「Defect」を含む例文一覧(18306)

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  • METHOD OF SEMICONDUCTOR DEFECT ANALYSIS AND METHOD FOR SPECIFYING CAUSES OF SEMICONDUCTOR DEFECTS
    半導体不良解析方法及び半導体不良原因絞込み方法 - 特許庁
  • METHOD OF FABRICATING LOW-DEFECT STRAINED EPITAXIAL GERMANIUM FILM ON SILICON
    シリコン上に欠陥の少ない歪みエピタキシャルゲルマニウム膜を製造する方法 - 特許庁
  • I don't just mean a logical defect. I mean a bad explanation.
    ただの論理的な欠陥ではありません。粗悪な説明、ということなんです。 - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書
  • purpura resulting from a defect in the capillaries caused by bacteria or drugs
    バクテリアまたは薬によって起こる毛細血管の欠陥による紫斑病 - 日本語WordNet
  • a memory defect in which a patient cannot remember recent events
    順行性健忘という,新しいことが覚えられなくなる記憶障害 - EDR日英対訳辞書
  • Since a high contrast between the normal part (good product part) and the defect part is obtained, the determination of the defect part is performed well.
    上記波長の光を用いることで、正常部（良品部）と欠陥部とで高いコントラストを得られるために、欠陥部の判定を良好に行うことができる。 - 特許庁
  • To suppress the disturbance in TE signals to a minimum, even if a defect exist in the recording surface of an optical disk for reducing the disturbance in tracking due to the defect.
    光ディスクの記録面にディフェクトが存在しても、ＴＥ信号が乱れることを極力抑え、ディフェクトによるトラッキングの乱れが少なくなるようにする。 - 特許庁
  • ADDRESS TRANSLATION METHOD, DEFECT DISPLAY DEVICE, OPTICAL DISK DEVICE, AND INTEGRATED CIRCUIT
    アドレス変換方法、欠陥表示装置、光ディスク装置および集積回路 - 特許庁
  • To keep the constant defect detecting sensitivity without affected by the displacement of an examined object, and to realize the detection of defect with high accuracy with a simple constitution.
    被検査物の位置ズレの影響を受けずに欠陥の検出感度を一定に維持し、簡単な構成で高精度な欠陥検出を実現する。 - 特許庁
  • METHOD AND DEVICE OF DETECTING SURFACE DEFECT OF SLAB
    スラブの表面欠陥検出方法およびスラブ表面欠陥検出装置 - 特許庁
  • TWO-DIMENSIONAL PHOTONIC CRYSTAL POINT DEFECT INTERFERENCE OPTICAL RESONATOR AND OPTICAL REFLECTOR
    ２次元フォトニック結晶点欠陥干渉光共振器及び光反射器 - 特許庁
  • On this printed circuit board 1, an image recognition means is employed to read the location of the defect recognition mark 2, and then to prepare the defect recognition location information.
    このプリント基板１に対して、画像認識などの手段を用いて不良認識マーク２の位置を読み取り、不良認識位置情報を作成する。 - 特許庁
  • METHOD AND DEVICE FOR DETECTING DEFECT IN CENTRIFUGAL PUMP IN EARLY STAGE
    遠心ポンプにおける欠陥を早期に検出する方法及びその装置 - 特許庁
  • A decision part 26 decides whether the black defect stored in the storage part 28 has changed into a white defect based on a later photographed radiation image.
    判定部２６は、その後に撮影された放射線画像に基づいて、記憶部２８に記憶されている黒欠陥が白欠陥に変化したか否かを判定する。 - 特許庁
  • In the method of marking the defect of the optical film, the defect of the optical film is marked using an ink generating fluorescence by light having wave length outside of that of visible light.
    光学フィルムの欠陥に対して、可視光外の波長の光にて蛍光するインクを用いてマーキングする光学フィルムの欠陥のマーキング方法。 - 特許庁
  • To provide a pattern substrate defect correction method and device to reliably correct a defect, and to provide a pattern substrate manufacturing method.
    確実に欠陥を修正することができるパターン基板の欠陥修正方法及び欠陥修正装置並びにパターン基板製造方法を提供する。 - 特許庁
  • A defect is detected as a portion having a luminance higher than that of a normal portion.
    欠陥は、正常部分よりも輝度が高い部分として検出される。 - 特許庁
  • To provide a defect detection apparatus by which a defect generated on a sheetlike specimen at a production stage can be time-series-confirmed easily.
