「Defect」を含む例文一覧(18306)
＜前へ 1 2 .... 68 69 70 71 72 73 74 75 76 .... 366 367 次へ＞- To well examine a surface defect near a weld line retaining marginal welding.
余盛りを残す溶接線近傍の表面欠陥を良好に検査する。 - 特許庁 - The width of a rib defect 21 is widened with a cutting laser 2, and the widened width is coated with correcting paste with a paste coating mechanism 3 to correct the defect.
カット用レーザ部２でリブ欠陥２１を拡幅してペースト塗布機構３によって拡幅された部分に修正用ペーストを塗布して欠陥を修正する。 - 特許庁 - REFLECTION TYPE LIQUID CRYSTAL CELL, METHOD FOR CORRECTING ITS DEFECT OR DISPLAY CELL
反射型液晶セル及びその欠陥修正方法若しくは表示セル - 特許庁 - TWO-DIMENSIONAL PHOTONIC CRYSTAL DEFECT INTERFERENCE OPTICAL RESONATOR AND OPTICAL REFLECTOR
２次元フォトニック結晶点欠陥干渉光共振器及び光反射器 - 特許庁 - To choose a defect with high possibility that may be regarded as electric inferiority in inspection of a foreign matter or a patter defect of an electronic device of a semiconductor integrated circuit or the like.
半導体集積回路等の電子デバイスの異物やパタン欠陥の検査において、電気的に不良となる可能性の高い欠陥を選出する。 - 特許庁 - DEFECT CHECKABLE TRANSPARENT PRINTING LABEL AND TRANSPARENT DRINK BOTTLE FITTED THEREWITH
欠点検査性透明印刷ラベルとそれを着装した透明飲料ボトル - 特許庁 - INFORMATION RECORDING AND REPRODUCING APPARATUS AND DISPLAY METHOD OF DEFECT MANAGEMENT INFORMATION QUANTITY
情報記録再生装置及び欠陥管理情報量の表示方法 - 特許庁 - INSPECTION METHOD OF FORGED RING-SHAPED MATERIAL SURFACE DEFECT USING EDDY CURRENT
渦電流を用いた鍛造リング状素材の表面欠陥の検査方法 - 特許庁 - DEVICE AND METHOD FOR CORRECTING DEFECT, AND PATTERN SUBSTRATE MANUFACTURING METHOD
欠陥修正装置、欠陥修正方法及びパターン基板の製造方法 - 特許庁 - To provide a production method of hologram with which the defect of appearance hardly occurs.
外観不良が生じ難いホログラムの製造方法を提供すること。 - 特許庁 - To provide a liquid crystal display device in which a display defect resulting from a texture defect around a corner of a pixel electrode is prevented, and to provide a method of fabricating the device.
画素電極の角部周辺のテクスチャ不良による表示不良を防止した液晶表示装置及びその製造方法を提供すること。 - 特許庁 - To manufacture the artificial defect of TBC(thermal barrier coating) with its thickness and shape changed and to obtain a defect detection limit in an actual machine.
本発明は、ＴＢＣの人工欠陥を厚さや形状を変えて製作でき、実機における欠陥検出限界を求めることを課題とする。 - 特許庁 - To provide a leakage flux flaw detection method and a leakage flux flaw detection device having a defect discrimination function for determining a defect generation cause.
欠陥の発生原因を判定する欠陥弁別機能を有する漏洩磁束探傷法および漏洩磁束探傷装置を提供することを目的とする。 - 特許庁 - UNIFIED MENDING SYSTEM AS WELL AS AUTOMATIC DEFECT DETECTING SYSTEM AND ITS CONTROL METHOD
統合補修システム及び自動不良検出システムとその制御方法 - 特許庁 - To restrain the occurrence of an image defect by improving the posture of recording material which becomes the factor of the image defect in the case of secondary transfer from an intermediate transfer body.
中間転写体からの二次転写に際し、画像不良の要因となる記録材の姿勢を改善することにより画像不良の発生を抑制する。 - 特許庁 - To provide a defect inspection device capable of simply inspecting the defect such as a crack or the like of a solar cell on a definite decision level, and a flaw inspection method of the solar cell.
