「Defect」を含む例文一覧(18306)
＜前へ 1 2 .... 33 34 35 36 37 38 39 40 41 .... 366 367 次へ＞- A black defect is detected by every pixel of the CCD 2.
ＣＣＤ２の画素毎に黒欠陥を検出する。 - 特許庁 - ULTRASONIC DEFECT DETECTION METHOD, AND ULTRASONIC FLAW DETECTOR
超音波探傷方法及び超音波探傷装置 - 特許庁 - FILM DEFECT INSPECTION DEVICE AND METHOD
フイルム欠陥検査装置及びフイルム欠陥検査方法 - 特許庁 - To improve a defect generated by off-axis rubbing.
オフアクシスラビングにより発生する欠点を改善する。 - 特許庁 - METHOD AND SYSTEM FOR INSPECTING DEFECT IN PARTS
部品の欠陥を検査するための方法およびシステム - 特許庁 - Defect candidates having an area equal to or larger than a defect area determined values, based on the area of a defect having a minimum error size, are extracted from the defect candidates as actual defects selected corresponding to errors.
そして、選別された各欠陥候補に対して、その面積がエラーとなる最小サイズの欠陥の面積に基づく欠陥面積判定値以上のものを真にエラーに対応する欠陥として抽出する。 - 特許庁 - METHOD AND DEVICE FOR INSPECTING DEFECT OF PHOTOMASK
フォトマスクの欠陥検査方法及び欠陥検査装置 - 特許庁 - The defect classification means (36) includes first classification means (50) for identifying a defect image having a specific shape and second classification means (51) for identifying a punctate low-brightness defect image and a light-dark brightness defect image.
欠陥分類手段は、特有の形状を有する欠陥像を識別する第１の分類手段（５０）と、点状の低輝度欠陥像や明暗輝度の欠陥像を識別する第２の分類手段（５１）とを有する。 - 特許庁 - SEMICONDUCTOR WAFER AND METHOD FOR INSPECTING ITS DEFECT
半導体ウエハと半導体ウエハの欠陥検査方法 - 特許庁 - To prevent display defect caused by elution of a sealant.
シール材の溶出による表示不良を防止する。 - 特許庁 - PARALLEL LIGHT GENERATOR, AND WEB DEFECT DETECTOR
平行光発生装置及びウェブ欠陥検出装置 - 特許庁 - SURFACE DEFECT MEASUREMENT METHOD AND LENS MANUFACTURING METHOD
表面欠陥測定方法およびレンズ製造方法 - 特許庁 - SURFACE DEFECT DETECTING METHOD BY EDDY CURRENT TYPE SENSOR
渦流式センサによる表面欠陥検出方法 - 特許庁 - The defect classifying means includes first classifying means (50) for identifying a defect image having a specific shape, and second classifying means (51) for identifying a punctiform low-brightness defect image and a light-dark brightness defect image.
欠陥分類手段は、特有の形状を有する欠陥像を識別する第１の分類手段（５０）と、点状の低輝度欠陥像や明暗輝度の欠陥像を識別する第２の分類手段（５１）とを有する。 - 特許庁 - METHOD AND DEVICE FOR AUTOMATICALLY GRINDING DEFECT OF ROUND BAR MATERIAL
丸棒材の欠陥自動研削方法及び装置 - 特許庁 - To provide a defect-removing device, etc. capable of quickly removing defect regions over a wide range, preventing deterioration in quality, related to defect removal, and of reducing the expense load related to defect removal.
広範囲に渡る欠陥領域を迅速に除去すると共に、欠陥除去に係る品質低下を防止し、欠陥除去に係る費用的負担を軽減することを可能とする欠陥除去装置等を提供する - 特許庁 - LIQUID CRYSTAL DISPLAY DEVICE AND PIXEL DEFECT RESTORING METHOD
液晶表示装置及び画素欠陥修復方法 - 特許庁 - METHOD OF CORRECTING WHITE DEFECT OF MASK FOR EUV LITHOGRAPHY
ＥＵＶリソグラフィ用マスクの白欠陥修正方法 - 特許庁 - WIRING PATTERN DEFECT REMEDYING METHOD, AND SYSTEM THEREFOR
配線パターンの欠陥修正方法及びその装置 - 特許庁 - SIGNAL PROCESSOR FOR DEFECT DETECTION OF CONTINUOUS OBJECT
連続物体の欠陥検出用信号処理装置 - 特許庁 - MEMORY DEFECT RELIEF AND ANALYSIS METHOD AND MEMORY TESTER
メモリの不良救済解析方法・メモリ試験装置 - 特許庁 - LIQUID CRYSTAL DISPLAY DEVICE AND DEFECT RESTORING METHOD THEREFOR
液晶表示装置及びその欠陥修復方法 - 特許庁 - While reading out the image data from the image memory 20 and detecting image defects by a defect detector 24, a defect information that displays the position of the detected defect is generated, and is memorized by a defect information memory 26.
