「Defect」を含む例文一覧(18306)
＜前へ 1 2 .... 65 66 67 68 69 70 71 72 73 .... 366 367 次へ＞- Since a brightness value of a defect part can be emphasized by the color information deviation, the defect part can be detected accurately based on a corrected brightness value.
色情報偏差によって欠陥部分の輝度値を強調できるので、補正後の輝度値に基づいて欠陥部分を精度良く検出できる。 - 特許庁 - Since the peak value of the variation of the photodetection position correlates with the height of the defect, the height of the defect is detected according to the variation of the photodetection position.
受光位置の変動のピーク値は欠陥の高さと相関を有することから、受光位置の変化に基づいて欠陥の高さを検出している。 - 特許庁 - DEVICE, SYSTEM, AND METHOD FOR INSPECTING IMAGE DEFECT
画像欠陥検査装置、画像欠陥検査システム及び画像欠陥検査方法 - 特許庁 - The pattern defect of the absorbing film 4 is corrected, and then, the line width of the absorbing film 4 of a portion adjacent in a horizontal direction of the pattern defect is made narrow.
吸収膜４のパターン欠陥を修正した後、パターン欠陥の水平方向隣にある部分の吸収膜４のパターンの線幅を狭くする。 - 特許庁 - To provide a grid having no defect such as void, etc. in an X-ray absorption part.
Ｘ線吸収部内にボイド等の欠陥が無いグリッドを提供する。 - 特許庁 - A medium defect list conversion part 22 subtracts an offset value from a physical address specified by an offset value on a medium defect list and transfers the subtracted value to a retrieval part 21.
媒体欠陥リスト変換部１２は、オフセット値で指定された、媒体欠陥リスト上の物理アドレスからオフセット値を減算し、検索部２１に値を渡す。 - 特許庁 - Even if a micro defect is formed in the film part 14c, this constitution can stop the progress of crack developed with the defect set as an origin at the rib group 15.
これにより、膜部１４ｃに微小な欠陥が生じても、その欠陥を起点として発生する亀裂の進行をリブ群１５で止めることができる。 - 特許庁 - To provide an ultrasonic flaw detection testing technique capable of evaluating a shape of a defect, even when a direction of the defect existing in a testing object 4 is unknown.
試験体４に存在する欠陥の向きが不明である場合にも、欠陥の形状を評価することができる超音波探傷試験技術を提供する。 - 特許庁 - To provide an apparatus and a method for correcting a defect, by which pixels covered by a large defect are accurately repaired with laser, and further to provide a method for manufacturing a pattern substrate.
大きな欠陥で覆われた画素を正確にレーザーリペアできる欠陥修正装置、欠陥修正方法、及びパターン基板の製造方法を得ること。 - 特許庁 - By recognizing an image of each layer of the pattern, when detecting a defect in a following process, a layer wherein a detected defect exists can be specified.
パターンの各層の像を認識することで、その後に行われる欠陥の検出の際に、検出された欠陥が存在する層の特定が可能になる。 - 特許庁 - DEFECT PROCESSING METHOD OF MAGNETIC DISK DRIVE, RECORDING MEDIUM AND MAGNETIC DISK DRIVE
磁気ディスク装置のディフェクト処理方法，記録媒体及び磁気ディスク装置 - 特許庁 - The determination result is transferred to a monitor 13, and both the micro defect and the macro defect are displayed as the inspection result, and preserved in a data preservation device 14.
この判定結果をモニタ１３に転送し、ミクロ欠陥及びマクロ欠陥共に検査結果として表示すると共に、データ保存装置１４に保存する。 - 特許庁 - To cope with a defect and a deriving problem of a conventional technology.
従来技術の欠点及び導出される問題点に対処すること。 - 特許庁 - To provide an inspection device which can stably inspect a dross defect of a molten metal plating steel plate by being separated from formation noise and a slight defect.
