「Defect」を含む例文一覧(18306)
＜前へ 1 2 .... 42 43 44 45 46 47 48 49 50 .... 366 367 次へ＞- WAFER DEFECT DETECTION SYSTEM WITH TRAVELING LENS MULTI-BEAM SCANNER
移動レンズマルチビームスキャナを備えたウェハ欠陥検出システム - 特許庁 - To detect even a small defect with high throughput.
小さな欠陥であっても高スループットで検出可能にする。 - 特許庁 - Thereby, the luminance of the pixel 21a of the bright spot defect is reduced.
これにより、輝点不良の画素２１ａの輝度が下がる。 - 特許庁 - To realize an inspection device capable of individually detecting a step bunching and a defect other than the step bunching such as a lattice defect.
格子欠陥等のステップバンチング以外の欠陥とステップバンチングとを個別に検出できる検査装置を実現する。 - 特許庁 - METHOD AND EQUIPMENT FOR INSPECTING DEFECT OF POROUS CERAMIC MEMBER
多孔質セラミック部材の欠陥検査方法及び検査装置 - 特許庁 - To provide a pattern inspection device which eliminates an erroneous detection of false defect macroscopically, and enables high defect detection accuracy microscopically.
マクロには擬似欠陥の誤検出がなく、ミクロには欠陥検出精度が高いパターン検査装置を提供する。 - 特許庁 - ELECTRONIC COMPONENT MOUNTING DEVICE, AND BONDING DEFECT DETECTION METHOD
電子部品実装装置及び接合不良検出方法 - 特許庁 - SEMICONDUCTOR MEMORY AND DEFECT RELIEVING METHOD USING IT
半導体記憶装置とそれを用いた欠陥救済方法 - 特許庁 - DEFECT INSPECTION METHOD AND PROGRAM OF PERPENDICULAR MAGNETIC RECORDING MEDIUM
垂直磁気記録媒体の欠陥検査方法およびプログラム - 特許庁 - The defect inspecting apparatus 10 images an object (the printed material) 12, and inspects the defect using a computer 16.
本発明に係る欠陥検査装置１０は、被写体（印刷物）１２を撮影し、コンピュータ１６によって欠陥を検査する。 - 特許庁 - DEFECT CORRECTING METHOD OF ELECTRONIC CIRCUIT PATTERN, AND DEVICE THEREFOR
電子回路パターンの欠陥修正方法およびその装置 - 特許庁 - DEFECT DETECTING DEVICE AND ELECTRIC POWER STEERING DEVICE
歯車の損傷検出装置及び電動パワーステアリング装置 - 特許庁 - To provide a defect patch device and method that patches a defect in the heart or other cardiovascular tissue.
心臓又はその他の心管系組織にある欠損部にパッチを当てる欠損部パッチ用の装置及び方法の提供。 - 特許庁 - PRESSURE RESERVOIR USED BY HYDRAULIC SYSTEM WITH IMPROVED DEFECT DETECTION AND DEFECT DETECTION METHOD IN RESERVOIR
欠陥認知が改善された、ハイドロリックシステムに用いられる圧力リザーバならびにリザーバにおける欠陥認知のための方法 - 特許庁 - To provide a defect inspection device capable of efficiently classifying a defect with high precision without taking labor.
欠陥を分類するのに手間を掛けずに効率良く高精度に欠陥分類できる欠陥検査装置を提供すること。 - 特許庁 - To realize a resizing process with high accuracy and improve defect detection sensitivity in a defect inspecting device.
欠陥検査装置におけるリサイズ処理を高い精度で実現することができ、欠陥検出感度の向上をはかる。 - 特許庁 - To remove a black defect with less over etching by detecting a finish point by an AFM (Atomic Force Microscope) photomask defect correcting apparatus.
ＡＦＭフォトマスク欠陥修正装置で終点検出によりオーバーエッチングの少ない黒欠陥除去を行う。 - 特許庁 - DETECTION LIQUID OF DEFECT PART OF WATERPROOF SHEET AND ITS DETECTION METHOD
防水シートの欠陥部の検知液及びその検知方法 - 特許庁 - CHANNEL CIRCUIT AND DEFECT DETECTION METHOD OF MAGNETIC DISK DEVICE
チャネル回路及び磁気ディスク装置の欠陥検出方法 - 特許庁 - DEFECT INSPECTION METHOD AND MANUFACTURING METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE
欠陥検査方法および半導体装置の製造方法 - 特許庁 - An occurrence rate calculation part 114 calculates a defect occurrence rate as the detection frequency of the defect per unit operation amount.
発生率算出部１１４は、単位稼動量あたりの不具合の検知回数として不具合発生率を算出する。 - 特許庁 - A probe 1 is pressed against the excess defect 3 of the photomask.
探針１をフォトマスクの余剰欠陥３に押しつける。 - 特許庁 - DEFECT INSPECTION METHOD AND DEFECT INSPECTION DEVICE OF MASK SUBSTRATE, MANUFACTURING METHOD OF PHOTO MASK, AND MANUFACTURING METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE
マスク基板の欠陥検査方法及び欠陥検査装置、フォトマスクの製造方法及び半導体装置の製造方法 - 特許庁 - To reduce defect density in a semiconductor element substrate.
