「Defect」を含む例文一覧(18306)
＜前へ 1 2 .... 73 74 75 76 77 78 79 80 81 .... 366 367 次へ＞- In the image display panel restoration method, whether a defect is being generated in pixels is inspected and, when a defect is being generated in the inspected pixels, the pixel having the defect is restored, by irradiating the part to be restored of the pixel having the defect with a circularly-polarized laser beam from the outside of a first polarizing plate or a second polarizing plate.
画像表示パネルの修復方法は、画素に欠陥が生じているかどうか検査し、検査した画素に欠陥が生じている場合、円偏光のレーザ光を第１偏光板または第２偏光板の外側から欠陥が生じている画素の修復個所に向けて照射し、欠陥が生じている画素を修復する。 - 特許庁 - The manufacturing method of the semiconductor device includes the steps of: forming copper layers 5, 12 with plating; forming a defect capturing film 13 on the copper layers 5, 12; shifting a defect of the copper layers 5, 12 into the defect capturing film 13 by e.g., annealing; and removing the defect capturing film 13.
本発明の半導体装置の製造方法は、銅層５、１２をメッキにより形成する工程と、その銅層５、１２上に欠陥捕獲膜１３を形成する工程と、たとえばアニールにより銅層５、１２中の欠陥を欠陥捕獲膜１３中に移動させる工程と、欠陥捕獲膜１３を除去する工程とを備えている。 - 特許庁 - In the phase defect correction method of reflection type mask, phase difference between a phase defect part and a high reflection part is practically brought to 0 (zero) by laminating a multilayer film composed of two kinds of material on the phase defect part, and the reflectance of the phase defect part is substantially equalized to the reflectance of the high reflection part.
位相欠陥部上に２種類の材料からなる多層膜を積層することにより、該位相欠陥部と高反射部の位相差を実用上０（ゼロ）とし、該位相欠陥部の反射率と高反射部の反射率を実用上等しくするように行う反射型フォトマスクの位相欠陥修正方法である。 - 特許庁 - To provide manufacturing methods for a glass substrate for an electronic device and a mask blank with which no fine uneven surface defect occurs on a substrate surface or a failure rate is low, and a manufacturing method for a transfer mask free from a phase defect or a pattern defect caused by the fine uneven surface defect on the substrate surface.
基板表面に微小な凸状、凹状の表面欠陥が発生しないか又は発生率の低い電子デバイス用ガラス基板及びマスクブランクスの製造方法、並びに基板表面に微小な凸状、凹状の表面欠陥が起因する位相欠陥やパターン欠陥のない転写マスクの製造方法を提供する。 - 特許庁 - The defect inspection apparatus scans a local region of a defect detected on the surface of the inspected structure, measures the quantity of a characteristic property corresponding to a type of the defect such as the coincidence with a crystal grain boundary of the crack, compares a measured detection signal with a database data and determines a type of the defect.
検査対象構造物の表面に検出された欠陥の局部的範囲を走査し、欠陥の種別に応じた例えば亀裂の結晶粒界との一致度のような特徴的な特性量を計測し、この計測された検出信号をデータベースのデータと比較し欠陥種別を判定する。 - 特許庁 - This defect processing method of a magnetic disk drive is a suitable method when the position of a defect is known in advance on a disk and comprises a stage for assigning a data zone to a track including the defect (step S1006) and a stage for processing the data zone as a defect (step S1008).
本発明にかかる磁気ディスク装置のディフェクト処理方法は，ディスク上で欠陥の位置が事前に分っている場合に適した方法であって，欠陥を含むトラックに対してデータゾーンを割当てる段階（ステップＳ１００６）と，データゾーンをディフェクトとして処理する段階（ステップＳ１００８）とを含むことを特徴とする。 - 特許庁 - Then, the determination accuracy of the defect classification aggregate is not affected by the superiority or inferiority of the guessing ability of an operator, for example, in comparison with a method by which the operator guesses a defect and qualitatively or individually acquires and analyzes an aggregate characteristic value at each defect classification aggregate including the guessed defect classification.
