「Defect」を含む例文一覧(18306)

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  • A photographing part 16 photographs a defect of the infrared cut-off filter 10 by the infrared ray transmitted through the infrared cut-off filter 10 due to the defect.
    そして、欠陥によって赤外カットフィルタ１０を透過した赤外光で、撮影部１６は赤外カットフィルタ１０の欠陥を撮影する。 - 特許庁
  • A defect correction circuit 16 corrects a picture signal Y(n) in accordance with the address information of the registered pixel defect and generates a picture signal Y'(n).
    登録された画素欠陥のアドレス情報に応じて欠陥補正回路１６が画像信号Ｙ(n)を補正して、画像信号Ｙ'(n)を生成する。 - 特許庁
  • METHOD OF MANUFACTURING EPITAXIAL WAFER, DEFECT REMOVING METHOD, AND THE EPITAXIAL WAFER
    エピタキシャルウェハの製造方法、欠陥除去方法およびエピタキシャルウェハ - 特許庁
  • The monthly fatal defect density of the reference product is multiplied by a calculated average fatality ratio to calculate the monthly fatal defect density of the yield prediction subject product.
    リファレンス製品の月別致命欠陥密度に平均致命率の比をかけ、予測対象製品の月別致命欠陥密度を算出する。 - 特許庁
  • (i) Where the final appeal is unlawful and such defect cannot be corrected.
    一　上告が不適法でその不備を補正することができないとき。 - 日本法令外国語訳データベースシステム
  • DEFECT CORRECTING METHOD OF PHOTOMASK, METHOD FOR MANUFACTURING PHOTOMASK AND PHOTOMASK
    フォトマスクの欠陥修正方法、フォトマスクの製造方法及びフォトマスク - 特許庁
  • To provide a system, a method and a computer program product for detecting a defect, especially the defect in a mask used for a photolithographic process.
    欠陥検出、特にフォトリソグラフィープロセスに使用されるマスクの欠陥検出のためのシステム、方法およびコンピュータプログラム製品を提供する。 - 特許庁
  • When a defect, matching a criterion exists, the image processing section 24 generates display image data for displaying the defect matching the criterion, by using the image data of the defect, and outputs them to a display section 25.
    条件に合致する欠陥が存在した場合、画像処理部２４は、欠陥の画像データを用いて、条件に合致した欠陥を表示するための表示画像データを生成し、表示部２５へ出力する。 - 特許庁
  • To provide an apparatus and a method for the detection of a defect on a substrate such as a solar cell, in which a defect such as a crack is detected uniformly, in which the kind of the defect is discriminated, and in which the substrate is not heated excessively.
    クラックのような欠陥を均一に検出し、欠陥の種類を識別し、しかも、基板を過度に加熱することのない、太陽電池のような基板の欠陥を検出する装置及び方法を提供すること。 - 特許庁
  • To detect a defect such as a crack generated on a weld bead.
    溶接ビードに発生している亀裂等の欠陥を検出すること。 - 特許庁
  • To provide a stain defect detecting method which prevents misdetection and accurately and automatically detects stain defect which is low in contrast, with high precision, without detecting defects other than the stain flaw, and to provide a stain defect detector.
    誤検出を防ぎ、シミ欠陥以外の欠陥を検出することなく、コントラストの低いシミ欠陥を正確かつ高精度に自動検出するシミ欠陥の検出方法及びその検出装置を提供する。 - 特許庁
  • REPAIRING METHOD AND DEVICE FOR SURFACE DEFECT OF SINGLE CRYSTAL WAFER
    単結晶ウエハーの表面欠陥の修復方法及び修復装置 - 特許庁
  • To provide a defect pixel correcting method for a liquid crystal display, in which defect pixels on the liquid crystal display D can be corrected easily and sufficiently.
    液晶ディスプレイ上の欠陥画素を簡単かつ十分に修正できる液晶ディスプレイの欠陥画素修正方法を提供すること。 - 特許庁
  • To provide a fixing device capable of suppressing image defect.
