「Defect」を含む例文一覧(18306)

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  • The defect is inspected by the FPD coordinates, and the FPD coordinate position detected as a point defect is output to another device and a monitor (S6).
    このＦＰＤ座標で欠陥検査を行い、点欠陥として検出されたＦＰＤ座標位置を他の装置やモニタに出力する（Ｓ６）。 - 特許庁
  • A camera signal processing circuit 200 has a defect detection circuit 211 for discriminating defect levels of defective pixels by setting a detection level.
    カメラ信号処理回路２００は、検出レベルの設定によって欠陥画素の欠陥レベルを判定する欠陥検出回路２１１を有する。 - 特許庁
  • To provide a defect inspection apparatus and a defect inspection method which can surely detect defects in an edge of a semiconductor wafer substrate.
    半導体ウェハ基板のエッジ部の欠陥を確実に検出することができる欠陥検査装置及び欠陥検査方法を提供すること。 - 特許庁
  • To prevent overetching in glass caused when a black defect in a chromium mask is corrected by a photomask defect correcting device using a charged particle beam.
    荷電粒子ビームフォトマスク欠陥修正装置のクロムマスクの黒欠陥修正時に発生するガラスのオーバーエッチの問題点を克服する。 - 特許庁
  • To provide a disk drive device capable of effectively reducing the data amount of a defect map, a method for registering the defect map, etc.
    ディフェクトマップのデータ量を有効に削減することのできるディスクドライブ装置、ディフェクトマップの登録方法等を提供することを目的とする。 - 特許庁
  • To provide a continuous casting method for molten steel capable of performing stable operation by preventing the defect due to hydrogen in the molten steel and heat extraction defect.
    溶鋼中の水素による欠陥及び抜熱不良を防止し、安定した操業ができる溶鋼の連続鋳造方法を提供する。 - 特許庁
  • PRISM ARRAY IMPROVED FOR ELECTRON BEAM INSPECTION AND SCRUTINY OF DEFECT
    電子ビーム検査および欠陥の精査のための改善されたプリズムアレイ - 特許庁
  • DEFECT ANALYZER FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, SYSTEM, AND DETECTION METHOD
    半導体集積回路の不良解析装置、システムおよび検出方法 - 特許庁
  • To provide a simple defect inspection device and a defect inspection method for performing defect inspection on a substrate by using diffraction beams generated from a repetitive pattern of further fine intervals without shortening the wavelengths of illumination beams.
    照明光の波長を短くしなくても、さらに微細なピッチの繰り返しパターンから発生する回折光を利用して、基板の欠陥検査を行える簡易な欠陥検査装置および欠陥検査方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide a device and a method for mask correction which can quantitatively measure the shape of a defect formed on a photomask and correct the defect according to the defect shape.
    本発明は、フォトマスクに形成された欠陥の形状を定量的に測定し、該欠陥形状に基づいて欠陥を修正することができるマスク修正装置及びマスク修正方法を提供することを目的とする。 - 特許庁
  • The second defect pixel binary data are partially displayed on a coloring monitor.
    第２不良画素二値データは一部着色モニター上に表示される。 - 特許庁
  • Otherwise the correction method permits that the black defect is dyed with a dyestuff that absorbs the laser beam wavelengths of the laser correction system, the laser beam of the laser correction system is applied to the dyed black defect 10' and thereby the black defect is corrected.
    １）レーザ修正装置のレーザ光の波長を吸収する染料で黒欠陥を染色し、２）染色した黒欠陥１０’にレーザ修正装置のレーザ光を照射し、黒欠陥を修正すること。 - 特許庁
  • The selector 15 selects a pixel value to be allotted to the pixel of interest for the purpose of correcting the defect, on the basis of the result of determination by the defect determination circuit 14.
    セレクタ１５は、キズ判定回路１４による判定結果に応じて、キズ補正のために注目画素に割り当てる画素値を選択する。 - 特許庁
  • Thus, the plurality of residual defect signals are utilized, to identify the defects of interest in the copy of the standard and to report defects contained in one or more defect signals in the residual defect signals.
    こうして、複数の残りの欠陥信号を利用して、標準のコピーの中の関心の欠陥を識別すし、また当該残りの欠陥信号のうちの１つ又はそれより多い欠陥信号に含まれる欠陥を報告する。 - 特許庁
  • To provide a digital broadcast receiver that can more accurately and quickly analyze causes of a defect such as a mechanism for causing the defect.