溶融金属メッキ鋼板のドロス欠陥を地合ノイズや軽度の欠陥と分離して、安定して検査することができる検査装置を提供する。 - 特許庁 - DEFECT INSPECTION METHOD AND APPARATUS THEREFOR, AND PRETREATMENT METHOD FOR EXPOSURE MASK
欠陥検査方法及びその装置、並びに露光用マスクの前処理方法 - 特許庁 - REPORT FORMAT SETTING METHOD, REPORT FORMAT SETTING DEVICE, AND DEFECT REVIEW SYSTEM
レポートフォーマット設定方法、レポートフォーマット設定装置、及び欠陥レビューシステム - 特許庁 - METHOD FOR MEASURING CRYSTAL DEFECT IN THIN Si/SiGe DOUBLE LAYER
薄いＳｉ／ＳｉＧｅ二重層において結晶欠陥を測定する方法 - 特許庁 - SAMPLE FOR OBSERVING SEMICONDUCTOR WAFER SURFACE CRYSTAL DEFECT AND MANUFACTURING METHOD THEREFOR
半導体ウェーハ表層結晶欠陥観察用試料とその作製方法 - 特許庁 - To collect defect images steadily and at high throughput, in a method of observing defects on multiple samples in a short period of time by using a defect observation device.
欠陥観察装置を用いて短時間に多数の試料上の欠陥を観察する方法において、高スループットで、かつ安定に欠陥画像を収集する。 - 特許庁 - The defect of the candidate is provided to a user with a recommended repairing procedure.
該候補の欠陥は、推奨の修理手続きと共にユーザに提供される。 - 特許庁 - A feature amount that indicates a feature of each defect belonging to the closed region is calculated for each of the closed regions Di on the basis of the defect information (S303).
その欠陥情報に基づいて、各閉領域Ｄｉ毎に、その閉領域に属する欠陥の特徴を表す特徴量を算出する（Ｓ３０３）。 - 特許庁 - PIXEL DEFECT CORRECTION DEVICE AND METHOD FOR CCD IMAGE PICKUP DEVICE
ＣＣＤ撮像素子の画素欠陥補正装置及び画素欠陥補正方法 - 特許庁 - To manufacture a film of high quality having no surface defect with good productivity.
表面欠点のない、高品質なフィルムを生産性良く製造すること。 - 特許庁 - To provide bone prosthesis filling equipment which can produce an animal model with a bone defect having a stable quality by using a single tool without requiring the skill for producing the animal model with the bone defect.
骨欠損動物モデルの作成に熟練を要することなく、単一の工具で安定した品質の骨欠損動物モデルを作成する。 - 特許庁 - To appropriately provide defect information without lowering performance of an entire system even if an incidence of defect increases.
欠陥の発生頻度が高くなったとしてもシステム全体のパフォーマンスを低下させることなく、適切に欠陥情報を提供することができるようにする - 特許庁 - A defect image comprising defect factors included in the respective clusters is extracted to calculate characteristic values, classifying defects corresponding to the respective clusters.
そして、各クラスタに含まれる欠陥要素を包含する欠陥画像が抽出されて特徴量が算出され、各クラスタに対応する欠陥が分類される。 - 特許庁 - The internal defect detecting apparatus continuously inspects an internal defect of a continuously fed steel strip 1 with its ultrasonic detector.
鋼帯１を連続して搬送しながら、該鋼帯１の内部欠陥を超音波探傷装置で連続的に検査する内部欠陥検出装置である。 - 特許庁 - DEFECT PIXEL CORRECTION METHOD AND DETECT PIXEL CORRECTING DEVICE FOR LIQUID CRYSTAL DISPLAY
液晶ディスプレイの欠陥画素修正方法及び欠陥画素修正装置 - 特許庁 - To provide a memory-device testing apparatus by which a fail signal is transferred at high speed to a memory defect relief analysis part from a defect analysis memory part.
不良解析メモリ部１００からメモリ不良救済解析部２００に、フェイル信号を高速で転送するメモリデバイス試験装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a method for inspecting a defect in a substrate and to provide an inspection apparatus for rapidly measuring a defect in a noncontact state with high accuracy.
非接触状態で精度よくかつ高速に欠陥を測定することができる基板の欠陥検査方法および検査装置を提供することにある。 - 特許庁 - SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE AND METHOD FOR RELIEVING DEFECT OF SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE
半導体記憶装置及び半導体記憶装置の欠陥救済方法 - 特許庁 - PIXEL DEFECT CORRECTION METHOD AND DEVICE OF IMAGING ELEMENT
撮像素子の画素欠陥補正方法及び撮像素子の画素欠陥補正装置 - 特許庁 - To provide a defect inspection device capable of non-destructively and high-accurately inspecting a defect of a transparent substrate without using an expensive evaluation equipment or a microscope.