    画像不良を抑制することができる定着装置を提供すること。 - 特許庁
  • ACTIVE MATRIX TYPE LIQUID CRYSTAL DISPLAY DEVICE AND METHOD FOR CORRECTING PIXEL DEFECT
    アクティブマトリクス型液晶表示装置および画素欠陥修正方法 - 特許庁
  • DETECTION SYSTEM FOR WELDING DEFECT OF ELECTRIC RESISTANCE WELDED STEEL PIPE AND ELECTRIC RESISTANCE WELDED STEEL PIPE
    電縫鋼管の溶接欠陥の検出システム及び電縫鋼管 - 特許庁
  • METHOD FOR DETECTING DEFECT IN MASK, COMPUTER PROGRAM, AND REFERENCE SUBSTRATE
    マスクの欠陥を検出する方法、コンピュータ・プログラム、および参照基板 - 特許庁
  • METHOD AND DEVICE FOR DETERMINING DEFECT INFORMATION DETECTION SENSITIVITY DATA, METHOD FOR MANAGING DEFECT DETECTION DEVICE, AND METHOD AND DEVICE FOR DETECTING DEFECT IN SEMICONDUCTOR DEVICE
    欠陥情報検出感度データの決定方法及び欠陥情報検出感度データの決定装置、欠陥検出装置の管理方法、半導体装置の欠陥検出方法及び半導体装置の欠陥検出装置 - 特許庁
  • DEFECT INSPECTION METHOD AND METHOD OF MANUFACTURING OPTICAL FILM USING IT
    欠点検査方法およびそれを用いた光学フィルムの製造方法 - 特許庁
  • To produce a BH steel sheet capable of inexpensively producing an automotive outer board free from defect in the adhesion of plating, defect in alloying and defect in surface quality caused by linear unevenness and excellent in surface properties and to provide a method for producing the same.
    めっき付着不良、合金化不良、線状むらによる表面品質不良のない表面性状の優れた自動車外板を安定的に製造できるBH鋼板とその製造方法を提供する。 - 特許庁
  • A defect part 13 and a defect part 14 in the inspection object are detected by the binarization threshold value based on the image data obtained by imaging the inspection object.
    検査対象を撮像した画像データから二値化しきい値によって上記検査対象の欠陥部分１３・１４を検出する。 - 特許庁
  • To surely avoid the defect of image quality in a spot state with simple constitution.
    簡単な構成で、斑点状の画質欠陥を確実に回避する。 - 特許庁
  • DEFECT AVOIDING METHOD FOR MAGNETIC RECORDING MEDIUM, AND MAGNETIC RECORDING/PLAYBACK DEVICE
    磁気記録媒体の欠陥回避方法および磁気記録再生装置 - 特許庁
  • The other embodiment relates to the method and the system for detecting the defect of the elevator rope having a conductive tensile member, that is, for measuring the defect, and shows the defect by suing the measured value of the electric resistance of the tensile member.
    本発明の他の形態は、導電性引張部材を備えたエレベータロープの欠陥を検出つまり測定するための方法およびシステムに関し、引張部材の電気抵抗の測定値によって、欠陥を示す。 - 特許庁
  • DEVICE WITH BIOLOGICAL TISSUE SCAFFOLD FOR INTRACARDIAC DEFECT OCCLUSION
    心臓内欠損閉塞のための生物学的組織足場を有するデバイス - 特許庁
  • ACTIVE MATRIX TYPE LIQUID CRYSTAL DISPLAY DEVICE AND PIXEL DEFECT CORRECTION METHOD
    アクティブマトリクス型液晶表示装置および画素欠陥修正方法 - 特許庁
  • To provide an inspection method for detecting a wiring disconnection or defect and a connection defect in conduction aging image inspection of a liquid crystal module.
    液晶モジュール通電エージング画像検査において配線断線不具合、接続不具合を検出する構成の検査方法を提供する。 - 特許庁
  • Further, since defect liability does not arise to the seller, the seller has no worry about being forced to bear an economical burden based on the defect liability.
    また、売主には瑕疵担保責任が生じないので、売主は瑕疵担保責任に基づく経済的な負担を強いられる心配がなくなる。 - 特許庁
  • TAB LEAD CONTINUOUS BODY AND DEFECT LOCATION DISPLAY METHOD FOR THE SAME
    タブリード連続体及びタブリード連続体の不良箇所表示方法 - 特許庁
  • TOOL AND METHOD FOR DETERMINING FILE DEFECT OF DISPLAY PANEL
    表示パネルの微小欠陥判定治具および微小欠陥判定方法 - 特許庁
  • To provide a cutter defect detecting method capable of surely detecting a defect of a cutter in a short time, while rotating the cutter without stopping it when detecting the defect of the cutter of an NC machine tool.
    ＮＣ工作機械の刃物欠損を検出する場合において、刃物を停止することなく回転させながら、刃物の欠損を短時間にかつ確実に検出することができる刃物欠損検出方法を提供する。 - 特許庁
  • To quickly detect the defect of woven fabric on a loom in high accuracy.
