠陥検査方法、ディスク記憶装置及びリードチャネル回路 - 特許庁
  • FINAL DEFECT MARKING APPARATUS OF FILM CARRIER TAPE FOR MOUNTING ELECTRONIC COMPONENT
    電子部品実装用フィルムキャリアテープの最終不良マーキング装置 - 特許庁
  • SEMICONDUCTOR DISK HAVING CRYSTAL LATTICE DEFECT AND MANUFACTURE THEREOF
    結晶格子欠陥を有する半導体ディスク及びその製造法 - 特許庁
  • The difference signal between the simulation images is calculated as to the plurality of predicted fatal defects to display the difference signal the defect by the defect.
    予想される複数の致命欠陥について、シミュレーション画像の差分信号を計算し、欠陥毎に差分信号を表示する。 - 特許庁
  • To produce a high grade single crystal at high productivity, hardly containing lattice defect and micropipe defect.
    格子欠陥およびマイクロパイプ欠陥の非常に少ない高品位の単結晶を非常に生産性よく製造することができるようにする。 - 特許庁
  • However, the product defect information includes information on the component 7.
    ただし、製品不具合情報は、部品７に関する情報を含む。 - 特許庁
  • To capture an object efficiently and without defect in three dimensional coordinates.
    物体を３次元座標で効率よく欠落点なく捉えること - 特許庁
  • PATTERN DEFECT INSPECTION APPARATUS AND METHOD, AND METHOD FOR MANUFACTURING PHOTOMASK
    ムラ欠陥検査装置及び方法、並びにフォトマスクの製造方法 - 特許庁
  • ETCHING DEFECT INSPECTION METHOD OF PIEZOELECTRIC VIBRATING CHIP WAFER, AND INSPECTION SYSTEM
    圧電振動片ウェハのエッチング欠陥検査方法、及び検査システム - 特許庁
  • As a result of the operation, there could possibly some memory defect.
    《手術によって 記憶障害などが 出てくる可能性もあります》 - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書
  • He works fast and is very articulate but his insincerity is his biggest defect.
    手八丁口八丁の彼だけど、誠がないのが玉に疵だね。 - Tanaka Corpus
  • He works fast and is very articulate but his insincerity is his biggest defect.
    手八丁口八丁の彼だけど、誠がないのが玉に疵だね。 - Tatoeba例文
  • sightlessness (especially because of a structural defect in or the absence of an eye)
    見えないこと（特に目の構造的欠陥または欠如のため、） - 日本語WordNet
  • There is a chance that the cause of this defect is a faulty part.
    この不具合の主要因は、不良部品の可能性があります。 - Weblio Email例文集
  • ELECTRIC RESISTANCE WELDED TUBE HAVING REDUCED DEFECT IN WELD ZONE AND ITS PRODUCTION METHOD
    溶接部欠陥の少ない電縫鋼管およびその製造方法 - 特許庁
  • To keep the yield of a defect-free single crystal ingot high and stable.
    無欠陥の単結晶インゴットの収率を高く安定に保つ。 - 特許庁
  • To provide a method for registering defect of a sector of a magnetic disk.
    磁気ディスクのセクタの欠陥登録をする方法を提供する。 - 特許庁
  • METHOD OF MEASURING SHAPE AND POSITION OF DEFECT IN TRANSPARENT MATERIAL
    透明材料中の欠陥の形状及び位置の計測方法 - 特許庁
  • This defect inspection device is employed for inspecting the existence of a defect of an inspection object and inspecting a plurality of inspection objects continuously.
    検査対象物の欠陥の有無を検査すると共に複数の検査対象物を連続して検査する欠陥検査装置である。 - 特許庁
  • METHOD FOR MANAGING DEFECT OF OPTICAL DISK AND OPTICAL DISK DEVICE AND OPTICAL DISK
    光ディスクの欠陥管理方法、光ディスク装置、及び、光ディスク - 特許庁
  • For a post script file and a text file, since the data defect is fatal, it is judged that the retransmission is required at the time of the data defect.
    ポストスクリプトファイルやテキストファイルはデータの欠損が致命的であるため、データ欠損時には再送が必要であると判定する。 - 特許庁
  • REPAIR METHOD OF PATTERN DEFECT AND MANUFACTURING METHOD OF PLASMA DISPLAY PANEL
    パターン欠陥のリペア方法およびプラズマディスプレイパネルの製造方法 - 特許庁
  • METHOD FOR INSPECTING DEFECT AND METHOD FOR MANUFACTURING DEVICE USING THE SAME
    欠陥検査方法及びその方法を用いたデバイス製造方法 - 特許庁
  • As a result, generation of a new pixel defect can be suppressed.
