「Defect」を含む例文一覧(18306)
＜前へ 1 2 .... 69 70 71 72 73 74 75 76 77 .... 366 367 次へ＞- To provide a defect detection device capable of discriminating and detecting simultaneously an internal defect and a surface flaw of a material to be measured.
被測定材の内部欠陥と表面疵を同時に識別して検出することが可能な欠陥検出装置を提供することを目的とする。 - 特許庁 - METHOD FOR SEARCHING DEFECT IN CONCRETE STRUCTURE OR BEHIND THE STRUCTURE
コンクリート構造物中或いはコンクリート構造物背後の欠陥探査方法 - 特許庁 - THIN FILM TRANSISTOR SUBSTRATE, DEFECT REPAIRING METHOD THEREOF, AND DISPLAY DEVICE
薄膜トランジスタ基板およびその欠陥修復方法、並びに表示装置 - 特許庁 - The measuring means is not used when no defect partition is determined by a means for instantaneously determining the presence of a defect partition.
また、欠陥パーティションの有無を瞬時に見分ける手段により、欠陥パーティションが無いと判断した場合には測定手段を用いないようにする。 - 特許庁 - To enable the inspection of not only a defect extending in the conveyance direction but also a low-contrast defect extending in the width direction which is difficult to be detected by a conventional method.
搬送方向に伸びる欠陥だけではなく、従来法では検出が困難であった幅方向に伸びる低コントラストの欠陥の検出を可能とする。 - 特許庁 - METHOD FOR DETECTING FLICKER DEFECT, VIDEO CORRECTION METHOD, AND SOLID-STATE IMAGE PICKUP APPARATUS
点滅欠陥検出方法、映像補正方法及び固体撮像装置 - 特許庁 - To provide a defect-inspecting device and method for reliably detecting the defect (spot) of an inspection target with improved detection sensitivity.
良好な検出感度で、検査対象物の欠陥（斑）を確実に検出することができる欠陥検査装置および欠陥検査方法を提供する。 - 特許庁 - DEFECT DETERMINING METHOD OF LEAD-ACID BATTERY AND CHARGING METHOD OF LEAD-ACID BATTERY
鉛蓄電池の不良判定方法及び鉛蓄電池の充電方法 - 特許庁 - To enlarge the defect-free, high quality part of an ingot in the longitudinal direction.
インゴットの無欠陥で高品質の部分をその長手方向に拡大する。 - 特許庁 - PREDICTION METHOD FOR DIMENSIONAL ACCURACY DEFECT QUANTITY IN PRESS-FORMING METAL PLATE
金属板のプレス成形時における寸法精度不良量の予測方法 - 特許庁 - DEVICE AND METHOD FOR DETECTING DEFECT OF ELECTROMAGNETIC WAVE SHIELD
電磁波シールド欠陥検出装置及び電磁波シールド欠陥検出方法 - 特許庁 - METHOD AND APPARATUS FOR DETERMINING PRESS DEFECT, AND PRESS FORMING APPARATUS
プレス不良判定方法、プレス不良判定装置及びプレス成形加工装置 - 特許庁 - To repair the pixel unit of an electronic ink display device, which has a white spot defect or a dark spot defect, and to improve the display quality of the electronic ink display device.
輝点欠陥又は暗点欠陥を有する電子インク表示装置の画素ユニットを修復し、電子インク表示装置の表示品質を向上させる。 - 特許庁 - A defect existing in a color filter 2 is eliminated by a laser beam irradiation means 4 and the part from which the defect is eliminated is heated by a heating means 5.
レーザ光照射手段４によってカラーフィルタ２に存在する欠陥を除去し、該欠陥が除去された部分を加熱手段５により加熱する。 - 特許庁 - IMAGE INPUT METHOD, IMAGE INPUT DEVICE AND SURFACE DEFECT INSPECTION DEVICE
画像入力方法、画像入力装置及び表面欠陥検査装置 - 特許庁 - As a result, even if a void defect is present on the wafer surface, the void defect is eliminated at a temperature lower than the wafer, thereby suppressing surface roughness thereof.
その結果、仮にウェーハ表面にボイド欠陥が存在しても、ウェーハより低温でボイド欠陥を消滅させ、その表面粗さを小さくできる。 - 特許庁 - METHOD AND DEVICE FOR CORRECTING DEFECT OF MEMBRANE MASK FOR ELECTRON BEAM PROJECTION EXPOSURE
電子線投影露光用メンブレンマスクの欠陥修正方法および装置 - 特許庁 - To simulate an integrated circuit device as if provided with a known defect; and to verify that a test actually catches the defect.