画像メモリ部２０から画像データを読み出して欠陥検出部２４で画像欠陥を検出するとともに、検出された画像欠陥の位置を示す欠陥情報を生成して欠陥情報メモリ部２６に記憶する。 - 特許庁 - SEMICONDUCTOR EVALUATING METHOD AND DEFECT POSITION SPECIFYING DEVICE
半導体評価方法及び欠陥位置特定装置 - 特許庁 - SOLID-STATE IMAGING DEVICE EQUIPPED WITH PIXEL DEFECT CORRECTING FUNCTION
画素欠陥補正機能を備えた固体撮像装置 - 特許庁 - METHOD FOR MANUFACTURING SEALED CONTAINER INSPECTABLE SEAL DEFECT
シール不良検査可能な密封容器の製造方法 - 特許庁 - PATTERN DEFECT INSPECTION METHOD AND DEVICE
パターン欠陥検査方法及びパターン欠陥検査装置 - 特許庁 - PATTERN DEFECT INSPECTION DEVICE AND METHOD
パターン欠陥検査装置およびパターン欠陥検査方法 - 特許庁 - To know defect information or the like inside an organic material.
有機材料の内部の欠陥情報などを知る。 - 特許庁 - METHOD FOR SPECIFYING CAUSE OF DEFECT AND SUBSTRATE PROCESSING DEVICE
不良原因特定方法及び基板処理装置 - 特許庁 - When a defect has been found, either a defect mark such as a punch for providing a physical mark on the paper sheet near the defect, or an electronic apparatus capable of transmitting an accurate defect position to a printing part is used.
欠陥が発見された場合、本発明は、欠陥の近くの紙に物理的な印をつけるパンチ等の欠陥印か、欠陥の正確な位置を印刷部に伝達できる電子装置のいずれかを使用する。 - 特許庁 - METHOD FOR DETECTING DEFECT IN TRANSPARENT PLATE AND ITS APPARATUS
透明板の欠陥検出方法およびその装置 - 特許庁 - SYSTEM AND METHOD FOR PATTERN DEFECT INSPECTION
パターン欠陥検査装置及びパターン欠陥検査方法 - 特許庁 - METHOD OF REDUCING CRYSTAL DEFECT OF SIMOX WAFER
ＳＩＭＯＸウェーハの結晶欠陥の低減方法 - 特許庁 - MASTER GEAR FOR AUTOMATIC INSPECTION OF GEAR SURFACE DEFECT
歯車表面欠陥の自動検査用マスター歯車 - 特許庁 - LIQUID CRYSTAL DISPLAY AND ITS DEFECT CORRECTING METHOD
液晶表示装置及びその欠陥修正方法 - 特許庁 - To prevent an electrical defect caused by migration.
マイグレーションに起因する電気的な不良を防止する。 - 特許庁 - APPARATUS AND METHOD FOR ASSISTING INSPECTION OF DEFECT WITHIN CAST
鋳造内部欠陥検査支援装置および方法 - 特許庁 - APPARATUS AND METHOD FOR INSPECTING SEAL DEFECT
シール不良検査装置およびシール不良検査方法 - 特許庁 - being complete of its kind and without defect or blemish
その種で完全な、または欠陥または傷のない - 日本語WordNet - SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE AND ITS DEFECT DETECTION METHOD
半導体記憶装置及びその不良検出方法 - 特許庁 - DEFECT DETECTION METHOD OF ROLLER BEARING BY TORQUE MONITORING
トルク監視によるころ軸受の欠陥検出方法 - 特許庁 - DEFECT ANALYSIS TOOL FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE
半導体集積回路装置の不良解析用治具 - 特許庁 - It was caused by some sort of defect in the gun's barrel.
銃身にある一種の疵によって起きたんだ - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書 - Underwent a surgery for atrial septal defect.
心房中隔欠損の手術を 受けられたんですよね。 - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書 - a not uncommon congenital defect in which a vertebra is malformed
脊椎が変形しているまれな先天的欠陥 - 日本語WordNet - At the time of moving contents from a flash memory 61-1 to a contents database 114, a utilization condition managing program updates a variable seq1, which is stored in the 0th-order defect block of a medium defect list in the flash memory 61-1, into new value seq2.
フラッシュメモリ６１−１からコンテンツデータベース１１４にコンテンツを移動するとき、利用条件管理プログラムは、フラッシュメモリ６１−１のmedia defect listの０番目のdefect blockに記憶されている変数seq１を、新たな値seq２に更新する。 - 特許庁 - METHOD FOR DETECTING STEEL PLATE DEFECT IN ROLLING LINE
圧延ラインにおける鋼板欠陥の検出方法 - 特許庁 - METHOD AND DEVICE OF DECIDING DEFECT IN LASER WELDING
レーザ溶接における不良判定方法及び装置 - 特許庁 - APPARATUS AND METHOD FOR INSPECTION OF DEFECT ON SURFACE OF WORKPIECE
ワークピース表面の欠陥検査装置及び方法 - 特許庁
- 特許庁
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