「Defect」を含む例文一覧(18306)
＜前へ 1 2 .... 62 63 64 65 66 67 68 69 70 .... 366 367 次へ＞- To provide a method and a device for defect detection which inspect a defect of the outward appearance of an object to be inspected through image processing.
画像処理により検査対象物の外観の欠陥を検査する欠陥検出方法及び欠陥検出装置を提供するにある。 - 特許庁 - To inspect whether or not a defect such as disconnection is caused in a speaker line.
スピーカラインに断線等の異常が生じていないかを検査する。 - 特許庁 - METHOD AND APPARATUS FOR CORRECTING DEFECT OF COLOR FILTER
カラーフィルタの欠陥修正方法およびカラーフィルタの欠陥修正用装置 - 特許庁 - DESIGN METHOD AND PRODUCTION METHOD OF INK FOR CORRECTING DEFECT OF COLOR FILTER
カラーフィルタの欠陥修正用インキの設計方法および製造方法 - 特許庁 - To obtain a defect analyzing method by which defective modes can be classified highly accurately.
不良モードを高精度に分類できる不良解析方法を得る。 - 特許庁 - COLOR-CALIBRATING APPARATUS OF IMAGE DATA, AND COLOR DEFECT AUTOMATIC DETECTION APPARATUS
画像データの色彩較正装置および色彩欠陥自動検出装置 - 特許庁 - In order to produce a defect sorter 120 which fulfills the sorting request from the user, first of all, the defect sorter is represented by using a determination tree for hierarchically sorting defect sorting classes with a plurality of branch elements.
ユーザの分類要求を満足する欠陥分類器１２０を生成するために、まず欠陥分類器を複数の分岐要素によって階層的に欠陥分類クラスを分類する決定ツリーを用いて表現する。 - 特許庁 - To provide a defect detection device and its method capable of detecting a linear defect on a test object with high accuracy.
検査対象物上の線状欠陥を高精度に検出することができる欠陥検出装置および欠陥検出方法を提供する。 - 特許庁 - METHOD AND SYSTEM FOR DETECTING DEFECT OF RECORDABLE STORAGE MEDIUM
記録可能な記憶媒体の欠陥を検出する方法並びにシステム - 特許庁 - PRINTING DEFECT DETECTION METHOD, DETECTOR AND PRINTING MACHINE CONTROL PROCESS
印刷不良検知方法及び検知装置並びに印刷機制御方法 - 特許庁 - To provide an image processing apparatus that reduces image quality defect due to image formation, and reduces image quality defect due to screen processing.
画像形成に起因する画質欠陥を軽減するとともにスクリーン処理に起因する画質欠陥を軽減する画像処理装置を提供する。 - 特許庁 - SEALING COMPLEMENT METHOD, METAL MEMBER REPAIR METHOD, AND METAL DEFECT REPAIR DEVICE
封止補完方法、金属部材補修方法、金属欠陥補修装置 - 特許庁 - DISK MEMORY DEVICE, DEFECT DETERMINATION METHOD FOR DISK MEMORY DEVICE, AND RECORDING MEDIUM
ディスクメモリ装置、ディスクメモリ装置不良判定方法、及び記録媒体 - 特許庁 - From the image after the combination, an outstanding defect can be eliminated.
合成後の画像から、その存在が目立つキズを無くすことができる。 - 特許庁 - METHOD AND APPARATUS FOR INSPECTING DEFECT IN PATTERN ON OBJECT TO BE INSPECTED
被検査対象物上のパターンの欠陥検査方法及びその装置 - 特許庁 - To provide an inspection method of a pattern defect capable of stably detecting a target defect in various processes by reducing the misdetection of grain or morphology or the effect of interference light intensity irregularity, and an inspection device of the pattern defect.
グレインやモホロジーの誤検出や干渉光強度ムラの影響を低減して、様々なプロセスにおけるターゲット欠陥を安定に検出できるパターン欠陥検出方法及びその装置を提供すること。 - 特許庁 - The laminate process control part specifies a carrying position of the defect portion of the film 3 based on the carrying position and the defect portion information of the film 3.