    製造段階におけるシート状の被検査物上に発生した欠陥の時系列確認を容易に行うことができる欠陥検出装置を提供する。 - 特許庁
  • DEFECT DETECTING METHOD AND DEVICE FOR CONCRETE REINFORCED BY REINFORCEMENT PLATE
    補強板によって補強されたコンクリートの欠陥検出方法および装置 - 特許庁
  • SEAL DEFECT INSPECTION APPARATUS OF LIGHT SHIELDING THERMAL SEAL WRAPPING MATERIAL AND METHOD OF THE SAME
    遮光性熱シール包装材のシール不良検査装置及びその方法 - 特許庁
  • SOLID-STATE IMAGE SENSOR, AND METHOD AND APPARATUS FOR INSPECTING DEFECT OF THE SAME
    固体撮像素子及びその欠陥検査方法並びに欠陥検査装置 - 特許庁
  • To generate and display navigation image data effective in treating a septal defect hole.
    欠損孔の治療に有効なナビゲーション画像データの生成及び表示。 - 特許庁
  • PERIPHERAL LENGTH CORRECTING DEVICE, PERIPHERAL LENGTH MEASURING DEVICE, AND SURFACE DEFECT INSPECTING DEVICE
    周長補正装置、周長測定装置及び表面欠陥検査装置 - 特許庁
  • DEFECT INSPECTION METHOD, WEAK LIGHT DETECTION METHOD AND WEAK LIGHT DETECTOR
    欠陥検査方法、微弱光検出方法および微弱光検出器 - 特許庁
  • The method for inspecting a surface defect includes, an imaging process, a first smoothing process, a matching process, a second smoothing process, and a defect detecting process.
    表面欠陥の検査方法であり、撮像処理と、第１平滑化処理と、マッチング処理と、第２平滑化処理と、欠陥検出処理を備える。 - 特許庁
  • The controller controls a relative position of a sheet 216 to the fixing web based on the position of the defect, so as to prevent the defect from influencing an image.
    コントローラは、この欠陥の位置に基づき、定着ウェブとシート２１６の相対的な位置を制御し、欠陥が画像に影響を与えないようにする。 - 特許庁
  • To prevent the coating defect of paste due to foreign matter on a substrate.
    基板上の異物に起因したペーストの塗着不良を未然に防止する。 - 特許庁
  • The correction film 4 for the semitransmitting film is deposited inside the white defect.
    前記白欠陥の内側に半透過膜の修正膜４を堆積する。 - 特許庁
  • To provide a method and device for detecting defect of a substrate capable of reducing unevenness of a luminous energy distribution within a substrate face to enhance defect detecting precision.
    基板面内の光量分布のムラを低減し欠陥検出精度を向上した、基板の欠陥検出方法および欠陥検出装置を提供する。 - 特許庁
  • To analyze a defect composition in a highly precise and efficient manner by detecting the irradiation position of an electron beam coinciding with a defect position.
    欠陥位置に一致した電子ビームの照射位置を検出し、高精度かつ高効率に欠陥の組成分析を行なうことができるようにする。 - 特許庁
  • To provide a market defect data counting method capable of reducing a time and the labor for counting the market defect data.
    市場不良データの集計にかかる時間と労力を少なくすることが可能な市場不良データ集計方法を提供することを目的とする。 - 特許庁
  • FAULTY POSITION INFORMATION COLLECTING SYSTEM, PROGRAMMING SYSTEM, AND DEFECT REMOVING SYSTEM
    不良位置情報収集システム、予定組システム及び不良除去システム - 特許庁
  • To prevent the destruction of important data by a medium defect by detecting the medium having a possibility of the medium defect and instructing the exchange of the medium.
    媒体不良の可能性のある媒体を検出し、媒体の交換を指示することにより、媒体不良による重要なデータの破壊を未然に防止する。 - 特許庁
  • A wireless IC chip wherein defect portion information for describing the position and range of the defect portion of the film 3 is mounted to a film roll 6.
    フイルムロール６には、フイルム３の欠点部位の位置及び範囲等を表す欠点部位情報が記憶された無線ＩＣチップが取り付けられている。 - 特許庁
  • To prevent image defect from being caused by fixing on cardboard paper, thin paper, or coated paper.
    厚紙，薄紙，コート紙の定着に起因する画像不良を防止する。 - 特許庁
  • To test simply and surely defect or the like of a semiconductor memory and to relieve it.
    半導体メモリの欠陥等を簡単且つ確実に検査し救済する。 - 特許庁
  • To lower the defect level of a Cu_2O thin film, by a simple method.
    簡便な方法によってＣｕ_2Ｏ薄膜の欠陥準位を低減する。 - 特許庁
  • The image of the defect moves in the LACBED pattern if the specimen is slightly shifted.
    LACBED図形の中の欠陥の像は、もし試料が僅かにずらされると動く。 - 科学技術論文動詞集
  • To provide a liquid container attaching and detaching apparatus which facilitates the secure attachment and detachment of a liquid container to and from a defect correction apparatus and a defect correction apparatus.