よって、例えば、オペレータが欠陥を推測し、推測した欠陥種別を含む欠陥種別集合毎に集合特徴値を定性的又は個別的に取得して解析する方法に比べて、欠陥種別集合の判別精度がオペレータの推測能力の優劣に影響を受けることがない。 - 特許庁 - In this method, based on position coordinates of the defect detected by defect detecting means, marking is made in the vicinity of the defect by using an ion beam, etc., sample is monitored with transmission electron microscope to specify the defective section from relative positional relationship between the marking and the defect, and then sample including the target defective section will surely be prepared.
欠陥検出手段で検出した欠陥の位置座標を基準にして、その近傍にイオンビームなどによってマーキングし、試料を透過型電子顕微鏡で観察して、マーキングと欠陥との相対位置関係から、欠陥部を特定し、目的とする欠陥部を含む試料を確実に作製する。 - 特許庁 - Record information recorded in a DVD is previously read, defect of the DVD is detected based on the previously read record information, a defect list is updated based on the detected result, reproduction rationalization processing is performed for record information distorted by defect using this updated defect list.
ＤＶＤに記録された記録情報を先読みし、先読みされた記録情報に基づいてＤＶＤのディフェクトを検出し、この検出結果に基づいてディフェクトリストを更新し、この更新されたディフェクトリストを用いて、ディフェクトによってゆがめられた記録情報に対し再生適正化処理を行う。 - 特許庁 - To provide a defect marker for forming indentations easy to check by visual inspection independently of the existence or non-existence of rustproof oil or of defect detection performance on the fabricator side as to a processing line for winding up an aluminum sheet into a coil, a method of defect marking, and a defect-marked coil.
アルミニウム板をコイルに巻き取る処理ラインにおいて、防錆油の有無及び加工メーカー側の欠陥検出性能に関らず、目視によって容易に確認可能な圧痕を形成することができる欠陥マーキング装置、欠陥マーキング方法及び欠陥マーキングされたコイルを提供することを目的とする。 - 特許庁 - Further the market defect analyzing part 223 extracts a specific circuit symbol by the data extracting part (not shown in drawing) on the basis of the defect contents and the processing contents of all of defect records of the radio device X stored in the market defect database 21, and counts the number of circuit symbols by the data counting part.
更に、市場不良解析部２２３は、市場不良データベース２１に記憶されている無線装置Ｘの全ての不良カルテの不良内容及び処置内容を参照し、その中から特定の回路記号をデータ抽出部（不図示）により抽出し、その回路記号の数をデータ集計部により集計する。 - 特許庁 - To provide a film carrier tape for mounting electronic component in which a defect can precisely be marked on a target position on a mounting unit without fail and a recognition defect due to dislocation of a defect mark can be reduced at the time of mounting IC, and to provide a defect marking method of the film carrier tape for mounting electronic component.
実装ユニット上の目標位置に精度よく、間違いなく不良マーキングを行うことができ、ＩＣ実装時などにおいて、不良マークの位置ずれによる認識不良が低減可能な電子部品実装用フィルムキャリアテープ、および電子部品実装用フィルムキャリアテープの不良マーキング方法の提供。 - 特許庁 - A system controller 112 is provided with a defect data detecting part 112a to detect pixel defect data based on detection results of every main photography and a defect compensation control part 112b to perform pixel defect compensation processing to a signal to be obtained from a CCD 105 in the case of the main photographing.
システムコントローラ１１２には、毎回の本撮像時における検出結果に基づいて画素欠陥データの検出を行うための欠陥データ検出部１１２ａと、本撮像時にＣＣＤ１０５から得られる信号に対して画素欠陥補償処理を施すための欠陥補正制御部１１２ｂとが設けられている。 - 特許庁 - To provide a method of discriminating an appearance defect with which, a plating cell in which an appearance defect occurs, can be promptly specified by discriminating such an appearance defect from an actual current waveform during electroplating, in place of the specification of a troubled position ( a plating cell where a defect occurred) with a determination based on experiential rules, and trial and error.
経験則、試行錯誤による判断に伴う不具合箇所（不良発生めっきセル）の特定に替えて、電気めっきの際の実際の電流波形から、外観不良を判別することにより、かかる外観不良が発生しているめっきセルを迅速に特定することができる外観不良判別方法を提供する。 - 特許庁 - A mark for indicating relationship between a front-surface defect 204 and a rear-surface defect 203a (203b) is further displayed based on a relative position of the front-surface defect 204 within the displayed front-surface image 202 and a relative position of the rear-surface defect 203b within the displayed rear-surface image 201b.