    より正確かつ迅速に不具合発生のメカニズム等、不具合の原因を解析することができるデジタル放送受信装置を提供する。 - 特許庁
  • The void 35 is related to the high-defect area 15e of the gallium nitride substrate 15, and each high-defect area 17e in the gallium nitride film 17 is related to one of high-defect areas 15e of the gallium nitride substrate 15.
    ボイド３５は、窒化ガリウム基板１５の高欠陥エリア１５ｅに関連づけられており、窒化ガリウム膜１７の各高欠陥エリア１７ｅは窒化ガリウム基板１５の高欠陥エリア１５ｅの一つに関連づけられている。 - 特許庁
  • SILICON SINGLE CRYSTAL WAFER HAVING LOW CRYSTAL DEFECT DENSITY AND ITS PRODUCTION
    結晶欠陥の少ないシリコン単結晶ウエーハ及びその製造方法 - 特許庁
  • In this case, the electrolyte membrane 40 without a defect can be formed.
    この場合、欠陥のない電解質膜（４０）を形成することができる。 - 特許庁
  • Accordingly, the occurrence of the defect due to the dew condensation can be prevented.
    従って結露に起因する欠陥の発生を防止することができる。 - 特許庁
  • METHOD AND SYSTEM FOR MINIMIZING LENGTH OF DEFECT LIST OF STORAGE DEVICE
    記憶デバイスの欠陥リストの長さを最小にする方法およびシステム - 特許庁
  • To enhance productivity by detecting a defect generated in the preceding process by inline test and reducing time loss incident to investigation of the cause of defect.
    インライン検査で前行程での不良を検出し、不良原因究明に伴う時間ロスを低減することにより生産性を高める。 - 特許庁
  • IMAGING APPARATUS FOR MICROSCOPE, AND PIXEL DEFECT DETECTING METHOD OF IMAGING APPARATUS
    顕微鏡用撮像装置及び撮像素子の画素欠陥検出方法 - 特許庁
  • To relatively easily manufacture ingot of silicon single crystal having no defect.
    無欠陥のシリコン単結晶のインゴットを比較的容易に製造する。 - 特許庁
  • Then, a disconnection defect is corrected based on the confirmed defect information and the set machining method and machining conditions (step S3).
    引き続き、確認された欠陥情報及び設定された加工方法及び加工条件に基づき断線欠陥を修正する（ステップＳ３）。 - 特許庁
  • Even when an alignment defect is produced on the periphery of the photo spacer 22, the spacer light shielding film 19 makes the defect not be visually identified from the outside.
    フォトスペーサ２２の周辺で配向不良が発生しても、スペーサ遮光膜１９がその不良を外部から視認できないようにする。 - 特許庁
  • According to the patterns A and B of the photomask 10, defect inspection is performed with desired inspection sensitivity to enable necessary and sufficient defect inspection.
    フォトマスク１０の各パターンＡ、Ｂに応じて所望の検査感度で欠陥検査をすることにより必要十分な欠陥検査が可能になる。 - 特許庁
  • MODIFYING METHOD AND DEVICE FOR MICRO HOLE DEFECT, AND CASSETTE FOR MODIFICATION
    微細孔欠陥の修正方法及び装置並びに修正用カセット - 特許庁
  • To provide a defect detection method of turbine generator end ring, capable of effectively detecting defects by discriminating between a defect echo and a pseudo echo.
    欠陥エコーと擬似エコーとを識別し、効果的に欠陥の検出ができるタービン発電機エンドリングの欠陥検出方法を実現する。 - 特許庁
  • EPITAXIAL SILICON WAFER NOT SUBSTANTIALLY HAVING CRYSTAL GROWTH TRANSFER DEFECT
    結晶成長導入欠陥を実質的に有さないエピタキシャルシリコンウエハ - 特許庁
  • This disorder is a kind of structural defect in my case
    この不調は まあ 私の構造的欠陥とでもいうべきものだから - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書
  • I suffered a strokelike attack caused by a birth defect.
