「Defect」を含む例文一覧(18306)
＜前へ 1 2 .... 74 75 76 77 78 79 80 81 82 .... 366 367 次へ＞- To obtain a substrate for semiconductor element having small defect density extending over a wide area.
広範囲に亘って欠陥密度が小さい半導体素子用基板を得る。 - 特許庁 - METHOD AND SYSTEM FOR HIGH-SPEED ONLINE ELECTROCHEMICAL DETECTION OF WAFER DEFECT
ウェーハ欠陥の高速オンライン電気光学的検出のための方法及びシステム - 特許庁 - SLAB FOR THIN STEEL SHEET SMALL IN DEFECT CAUSED BY INCLUSION AND ITS PRODUCTION
介在物性欠陥の少ない薄鋼板用鋳片およびその製造方法 - 特許庁 - DEVICE AND METHOD FOR PERFORMING SCREEN TEST OF DEFECT LEAKAGE FOR MEMORY DEVICE
メモリ・デバイス用の欠陥漏れスクリーン・テストを実行するための装置および方法 - 特許庁 - To provide a vane pump in which suction defect of hydraulic fluid is prevented.
作動油の吸い込み不良を防止することができるベーンポンプを提供する。 - 特許庁 - STEEL SHEET FOR CAN SMALL IN DEFECT AND EXCELLENT IN AGING PROPERTY AND ITS PRODUCING METHOD
欠陥が少なく時効性に優れた缶用鋼板およびその製造方法 - 特許庁 - To efficiently detect a defect present in a semiconductor device with high sensitivity.
半導体装置内に存在する欠陥を、効率よく、高感度に検出する。 - 特許庁 - To accurately correct a line defect in the same direction as moire in a diagnostic image.
診断画像中のモアレと同方向のラインディフェクトを精度よく補正する - 特許庁 - SEMICONDUCTOR DEVICE, ITS MANUFACTURING METHOD AND DEFECT DETECTING METHOD THEREOF
半導体装置及びその製造方法、半導体装置の欠陥検出方法 - 特許庁 - The defect is eliminated by scanning according to the cutting edge route determined by the AFM processing device.
AFM加工装置で求めた刃先経路どおりに走査して欠陥を除去する。 - 特許庁 - To provide a method for manufacturing a golf ball in which a defect caused by residual gas is reduced.
残留ガスによる不良が低減されるゴルフボール製造方法の提供。 - 特許庁 - DEFECT ANALYZING SYSTEM AND METHOD FOR SEMICONDUCTOR DEVICE
半導体装置の不良解析システム及び半導体装置の不良解析方法 - 特許庁 - To conclude tile wall defect insurance readily and with the proper contents.
タイル壁瑕疵保険を手軽に且つ適切な内容にて締結できるようにする。 - 特許庁 - To provide a solid-state imaging device suppressed in a defect of signal charge transfer.
信号電荷の転送不良を抑制した固体撮像装置を提供する。 - 特許庁 - To detect a defect of a mask early and improve a throughput.
マスクに対して早期の欠陥発見を可能とし、スループットの向上に寄与する。 - 特許庁 - To easily detect a defect due to a residual substance of a semiconductor or an insulating material.
半導体や絶縁物の残渣物質による欠陥の検出を容易とする。 - 特許庁 - To detect a defect in a wide range with respect to a width direction of a measuring object.
測定対象の幅方向に対して広範囲で欠陥を検出する。 - 特許庁 - To display correlation between a defect and a circuit pattern.
欠陥と回路パターンとの相関関係を表示するウエハ検査装置を提供する。 - 特許庁 - Further, a surface defect-shaped martensite phase along a specified direction is introduced therein.
さらに、特定の方向に沿った面欠陥状マルテンサイト相を導入する。 - 特許庁 - ILLUMINATION OPTICAL SYSTEM, PATTERN DEFECT INSPECTION DEVICE USING IT AND OPTICAL FIBER
照明光学系及びこれを用いたパターン欠陥検査装置及び光ファイバー - 特許庁 - REVIEWING APPARATUS, INSPECTION REGION SET-UP SUPPORT SYSTEM, AND METHOD FOR OBTAINING DEFECT IMAGE
レビュー装置，検査領域設定支援システム、および、欠陥の画像得方法 - 特許庁 - METHOD AND APPARATUS FOR INSPECTING DEFECT IN WATER PURIFYING CARTRIDGE
浄水カートリッジの欠陥検査方法及び浄水カートリッジの欠陥検査装置 - 特許庁 - CONTACT FAILURE DEFECT DETECTION METHOD AND COMPUTER READABLE RECORDING MEDIUM
コンタクト不良欠陥検出方法およびコンピュータ読み取り可能な記録媒体 - 特許庁 - To detect an open pin defect even if an input signal is used in common.
入力信号を共通化した場合でも、オープンピン不良を検出すること。 - 特許庁 - To prevent deterioration of performance of the processing resulting from a defect of a column.