ラミネート工程制御部は、フイルム３の搬送位置と欠点部位情報とに基づいてフイルム３の欠点部位の搬送位置を特定する。 - 特許庁 - To obtain a method and an apparatus for examining defect capable of detecting a defect in high sensitivity even when a surface to be examined is in a non-mirror state.
検査面が非鏡面状の場合であっても、欠陥を高感度に検出し得る欠陥検査方法及び欠陥検査装置を得る。 - 特許庁 - To prevent a transfer nip defect, a pre-transfer phenomenon, and a transfer defect by optimizing the value of a guide pressurizing means of a before-transfer guide.
転写前ガイドのガイド加圧手段の値を最適化することにより、転写ニップ不良、プリ転写現象及び転写不良を防止すること。 - 特許庁 - A size of an object included in the read defect correction method and a correction execution sequence are optimized for the defect correction device.
次に、読み出した欠陥修正手法に含まれるオブジェクトのサイズと修正実行順を当該欠陥修正装置に対して最適化する。 - 特許庁 - DEFECT INSPECTING METHOD AND DEFECT INSPECTING DEVICE FOR ELECTROLUMINESCENCE DISPLAY DEVICE, AND MANUFACTURING METHOD OF ELECTROLUMINESCENCE DISPLAY DEVICE USING THEM
エレクトロルミネッセンス表示装置の欠陥検査方法及び欠陥検査装置及びこれらを利用したエレクトロルミネッセンス表示装置の製造方法 - 特許庁 - A step to optically detect the defect aggregate consists of a step wherein the defect aggregate of the fluoride crystal is irradiated with a light and a step to detect light being scattered by the defect aggregate.
前記欠陥集合体を光学的に検出する工程が、光をフッ化物結晶の欠陥集合体に照射する工程と、前記欠陥集合体により散乱された光を検出する工程である。 - 特許庁 - To provide a repairing method for performing the consistent defect repair by friction stirring to a welded part having any defect caused during friction stir welding.
摩擦攪拌接合の際に欠陥が生じた接合部に対して摩擦攪拌により安定した欠陥補修を行う補修方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a battery defect detection circuit, capable of improving accuracy of detecting defect of a secondary battery, and to provide a power supply device using the same.
二次電池の異常検出の精度を向上することができる電池異常検出回路、及びこれを用いた電源装置を提供する。 - 特許庁 - METHOD OF MANUFACTURING NON-ORIENTED MAGNETIC STEEL SHEET FOR REDUCING OCCURRENCE OF SEAM DEFECT
シーム疵の発生の少ない無方向性電磁鋼板の製造方法 - 特許庁 - To prevent an image defect caused from shading-compensated image data.
シェーディング補正後の画像データから発生する画像不良を防止する。 - 特許庁 - DEFECT-DETECTING METHOD AND DEVICE FOR FEELING VALVE FOR LIQUID-FILLING MACHINE
液体充填機用のフィーリングバルブの不良検出方法及び装置 - 特許庁 - To provide a system for concurrent inkjet printing and defect inspection.
同時型インクジェット印刷及び欠陥検査ためのシステムを提供する。 - 特許庁 - DEFECT INSPECTING METHOD AND DEVICE MANUFACTURING METHOD USING THE SAME
欠陥検査方法及びその検査方法を用いたデバイス製造方法 - 特許庁 - CLUSTER FORMING DEVICE, DEFECT CLASSIFYING DEVICE, CLUSTER FORMING METHOD AND PROGRAM
クラスタ生成装置、欠陥分類装置、クラスタ生成方法およびプログラム - 特許庁 - To correct inner and/or external defect in an image capture process.
画像取込みプロセスの内部および／または外部欠陥を補正すること。 - 特許庁 - DEVICE AND METHOD FOR DEFECT CORRECTION, AND PATTERN SUBSTRATE MANUFACTURING METHOD
欠陥修正装置、欠陥修正方法、及びパターン基板製造方法 - 特許庁 - METHOD FOR DETECTING ULTRASONIC PLATE WAVE AND METHOD FOR DETECTING DEFECT IN PIPING
超音波板波の検出方法及び配管の欠陥検出方法 - 特許庁 - To provide a nitride semiconductor device by which a crystal defect is reduced.
