「Defect」を含む例文一覧(18306)
＜前へ 1 2 .... 37 38 39 40 41 42 43 44 45 .... 366 367 次へ＞- DEFECT INSPECTION DEVICE AND METHOD OF INSPECTING SURFACE OF SUBSTRATE
欠陥検査装置及び基板表面の検査方法 - 特許庁 - METHOD AND APPARATUS FOR INSPECTING TRANSFER MASK FOR DEFECT
転写マスクの欠陥検査方法及び欠陥検査装置 - 特許庁 - METHOD OF EXPOSING INTERFACIAL DEFECT OF AERIAL CABLE CONNECTION BODY
架空ケーブル接続体の界面欠陥顕在化方法 - 特許庁 - DEVICE AND METHOD FOR INSPECTING AND REPAIRING CIRCUIT DEFECT
回路欠陥を検査及び修復する装置及び方法 - 特許庁 - In the unevenness defect detecting process, the uneven defect is detected by comparing the unevenness components emphasized value of each of the pixels with a predetermined threshold to extract the pixel of the unevenness defect candidates.
ムラ欠陥検出工程は、前記各画素のムラ成分強調値を所定の閾値と比較してムラ欠陥候補の画素を抽出してムラ欠陥を検出する。 - 特許庁 - LIQUID CONTAINER ATTACHING AND DETACHING APPARATUS AND DEFECT CORRECTION APPARATUS
液体容器着脱装置および欠陥修正装置 - 特許庁 - METHOD AND DEVICE FOR MANAGING DEFECT OF DISK WITH TEMPORARY DEFECT MANAGEMENT INFORMATION AREA AND DEFECTIVE MANAGEMENT AREA
臨時欠陥管理情報領域と欠陥管理領域とが設けられたディスクの欠陥管理方法及び装置 - 特許庁 - To provide a defect extraction device and a defect extraction method capable of improving the reliability of defect inspection, and reducing the data amount of inspection result.
欠陥検査の信頼性を向上させることと、検査結果のデータ量を低減させることができる欠陥抽出装置及び欠陥抽出方法を提供すること。 - 特許庁 - To provide a three-dimensional defect inspection apparatus which is an automatic defect inspection apparatus of a color filter substrate and is capable of performing extremely efficient defect inspection of a defect on the color filter substrate by performing not only area size determination of a plane but also simultaneously performing defect determination in a height direction.
本発明はカラーフィルタ基板の自動欠陥検査装置で、前記カラーフィルタ基板上の欠陥を平面の面積サイズ判定だけでなく、同時に高さ方向の欠陥判定を行うことで、極めて効率のよい欠陥検査が行える立体欠陥検査装置を提供することを目的とする。 - 特許庁 - To restrain generation of a pseudo-defect in an optical card, and to detect a defect with high precision.
光カードに関し擬似欠陥の発生を抑えることができるとともに、欠陥検出を精度良く行なうこと。 - 特許庁 - HIGH STRENGTH CERAMICS AND METHOD FOR EVALUATING DEFECT IN CERAMICS
高強度セラミックスおよびセラミックスの欠陥評価方法 - 特許庁 - DEFECT MANAGEMENT METHOD FOR OPTICAL DISK AND OPTICAL DISK DEVICE
光ディスクの欠陥管理方法、および光ディスク装置 - 特許庁 - To provide a ferroelectric liquid crystal element having a high contrast ratio of display and no alignment defect such as a zigzag defect.
ジグザグ欠陥等の配向欠陥がなく、表示のコントラスト比が高い強誘電性液晶素子を提供する。 - 特許庁 - To provide a defect detection method of a structure and a defect detection device of the structure capable of quantitative evaluation of existence of a defect more surely by a simple constitution.
簡易な構成で、かつ、より確実に欠陥の有無の定量評価が可能な、構造物の欠陥検出方法および構造物の欠陥検出装置を提供する。 - 特許庁 - UNIT AND METHOD FOR CRYSTAL DEFECT INSPECTION
結晶欠陥検査装置及び結晶欠陥検査方法 - 特許庁 - MANUFACTURING METHOD OF BLOCK RAW MATERIAL FOR ULTRASONIC DEFECT DETECTION TEST
超音波深傷試験用ブロック素材の製造方法 - 特許庁 - A mark M indicating existence of the defect 4 is provided by laying it on top of the defect 4 existing on the surface of or in the inside of the thin band-like sheet material 20, or in the vicinity of the defect.
薄い帯状のシート材料２０の表面または内部に存在する欠陥４に重ねてまたはその近傍に欠陥４の存在を示すマークＭを設けた。 - 特許庁 - DEFECT DETECTION CORRECTION DEVICE IN IMAGE INPUT DEVICE
画像入力装置における欠陥検出補正装置 - 特許庁 - DEVICE AND METHOD FOR INSPECTING SURFACE DEFECT, AND STORAGE MEDIUM RECORDED WITH SURFACE DEFECT INSPECTION PROGRAM
表面欠陥検査装置、表面欠陥検査方法及び表面欠陥検査用プログラムを記録した記録媒体 - 特許庁 - To suppress the extinguishment of a defect echo by the influence of an end surface echo even in the case of a defect present in the vicinity of the side end surface of a subject to be tested and precisely detect the defect.
検査対象の側端面近傍に欠陥があった場合でも、端面エコーの影響による欠陥エコーの消失を抑えて精度よく欠陥を検出する。 - 特許庁 - LIQUID CRYSTAL DISPLAY DEVICE AND METHOD FOR CORRECTING ITS DEFECT
液晶表示装置及びその欠陥修正方法 - 特許庁 - MATERIAL SURFACE DEFECT MEASURING METHOD AND MEASURING DEVICE
材料表面欠陥測定方法および測定装置 - 特許庁 - METHOD AND SYSTEM FOR DETECTING DEFECT OF STRUCTURE
構造体の欠陥を検知するための方法及びシステム - 特許庁 - DEFECT INFORMATION MANAGEMENT METHOD AND RECORDING MEDIUM PROCESSING DEVICE
欠陥情報管理方法及び記録媒体処理装置 - 特許庁 - To detect a minute defect at a high speed with high sensibilities.