    その結果、新たな画素欠陥の発生を抑制することができる。 - 特許庁
  • Namely, evaluation data affected by the defect have large values.
    ディフェクトの影響を受ける評価データは大きな値となるためである。 - 特許庁
  • The chain resistance R in no-defect status can be presumed by an intercept b.
    切片ｂから無欠陥状態のチェーン抵抗が推定できる。 - 特許庁
  • METHOD FOR INSPECTING ADDRESS OF DISPLAY DEFECT IN LIQUID CRYSTAL DISPLAY DEVICE
    液晶表示装置における表示欠陥のアドレス検査方法 - 特許庁
  • METHOD FOR ANALYZING DEFECT, METHOD AND PROGRAM FOR VERIFYING CHIP SORTING DATA
    欠陥解析方法、チップ分類データ検証方法及びプログラム - 特許庁
  • The defect detecting means 2 repeats the defect detection without inspecting the set non-inspected region, so that the inspection sensitivity can be increased.
    そして、欠陥検出手段２は、設定された非検査領域を検査せずに欠陥検出を繰り返すので、検査感度を高められる。 - 特許庁
  • METHOD AND APPARATUS FOR INSPECTING PROJECTED DEFECT AND METHOD AND APPARATUS FOR MAGNETIC TRANSFER
    凸欠陥検査方法と装置、および磁気転写方法と装置 - 特許庁
  • To detect accurately an internal defect of a plastic optical fiber (POF).
    プラスチック光ファイバ（ＰＯＦ）の内部欠陥を精度よく検出する。 - 特許庁
  • To detect a defect in a groove part as a part of a manufacturing process by executing the inspection of the defect in the groove part at the stage of a film.
    溝部の欠陥検査をフィルムの段階で実行することにより、製造工程の一環として上記欠陥の検出を行う。 - 特許庁
  • To provide an inspection method of a display panel by which not only the existence of a display defect but also the cause of the display defect can be specified.
    表示不良の有無だけでなく、その表示不良の原因を特定することができる表示パネルの検査方法を提供する。 - 特許庁
  • The stripe defect detecting filter is composed by arranging, in the direction of detecting a stripe defect, a plurality of base filters comprising a filter for a defect detecting region where a predetermined coefficient is set to the defect detecting region, and a filter for two particular regions where a predetermined coefficient is set to each particular region in an outer periphery of the defect detecting region.
    筋状欠陥検出フィルタは、欠陥検出領域に対して所定の係数が設定された欠陥検出領域用フィルタと、欠陥検出領域の外周部の特定領域に対して所定の係数がそれぞれ設定された２つの特定領域用フィルタとを有するベースフィルタを、筋状欠陥の検出方向に複数並べて構成する。 - 特許庁
  • The optical recording medium has: a lead-in area; a data region; a lead-out area; a temporary defect management region for storing temporary defect information and a temporary disk definition structure for managing the temporary defect information; and a defect management region for storing the final temporary defect information and the final temporary disk definition structure when finalizing the optical recording medium.
    光記録媒体はリードイン領域と、データ領域と、リードアウト領域と、臨時欠陥情報と前記臨時欠陥情報を管理する臨時ディスク定義構造とを格納する臨時欠陥管理領域と、光記録媒体の最終化の時に最終の臨時欠陥情報と最終の臨時ディスク定義構造とを格納する欠陥管理領域とを有する。 - 特許庁
  • To provide a metal defect detection method capable of highlighting defect through etching treatment of the inspection surface of a metal sample, while when detection of the defect is carried out by imaging the inspection surface with an imaging device, brightness of non-defect parts on the imagery of inspection surface is made to be homogenized and brightened, leading clear defection of defect part.
    金属試料の検査面をエッチング処理して欠陥を現出させ、撮像装置によって検査面を撮像することにより欠陥を検出するに際し、検査面撮像画像における非欠陥部の明度を均一かつ明るくすることにより、欠陥部を明瞭に検出することのできる金属の欠陥検出方法を提供する。 - 特許庁
  • The defect inspecting device 21 has an internal defect inspection part 25 for inspecting an internal defect of the blade 1, the first surface defect inspection part 26 for inspecting defects on the first reference plane 3 of the blade 1, and the second surface defect inspection part 27 for inspecting defects on the second reference plane 4 that is orthogonal to the first reference plane 3 of the blade 1.
    そして、欠陥検査装置２１は、ブレード１の内部の欠陥を検査する内部欠陥検査部２５と、ブレード１の第１の基準面３における欠陥を検査する第１の表面欠陥検査部２６と、ブレード１の第１の基準面３に直交する第２の基準面４における欠陥を検査する第２の表面欠陥検査部２７とを有する。 - 特許庁
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