「Defect」を含む例文一覧(18306)
＜前へ 1 2 .... 30 31 32 33 34 35 36 37 38 .... 366 367 次へ＞- To enlarge the control region of defect-free layer depth and fine defect density of the inside in a CZ silicon wafer.
ＣＺシリコンウエーハにおいて、無欠陥層深さと内部微小欠陥密度の制御範囲を拡大する。 - 特許庁 - To obtain a method and an apparatus for the inspection of a defect wherein the defect of a specimen can be detected in a short time.
被検査物の欠陥を短時間で検出できる欠陥検査方法及びその装置を得る。 - 特許庁 - The defect map 19 and the defect histogram 21 are displayed, based on the extracted inspection data.
この抽出された検査データを基にした欠陥マップ１９や欠陥ヒストグラム２１が表示される。 - 特許庁 - For inspection result, total defect display (step S74) or defect display (step S75) is made for each group of patterns.
検査結果は、総欠陥表示（ステップＳ７４）またはパターン群別に欠陥表示（ステップＳ７５）がなされる。 - 特許庁 - To provide a defect inspection device for easily performing inspection even on a luminescent spot defect with a low luminance value.
輝度値が低い輝点欠点などであってもその検査が容易な欠点検査装置を提供する。 - 特許庁 - The defect frequency holds the frequency of the correctable defect occurring in a corresponding physical address space.
障害回数は、対応する物理アドレス空間で発生した訂正可能障害の回数を保持する。 - 特許庁 - METHOD FOR EVALUATING CRYSTAL DEFECT OF SILICON SINGLE CRYSTAL
シリコン単結晶の結晶欠陥の評価方法 - 特許庁 - To provide an electronic component module for avoiding a shortcircuited defect and an open defect in a mounted chip component.
搭載チップ部品のショート不良及びオープン不良を回避し得る電子部品モジュールを提供すること。 - 特許庁 - METHOD AND APPARATUS FOR INSPECTING DEFECT OF SEMICONDUCTOR DEVICE
半導体装置の欠陥検査方法及び装置 - 特許庁 - After an inspection is performed, the controlling part 14 compares defect information generated during inspection with defect information generated during inspection of un underlying layer of the substrate so that the underlying layer generates target defect information which identifies a defect occurred on the uppermost layer except an overlapping defect which overlaps the defect.
検査が行われた後、制御部１４は、その検査時に生成された欠陥情報と、基板の下層レイヤーの検査時に生成された欠陥情報とを比較し、前記下層レイヤーが欠陥と重複する重複欠陥を除いて前記最上層レイヤー上に発生した欠陥を識別する注目欠陥情報を生成する。 - 特許庁 - To provide a method for inspecting a defect improved in measurement accuracy of a defect of a semiconductor wafer.
半導体ウエハにおける欠陥の測定精度を向上させた欠陥検査方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a defect judging technique for accurately judging the presence of the defect on the surface of an inspection target.
的確に検査対象の表面上の欠陥の有無を判定する欠陥判定技術を提供する。 - 特許庁 - DEFECT INSPECTING APPARATUS, DEFECT INSPECTING METHOD, SYSTEM OF MANUFACTURING SEMICONDUCTOR APPARATUS, AND METHOD OF MANUFACTURING THE SEMICONDUCTOR APPARATUS
欠陥検査装置、欠陥検査方法、半導体装置の製造システム及び半導体装置の製造方法 - 特許庁 - To prevent a contact defect between a bump of a BOF tape and an electrode of a semiconductor chip and a shorting defect.
ＢＯＦテープのバンプと半導体チップの電極との接触不良およびショート不良を防止する。 - 特許庁 - To interpolate a spot defect and a line defect of a photographed image caused by image element defects of a digital camera.
デジタルカメラの撮像素子欠陥により生じた撮影画像の点欠陥や線欠陥を補間する。 - 特許庁 - METHOD AND DEVICE FOR DEFECT DETECTION AND RECORDING MEDIUM WITH DEFECT DETECTION CONTROL PROGRAM RECORDED
欠陥検出装置及びその欠陥検出方法並びにその制御プログラムを記録した記録媒体 - 特許庁 - COATING METHOD, COATING APPARATUS, AND APPARATUS FOR REPAIRING MINUTE DEFECT
塗布方法、塗布装置、微細欠陥修正装置 - 特許庁 - METHOD AND APPARATUS FOR DETECTING SUBSTRATE SURFACE DEFECT
基板表面欠陥検出の方法とその装置 - 特許庁 - An n-type defect layer being a lattice defect is formed by the proton irradiation and the low-temperature annealing processing.
プロトン照射とその低温アニール処理により格子欠陥であるｎ型欠陥層を形成できる。 - 特許庁 - To evaluate marking errors in marking at a defect position of a sheet-shaped mold body including the defect position.
欠陥箇所を含むシート状成形体の欠陥箇所にマーキングする際のマーキングエラーを評価する。 - 特許庁 - POINT DEFECT 3-DIMENSIONAL PHOTONIC CRYSTAL OPTICAL RESONATOR
点欠陥３次元フォトニック結晶光共振器 - 特許庁 - CARRYING SUBSTRATE DEFECT DETECTION DEVICE AND LASER TRIMMING MACHINE EQUIPPED WITH CARRYING SUBSTRATE DEFECT DETECTION DEVICE
搬送基板不良検出装置及びこの搬送基板不良検出装置を備えたレーザトリミングマシン - 特許庁 - To repair a blank defect hard to repair in a defect repairing device using an ion beam.
