「Defect」を含む例文一覧(18306)
＜前へ 1 2 .... 66 67 68 69 70 71 72 73 74 .... 366 367 次へ＞- In the defect mark marking method, at least one reference mark at the known longitudinal position is marked on a metal strip together with the marking of the defect mark.
前記欠陥マークのマーキングに併せて、あらかじめ長手方向位置のわかっている一つ以上の基準マークを前記金属帯にマーキングする。 - 特許庁 - To prevent losing of a defect correcting material in a washing precess of carbon-based contamination in a method for correcting pattern defects and a pattern defect correcting device.
パターン欠陥修正方法及びパターン欠陥修正装置に関し、炭素系汚染の洗浄プロセスにおける欠陥修正材料の消失を防止する。 - 特許庁 - To improve the display quality of an E-ink display device by repairing a pixel unit of the E-ink display device, which has a bright point defect or a dark point defect.
輝点欠陥又は暗点欠陥を有する電子インク表示装置の画素ユニットを修復し、電子インク表示装置の表示品質を向上させる。 - 特許庁 - To remove the image quality defect due to writing deficiency, leak type bright spot defect or the like by improving a driving system of a pixel transistor and auxiliary capacitance.
画素トランジスタ及び補助容量の駆動方式を改善して、書き込み不足やリーク性輝点欠陥などに起因する画質不良を取り除く。 - 特許庁 - LIGHTING METHOD AND DEVICE THEREFOR, AND DEFECT INSPECTION DEVICE USING THE SAME
照明方法およびその装置ならびにこれを用いた欠陥検査装置 - 特許庁 - To provide a defect inspection apparatus capable of highly accurately detecting pattern defects without reducing the light quantity of a laser beam used for defect detection.
欠陥検出に用いるレーザ光の光量が低減することなく、パターン欠陥の検出を高感度にて行うことができる欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁 - A cluster generation part 56 has a binary search tree structure and generates a plurality of clusters each being a set of defect factors respectively deriving from the same defect.
クラスタ生成部５６では、２分探索木の構造を有し、それぞれが同一の欠陥に由来する欠陥要素の集合である複数のクラスタが生成される。 - 特許庁 - Accordingly, the data transmission from the page buffer set related to the defect is blocked.
よって、欠陷と関連したページバッファーセットからのデータ伝送は遮断される。 - 特許庁 - To provide a method for inspecting a defect in a semiconductor single crystal, which has an enhanced sensitivity in defect evaluation of an inspection object by ultrasonic scattering method.
超音波散乱法における被検査物の欠陥評価の感度を向上させた半導体単結晶中の欠陥検査方法を提供する。 - 特許庁 - OPTICAL RECORDING MEDIUM AND DEFECT MANAGEMENT DEVICE AND METHOD FOR OPTICAL RECORDING MEDIUM
光記録媒体並びに光記録媒体の欠陥管理装置及び方法 - 特許庁 - MAPPING PROJECTION TYPE ELECTRON BEAM DEVICE AND DEFECT INSPECTION SYSTEM USING THE SAME
写像投影型の電子線装置及び該装置を用いた欠陥検査システム - 特許庁 - Thereby, defect of a power source current at the time of the data processing section 3 never be hidden by the defect of power source current at the standby time of the memory array 122.
これにより、データ処理部３の待機時電源電流不良がメモリアレイ１２２の待機時電源電流不良に隠れてしまうことがなくなる。 - 特許庁 - The charge barrier layer 2 has defect density lower than the defect density in the charge moving layer 3 and has a barrier larger than that of the charge transfer layer 3.
電荷障壁層２は電荷移動層３中の欠陥密度よりも少ない欠陥密度で、かつ電荷移動層３よりも大きな障壁を持つようにする。 - 特許庁 - METHOD FOR PRODUCING COLD ROLLED STEEL SHEET FOR ENAMELING EXCELLENT BLISTERING DEFECT RESISTING CHARACTERISTIC
耐フクレ欠陥特性に優れたほうろう用冷延鋼板の製造方法 - 特許庁 - To provide a defect inspection method for speedily detecting a defect of a sheet material having a formation pattern such as a fine uneven shape on a surface with good reproducibility.
表面に微細な凹凸形状等の地合パターンを有するシート材の欠陥を、迅速かつ再現性良く検査する方法を提供する。 - 特許庁 - Inspection data is received, and both the single-class and multi-class classifiers are applied to the inspection data to assign the defect to one of the defect classes.
検査データが受信され、欠陥を欠陥部類のうちの１つに割り当てるために、単一部類及び多重部類分類子の両方が適用される。 - 特許庁 - A defect is inspected at the defect inspection part 130 after forming the organic layer at the organic layer forming part 110 and before forming the boundary layer and the second electrode.