    私は 先天異常による 脳卒中のような発作に見舞われました - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書
  • absence of the mammary glands (either through surgery or developmental defect)
    乳腺が欠如していること（外科手術、あるいは発達異常のため） - 日本語WordNet
  • a congenital defect in which the top of the head is depressed (concave instead of convex)
    頭の頂上が窪んだ先天性異常（凸状でなく凹状） - 日本語WordNet
  • a speech defect that involves pronouncing `s' like voiceless `th' and `z' like voiced `th'
    sを無声音のth、zを有声音のthと発音するような言語障害 - 日本語WordNet
  • congenital defect of having one or more extra chromosomes in somatic cells
    体細胞に1つ以上の余分な染色体を持つ先天的欠陥 - 日本語WordNet
  • a birth defect in which the eye cannot distinguish between red and green, called red blindness
    赤色盲という,赤と緑の区別がつかない目の先天異常 - EDR日英対訳辞書
  • product defect compensation paid by a manufacturer
    製造物責任制度という,製造者が負う損害賠償責任の制度 - EDR日英対訳辞書
  • His new theory was promising; however, there was one serious defect.
    彼の新しい理論は有望だったが，深刻な欠陥が一つあった - Eゲイト英和辞典
  • Here's the list of the defects that the FeedParser can find while parsing messages.
    以下は FeedParser がメッセージの解析中に検出する障害 (defect) の一覧です。 - Python
  • Therefore, the presence of a defect and the location can be accurately detected.
    このため、欠陥存在とその存在箇所が正確に検出される。 - 特許庁
  • MEMORY LSI DEFECT ANALYZING DEVICE, SYSTEM, METHOD AND RECORDING MEDIUM
    メモリＬＳＩ不良解析装置及びシステム、方法並びに記録媒体 - 特許庁
  • To correct a short circuit defect between an upper electrode and a lower electrode due to a pinhole defect in an auxiliary capacitor part while the state of an active matrix substrate is present.
    補助容量部のピンホール欠陥による上部電極と下部電極との短絡欠陥をアクティブマトリクス基板の状態で修正する。 - 特許庁
  • METHOD OF DETERMINING KIND OF DEFECT BY INFRARED METHOD IN CONCRETE CHECK SYSTEM
    コンクリート点検システムの赤外線法による欠陥種類判定方法 - 特許庁
  • METHOD OF MANUFACTURING LAMINATED FILM, METHOD OF DETECTING DEFECT IN LAMINATED FILM, DETECTOR FOR DETECTING DEFECT OF LAMINATED FILM, LAMINATED FILM, AND IMAGE DISPLAY
    積層フィルムの製造方法、積層フィルムの欠陥検出方法、積層フィルムの欠陥検出装置、積層フィルム、及び画像表示装置 - 特許庁
  • METHOD FOR CORRECTING FINE PATTERN DEFECT OF FLAT SURFACE SUBSTRATE AND CORRECTING DEVICE
    平面基板の微細パターン欠陥修正方法および修正装置 - 特許庁
  • The defect detecting device generates a reduced image formed by reducing an image in the stored first direction at an image reduction ratio according to the stored size of the defect.
    記憶された欠陥のサイズに応じた画像縮小率で、記憶された第一の方向へ縮小した縮小画像を生成する。 - 特許庁
  • Furthermore, the defect detection device 100 has a defect determining portion 65 for detecting a defect (for example, a resin peeling portion 9) on a boundary surface 12 between the layers of the semiconductor device 11.
    欠陥検出装置１００は、更に、撮像部による撮像結果に基づいて、少なくとも、半導体装置１１の層間の界面１２における欠陥（例えば、樹脂剥離部９）を検出する欠陥判定部６５を有する。 - 特許庁
  • To provide a color filter substrate for a liquid crystal display device that can suppress a gravity defect and a touch defect and to provide a method for fabricating the same.
    重力不良とタッチ不良を抑制することができる液晶表示装置用カラーフィルター基板及びその製造方法を提供する。 - 特許庁
  • What can I do if my new residential home has a construction defect?
    私の新築住宅に建築上の瑕疵があれば、何ができますか。 - 旅行・ビジネス英会話翻訳例文
  • METHOD AND APPARATUS FOR DETECTING MEMBRANE DEFECT, AND FILTERING DEVICE
    膜欠陥検出方法および膜欠陥検出装置、並びに、濾過装置 - 特許庁
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