高速かつ高感度で微小欠陥を検出する。 - 特許庁 - SOLID-STATE IMAGE PICKUP DEVICE AND METHOD FOR DETECTING PIXEL DEFECT
固体撮像装置および画素欠陥検出方法 - 特許庁 - ILLUMINATION APPARATUS FOR INSPECTION DEVICE, AND DEFECT INSPECTION APPARATUS
検査装置用照明装置および欠陥検査装置 - 特許庁 - METHOD AND DEVICE FOR DEFECT DETECTION/DISCRIMINATION INSIDE CONDUIT
管渠内部の欠陥検出・判別方法及び装置 - 特許庁 - ADAPTIVE HYBRID AUTOMATIC DEFECT CLASSIFYING METHOD
ハイブリッドで一様に適用可能な自動欠陥分類法 - 特許庁 - To provide a method for repairing a defect on a substrate by injecting a restoration agent into a defect portion of the substrate.
基板の欠陥部位に復元剤を注入することを含む、基板欠陥の修理方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a surface defect detector and a surface defect detection method which improve detection accuracy of a surface defect by setting a threshold value adapted to a frequency distribution of brightness of a surface image according to a variation of formation.
地合の変動による表面画像における輝度の度数分布に適合した閾値を設定することにより、表面欠陥の検出精度を向上させる。 - 特許庁 - A digital camera device 1 easily and correctly detects the pixel address of a black defect in a CCD image sensor 3 and interpolates the detected black defect so that the image pickup element can be used even when a black defect is present.
そして、ＣＣＤイメージセンサから得られた撮像データを所定の閾値と比較して、この撮像データがこの所定の閾値以下となっている画素アドレスを検出する。 - 特許庁 - Some embodiments employ defect-location algorithms that analyze defect artifacts to precisely locate corresponding defects.
欠陥アーチファクトを解析して該当する欠陥の位置を正確に特定する欠陥位置特定アルゴリズムを採用する。 - 特許庁 - OPTICAL DISK DRIVE AND DEFECT PROCESSING METHOD FOR OPTICAL DISK DRIVE
光ディスク装置及び光ディスクの欠陥処理方法 - 特許庁 - METHOD FOR CORRECTING DEFECT OF COLOR FILTER, AND COLOR FILTER SUBSTRATE
カラーフィルタの欠陥修正方法及びカラーフィルタ基板 - 特許庁 - DISPLAY DEVICE AND DEFECT RESTORATION METHOD OF DISPLAY DEVICE
表示装置および表示装置の欠陥修復方法 - 特許庁 - METHOD AND APPARATUS FOR DETECTING DEFECT IN FILM
フィルムの欠陥検出方法および欠陥検出装置 - 特許庁 - In a step (a), information on a defect of a product is accepted.
（ａ）ステップは、製品に関する不具合を受け付ける。 - 特許庁 - DISPLAY METHOD FOR DEFECT INSPECTION USING IMAGE PROCESSOR
画像処理装置を用いた欠陥検査の表示方法 - 特許庁 - A characteristic quantity is calculated, by extracting a defect image including the defect elements included in the respective clusters, and the defect corresponding to the respective clusters is classified.
そして、各クラスタに含まれる欠陥要素を包含する欠陥画像が抽出されて特徴量が算出され、各クラスタに対応する欠陥が分類される。 - 特許庁 - DEFECT INSPECTION METHOD FOR METALLIC CAP, REGULATION METHOD FOR INSPECTION THEREOF, AND DEFECT INSPECTION METHOD FOR METALLIC CAP
金属製キャップの不良検査方法、この検査のための調整方法、および金属製キャップの不良検査装置 - 特許庁 - DEFECT MANAGEMENT METHOD OF OPTICAL DISK, AND OPTICAL DISK DRIVE
光ディスクの欠陥管理方法、および光ディスク装置 - 特許庁 - METHOD AND DEVICE FOR SORTING DEFECT DISTRIBUTION
欠陥分布分類方法および欠陥分布分類装置 - 特許庁 - In this internal defect detecting method, the internal defect of a bandlike body S is detected using an ultrasonic flaw detector 1.
帯状体Ｓの内部欠陥を超音波探傷装置１を用いて検出する内部欠陥検出方法。 - 特許庁 - DEFECT INSPECTING AND ANALYZING METHOD AND SYSTEM THEREFOR
欠陥検査解析方法および欠陥検査解析システム - 特許庁 - METHOD AND APPARATUS FOR INSPECTION OF DEFECT OF MONOLITHIC CARRIER
モノリス担体の欠陥検査方法及び欠陥検査装置 - 特許庁 - INSPECTION METHOD AND INSPECTION DEVICE FOR STEEL PRODUCT SURFACE DEFECT
鋼材表面欠陥の検査方法および検査装置 - 特許庁 - METHOD AND APPARATUS FOR DEFECT INSPECTING, AND COMPUTER PROGRAM
欠陥検査方法、欠陥検査装置及びコンピュータプログラム - 特許庁 - INFRARED RAY IMAGE PICKUP DEVICE AND ELEMENT DEFECT COMPENSATION METHOD
赤外線撮像装置及び素子欠陥補償方法 - 特許庁 - To provide a defect inspection device capable of defect inspection even in the case of occurrence of multiple defects.
多量の欠陥が発生した場合にも欠陥検査を行なうことができる欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁
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