集積回路デバイスが既知の不良を具備しているかのような集積回路デバイスのシミュレーションを可能にし、試験が実際に不良を捕捉することを検証する。 - 特許庁 - A defect state judging circuit 424 determines a defect state variable DET by subtracting the slack variable OCCNT from the difference detection variable DEFDET.
欠陥状態判定回路４２４は、差分検出変数ＤＥＦＤＥＴから緩和変数ＯＣＣＮＴを減じた値を欠陥状態変数ＤＥＴとする。 - 特許庁 - DEFECT DETECTION METHOD FOR PREFABRICATION-TYPE CABLE CONNECTION PART AND LOOP ANTENNA-TYPE SENSOR
プレハブ型ケーブル接続部の欠陥検出方法およびループアンテナ型センサ - 特許庁 - A monitoring module run in the support operating system identifies a defect associated with the host operating system and notifies the support module in response to identification of the defect.
支援ＯＳ内で実行される監視モジュールがホストＯＳと関係付けられる障害を識別し、該障害の識別に応答して支援モジュールに通知する。 - 特許庁 - Consequently, the defect densities in the oxide film 12 and at the boundary between the film 12 and the substrate 11 decrease, and an insulating film having low defect density is obtained.
これにより、酸化膜１２および酸化膜１２と基板１１との界面における欠陥密度が低減し、欠陥密度が低い絶縁膜が得られる。 - 特許庁 - DEFECT DETECTOR IN DATA REPRODUCING DEVICE AND THE DATA REPRODUCING DEVICE
データ再生装置における欠陥検出装置及びそのデータ再生装置 - 特許庁 - The low-defect crystal region 52 and the defect-concentrated region 51 extend from the main surface to a backside located on the opposite side of the main surface.
低欠陥結晶領域５２と欠陥集合領域５１とは主表面から当該主表面と反対側に位置する裏面にまで延在する。 - 特許庁 - To provide a thermal transfer ink sheet with high sensitivity but no image defect.
高感度で画像欠陥のない感熱転写インクシートを提供すること。 - 特許庁 - DEFECT LIMIT SPECIMEN TOOL FOR VISUAL INSPECTION OF EYEGLASS LENS, AND METHOD OF MANUFACTURING THE SAME
眼鏡レンズ外観検査用欠陥限度見本具およびその製造方法 - 特許庁 - To readily inspect a defect inside a rail, in a short time.
レール内部の欠陥を容易に短時間で検査することを可能にすること。 - 特許庁 - A surface defect detecting device 3 is provided for an inspection line, and detects a surface defect on a cold rolled steel sheet 1 for an input to a marking control device 5.
検査ラインには表面欠陥検出器３が設けられ、冷延鋼板１の表面欠陥を検出してマーキング制御装置５に入力する。 - 特許庁 - ON-LINE DEFECT REMOVING DEVICE AND METHOD FOR METAL STRIP
金属帯のオンライン欠陥除去装置及びそのオンライン欠陥除去方法 - 特許庁 - To provide a surface defect detecting device for a steel strip capable of executing surface testing good in precision by using a surface defect gauge in a pickling line.
酸洗ラインにおいて、表面欠陥計を用いて、精度のよい表面検査を行うことができる鋼帯の表面欠陥検出装置を提供する。 - 特許庁 - A surface of the skin layer 2a is free from an ununiform defect of a spot-like protrusion or local hardened part generated when wet-film-formed, by removing the ununiform defect.
スキン層２ａの表面には、湿式成膜時に生じたスポット状の凸部ないし局所的な硬質化部の不均質な欠点が除去されている。 - 特許庁 - It is preferred to use a wafer composed of a defect-free area as a raw material because a defect-free layer can be stably secured on a wafer surface layer.
無欠陥領域からなるウェーハを素材として用いることとすれば、ウェーハ表層部に無欠陥層を安定して確保できるので望ましい。 - 特許庁 - To provide a surface inspection device of generating hardly a pseudo-defect, even when detecting a defect based on a difference between hues of a reference image and an inspection image.
ファレンス画像と検査画像の色相の差に基づいて欠陥を検出する場合においても、擬似欠陥の発生しにくい表面検査装置を提供する。 - 特許庁 - In the method, which of a pseudo defect and a true defect to detect is determined by a combination of comparison operations on the images different in the number of additions.
