「Defect」を含む例文一覧(18306)
＜前へ 1 2 .... 26 27 28 29 30 31 32 33 34 .... 366 367 次へ＞- A database 24 previously stores relation between the times of defect detection and the defect occurrence rate.
データベース２４には、欠陥検出回数と不良発生率との関係が予め格納される。 - 特許庁 - IMAGING APPARATUS AND DEFECT-INSPECTING APPARATUS OF PHOTOMASK
撮像装置及びフォトマスクの欠陥検査装置 - 特許庁 - DEFECT INSPECTION METHOD FOR ANTIREFLECTION TRANSPARENT FILM
反射防止透明フィルムの欠陥検査方法 - 特許庁 - WELDING DEFECT DETECTING APPARATUS FOR SERIES SPOT WELDING
シリーズスポット溶接の溶接不良検出装置 - 特許庁 - SEMICONDUCTOR DEVICE AND ITS DEFECT ANALYZING METHOD
半導体装置およびその不良解析方法 - 特許庁 - RADIANT TUBE HAVING DEFECT SELF-DETECTION FUNCTION
欠陥自己検出機能を有するラジアントチューブ - 特許庁 - SECONDARY PROCESSING METHOD FOR CORRECTED PART OF PHOTOMASK DEFECT BY CHARGE PARTICLE MASK DEFECT CORRECTING DEVICE
荷電粒子マスク欠陥修正装置によるフォトマスク欠陥修正個所の二次処理方法 - 特許庁 - To provide a method for correcting a pixel defect of liquid crystal panel for eliminating a white defect.
白欠陥を除去することができる、液晶パネルの画素欠陥修正方法を提供する。 - 特許庁 - PANEL DISPLAY TELEVISION AND DEFECT DETECTION APPARATUS
パネル表示型テレビジョンおよび不良検知装置 - 特許庁 - To eliminate a bright point defect due to a defect in contact between a drain electrode and a pixel electrode.
ドレイン電極と画素電極とのコンタクト不良に起因する輝点不良の発生をなくす。 - 特許庁 - INSULATION DEFECT DETECTING METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE
半導体デバイスの絶縁不良検出方法 - 特許庁 - To quickly detect a potential secondary defect of a catalyst when a primary defect of the catalyst which may cause the secondary defect occurs.
触媒の二次異常の要因となるような一次異常が発生した場合に、その後速やかに、触媒の潜在的な二次異常を検出する。 - 特許庁 - DEFECT DETECTION METHOD OF TURBINE GENERATOR END RING
タービン発電機エンドリングの欠陥検出方法 - 特許庁 - When the coordinates of the white defect and the black defect are specified, light entering a lens is adjusted to deviate focusing.
白キズ、黒キズ座標を特定する際には、レンズに入る光を調整し、フォーカスをずらす。 - 特許庁 - To provide a defect analysis apparatus for systematically and quantitatively analyzing a defect of a stencil mask.
ステンシルマスクの欠陥を系統的にかつ定量的に解析する欠陥解析装置を提供する。 - 特許庁 - If the presence of the remaining defect is decided, laser irradiation is performed on the remaining defect in the same manner as laser irradiation on a defect.
残存欠陥が存在すると判断されると、欠陥に対するレーザ照射と同様にして、残存欠陥に対するレーザ照射が行われる。 - 特許庁 - Defect etchant having high defect selectivity for Si 16 is used in this method.
この方法は、Ｓｉ１６において高い欠陥選択性を有する欠陥エッチング液を用いる。 - 特許庁 - To provide a laser scattering defect inspection technology capable of effectively performing defect inspection.
欠陥検査を効率よく行うことのできるレーザー散乱式欠陥検査技術を提供する。 - 特許庁 - DEFECT TOLERANCE EVALUATION METHOD FOR STRUCTURE WITHIN REACTOR
炉内構造物の欠陥裕度評価方法 - 特許庁 - DIMENSION MEASURING SYSTEM AND METHOD OF DEFECT INSIDE PIPE
管内欠陥寸法測定システム及び方法 - 特許庁 - DEFECT INSPECTION DEVICE AND CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE
不良検査装置及び荷電粒子線装置 - 特許庁 - DEFECT DETECTING DEVICE FOR DIGITAL ARITHMETIC PROCESSOR
ディジタル演算処理装置の不良検出装置 - 特許庁 - Based on the defect phenomenon information, the defect phenomenon information creates first relation information for relating similar defect phenomenon information.
この欠陥現象情報に基づいて、欠陥現象情報が類似する欠陥現象情報を関連付ける第１関係情報を作成する。 - 特許庁 - DEFECT RESTORING METHOD OF SUBSTRATE FOR LIQUID CRYSTAL DISPLAY DEVICE AND DEFECT RESTORING DEVICE USED THEREFOR
液晶表示装置用基板の欠陥修復方法及びそれに用いられる欠陥修復装置 - 特許庁 - IMPRINTING APPARATUS AND TRANSFER DEFECT DETECTION METHOD
インプリント装置及び転写欠陥検出方法 - 特許庁 - METHOD FOR EVALUATING APPARATUS DEFECT OF SUCTION APPARATUS AND APPARATUS FOR EVALUATING APPARATUS DEFECT OF SUCTION APPARATUS
吸引装置の装置不良評価方法および吸引装置の装置不良評価装置 - 特許庁 - PIXEL DEFECT DETECTING DEVICE FOR SOLID-STATE IMAGE PICKUP DEVICE
固体撮像素子の画素欠陥検出装置 - 特許庁 - DEFECT DETECTION APPARATUS AND METHOD
欠陥検出装置および欠陥検出方法 - 特許庁 - The defect means a defect of a property functioning as a capture site in the SWCNT.