結晶欠陥が低減された窒化物半導体装置を提供する。 - 特許庁 - On the basis of defect information 400, the multiplication calculation part 482 calculates display magnification α1 (display magnification data 403) of a defect region.
欠陥情報４００に基づいて、倍率演算部４８２が欠陥領域の表示倍率α１（表示倍率データ４０３）を演算する。 - 特許庁 - For example, in a main defect list of a defect management region of the optical disk, a group of consecutive region numbers is recorded using (N, L) format.
例えば、光ディスクの欠陥管理領域の主欠陥リストには、連続する領域番号のグループが（Ｎ，Ｌ）フォーマットを用いて記録される。 - 特許庁 - COATING METHOD OF METAL MATERIAL HAVING SURFACE DEFECT AND COATED PRODUCT
表面欠陥を有する金属材料の塗装方法および塗装物 - 特許庁 - To provide a liquid crystal panel in which defect/nondefect of a transfer is simply and reliably inspected, and a method and a device for inspecting the defect/nondefect of the transfer.
トランスファーの良否を簡単且つ確実に検査することができる液晶パネル並びその検査方法及び検査装置を提供する。 - 特許庁 - To facilitate comparison and monitoring of information on an identical defect.
同一の欠陥についての情報を容易に比較・監視するできること - 特許庁 - To restrain a defect of paper in a paper bundle made by gathering.
丁合して作成した用紙束における用紙の欠落を抑制する。 - 特許庁 - that interpretation is an unfortunate defect of our lack of information
その解釈は私たちに情報が欠けているという不幸な欠点だ - 日本語WordNet - Then, the defect of the inspection object 1 is classified by using a database which is different corresponding to the domain to which the detected defect belongs.
そして、検出された欠陥が属する領域に応じて、異なるデータベースを使用して検査対象物１の欠陥の分類を行なう。 - 特許庁 - To provide an imaging system with high performance not to virtually generate degradation of image quality due to a defect by performing effective defect compensation.
効果的な欠陥補償を行なうことで、欠陥による画質劣化を事実上生じない高性能な撮像装置を提供すること。 - 特許庁 - METHOD FOR MAKING CRYSTAL DEFECT OBVIOUS, AND MANUFACTURING METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE FOR EVALUATION, METHOD FOR EVALUATING CRYSTAL DEFECT, AND SEMICONDUCTOR DEVICE FOR EVALUATION
結晶欠陥の顕在化方法、評価用半導体装置の製造方法、結晶欠陥の評価方法及び、評価用半導体装置 - 特許庁 - Based on the corrected inspection data, a defect on the reticle is detected.
補正後の検査データに基づいて、レチクル上の欠陥を検出する。 - 特許庁 - The defect correction processing portion 42b set corresponding to the color processing portion 40 sets the correction level at a high level and eliminates the pixel defect properly.
色処理部４０に対応して設けられた欠陥補正処理部４２ｂは、補正レベルを高く設定され、画素欠陥を好適に除去する。 - 特許庁 - METHOD EOR CORRECTING BLACK DEFECT OF MASK BY APPLYING ELECTROCHEMICAL TECHNIQUE TO AFM
ＡＦＭに電気化学的手法を適用したマスク黒欠陥修正 - 特許庁 - An operator designates local defective areas within a sample image, subsequently performs defect candidate detection with the area threshold as a minimum value (S2), and classifies the defect candidates into overlooked defects, noise defects and designated defect candidates (S3).
オペレータがサンプル画像内の局所的な欠陥領域を指定した後、面積しきい値を最小値として欠陥候補検出を行って（Ｓ２）、見逃し欠陥、ノイズ欠陥、指定欠陥候補に分類する（Ｓ３）。 - 特許庁 - PHOTOMASK PATTERN DEFECT INSPECTING METHOD AND DETECTING METHOD FOR FINE FIGURE PATTERN
フォトマスクパタン欠陥検査方法および微細図形パタンの検出方法 - 特許庁 - INK JET HEAD, INK JET RECORDER AND DEFECT DETECTING DEVICE
インクジェットヘッド及びインクジェット式記録装置並びに不良検出装置 - 特許庁