半導体素子用基板において、欠陥密度を低減する。 - 特許庁 - Consequently, occurrence of a bridge defect or icicle defect between adjacent electrode leads 6 can be suppressed.
これにより、隣り合う電極リード６の間にブリッジ不良またはツララ不良が発生することを抑制することができる。 - 特許庁 - By comparing a pixel obtained by these circuits and the value of the black defect or white defect level register 10 or 12, a detective pixel is specified.
これにより得られる画素と、黒キズまたは白キズレベルレジスタ１０，１２との値を比較し、欠陥画素を特定する。 - 特許庁 - LAMINATE FILM HAVING PRINT PART FACILITATING DETECTION OF PRINT DEFECT
印刷欠陥検知が容易な印字部を有する積層フィルム - 特許庁 - The detected defect signals are transmitted to defect discrimination devices 13a, 13b, and each frequency component thereof is calculated.
さらに、検出された欠陥信号は、欠陥弁別装置１３ａ、１３ｂに送られ、その周波数成分が計算される。 - 特許庁 - SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE PROVIDED WITH WORD LINE DEFECT CHECK CIRCUIT
ワードライン欠陥チェック回路を具備した半導体メモリ装置 - 特許庁 - CRADLE, IMAGING APPARATUS, IMAGING SYSTEM, AND DEFECT DETECTING METHOD
クレードル、撮像装置、撮像システム、および欠陥検出方法 - 特許庁 - Timing of additional registration itself is basically optional provided that it is after the defect detection even when it is before or after defect compensation.
追加登録タイミング自体は欠陥補償の前でも後でも、欠陥検出以後なら基本的には任意である。 - 特許庁 - A defect correcting circuit 44 corrects the pixel part detected as the defective pixels by the defect detecting circuit 41.
欠陥補正回路４４では、欠陥検出回路４１で欠陥画素と検出された画素部に対して補正が行われる。 - 特許庁 - To detect a defect caused by a manufacturing process or a manufacturing device and to specify the process causing the defect.
製造プロセス又は製造装置に起因した不良の検出を可能とし、不良の原因となったプロセスを特定する。 - 特許庁 - ADJUSTING METHOD FOR PHOTOGRAPHING TIMING IN SURFACE DEFECT INSPECTION
表面欠陥検査における撮影タイミングの調整方法 - 特許庁 - IMAGE SIGNAL PROCESSING APPARATUS AND DETECTION METHOD OF PIXEL DEFECT
画像信号処理装置及び画素欠陥の検出方法 - 特許庁 - REDUCTION OF DEFECT IN ELECTRODEPOSITION COPPER FOR SEMICONDUCTOR APPLICATION
半導体用途のための電着銅における欠陥の減少 - 特許庁 - To detect a surface defect of a workpiece with high accuracy.
被検査物の表面の欠陥を高い精度で検出する。 - 特許庁 - To improve the reliability of defect inspection for electronic parts.
電子部品の欠品検査の信頼性の向上を図る。 - 特許庁 - The sector in which RA generation is thus detected is registered as a defect sector in a defect sector control table 62.
このＴＡ洗い出しでＴＡ発生が検出されたセクタはディフェクトセクタとしてディフェクト管理テーブル６２に登録される。 - 特許庁 - LINEAR DEFECT DETECTING METHOD AND DEVICE
線状欠陥検出方法および線状欠陥検出装置 - 特許庁 - COMPENSATING FOR PIXEL DEFECT BY SPATIAL TRANSLATION OF SCENE CONTENT
シーン内容の空間平行移動による画素欠陥の補償 - 特許庁 - As a result, defect detection percentage is computed (ST106).
その結果、欠陥検出率が算出される（ＳＴ１０６）。 - 特許庁 - To manufacture an optical scale having defect-free reflection films.
欠陥のない反射膜を有する光学スケールを製造する。 - 特許庁 - DEVICE AND SYSTEM FOR SUPPORTING COUNTERMEASURE AGAINST DEFECT OF COLLECTIVE GAS SUPPLY
集団ガス供給不良対策支援装置及びシステム - 特許庁 - The method is applied to the printing defect display apparatus.
およびその方法を適用した印刷欠陥表示装置。 - 特許庁 - The traveling POF element wire 11 is guided by guide pulleys 21-28 to perform defect detection in a defect detection part 30.
ガイドプーリ２１〜２８により、走行するＰＯＦ素線１１を案内し、欠陥検出部３０で欠陥を検出する。 - 特許庁 - To provide a defect detection method and device for performing defect inspection in the course of conveying a detecting object.
検出対象物を搬送する途中で欠陥の検査を行う欠陥検出方法および装置を提供する。 - 特許庁 - To prevent crystal defect failure by dislocation.
転位による結晶欠陥不良を防止できるようにする。 - 特許庁 - LIQUID CRYSTAL DISPLAY DEVICE AND METHOD FOR RELIEVING DOT DEFECT THEREOF
液晶表示装置およびその点欠陥救済方法 - 特許庁 - A means 6 for detecting an envelope defect and a means 7 for counting the number of occurrences of the envelope defect are included.
包絡線の異常を検出する手段６と包絡線異常の出現回数を計測する手段７を有する。 - 特許庁
- 特許庁
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