「Defect」を含む例文一覧(18306)
＜前へ 1 2 .... 38 39 40 41 42 43 44 45 46 .... 366 367 次へ＞- RESIST INSPECTION APPARATUS AND DEFECT INSPECTION METHOD OF MASK SUBSTRATE
レジスト検査装置及びマスク基板の欠陥検査方法 - 特許庁 - To provide an imaging apparatus in which a TFT defect caused by static electricity does not occur, and a point defect and a line defect in a detection image are not caused.
静電気によるＴＦＴ不良が発生することがなく、検出画像において点欠陥、線欠陥を生じることのない撮像装置を提供すること。 - 特許庁 - Two kinds of defect detection data acquired by performing defect detection in different conditions are stored in a storage device.
記憶装置に、異なる条件で欠陥検出が行われた２種類の欠陥検出データが記憶される。 - 特許庁 - DEFECT OBSERVING METHOD USING SEM, AND APPARATUS THEREFOR
ＳＥＭを用いた欠陥観察方法及びその装置 - 特許庁 - APPARATUS FOR DETECTING DEFECT IN COATING LIQUID FOR CURTAIN COATER
カーテンコータにおける塗工液中の欠陥検出装置 - 特許庁 - To provide a substrate inspecting method for detecting whether the defect of the substrate is a backside defect produced in the front stage of the inspection process or the backside defect produced during inspection.
検査プロセスの前段階で生じた裏面欠陥なのか、もしくは検査時に生じた裏面欠陥なのかを検出することができる基板検査方法を提供する。 - 特許庁 - When the defect is not regenerated, compilation is performed as it is in the step including the defect like conventional processing.
不良が再現しない場合は従来処理の不良箇所を含むステップにてそのままコンパイルを進める。 - 特許庁 - COATING DEFECT DETECTOR AND MASK IMAGE PREPARING METHOD
塗装欠陥検出装置およびマスク画像作成方法 - 特許庁 - LEARNING TYPE DEFECT DISCRIMINATION PROCESSING SYSTEM, METHOD, AND PROGRAM
学習型欠陥弁別処理システム、方法及びプログラム - 特許庁 - By detecting the potential defect which possibly develops to the defect and reassigning the potential defect, availability and reliability of the hard disk drive are improved.
欠陥に発展するおそれのある潜在的欠陥を検出し，潜在的欠陥の再割り当てを行うことによって，ハードディスクドライブの実行性及び信頼性が向上する。 - 特許庁 - Thereby, delay at the time of detection of the original defect signal is prevented and the defect can be removed.
これにより、本来の欠陥信号の検出時の遅延をなくし、当該欠陥を除去することができる。 - 特許庁 - METHOD AND APPARATUS FOR DETECTION OF DEFECT IN FILM
フィルムの欠陥検出方法及び欠陥検出装置 - 特許庁 - DEFECT DETECTING METHOD OF INSULATING FILM OR SEMICONDUCTOR FILM
絶縁膜もしくは半導体膜の欠陥検出方法 - 特許庁 - The linear defect is different from dislocation.
前記直線状欠陥は、転位とは異なる欠陥である。 - 特許庁 - POSITION DETECTING METHOD IN DEPTH DIRECTION OF DEFECT IN GLASS SUBSTRATE
ガラス基板内欠陥の深さ方向位置検出方法 - 特許庁 - APPARATUS AND METHOD FOR INSPECTION OF DEFECT OF PATTERN
パターン欠陥検査装置及びパターン欠陥検査方法 - 特許庁 - DETECTOR METHOD FOR MEDIUM DEFECT AND INFORMATION STORAGE DEVICE
媒体欠陥検出方法及び情報記憶装置 - 特許庁 - The protruded defect and the recessed defect are judged and discriminated based on a difference between signals from the photodetectors 19a, 19b.
この光検出器１９ａ、１９ｂの信号の差によって凸状欠陥か凸状欠陥かを判別する。 - 特許庁 - The defect rate may become a charge damage quantitative index.