擬似欠陥あるいは真の欠陥のいずれを検出するかは、加算回数の異なる複数の画像の比較演算の組み合わせによって定める。 - 特許庁 - To provide a surface inspection device for inspecting defect distribution on a wafer which can measure the thickness and the flatness of the wafer simultaneously with defect inspection.
ウェーハ上の欠陥分布を検査する表面検査装置において、欠陥検査と同時進行でウェーハの厚さとフラットネスを測定できるようにする。 - 特許庁 - DISPENSER DEVICE, PATTERN DEFECT CORRECTION DEVICE, AND METHOD FOR ELIMINATING CLOGGING OF DISPENSER
ディスペンサ装置、パターン欠陥修正装置、ディスペンサの詰まり解消方法 - 特許庁 - To provide a writing method which is tolerant of a defect of an EEPROM by having a backup function for the defect of the EEPROM.
ＥＥＰＲＯＭの不良に対するバックアップ機能をもつことにより、ＥＥＰＲＯＭの不良に強い書き込み方法を提供することを目的とする。 - 特許庁 - To remove a defect when buffering write of data during motion.
書き込みデータをバッファリングするための装置、システム及び方法を提供する。 - 特許庁 - QUALITY INSPECTION METHOD AND DEVICE FOR MICRO SURFACE DEFECT IN MAGNETIC METAL ZONE
磁性金属帯の微小表面欠陥の品質検査方法及び装置 - 特許庁 - DEFECT DETECTING APPARATUS AND HIGH LIGHTING INTENSITY ILLUMINATION DEVICE FOR THE SAME
欠点検出装置用高照度照明装置および欠点検出装置 - 特許庁 - To provide a defect distribution analyzing system capable of identifying cause of the occurrence of defect in a short time, and further reducing burden of workers.
欠陥の発生原因を短時間で特定することができ、かつ、作業者の負担を軽減することができる欠陥分布解析システムを提供する。 - 特許庁 - To provide a defect inspection apparatus and a defect inspection method for enlarging the take-in range of light scattered due to minute defects and enhancing signal intensity.
微細な欠陥から散乱した光の取込範囲を拡大し信号強度を高める欠陥検査装置及び欠陥検査方法を提供する。 - 特許庁 - Such dark defect making is carried out, for instance, by discharging an ink from an ink jet head (530) at the bright defect after lighting inspection thereof.
このような黒点化は、例えば、点燈検査により輝点を検出後に、これに向けてインクジェットヘッド（５３０）からインクを吐出することで実施する。 - 特許庁 - In the stage S5, defect inspection is performed for inspecting whether defects or the like are present or not.
工程Ｓ５で、欠陥などの有無を検査する欠陥検査を行なう。 - 特許庁 - When the sector has a defect, the sector of the track is skipped in writing (507).
セクタに欠陥がある場合、トラックのセクタは書き込み中にスキップされる(507)。 - 特許庁 - DEFECT DETERMINING METHOD FOR SUCKED COMPONENT, VOLUME CALCULATING METHOD AND MOUNTING DEVICE
吸着部品の欠損判定方法、体積計算方法及び実装装置 - 特許庁 - OPTICAL SURFACE DEFECT INSPECTION DEVICE AND METHOD
光学式表面欠陥検査装置及び光学式表面欠陥検査方法 - 特許庁 - To provide a method of selecting a process liquid suitable for suppressing occurrence of a potential defect in a mask blank that results in a micro-black defect in a mask.
マスクの微小黒欠陥の発生要因となるマスクブランクの潜在化した欠陥の発生を抑制する最適な処理液を選定する方法を提供する。 - 特許庁 - A multi-class classifier is identified which is configured to assign each defect to one of the plurality of the defect classes on the basis of the inspection parameter values.
検査パラメータ値に基づいて複数の欠陥部類のうちの１つに各欠陥を割り当てるように構成された多重部類分類子が識別される。 - 特許庁 - To provide a silicon wafer in which oxygen deposit is stably formed in dependent of crystal position or device process, a method of producing the same, and a method for evaluating the defect area of a silicon wafer whose pulling-up conditions and the defect area are unknown.
結晶位置やデバイスプロセスに依存せずに安定して酸素析出が得られるシリコンウエーハおよびその製造方法を提供する。 - 特許庁
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