太陽電池のクラック等の欠陥の検査を一定の判定レベルで簡単に行うことができる検査装置と方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a crimping defect determination data forming method for a terminal crimping defect detection device in which the times of inputting, inputting mistakes, and the time of detection can be saved.
入力の手間、入力ミス、検証の手間が省ける端子圧着不良検出装置の圧着不良判定データ作成方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a method and apparatus for inspecting the defect of a filter, which can improve a detection accuracy of the defect, while using liquid particles.
液体粒子を使いつつ、欠陥の検出精度をより向上できる、フィルタの欠陥の検査方法、及び、フィルタの欠陥の検査装置を提供する。 - 特許庁 - SOLID-STATE IMAGE PICKUP DEVICE, METHOD FOR CONVERTING FAILED PIXEL FOR THE APPARATUS AND DEFECT CORRECTING METHOD
固体撮像装置、その画素不良変換方法および傷補正方法 - 特許庁 - To provide a printed wiring board manufacturing method capable of raising electric test yield since the generation rate is reduced in an open defect and a short-circuiting defect.
オープン不良及びショート不良の発生率が低くなるため、電気検査歩留まりを向上できるプリント配線基板の製造方法を提供する。 - 特許庁 - A cluster-forming part 56 has a binary search tree structure and forms a plurality of clusters which are clusters of the defect elements, respectively derived from the same defect.
クラスタ生成部５６では、２分探索木の構造を有し、それぞれが同一の欠陥に由来する欠陥要素の集合である複数のクラスタが生成される。 - 特許庁 - JUDGING METHOD OF SURFACE DEFECT EVALUATION ON CAST SLAB IN CONTINUOUS CASTING PROCESS
連続鋳造プロセスにおける鋳片の表面欠陥評点判定方法 - 特許庁 - This device for correcting the defect of the color filter corrects the defect of the color filter having a light transmission area and a light shielding area adjacent to the light transmission area.
カラーフィルタ欠陥修正装置は、光透過領域および光透過領域に隣接する遮光領域を有するカラーフィルタの欠陥を修正する。 - 特許庁 - COATING NEEDLE, AND COATING MECHANISM, DEFECT CORRECTING DEVICE AND COATING METHOD, USING THE SAME
塗布針と、それを用いた塗布機構、欠陥修正装置、および塗布方法 - 特許庁 - The monitor issues an interrupt when the resource is first marked as a defect.
モニタは、資源が最初に欠陥と印されたときに、割り込みを発生する。 - 特許庁 - To provide a point defect detection method by which a point defect can be detected without the need for any exclusive circuit and that is used for a picture signal processor.
専用の回路を必要とせず、点欠陥の検出を行なうことができる画像信号処理装置で用いられる点欠陥検出方法を提供する。 - 特許庁 - METHOD AND APPARATUS FOR DETECTING DEFECT OF TFT ARRAY
ＴＦＴアレイの欠陥検出方法及びＴＦＴアレイ欠陥検出装置 - 特許庁 - To detect highly accurately only an essential defect existing in a specimen without detecting wrongly noise superimposed on specimen image data as a defect.
被検体画像データに重畳されたノイズを欠陥として誤検出することなく、被検体に存在する本来の欠陥のみを、高精度に検出する。 - 特許庁 - METHOD AND DEVICE FOR ANALYZING DEFECT DISTRIBUTION FEATURE
欠陥の分布特徴解析方法および欠陥の分布特徴解析装置 - 特許庁 - To inspect the presence/absence of a micro defect caused in a repeat pattern.
繰り返しパターンに生じた微細な欠陥の有無を、短時間で検査する。 - 特許庁 - METHOD AND DEVICE FOR CORRECTING DEFECT GENERATED IN FINE PATTERN ON SUBSTRATE
基板上の微細パターンに発生した欠陥修正方法と修正装置 - 特許庁 - PERIPHERAL LENGTH CORRECTING DEVICE, PERIPHERAL LENGTH MEASURING DEVICE AND SURFACE DEFECT INSPECTING DEVICE
周長補正装置、周長測定装置及び表面欠陥検査装置 - 特許庁 - DETECTION METHOD OF DEFECT CAUSED BY CHEMICAL SOLUTION, AND MANUFACTURING METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE
薬液起因の欠陥検出方法及び半導体装置の製造方法 - 特許庁 - To maintain a weft transport force and simultaneously prevent the occurrence of a woven fabric defect.