有機層成膜部１１０で有機層を形成したのち、界面層および第２電極の形成前に、欠陥検査部１３０で欠陥検査を行う。 - 特許庁 - DEFECT INSPECTION METHOD OF PERPENDICULAR MAGNETIC RECORDING MEDIUM, MAGNETIC DISK APPARATUS, DEFECT REGISTRATION METHOD IN MAGNETIC DISK APPARATUS MOUNTING PERPENDICULAR MAGNETIC RECORDING MEDIUM
垂直磁気記録媒体の欠陥検査方法、磁気ディスク装置、及び垂直磁気記録媒体を搭載する磁気ディスク装置における欠陥登録方法 - 特許庁 - Thus, when an IN2 of the RF switch 2 is selected to apply the defect signal through the HPF1, the defect signal can be attenuated.
これにより、ＲＦスイッチ２のＩＮ２が選択されてディフェクト信号をサブＨＰＦ１に通した場合、そのディフェクト信号を減衰させることができる。 - 特許庁 - ACTIVE MATRIX TYPE LIQUID CRYSTAL DISPLAY DEVICE AND CORRECTING METHOD ITS PIXEL DEFECT
アクティブマトリックス型液晶表示装置およびその画素欠陥修正方法 - 特許庁 - To speedily and accurately correct a defect of a functional unit and to accurately inform all system developers of the defect of the functional unit and the correction result.
機能ユニットの不具合が迅速・的確に修正され、システム開発者すべてに機能ユニットの不具合やその修正結果が的確に連絡されるようにする。 - 特許庁 - To provide a standard sample for calibrating a defect inspection apparatus for a flat panel display with a high reproducibility and to provide a calibration method for the defect inspection apparatus.
フラットパネルディスプレイの欠陥検査装置を再現性よく校正することのできる標準試料および欠陥検査装置の校正方法を提供すること。 - 特許庁 - To provide a liquid crystal display which can effectively prevent a defect in display such as a decrease in contrast by suppressing a defect in alignment of liquid crystal.
液晶の配向不良を抑制してコントラストの低下等の表示不良を効果的に防止することができる液晶表示装置を提供する。 - 特許庁 - In such a manner, the device stably removes the transfer residual toner stuck on the charging roller 2, and to prevent the image defect as a result of charge defect.
これにより、帯電ローラ２に付着した転写残トナーを安定して除去することができ、帯電不良による画像不良を防止することができる。 - 特許庁 - METHOD AND DEVICE FOR DEFECT INSPECTION OF PHOTOMASK AND RECORDING MEDIUM
フォトマスクの欠陥検査方法、フォトマスクの欠陥検査装置及び記録媒体 - 特許庁 - METHOD AND APPARATUS FOR DEFECT DETECTION AND METHOD AND APPARATUS FOR IMAGING
欠陥検査方法及びその装置並びに撮像方法及びその装置 - 特許庁 - To provide a leakage flux flaw detecting method for stably discriminating a surface defect from an internal defect and performing detection regardless of measuring conditions.
測定条件の変化によらず安定して、表面欠陥と内部欠陥を区別して検出することが可能な漏洩磁束探傷方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a new implant for repairing a chondral defect, a method for preparing the implant, and a method for repairing a chondral defect with the implant.
軟骨欠損の修復のための新規なインプラント、該インプラントの作製方法、並びに該インプラントを用いる軟骨欠損の修復方法の提供。 - 特許庁 - To prevent visibility defect resulting from misregistration and also prevent visibility defect resulting from an exchange process performed to prevent visibility decrease resulting from misregistration.
版ずれによる視認性の不具合を防ぐとともに、版ずれによる視認性の低下を防ぐための交換処理によって生じ得る視認性の不具合を防ぐ。 - 特許庁 - To provide a motor control apparatus that is efficient in analyzing cause of errors after a defect and in securing safety of internal circuit components when detecting the defect of externally supplied voltage.
外部供給電圧の異常検出時に、内部回路部品の安全確保と異常後のエラー要因の解析に有効なモータ制御装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a defect detection device capable of detecting simultaneously a black spot and a defect such as a hollow, without lowering a detection capacity of a flaw.
キズの検出能力を低下させることなく、黒点や凹みなどの欠陥を同時に検出することができる欠陥検出装置を提供する。 - 特許庁 - To provide an optical reader capable of suppressing variations in height of glass surface with respect to a conveying surface, and preventing read defect and conveying defect of a medium.
搬送面に対するガラス面の高さのバラつきを抑え、媒体の読取不良及び搬送不良を防止できる光学読取装置を提供すること。 - 特許庁 - To provide a manufacturing method of a silicon wafer which allows effective acquisition of an IG effect even in a defect-free silicon wafer in which defect-free regions [P] are distributed in the entire area.