表示された状態の表面画像２０２内での表面欠陥２０４の相対位置と、表示された状態の裏面画像２０１ｂ内での裏面欠陥２０３ｂの相対位置とに基づいて、表面欠陥２０４と裏面欠陥２０３ａ（２０３ｂ）との関連性を示すための標識が、さらに表示される。 - 特許庁 - Regarding the color filter manufacturing method comprising a defect inspecting process of detecting the defect existing in the color filter and a correcting process of obtaining image data on the defect based on defect information detected at the defect detecting process, thereafter, correcting the defect by using the image data, the color filter is formed by using information obtained from the image data at the correcting process.
上記目的を達成するために、本発明は、カラーフィルタに存在する欠陥を検出する欠陥検出工程と、上記欠陥検出工程により検出された欠陥の情報に基づいて、上記欠陥の画像データを得た後、上記画像データを用いて欠陥を修正する修正工程とを有するカラーフィルタの製造方法において、上記修正工程における画像データから得られた情報を用いカラーフィルタを製版することを特徴とするカラーフィルタの製造方法を提供する。 - 特許庁 - The black defect correction technique of the mask comprises recognizing the position of a black defect section of the mask by an atomic force microscope (AFM), moving the probe of the AFM upward of the black defect position, and removing the black defect by electrochemical reaction in the state of interposing an electrolyte between the probe and the black defect section as both electrodes and further comprises confirming the removal of the black defect by the AFM.
本発明のマスク黒欠陥修正手法は、原子間力顕微鏡によってマスクの黒欠陥部位置を把握し、前記黒欠陥位置上方に前記原子間力顕微鏡の探針を移動させ、前記探針と前記マスク黒欠陥部を両電極とし電解液を介在させた状態で電気化学的反応により前記黒欠陥を除去するものであって、更に前記原子間力顕微鏡によって前記黒欠陥の除去を確認するものである。 - 特許庁 - The light with the calculated polarization (alpha) is emitted on the sample to inspect a defect.
算出した偏光（アルファ）の光を試料に照射して欠陥を検査する。 - 特許庁 - To provide an image defect correction system of an imaging device using direction detection.
方向検出を用いた撮像デバイスの画像欠陥補正システムを提供する。 - 特許庁 - The sacrificial anode 7, together with the defect 2, is isolated from the outer environment.
犠牲アノード７はき裂状欠陥２とともに外部環境から隔離される。 - 特許庁 - RECORDING MEDIUM HAVING SPARE AREA FOR DEFECT MANAGEMENT AND MANAGEMENT INFORMATION THEREOF
欠陥管理のための余裕空間とその管理情報を有する記録媒体 - 特許庁 - DEFECT HEIGHT DETECTING DEVICE FOR OPTICAL DISK AND ITS PROTECTION SURFACE QUALITY DECIDING DEVICE
光ディスクの欠陥高さ検出装置及びその保護面良否判別装置 - 特許庁 - A display defect of the display apparatus due to ripple deviation can be removed.
リップル偏差による表示装置のディスプレイ不良を除去することができる。 - 特許庁 - APPARATUS, METHOD, AND PROGRAM FOR DEFECT DETECTION AND RECORDING MEDIUM
欠陥検出装置、欠陥検出方法、欠陥検出プログラム、及び、記録媒体 - 特許庁 - CAST PIECE FOR THIN STEEL SHEET SMALL IN DEFECT CAUSED BY INCLUSION AND ITS PRODUCTION
介在物性欠陥の少ない薄鋼板用鋳片およびその製造方法 - 特許庁 - To detect a defect to be inspected in a short inspection time.
短い検査時間で検査対象の欠陥を検出することを課題とする。 - 特許庁 - SUPER CONDUCTIVE MATERIAL OF QUANTUM-DEFECT FLUX PINNING TYPE AND METHOD OF MANUFACTURING THE SAME
量子欠陥磁束ピン止め型超伝導材料及びその製造方法 - 特許庁 - DEFECT REPAIR METHOD FOR HIGH TEMPERATURE COMPONENT, HIGH TEMPERATURE COMPONENT, AND REPAIR MATERIAL CHARGING APPARATUS
高温部品の欠陥補修方法、高温部品及び補修材装填装置 - 特許庁 - The mixing of the bubbles and the generation of the defect part are suppressed by this means.