この不良率は、チャージダメージ定量の指標となり得る。 - 特許庁 - ULTRASONIC PROBE AND DEFECT EVALUATION METHOD USING IT
超音波プローブ及びこれを用いた欠陥評価方法 - 特許庁 - METHOD AND DEVICE FOR INSPECTING WIRING DEFECT
配線不良検査方法及び配線不良検査装置 - 特許庁 - METHOD FOR CORRECTING DEFECT OF GRAY-TONE MASK, AND THE GRAY-TONE MASK
グレートーンマスクの欠陥修正方法、及びグレートーンマスク - 特許庁 - To certainly and early find a print defect.
印刷不良を確実に早期発見できるようにする。 - 特許庁 - METHOD OF DETECTING DEFECT IN POWER CABLE AND CONNECTING PART
電力ケーブルおよび接続部の欠陥検出方法 - 特許庁 - Defect data on a defect on a semiconductor wafer 111 is acquired by an inspection unit 110 of the defect inspection device 100 and stored in a storage unit 122, and the obtained defect data are classified into a defect kind by a classification determination unit 123 on the basis of a predetermined classification standard previously stored in the storage unit 122.
半導体ウェハ１１１上の欠陥データを欠陥検査装置１００の検査部１１０で取得して記憶部１２２に格納し、得られた欠陥データを記憶部１２２内に予め格納している所定の分類基準に基づいて分類判定部１２３により欠陥種に分類する。 - 特許庁 - SURFACE DEFECT INSPECTION DEVICE AND METHOD
表面欠陥検査装置および表面欠陥検査方法 - 特許庁 - The defect part 20 is detected on the running web-shaped packing material with the defect detecting device 10, the defect display label 22 is pasted at the inside position of the wave edge (10a) near the defect part 10, and a sticking material layer is provided on the defect display label.
走行するウエブ状包装材を欠点検出装置１０で不良箇所２０が検出され、その不良箇所１０近傍でウエブ端縁（１０ａ）内側の位置に貼付される欠点表示ラベル２２であって、該欠点表示ラベル２２は粘着剤層が施されている表示ラベルとしたものである。 - 特許庁 - DEVICE AND METHOD FOR INSPECTING DEFECT IN PLANE DISPLAY PANEL
平面表示パネルの欠陥検査装置および方法 - 特許庁 - To improve quality of defect correction, while greatly enhancing efficiency of work in a defect correction process.
欠陥修正工程の作業効率を著しく向上させつつ、欠陥修正の品質を向上させる。 - 特許庁 - To provide a defect detector which obtains an actual picture of high precision to improve the defect detection sensitivity.
高精度の実画像を得られ、欠陥検出感度を高くすることが可能な欠陥検出装置を提供する。 - 特許庁 - The defect of wiring, that is formed by damascene method, is extracted by the pattern defect comparison inspection and SEM inspection and is identified to be a defect, that is ascertained by a process trace in advance.
ダマシン法で形成された配線の欠陥をパターン欠陥比較検査およびＳＥＭ検査で抽出し、予め工程トレースによって判明した欠陥と同定する。 - 特許庁 - AUTOMATIC DEFECT INFORMATION COLLECTION CONTROL METHOD AND RECORDING MEDIUM RECORDING AUTOMATIC DEFECT INFORMATION COLLECTION CONTROL PROGRAM
自動欠陥情報収集制御方法及び自動欠陥情報収集制御プログラムを記録した記録媒体 - 特許庁 - Brightness data of each pixel of a point defect or a strain defect having a smaller area than an irregular defect in the image data acquired in the inspection image acquisition process is replaced with an interpolation value based on brightness data of a peripheral pixel, to thereby repair the non-evaluation object defect species (point/strain defect repair process ST200).
