「Defect」を含む例文一覧(18306)

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  • METHOD AND APPARATUS FOR INSPECTING DEFECT OF SEMICONDUCTOR DEVICE
    半導体デバイスの欠陥検査方法及び欠陥検査装置 - 特許庁
  • METHOD OF ELIMINATING OR REDUCING IMAGE DEFECT IN DIGITAL CAMERA
    デジタルカメラにおける画像欠陥の解消又は軽減方法 - 特許庁
  • PHOTOMASK DEFECT CORRECTING DEVICE AND METHOD
    フォトマスク欠陥修正装置及びフォトマスク欠陥修正方法 - 特許庁
  • MAGNETIC DISK DEFECT TEST METHOD, PROTRUSION TEST DEVICE, AND GLIDE TESTER
    ディスク欠陥検査方法、突起検査装置およびグライドテスタ - 特許庁
  • To provide a defect inspecting method and its device accurately detecting a defect due to plastic working of a laminated sheet material.
    ラミネートシート材の塑性加工による欠陥を精度よく検出する欠陥検査方法とその装置を提供すること。 - 特許庁
  • DATA STRUCTURE OF DEFECT MANAGEMENT INFORMATION IN OPTICAL RECORDING MEDIUM
    光記録媒体における欠陥管理情報のデータ構造 - 特許庁
  • SPECIFYING METHOD AND INSPECTION SYSTEM FOR PERIODIC DEFECT OCCURRENCE PART
    周期欠陥発生箇所の特定方法および検査システム - 特許庁
  • METHOD AND APPARATUS FOR DEFECT INSPECTION FOR PHASE SHIFT MASK
    位相シフトマスクの欠陥検査方法及び欠陥検査装置 - 特許庁
  • CIRCUIT DEFECT REPAIRING METHOD AND DEVICE OF LIQUID CRYSTAL DISPLAY
    液晶表示装置の回路欠陥補修方法及び装置 - 特許庁
  • METHOD AND APPARATUS FOR GENERATION OF DEFECT-RELIEF TREATMENT INFORMATION
    不良救済処理情報の生成方法及びその装置 - 特許庁
  • To provide a defect inspection apparatus by which a defect can be inspected with high throughput even when a charged particle beam is used.
    荷電粒子線ビームを用いた場合でも高スループットで欠陥の検査が可能な欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁
  • DEVICE AND METHOD FOR MONITORING DEFECT OF SEAMED SECTION OF DRUM
    ドラム缶の巻締部の欠陥監視装置および監視方法 - 特許庁
  • DEFECT DETECTING METHOD AND DEVICE OF PRESS COMPONENT
    プレス部品の欠陥検出方法、及び欠陥検出装置 - 特許庁
  • Laser is irradiated on a short-circuit defect part of an organic electroluminescent layer of a non-luminescent pixel to insulate the short-circuit defect part.
    滅点画素の有機エレクトロルミネッセンス層のショート欠陥部分にレーザを照射して、該ショート欠陥部分を絶縁化する。 - 特許庁
  • METHOD OF DETECTING DEFECT IN POWER CABLE OR ITS ACCESSORY
    電力ケーブルまたはその付属品の欠陥検出方法 - 特許庁
  • DEFECT DATA ANALYTIC METHOD, APPARATUS FOR THE SAME AND REVIEW SYSTEM
    欠陥データ解析方法及びその装置並びにレビューシステム - 特許庁
  • METHOD AND APPARATUS FOR INSPECTING COATING DEFECT OF BURIED PIPE
    埋設管の塗覆欠陥の検査方法及び検査装置 - 特許庁
  • SURFACE DEFECT DETECTOR AND ITS DETECTION METHOD
    表面欠陥検出装置及び表面欠陥検出方法 - 特許庁
  • METHOD AND DEVICE FOR INSPECTING DEFECT OF DISK
    ディスクの欠陥検査方法及びディスクの欠陥検査装置 - 特許庁
  • To provide a defect classifying device capable of highly accurately classifying even a defect due to continuous light exposure.
    連続する露光機起因の欠陥に対しても精度の高い欠陥分類が可能な欠陥分類装置を提供する。 - 特許庁
  • APPARATUS AND METHOD FOR DETECTING SURFACE DEFECT
    表面欠陥検出装置、及び表面欠陥検出方法 - 特許庁
  • IMAGE DEFECT DETECTION METHOD AND RADIOGRAPHIC IMAGING APPARATUS
    画像欠陥検出方法および放射線画像撮影装置 - 特許庁
  • PROCESS FOR REMOVING DEFECT OF STEEL PLATE ON PICKLING ACID ENTRANCE SIDE
    酸洗入側における鋼板欠陥部の除去方法 - 特許庁
  • METHOD AND APPARATUS FOR DETECTING DISCHARGE DEFECT
    吐出不良検出方法及び吐出不良検出装置 - 特許庁
  • LOW DEFECT NITRIDE SEMICONDUCTOR SUBSTRATE AND ITS FABRICATING METHOD
    低欠陥窒化物半導体基板及びその製造方法 - 特許庁
  • To exactly recognize the defect position on a photomask substrate.