カラムの欠陥に起因する処理のパフォーマンスの低下を防止できるようにする。 - 特許庁 - DEFECT CORRECTING APPARATUS, MANUFACTURING METHOD OF WIRING BOARD, AND MANUFACTURING METHOD OF DISPLAY
欠陥修正装置、配線基板の製造方法、ディスプレイ装置の製造方法 - 特許庁 - DEFECT INFORMATION MANAGEMENT METHOD, INFORMATION RECORDING AND REPRODUCING APPARATUS, AND INFORMATION REPRODUCING APPARATUS
欠陥情報管理方法、情報記録再生装置、及び情報再生装置 - 特許庁 - To manufacture a high-quality SiC substrate by reducing crystal defect on a seed layer.
シード層の結晶欠陥を低減し、良質なＳｉＣ基板を製造する。 - 特許庁 - DEFECT ANALYZING METHOD IN SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE, AND SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE
半導体記憶装置における不良解析方法及び半導体記憶装置 - 特許庁 - SEMICONDUCTOR MANUFACTURING DEVICE, DEFECT REVIEW DEVICE AND MANUFACTURING METHOD FOR SEMICONDUCTOR DEVICE
半導体製造装置、欠陥レビュー装置及び半導体装置の製造方法 - 特許庁 - HEATING METHOD FOR ORDINARY STEEL SLAB FOR OBTAINING HOT ROLLED PLATE WITH FEW SURFACE DEFECT
表面疵の少ない熱延板を得るための普通鋼スラブの加熱方法 - 特許庁 - To improve productivity by reducing a forming defect of tube hydroforming.
チューブハイドロフォーミングの成形不良率を減少し、生産性を高めることにある。 - 特許庁 - A linear mirror surface defect is generated, when the semiconductor crystal wafer is cleaned with wafer.
ライン状の鏡面欠陥は、半導体結晶ウェハの水洗時に発生する。 - 特許庁 - METHOD OF GENERATING FALSE SEM IMAGE DATA AND METHOD OF EXAMINING DEFECT OF PHOTOMASK
擬似ＳＥＭ画像データの生成方法およびフォトマスクの欠陥検査方法 - 特許庁 - To provide amorphous carbon with low defect density, and a method of manufacturing the same.
欠陥密度の低いアモルファスカーボン及びその製造方法を提供すること。 - 特許庁 - MANUFACTURING METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE, AND METHOD AND SYSTEM FOR DEFECT ANALYSIS
欠陥解析方法、半導体装置の製造方法および欠陥解析システム - 特許庁 - NONHUMAN ANIMAL WITH FUNCTIONAL DEFECT IN THE GENE OF PITUITARY ADENYLATE CYCLASE ACTIVATING POLYPEPTIDE
下垂体アデニル酸シクラーゼ活性化ポリペプチド遺伝子機能欠損非ヒト動物 - 特許庁 - To overcome a defect in a method of recuperating a turbine element used currently.
現在使用されているタービン要素を回復する方法の欠点を克服する。 - 特許庁 - To manufacture a high purity, small diameter and defect-free boron nitride nanotube in a large quantity.
高純度で、小径かつ無欠陥の窒化ホウ素ナノチューブを大量に製造する。 - 特許庁 - To accurately detect any defect, such as a local distortion, on the surface of lens sheets.
レンズシート表面の局所的な歪み等の欠陥を精度良く検出する。 - 特許庁 - To provide a method and a device for inspecting defect with high accuracy.
高精度に欠陥を検査することのできる方法及び装置を提供する。 - 特許庁 - To effectively suppress the color irregularity defect in a smoking treatment of a brick roofing tile.
燻瓦の燻化処理における色むら不良を効果的に抑制できる。 - 特許庁 - APPARATUS AND METHOD FOR INSPECTING SURFACE DEFECT AND MEMORY MEDIUM
表面欠陥検査装置及び表面欠陥検査方法並びに記憶媒体 - 特許庁 - The surface of a silicon-based nanowire 50 is wet-etched to form a surface defect 56.
シリコン系ナノワイヤ-50の表面を湿式エッチングし、表面欠陥56を形成する。 - 特許庁 - To properly correct a defect in an infrared ray sensor.
赤外線探知器の欠陥に対する補正を適宜行うことができるようにする。 - 特許庁 - To easily and accurately specify the defect-generating source of an oven for melting glass.
ガラス溶融炉の欠点発生源を容易かつ正確に特定可能にする。 - 特許庁 - METHOD FOR INSPECTING PRINT DEFECT AND/OR PRINT CONTAMINATION OF TRANSPARENT PLATE-LIKE BODY
透明板状体の印刷欠陥および／または印刷汚れの検査方法 - 特許庁 - RECORDING MEDIUM FOR STORING DEFECT MANAGEMENT INFORMATION FOR RECORDING REAL TIME DATA
リアルタイムデータを記録するための欠陥管理情報を貯蔵する記録媒体 - 特許庁 - To make a pixel dot defect by a light emitting element becoming a dark dot inconspicuous.
滅点となった発光素子による画素の点欠陥を視認させ難くする。 - 特許庁 - METHOD FOR CORRECTING DEFECT IN ACTIVE MATRIX SUBSTRATE AND PRODUCTION OF LIQUID CRYSTAL PANEL
アクティブマトリクス基板の欠陥修正方法および液晶パネルの製造方法 - 特許庁
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