緯糸搬送力を維持しつつ織物欠点の発生を防止すること。 - 特許庁 - To provide an HF defect evaluating method for an SOI substrate capable of a short-duration high-precision evaluation, and capable of providing HF defect distribution maps.
ＨＦ欠陥を短時間で高精度に評価し、ＨＦ欠陥の分布を示すマップも得られるＳＯＩ基板のＨＦ欠陥評価方法を提供する。 - 特許庁 - APPARATUS AND METHOD FOR CORRECTING DEFECT, AND METHOD FOR MANUFACTURING PATTERN SUBSTRATE
欠陥修正装置、欠陥修正方法、及びパターン基板の製造方法 - 特許庁 - This can be used to make a decision for finding a defect such as the breaking of a wire.
これを断線等の不良発見の判定に利用することができる。 - 特許庁 - To suppress a defect of air inclusion in a green tire caused during a tire manufacturing process.
タイヤ製造工程における生タイヤへのエアー入り不良を抑制する。 - 特許庁 - To quickly and highly reliably determine a defect by eddy current flaw examination.
渦流探傷での欠陥の判定を高速かつ信頼性高く行う。 - 特許庁 - To provide a PTFE porous membrane composite material with less defect of a scuffing or the like on the surface and a suppressed conjunction defect of a joining part at an initial stage.
表面に毛羽等の欠陥が少なく、初期の接合部分において接合不良が抑制されたＰＴＦＥ多孔質膜複合材を提供する。 - 特許庁 - In the defect detecting method, the defect is detected by processing an image on a display surface of an LCD panel 1 or the like where bright spots 2 are regularly arranged on the display surface.
表示面に輝点２が規則的に並んだＬＣＤパネル１等の表示面の画像を処理して欠陥を検出する欠陥検出方法である。 - 特許庁 - To provide an inspecting method of a package defect capable of exactly detecting a defect at any position of a package, and its apparatus.
包装体のどの個所に欠陥があっても、確実にその欠陥を検出することのできる包装欠陥検査方法及びその装置を提供する。 - 特許庁 - To enable even an unskilled person to easily recognize the cause of a defect.
熟練者でなくとも、不良の原因を容易に認識できるようにする。 - 特許庁 - To provide an EL display device capable of simply performing a defect inspection or the like.
欠陥検査などが簡単にできるＥＬ表示装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a defect detecting method and system capable of easily and accurately detecting the existence of a defect of a structure without destroying the structure.
構造体の欠陥の有無を、構造体を破壊することなく簡便且つ正確に検知することができる欠陥検知方法及びシステムを提供する。 - 特許庁 - To provide a highly sensitive and image defect-free thermosensitive transfer ink sheet.
高感度で画像欠陥のない感熱転写インクシートを提供すること。 - 特許庁 - The defect detecting device sets and stores a size of a defect subject to a detection, receives a specification of a first direction where the background pattern is uniformly continued and stores it.
検出対象の欠陥のサイズを設定して記憶し、背景模様が一様に連続している第一の方向の指定を受け付けて記憶する。 - 特許庁 - The defect detection device includes the first generation part 100, a rough image generation part 101, the second generation part 102, an enlarging part 103 and a defect detection part 104.
欠陥検出装置に、第１生成部１００、粗画像生成部１０１、第２生成部１０２、拡大部１０３および欠陥検出部１０４を設ける。 - 特許庁 - To enable a surface defect inspection device to automatically, easily and surely inspect a surface defect regardless of an annular object of a large diameter to be inspected.
表面欠陥検査装置によって、大径の環状被検査体であっても自動で表面欠陥を簡単且つ確実に検査できるようにする。 - 特許庁 - To provide a stripe defect detection method and a device thereof capable of detecting a stripe defect highly accurately without detecting a bright point or a black point.
輝点や黒点を検出することなく、筋状欠陥を高精度に検出することができる筋状欠陥検出方法及び装置を提供する。 - 特許庁
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