検査画像取得工程にて取得された画像データ中でムラ欠陥よりも面積が小さい点欠陥、シミ欠陥の各画素の輝度データを周囲の画素の輝度データに基づく補間値で置き換えてこの非評価対象欠陥種を修補する（点・シミ欠陥修補工程ＳＴ２００）。 - 特許庁 - In this system and method, upon the detection of a defect, the printer is enabled to skip the defect area, or alternatively an image influenced by the defect is reprinted.
本発明のシステムおよび方法において、欠陥が検出された場合、プリンタをイネーブルして欠陥領域をスキップさせるか、欠陥の影響を受けた画像を再印刷する。 - 特許庁 - DEVICE AND METHOD FOR SUPPORTING INSPECTION OF INTERNAL DEFECT IN CASTING
鋳造品内部欠陥検査支援装置及び方法 - 特許庁 - To specify the exacter coordinate position of a picture element defect by inspecting the presence or absence of the picture element defect of a liquid crystal display panel.
液晶表示パネルの絵素欠陥の有無を検査し、絵素欠陥のより正確な座標位置を特定する。 - 特許庁 - To provide a method for detecting a defect in a cable connecting section capable of detecting the defect at low cost and with high sensitivity.
低コストで、かつ高感度に欠陥を検出できるケーブル接続部の欠陥検出方法を提供する。 - 特許庁 - PROJECTION DEFECT HEIGHT MEASURING DEVICE AND REPAIR DEVICE OF COLOR FILTER
カラーフィルタの突起欠陥高さ測定器及びリペア装置 - 特許庁 - LIQUID CRYSTAL PANEL, AND DEFECT CORRECTION METHOD THEREFOR
液晶パネルおよび液晶パネルの欠陥修正方法 - 特許庁 - METHOD OF DETECTING DEFECT IN POWER CABLE AND ACCESSORIES
電力ケーブルおよび付属品の欠陥検出方法 - 特許庁 - DEFECT INFLUENCE DEGREE ESTIMATION METHOD AND DESIGN SUPPORT SYSTEM
不良影響度評価方法および設計支援システム - 特許庁 - METHOD AND DEVICE FOR INSPECTING SURFACE DEFECT OF STEEL
鋼材表面欠陥の検査方法および検査装置 - 特許庁 - To obtain an excellent video signal by accurately detecting a defect on an image pickup element and properly improving the influence of the defect.
撮像素子のキズを精度良く検出し、キズの影響を適切に改善して、良好な映像信号を得る。 - 特許庁 - METHOD FOR DETERMINING OCCURRENCE CONDITION OF SURFACE DEFECT OF STEEL MATERIAL
鋼材表面欠陥の発生条件の特定方法 - 特許庁 - relating to or characteristic of the visual defect aniseikonia
視覚障害不等像視に関した、またはその特性 - 日本語WordNet - By this defect classifier, a plurality of defect factors are specified from image data in an inspection area on a substrate to acquire coordinate values of representative points of the respective defect factors.
欠陥分類装置では、基板上の検査領域の画像データから複数の欠陥要素が特定され、各欠陥要素の代表点の座標値が取得される。 - 特許庁 - DEFECT DETECTION METHOD FOR CHIP RESISTOR SUBSTRATE, DEFECT DETECTION DEVICE FOR CHIP RESISTOR SUBSTRATE, AND TRIMMING DEVICE
チップ抵抗体基板の不良検出方法、チップ抵抗体基板の不良検出装置およびトリミング装置 - 特許庁 - INSPECTION DEVICE FOR FILM DEFECT OF TURBINE BLADE AND ITS METHOD
タービン翼の被膜欠陥検査装置およびその方法 - 特許庁 - SEMICONDUCTOR DEFECT ANALYSIS SUPPORT DEVICE AND SUPPORT METHOD
半導体不良解析支援装置および支援方法 - 特許庁 - A defect decoding circuit 78 detects the adjacent patterns.
隣接パターンは欠陥デコード回路７８で検出する。 - 特許庁