    織機上の織布の欠点を迅速かつ高い確度で検出する。 - 特許庁
  • Meanwhile, the output data of a defect are generated by using fundamental defect data 114, the material constant data 113 and the device parameter 115 (123A).
    一方、基本欠陥データ１１４、材料定数データ１１３、装置パラメータデータ１１５を用いて欠陥の出力データを作成する（１２３Ａ）。 - 特許庁
  • METHOD AND DEVICE FOR SEARCHING DEFECT OF MOUNTING SUBSTRATE
    実装基板の不良探索方法及び実装基板の不良探索装置 - 特許庁
  • To prevent an image defect by optimizing the posture of paper entering a transfer nip.
    転写ニップへ入る紙の姿勢を適正にして、画像不良を防止。 - 特許庁
  • INFRARED DEFECT DETECTING SYSTEM AND METHOD THEREFOR THROUGH WIDE BAND SOUNDS
    広帯域音響を介する赤外線欠陥検出方法および装置 - 特許庁
  • To provide a method for detecting the surface defect of a slab for precisely detecting the surface defect such as a blow-hole produced in the slab.
    スラブに発生したブローホールや割れ等の表面欠陥を精度よく検出することのできるスラブ表面欠陥検出方法を提供する。 - 特許庁
  • DEFECT PROBING METHOD FOR CONCRETE DUE TO STRIKE BASED ON ATTENUATION OF ENERGY
    エネルギーの減衰に基づいた打撃によるコンクリートの欠陥探査方法 - 特許庁
  • A color determination part determines that a cause of the defect is a monochromic color when the color component specified by the defect cause color specifying part is the K color, and determines that the cause of the defect is a color mixture when the color component is the CMYK color.
    そして、色判別部が、欠陥原因色特定部で特定された色成分が、Ｋ色の場合は欠陥の原因は単色であり、ＣＭＹＫ色の場合は、欠陥の原因は混色であると判別する。 - 特許庁
  • The defect removing equipment 20 stops running of the printed matter 10 at a position where the position of detection of the defect and the position indicated by the mark 13 coincide with each other, and performs cutting and pasting of an area of removal including the defect.
    欠陥除去装置２０は、欠陥検出位置とマーク１３が示す位置とが一致する位置で印刷物１０の走行を停止させ、欠陥を含む除去領域の切断及び貼り合わせを行う。 - 特許庁
  • To provide a die which can achieve the reduction in the defect of casting.
    鋳造不良の低減を図ることができる金型を提供する。 - 特許庁
  • To provide a device and method for defect inspection for simply and rapidly extracting an object defect to be observed.
    観察すべき検査対象欠陥を簡単、かつ、迅速に抽出することができる欠陥検査装置及び欠陥検査方法を提供すること。 - 特許庁
  • COLORED COMPOSITION AND COLORED PATTERN DEFECT CORRECTION METHOD
    着色組成物およびこれを用いた着色パターン欠陥修正方法 - 特許庁
  • DEFECT INSPECTING DEVICE AND METHOD, AND MANUFACTURING METHOD OF PLATE-LIKE BODY
    欠陥検査装置、欠陥検査方法及び板状体の製造方法 - 特許庁
  • METHOD AND APPARATUS FOR CORRECTING LUMINESCENT SPOT DEFECT OF LIQUID CRYSTAL DISPLAY DEVICE
    液晶ディスプレイ装置の輝点欠陥修正方法およびその装置 - 特許庁
  • DEFECT DETECTING AND CORRECTING DEVICE FOR SOLID-STATE IMAGE PICKUP ELEMENT AND IMAGE PICKUP DEVICE
    固体撮像素子の欠陥検出補正装置および撮像装置 - 特許庁
  • METHOD AND APPARATUS FOR EVALUATING DEFECT OF TUBULAR OBJECT
    管状体の欠陥評価方法及び管状体の欠陥評価装置 - 特許庁
  • DEVICE AND METHOD FOR INSPECTING DEFECT IN COATING FILM INSIDE PIPE
    管内被膜欠陥検査装置および管内被膜欠陥検査方法 - 特許庁
  • To easily manufacture a specimen with a defect for a nondestructive inspection, which has a crack-shape internal defect, without a special bonding device required.
    特殊な接合装置を必要とすることなく、簡単に亀裂状の内部欠陥を有する非破壊検査用有欠陥試験体を製作する。 - 特許庁
  • To efficiently perform highly accurate defect inspection for an inspecting substrate.
    被検査基板に対し精度の高い欠陥検査を効率よく行なう。 - 特許庁
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