以上の手段によって、気泡の混入と欠陥部の発生を抑制する。 - 特許庁 - DEFECT REPLACING PROCESSING METHOD AND INFORMATION RECORDING AND REPRODUCING DEVICE AND RECORDING MEDIUM
欠陥代替処理方法及び情報記録再生装置ならびに記録媒体 - 特許庁 - EQUIPMENT, SYSTEM, METHOD, AND PROGRAM FOR DEFECT INSPECTION
欠陥検査装置、欠陥検査システム、欠陥検査方法および欠陥検査プログラム - 特許庁 - Magnetic detection and X-raying means are preferable as defect detection means.
欠陥検出手段としては、磁気検出、Ｘ線撮影手段が好ましい。 - 特許庁 - METHOD FOR REPAIRING DEFECT OF PHOTOSENSITIVE RESIN PLATE HAVING INFRARED SENSITIVE LAYER
赤外線感受性層を有する感光性樹脂版の欠点修復方法 - 特許庁 - USE OF AUTOLOGOUS DERMAL FIBROBLAST FOR REPAIR OF SKIN AND SOFT TISSUE DEFECT
皮膚および軟組織の欠損修復のための自己皮膚繊維芽細胞の使用 - 特許庁 - To perform a stress test detecting defect between a pair of bit lines in a short time.
ビット線対間の不良を顕在化するストレス試験を短時間で行う。 - 特許庁 - BRIGHT SPOT DEFECT REPAIRING METHOD FOR LIQUID CRYSTAL DISPLAY PANEL, AND LIQUID CRYSTAL DISPLAY PANEL
液晶表示パネルの輝点欠陥補修方法、及び液晶表示パネル - 特許庁 - To provide a semiconductor wafer treatment method for providing semiconductor wafers with less defect.
欠陥の少ない半導体ウェハを提供する半導体ウェハ処理の提供。 - 特許庁 - To overcome a conventional defect by effectively controlling a request for data retransmission.
データ再送信の要求を効果的に管理し、従来の欠陥を克服する。 - 特許庁 - METHOD AND APPARATUS FOR PREVENTING OR REPAIRING HOLE DEFECT IN LASER SPOT WELDING
レーザスポット溶接における穴欠陥の防止または修復方法および装置 - 特許庁 - HIGH WORKABILITY HOT ROLLED STEEL SHEET FREE FROM GENERATION OF CHATTER MARK DEFECT AND ITS PRODUCTION METHOD
畳じわの発生しない高加工性熱延鋼板及びその製造方法 - 特許庁 - SPACE COORDINATE VALUE MEASURING METHOD, ITS MEASURING DEVICE AND DEFECT INSPECTION DEVICE
空間座標値測定方法及びその測定装置並びに欠陥検査装置 - 特許庁 - To detect a lapping defect in line in a process of producing a welding wire.
溶接用ワイヤの製造工程においてラップ不良をインラインで検出する。 - 特許庁 - Locations corresponding to the located defects are then stored in a defect file.
そして、探し出された欠陥に対応する位置が欠陥ファイルに格納される。 - 特許庁 - To perform printing without causing a printing defect even if a remaining amount of ink becomes small.
インク残量が少なくなっても印刷不良を起こさず印刷を行う。 - 特許庁 - Disclosed is the method for discriminating a transfer defect in the original rendering system.
原稿レンダリングシステム内の転写欠陥を識別する方法が開示されている。 - 特許庁 - To provide a means of detecting defect of wiring formed on a substrate.
基板上に形成された配線の欠陥検出を行う手段の提供。 - 特許庁 - To eliminate a defect such as a short circuit by cutting both edges of a solar cell panel.
太陽電池パネルの両端縁を縁切りして短絡の不都合をなくする。 - 特許庁 - A defect 91 is caused (2) in a welded part 90 during the friction stir welding (1).
摩擦攪拌接合（１）の際に接合部９０に欠陥９１が生じる（２）。 - 特許庁 - To widen a bit line pitch and to avoid a vicinity defect of a bit line and a via contact.
ビット線ピッチを緩和し、ビット線とビアコンタクトの近接不良を回避する。 - 特許庁 - To provide a method of manufacturing barium titanate powder small in barium defect.
バリウム欠陥の少ないチタン酸バリウム粉末の製造方法を提供すること。 - 特許庁
- 特許庁
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