ここで、欠陥はＳＷＣＮＴ中において捕獲サイトとして機能する性質の欠陥である。 - 特許庁 - METHOD AND APPARATUS FOR DETERMINING SYSTEMATIC DEFECT
システマティック欠陥判定方法およびその装置 - 特許庁 - METHOD AND DEVICE FOR INSPECTING DEFECT OF GLASS PLATE
ガラス板の欠点検査方法及びその装置 - 特許庁 - METHOD FOR INSPECTING CRYSTAL DEFECT OF SEMICONDUCTOR WAFER
半導体ウェーハの結晶欠陥検査方法 - 特許庁 - The defect detection and correction part executes at least either of operation for selecting a prescribed defect detection mode from among a plurality of the defect detection modes and operation for selecting a prescribed defect correction mode from among a plurality of the defect correction modes on the basis of mode switching conditions after acquiring the mode switching conditions for switching at least either of the defect detection modes and the defect correction modes.
欠陥検出モード及び欠陥修正モードの少なくとも一方を切換えるためのモード切換条件を取得して、モード切換条件に基づいて、複数の欠陥検出モードから所定の欠陥検出モードを選択することと、複数の欠陥修正モード中から所定の欠陥修正モードを選択することの少なくとも一方を行う。 - 特許庁 - To provide an image defect inspection device, and a defect inspection classification and image defect inspection method, capable of detecting a defect under the optimum defect detecting condition, even when a noise level included in an inspection image depends greatly on the inspection image.
検査画像に含まれるノイズレベルの検査画像に対する依存性が大きい場合にも、最適な欠陥検出条件で欠陥を検出可能な画像欠陥検査装置、欠陥検査分類、及び画像欠陥検査方法を提供する。 - 特許庁 - After that, the control unit reads out a defect correction method in accordance with the decision results from a database in which defect correction methods are accumulated, and controls a defect correction unit performing correction of the defect utilizing the read out defect correction method.
その後、制御部が、判定結果に応じた欠陥修正手法を、欠陥修正手法が蓄積されているデータベースから読み出し、読み出した欠陥修正手法を利用して欠陥の修正を実行する欠陥修正部を制御する。 - 特許庁 - Picture elements of an inspection area are divided into segments, a distribution of defect levels found in every of the segments is displayed on a monitor by a hue circle having 256 of gradations in response to the defect levels such as the defect level 0 : blue, defect level 128 : green, and defect level 255 : red.
検査領域の画素をセグメントで分けて、各セグメント毎に求めた欠陥レベルの分布を、欠陥レベル０：青〜欠陥レベル１２８：緑〜欠陥レベル２５５：赤というように欠陥レベルに応じた256階調の色相環でモニタに表示される。 - 特許庁 - To provide a defect inspection device, a defect information acquisition device and a defect inspection method, capable of optimizing further an acquisition amount of a scattered light signal regarding the defect by improving a detection accuracy of the defect to be as the detection object.
検出対象とする欠陥の検出精度を向上させ、当該欠陥に関する散乱光信号の取得量をより適正化することができる欠陥検査装置、欠陥情報取得装置及び欠陥検査方法を提供する。 - 特許庁 - LIQUID CRYSTAL DISPLAY MEMBER HAVING DEFECT REPAIRING FUNCTION
欠陥修理機能のある液晶ディスプレイ部材 - 特許庁 - LOW-FREQUENCY ELECTROMAGNETIC INDUCTION TYPE DEFECT MEASURING APPARATUS
低周波電磁誘導式の欠陥測定装置 - 特許庁 - COATING MATERIAL FOR EXAMINING DEFECT BY INFRARED THERMOGRAPHY
赤外線サーモグラフィによる欠陥検査用塗料 - 特許庁 - METHOD AND APPARATUS FOR DETECTING DEFECT OF INK-JET NOZZLE
インクジェットノズルの不良検知方法及び装置 - 特許庁 - METHOD AND APPARATUS FOR INSPECTING DEFECT
欠陥を検出する検査方法及び検査装置 - 特許庁 - To correct the pixel defect that is caused by a temperature white flaw.
温度白キズによる画素欠陥を補正する。 - 特許庁 - METHOD FOR INSPECTING DEFECT OF SHEET-LIKE ARTICLE SURFACE
シート状物品面の欠陥を検査する方法 - 特許庁 - DEFECT COMPENSATION DEVICE AND METHOD FOR OPTICAL DISK
光ディスクの欠陥補償装置及びその方法 - 特許庁 - The print output method is constituted so as to lower the concentration of the ink of the defect of a defect-containing image or the concentration of the ink of the defect and a region other than the region in the vicinity of the defect to perform print output.
欠陥を含む画像において、前記欠陥または前記欠陥とその近傍の領域以外の領域のインキ濃度を下げてプリント出力するようにしたプリント出力方法。 - 特許庁 - WAFER SURFACE DEFECT INSPECTION DEVICE, AND METHOD THEREFOR
ウェハ表面欠陥検査装置およびその方法 - 特許庁 - To provide a method of repairing defect and a device for repairing defect, by which a defect is repaired only by welding without grinding even in the case where a defect existing in a deep location in the direction of the thickness of a plate is repaired.
板厚方向の深い位置に存在する欠陥を補修する場合であっても、研削を必要とせず溶接のみで欠陥を補修できる欠陥補修方法および欠陥補修装置を得る。 - 特許庁 - APPARATUS FOR DETECTING MOLDING DEFECT OF ROLL FORMING WORKPIECE
ロールフォーミング加工品の成形不良検知装置 - 特許庁 - DEFECT DETECTION METHOD AND DEVICE OF ELONGATE MEMBER
細長部材の欠陥検出方法及び装置 - 特許庁
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