高価な評価機器や顕微鏡を用いることなく、非破壊にて精度高く透明基板の欠陥を検査することができる欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a circuit board and a system for processing a defect in a circuit board.
本発明は回路基板及び回路基板の不良処理システムに関する。 - 特許庁 - Based on representative values of product manufacturing data and inspection data collected for each product, a calculation device 16 analyzes the defect factor of a produced defect.
演算装置１６は、製品の生産データと検査データを製品毎に集計した代表値を元に不良発生の不良要因の分析を行う。 - 特許庁 - Using these parameters, a waveform record file is generated to keep a deviation crest factor emulation defect selectively positioned in the defect serial data pattern.
これらパラメータを用いて波形記録ファイルを発生し、偏差クレスト・ファクタ・エミュレーション欠陥が欠陥シリアル・データ・パターン内に選択的に位置決めされる。 - 特許庁 - To inexpensively provide a defect detection device having performance equivalent to conventional performance.
従来と同等の性能を持つ欠損検出素子を安価に提供する。 - 特許庁 - METHOD FOR CORRECTING DEFECT IN COLOR FILTER FORMING SUBSTRATE AND COLOR FILTER FORMING SUBSTRATE
カラーフィルタ形成基板の欠陥修正方法およびカラーフィルタ形成基板 - 特許庁 - The 2nd defect judging means C4 judges the presence of defect based on electric signal information transmitted from a CCD 42 which is a two-dimensional sensor.
第２の欠点有無判定手段Ｃ４は、二次元センサであるＣＣＤ４２から得られる電気信号情報に基づいて欠点有無の判定を行なう。 - 特許庁 - To provide a display panel module permitting to detect a defect with high accuracy.
欠陥を高精度に検出できる表示パネルモジュールを提供すること。 - 特許庁 - In the zone texture region, a region without the bump is treated as a defect, thus inverting the reception signal for generating a defect signal.
ゾーンテクスチャ領域においては、「バンプ」の存在しない領域を欠陥として処理するために、前記受光信号を反転して欠陥信号を生成する。 - 特許庁 - To provide a defect correction device and a defect correction method capable of reliably correcting defects, and also to provide a method for manufacturing patterned substrate by using the method.
確実に欠陥を修正することができる欠陥修正装置、欠陥修正方法及びそれを用いたパターン基板の製造方法を提供する。 - 特許庁 - To reproduce correctly recorded signals even when a defect is generated on an optical disk.
欠陥が生じても記録した信号を正しく再生できるものとする。 - 特許庁 - MAGNETIC FIELD VISUALIZING APPARATUS, INSPECTING APPARATUS, VISUALIZING METHOD AND DEFECT DETECTING METHOD
磁界の可視化装置、検査装置、可視化方法および欠陥の検出方法 - 特許庁 - A controller obtains a position of the defect 312 on the fixing web 210.
コントローラは、定着ウェブ２１０上の欠陥３１２の位置を獲得する。 - 特許庁 - METHOD AND APPARATUS FOR DETECTING DEFECT OF SEMICONDUCTOR SUBSTRATE
半導体基板欠陥検出方法及び半導体基板欠陥検出装置 - 特許庁 - To provide a defect inspecting device having exact defect detection sensitivity even for a phase shift mask such as a halftone mask and a Levenson mask.
ハーフトーンマスクやレベンソンマスク等の位相シフトマスクについても、正確な欠陥検出感度を備えた欠陥検査装置を提供することを目的とする。 - 特許庁 - To provide a method of selecting a suitable process liquid that allows suppression of occurrence of a potential mask blank defect that results in a micro-black defect in a mask.
マスクの微小黒欠陥の発生要因となる潜在化したマスクブランク欠陥の発生を抑制できる、最適な処理液を選定する方法を提供する。 - 特許庁 - Further, a defect layer 2 which getters the contaminating substance is provided on the reverse surface.
更に、その裏面に汚染物質をゲッタリングする欠陥層２を設ける。 - 特許庁 - One and the same wafer is inspected for defect in a plurality of steps in the manufacturing process of the wafer and a cumulative defect map 72 is drawn by superposing the detected results upon another.
同じウェハを工程進行に伴い、複数工程で欠陥検査を行い、それらの検出結果を重ね合わせて累積欠陥マップ７２を作成する。 - 特許庁
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