    液体容器の欠陥修正装置への確実な着脱を容易にする液体容器着脱装置および欠陥修正装置を提供する。 - 特許庁
  • As the image defect is amended, a good radioactive ray image can be obtained.
    画像欠陥が補正されて良好な放射線画像を得ることができる。 - 特許庁
  • They fixed the defect in which applications crashed if more than one was launched at a time.
    アプリケーションを多重起動するとクラッシュする不具合が修正された。 - Weblioビジネス英語例文
  • For example, the bevel defect is correlated with the other surface defects 103a-103d and the reverse surface defect 104, by projecting a position of the bevel defect in projection points 105a-105f, in the composition image 100.
    例えば、合成画像１００では、ベベル欠陥と他の表面欠陥１０３ａ〜１０３ｄおよび裏面欠陥１０４との関連付けは、ベベル欠陥の位置を投影点１０５ａ〜１０５ｆに投影することによりなされている。 - 特許庁
  • The invention has a stripe defect detection filtering step for filtering out a photographed image to detect a stripe defect, and a step in which a stripe defect is detected based on the detection value obtained in the filtering step.
    撮像した画像に対して筋状欠陥を検出する筋状欠陥検出フィルタをかける筋状欠陥検出フィルタ処理工程と、この工程で得られた検出値に基づいて筋状欠陥を検出する工程とを有する。 - 特許庁
  • Meanwhile, if the defect of the material different from the object 12 by mixing, for example, a foreign matter, exists at the examining point, the light is shielded by the foreign matter, and hence the defect is detected as a dark defect having a low light intensity.
    これに対して、例えば異物混入等の、被検査物１２の材質とは異なる材質の欠点が検査点に存在する場合は、それら異物によって光が遮られるため、光強度の低い暗欠点として検出される。 - 特許庁
  • MARKET DEFECT DATA COUNTING METHOD, SERVICE LIFE PREDICTION LINE CREATING METHOD, MARKET DEFECT DATA COUNTING DEVICE, SERVICE LIFE PREDICTION LINE CREATING DEVICE, MARKET DEFECT DATA COUNTING PROGRAM, SERVICE LIFE PREDICTION LINE CREATING PROGRAM AND RECORDING MEDIA RECORDING PROGRAM
    市場不良データ集計方法、寿命予測線作成方法、市場不良データ集計装置、寿命予測線作成装置、市場不良データ集計プログラム、寿命予測線作成プロラム、及び該プログラムを記録した記録媒体 - 特許庁
  • To improve throughput without increasing the time required for wafer alignment when the data concerning defect position obtained from a plurality of defect inspection devices with different offsets of stage coordinate are used to sense an enlarged image of defect.
    ステージ座標のオフセット量が異なる複数の欠陥検査装置からの欠陥位置データを用いて欠陥の拡大像を撮像する場合に、ウェーハのアライメントに要する時間を増大させることなくスループットを向上させる。 - 特許庁
  • Subsequently, the lattice defect region 4 is irradiated with laser light to pattern a P type region 5 in the lattice defect region 4 as the activated region of the surface layer in the lattice defect region 4 (Fig. 2(b)).
    この後、格子欠陥領域４にレーザ光を照射することにより、格子欠陥領域４に当該格子欠陥領域４の表層部を活性化させた活性化領域としてのＰ型領域５をパターン形成する（図２（ｂ））。 - 特許庁
  • To provide a defect marking and defect removing method for a steel sheet where defect removal for a steel sheet before cold rolling can be securely performed without causing the reduction in productivity by the decrease of a line speed, and to provide a device therefor.
    冷間圧延前の鋼板の欠陥除去を確実にかつライン速度の減速による生産性の低下を招くことなく行う鋼板の欠陥マーキングと欠陥除去方法およびその装置を提供することを目的とする。 - 特許庁
  • The method for correcting a defect of a template includes a step S3 for making a second template for imprint using a first template for imprint including a white defect and a step S5 for correcting a black defect of the second template.
    テンプレートの欠陥修正方法は、白欠陥を含むインプリント用の第１のテンプレートを用いて、インプリント用の第２のテンプレートを作成する工程Ｓ３と、前記第２のテンプレートの黒欠陥を修正する工程Ｓ５とを含む。 - 特許庁
  • An identification of a low-defect density region and a positioning of a semiconductor device formation region are performed by using alternate and periodical formation of a low-defect density region and a high-defect density region.
    横方向成長工程において、低欠陥密度領域と高欠陥密度領域とが交互に周期的に形成されることを利用して、低欠陥密度領域の特定、および半導体素子形成領域の位置決めを行う。 - 特許庁
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