    フォトマスク基板上の欠陥位置を正確に把握すること。 - 特許庁
  • To provide a defect detection device capable of satisfactorily detecting a defect of a plate body having photoelasticity.
    光弾性を有する板状体の欠陥を良好に検出可能な欠陥検出装置を提供することができる。 - 特許庁
  • SOS SUBSTRATE LOW IN DEFECT DENSITY IN PROXIMITY OF INTERFACE
    界面近傍における欠陥密度が低いＳＯＳ基板 - 特許庁
  • APPARATUS AND METHOD FOR CORRECTING PHOTOMASK DEFECT USING AFM
    ＡＦＭを用いたフォトマスク欠陥修正装置及び方法 - 特許庁
  • A defect detecting part 11 sends a detection signal SD to the control part 8 when occurrence of defect detection is detected.
    ディフェクト検出部１１はディフェクト検出の発生を検出したとき、検出信号ＳＤを制御部８に送る。 - 特許庁
  • FORMATION OF LOW-DEFECT GERMANIUM FILM BY DIRECT WAFER BONDING
    直接ウェハ結合による低欠陥のゲルマニウム膜の製造 - 特許庁
  • DEFECT REPAIRING METHOD FOR LIQUID CRYSTAL PANEL BY FEMTOSECOND LASER
    フェムト秒レーザによる液晶パネルの欠陥修復方法 - 特許庁
  • When defect contents are input through an input part (S11), a factor estimation part estimates a factor of the defect (S12).
    入力部を介して不良内容が入力されると（Ｓ１１）、要因推定部は、その要因を推定する（Ｓ１２）。 - 特許庁
  • To accurately detect a defect in a pixel light beam in an apparatus for detecting a pixel light beam defect.
    画素光ビーム欠陥検出装置において、画素光ビームの欠陥をより正確に検出することができるようにする。 - 特許庁
  • MANUFACTURING METHOD OF MAGNESIUM-ALLOY COIL HARDLY CAUSING SURFACE DEFECT
    表面欠陥が少ないマグネシウム合金コイルの製造方法 - 特許庁
  • FILLING MATERIAL TO CARTILAGE DEFECT SECTION OR CARTILAGE INJURY SECTION
    軟骨欠損部又は軟骨損傷部への充填材料 - 特許庁
  • METHOD OF CORRECTING DEFECT OF PHOTOMASK AND SCANNING PROBE MICROSCOPE
    フォトマスクの欠陥修正方法及び走査プローブ顕微鏡 - 特許庁
  • According to one embodiment, the disk drive apparatus includes a defect table formed using more than one defect detection standard.
    一実施形態によれば、ディスクドライブ装置は、２以上の欠陥検出基準を用いて生成された欠陥テーブルを含む。 - 特許庁
  • To automatically detect a defect in an antireflection film.
    反射防止フィルムの欠陥検出を自動的に行うこと。 - 特許庁
  • PRODUCTION OF NITROGEN-DOPED, LOW DEFECT DENSITY SILICON SINGLE CRYSTAL
    窒素ドープした低欠陥シリコン単結晶の製造方法 - 特許庁
  • A comparison part compares the defect occurrence rate and the reference value in timing wherein the defect is detected by the detection part 110.
    比較部は、検知部１１０により不具合が検知されたタイミングで、不具合発生率と基準値とを比較する。 - 特許庁
  • METHOD FOR EVALUATING PHOTOMASK DEFECT TRANSFER CHARACTERISTIC, AND PHOTOMASK
    フォトマスクの欠陥転写特性評価方法およびフォトマスク - 特許庁
  • Wrote down the wrong address because of a defect of memory.
    記憶障害を起こして 住所を書き間違えたんです - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書
  • a defect of vision in which objects appear to be distorted
    物体が歪んだ状態で見えるという視覚の欠陥 - 日本語WordNet
  • MEMORY CELL FOR DEFECT RELIEF AND STORAGE DEVICE UTILIZING THE SAME
    不良救済用メモリセル及びそれを用いた記憶装置 - 特許庁
  • IMAGING METHOD OF INTERNAL DEFECT BY ULTRASONIC WAVE, AND ITS DEVICE
    超音波による内部欠陥の映像化方法、及び、装置 - 特許庁
  • DEFECT INSPECTING METHOD USING SCANNING CHARGED PARTICLE BEAM SYSTEM
    走査型荷電粒子ビーム装置を用いた欠陥検査方法 - 特許庁
  • DEFECT MANAGEMENT INFORMATION SETTING METHOD, RECORDING METHOD, DEFECT MANAGEMENT METHOD, PROGRAM, RECORDING MEDIUM, AND INFORMATION RECORDING DEVICE
    欠陥管理情報設定方法、記録方法、欠陥管理方法、プログラム及び記録媒体、並びに情報記録装置 - 特許庁
  • APPARATUS AND METHOD FOR ANALYZING DEFECT OF STENCIL MASK
    ステンシルマスクの欠陥解析装置及び欠陥解析方法 - 特許庁
  • METHOD AND APPARATUS FOR CORRECTING DEFECT OF COLOR FILTER
    カラーフィルタの欠陥修正方法及び欠陥修正装置 - 特許庁
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