無欠陥領域［Ｐ］が全域に分布する無欠陥のシリコンウェーハであっても、ＩＧ効果が有効に得られるシリコンウェーハの製造方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a method for identifying a glass defect source by which the glass defect source is directly identified without using a mathematical simulation.
本発明は、ガラス欠点の発生源を、数学シミュレーションを用いずに、直接的に特定することができるガラス欠点発生源の特定方法を提供する。 - 特許庁 - To suppress deterioration of detecting precision due to the defect of a detection circuit.
検出回路の欠陥に起因した検出精度の低下を抑制する。 - 特許庁 - To provide a technique of reducing cost and time for manufacturing for defect reduction.
不良低減の作りこみのコスト時間を低減する技術を提供する。 - 特許庁 - To provide a two-dimensional color solid-state imaging element capable of easily carrying out complement processing even on the occurrence of a longitudinal line defect or a lateral line defect.
縦線欠陥や横線欠陥が発生した場合であっても、補完処理を容易に行うことができる二次元カラー固体撮像素子を得る。 - 特許庁 - METHOD AND DEVICE FOR IMAGE READ AND DEFECT DECIDING METHOD FOR IMAGE DATA
画像読取方法および装置ならびに画像データの欠陥判別方法 - 特許庁 - To provide a recording medium to store a defect control information for recording real time data, a defect control method thereof and a real time data recording method.
リアルタイムデータを記録するための欠陥管理情報を貯蔵する記録媒体、その欠陥管理方法とリアルタイムデータの記録方法を提供する。 - 特許庁 - APPARATUS AND METHOD FOR INSPECTION OF HONEYCOMB STRUCTURE DEFECT
ハニカム構造体欠陥検査装置、及びハニカム構造体欠陥検査方法 - 特許庁 - To efficiently obtain image of a wafer suitable for a defect inspection.
欠陥検査に適したウェーハの画像を効率よく取得できるようにする。 - 特許庁 - A defect determination part 38 determines the presence/absence of a defect in each of the plurality of detection circuits U according to the detection signal S of each of the detection circuits U.
欠陥判定部３８は、複数の検出回路Ｕの各々における欠陥の有無を当該検出回路Ｕの検出信号Ｓに応じて判定する。 - 特許庁 - To improve the accuracy of defect detection, and prevent the reduction in productivity.
欠陥検出の精度を高めるとともに、生産性の低下を防止する。 - 特許庁 - Thereby, brightness of the non-defect parts in the inspection imaged imageries is to be homogenized and brightened, making the defect part 6 to be detectable clearly.
これにより、検査面撮像画像における非欠陥部の明度を均一かつ明るくし、欠陥部６を明瞭に検出することが可能となる。 - 特許庁 - To automatically improve the fitting defect of a punch die P by automatically performing the retry operation of a punch die P when the fitting defect of the punch die P is caused.
パンチ金型Ｐの取付不良が生じた場合に、パンチ金型Ｐのリトライ動作を実行して、パンチ金型の取付不良を自動的に改善する。 - 特許庁 - To provide an automatic defect inspection device that sets a detection condition at starting-up of a plurality of automatic defect inspection devices and periodically corrects the detection condition.
複数の自動欠陥検査装置の立ち上げ時の検出条件の設定と、定期的に検出条件を校正する自動欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁 - Resultantly, a state is acquired, wherein the discrimination number corresponding to the common defect is imparted only to a substrate determined that the common defect exists thereon.
その結果、当該共通欠陥が存在すると判定された基板のみに、当該共通欠陥に対応する識別番号が付与された状態となる。 - 特許庁 - DEFECT RECOVERY METHOD OF THIN FILM PHOTOELECTRIC CONVERSION CELL, MANUFACTURING METHOD OF THIN FILM PHOTOELECTRIC CONVERSION MODULE AND DEFECT RECOVERY DEVICE OF THIN FILM PHOTOELECTRIC CONVERSION MODULE
薄膜光電変換セルの欠陥修復方法、薄膜光電変換モジュールの製造方法、及び薄膜光電変換モジュールの欠陥修復装置 - 特許庁 - This condition is maintained, when an automatic defect classification is performed after the circuit pattern inspection.
この状態は回路パターン検査後の自動欠陥分類時に維持される。 - 特許庁 - FLAT DISPLAY PANEL AND METHOD FOR CORRECTING DEFECT IN WIRING OF FLAT DISPLAY PANEL
平面ディスプレイパネル及び平面ディスプレイパネルの配線欠陥修正方法 - 特許庁
- 特許庁
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