イオンビームを用いた欠陥修正装置では修正し難いタイプの白欠陥の修正を可能にする。 - 特許庁 - SEMICONDUCTOR WAFER INSPECTION METHOD AND DEFECT REVIEW APPARATUS
半導体ウェハ検査方法及び欠陥レビュー装置 - 特許庁 - To identify the position of a defect before polarization when a defect is contained in the coaxial flexible piezoelectric body.
同軸状可撓性圧電体に欠陥が含まれる場合、分極前に欠陥の位置を特定できない。 - 特許庁 - METHOD AND DEVICE FOR INSPECTING DEFECT IN CYCLIC PATTERN
周期性パターンの欠陥検査方法および装置 - 特許庁 - METHOD OF ASSESSING STRUCTURAL DEFECT ON WAFER SURFACE
ウェーハー表面の構造欠陥を査定する方法 - 特許庁 - ILLUMINATION OPTICAL MECHANISM APPARATUS AND DEFECT INSPECTION APPARATUS
照明光学機構装置、および、欠陥検査装置 - 特許庁 - TRANSPARENT FILM INSPECTION DEVICE AND DEFECT DETECTION METHOD
透明フィルム検査装置及び欠陥検出方法 - 特許庁 - IMAGE DEFECT DETECTING METHOD, AND IMAGE FORMING APPARATUS
画像欠陥検査方法および画像形成装置 - 特許庁 - METHOD AND EQUIPMENT FOR DETECTING DEFECT OF SEMICONDUCTOR DEVICE
半導体装置の欠陥検出法および装置 - 特許庁 - The tool may identify both a type of defect and individual netlists in which that defect is likely to occur.
前記ツールは、欠陥の種類及び欠陥が生じ易い個々のネットリストの両方を同定し得る。 - 特許庁 - The defect density generated by a lattice mismatching is reduced, and the defect distribution can be distributed.
格子不整合によって発生する欠陥密度を減少させ、欠陥分布を分散させることができる。 - 特許庁 - A defect detecting part 15 determines whether a pattern defect is found based on the respective difference image detection results.
欠陥検出部１５は、それぞれの差画像検出結果をもとに、パターン欠陥の有無を判定する。 - 特許庁 - To reduce detection sensitivity for a defect having a low degree of influence as a defect to conduct inspection.
本発明は、欠陥として影響度の小さい欠陥の検出感度を低下して欠陥検査を行う。 - 特許庁 - INSPECTION SUPPORT EQUIPMENT FOR DEFECT IN INTERIOR OF CAST
鋳造内部欠陥検査支援装置及び方法 - 特許庁 - CORRECTION DEVICE FOR DEFECT PIXEL DATA FOR SOLID-STATE IMAGE PICKUP ELEMENT
固体撮像素子の欠陥画素データ補正装置 - 特許庁 - METHOD OF INSPECTING CRYSTAL DEFECT IN SURFACE LAYER PART OF SILICON WAFER
シリコンウェハ表層部結晶欠陥検査方法 - 特許庁 - APPARATUS FOR DISPOSING OF CONTAINER BY MONITORING DEFECT IN PRINT
印刷の欠落監視で容器を処理する装置 - 特許庁 - DEVICE AND METHOD FOR INSPECTING DEFECT OF COATING FILM
塗工膜の欠陥検査装置及び検査方法 - 特許庁 - DETECTOR AND DETECTING METHOD FOR PRINT DEFECT
印刷欠点の検出装置および検出方法 - 特許庁 - To provide a clear image of a subject without affected by a defect even when the defect exists in a scintillator.
シンチレータに欠陥があってもそれの影響なく対象物の鮮明な画像が得られるようにする。 - 特許庁 - METHOD AND APPARATUS FOR DETECTING DEFECT IN STEEL STRUCTURE
鋼構造物の欠陥検出方法および装置 - 特許庁 - MEASURING DEVICE, DEFECT INSPECTION DEVICE, AND MEASUREMENT METHOD
計測装置、欠陥検査装置及び計測方法 - 特許庁 - To provide an inspection method for a defect of a honeycomb filter that improves detection precision of the defect more.
欠陥の検出精度をより向上できる、ハニカムフィルタの欠陥を検査する方法を提供すること。 - 特許庁 - To provide a defect detector and a defect detection method for reducing false detections of defects.
欠陥を誤って検出することが少ない欠陥検出装置及び欠陥検出方法を提供する。 - 特許庁 - METHOD AND DEVICE FOR DETECTING DEFECT OF PERIODIC PATTERN
周期性パターンの欠陥検査方法及び装置 - 特許庁 - OPTICAL DISK DEVICE AND METHOD OF ALLOWING PASSAGE ON DISK DEFECT
光ディスク装置およびディスク欠陥通過方法 - 特許庁 - To obtain a highly reliable three dimensional LSI such that an insulation defect or a connection defect can be prevented.
絶縁不良や接続不良を防止することができ、信頼性の高い３次元ＬＳＩを得る。 - 特許庁 - DEFECT CORRECTING CIRCUIT AND IMAGING DEVICE WITH SAME
欠陥補正回路及びそれを備えた撮像装置 - 特許庁
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